一种用于3D玻璃加工的测头的制作方法

文档序号:17200474发布日期:2019-03-27 09:57阅读:178来源:国知局
一种用于3D玻璃加工的测头的制作方法

本实用新型涉及测头技术领域,尤其涉及一种用于3D玻璃加工的测头。



背景技术:

3D玻璃广泛应用于手机、儿童手表和小型仪器的保护面壳上,具有增强通讯、抗指纹、防眩光等特点,但是3D玻璃边缘及需要打孔部位的弧形设计需要经过CNC精雕才具有合格的触感,则加工时对3D玻璃的平面度、轮廓度需要及时、快速地检测便于做出调整。

因此,有必要提供一种3D玻璃加工时能快速检测出其平面度和轮廓度的测头。



技术实现要素:

本实用新型提供了一种用于3D玻璃加工的测头,克服和解决了现有技术中测头不能快速检测3D玻璃的平面度及轮廓度的问题,具有检测速度快、准确度高的有益效果。

本实用新型为解决其技术问题提供的一种技术方案是:

一种用于3D玻璃加工的测头,包括后座和调节机构,以及设于所述后座、调节机构之间的信号处理装置,所述调节机构包括上壳和设于所述上壳内的测芯,所述测芯伸出所述上壳的一端可拆卸地连接有测针座,所述测针座上固设有用于检测工件的探针所述探针的触测端面为一平整平面,以使所述触测端面与工件的弧形表面具有唯一接触点。

作为上述技术方案的改进,所述探针为碳化钨针。

作为上述技术方案的改进,所述测芯包括支架、调节座,以及设于所述支架内的调节锥体和第一复位弹簧,所述第一复位弹簧的一端套接在所述调节锥体上,另一端与所述支架的顶部抵持;所述调节锥体与所述调节座抵持,所述调节座上设有接通的三组柱形触点和三组球形触点,并经所述第一复位弹簧使所述柱形触点处于所述球形触点的固定位置上以定位所述测针座。

作为上述技术方案的进一步改进,所述支架沿所述支架轴向开设有贯穿所述支架的三组通孔,所述通孔内设置有与所述球形触点抵持的第二复位弹簧以所述柱形触点处于所述球形触点的固定位置上。

作为上述技术方案的改进,所述调节机构还包括连接轴,所述连接轴的一端与所述测针座连接,另一端沿径向延伸有凸缘,所述连接轴的外周套接有弹性件和盖板,所述弹性件设于所述凸缘与所述盖板之间,所述盖板容置于所述上壳内且与所述上壳的端部抵持。

作为上述技术方案的进一步改进,所述连接轴与所述测芯的连接处还设有防水垫圈,所述防水垫圈的外沿与所述测芯连接,且所述防水垫圈的中心开有过孔,所述连接轴穿过所述过孔与所述测芯连接。

作为上述技术方案的改进,所述后座包括后盖和嵌设于所述后盖中的电池仓,所述后盖同所述信号处理装置卡接。

本实用新型的有益技术效果是:探针的触测端面为一与工件的弧形表面具有唯一接触点的平整平面,与工件接触时只有唯一的接触点,则根据触发时探针的位置可以很快地算出工件的外形尺寸及工件的平整度,检测速度快、准确度高,有效提高了工作效率。

附图说明

为了更清楚的说明本实用新型实施例中的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图做简单说明。

图1为本实用新型一个实施例的用于3D玻璃加工的测头的结构示意图。

图2为图1中的A-A剖视图。

具体实施方式

以下结合实施例和附图对本实用新型的构思、具体结构及产生的技术效果进行清楚、完整地描述,以充分理解本实用新型的目的、方案和效果。需要说明的是,在不冲突的情况下本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。此外本实用新型中所使用的上、下、左、右等描述仅仅是相对图中本实用新型各组成部分相互位置关系来说的。

图1为本实用新型一个实施例的用于3D玻璃加工的测头的结构示意图,图 2为图1中的A-A剖视图。

图1至图2示出了一种用于3D玻璃加工的测头,主要用于测量3D玻璃加工中工件的平面度和轮廓度。包括后座100、调节机构300和设于后座100、调节机构300之间的信号处理装置200,调节机构300包括上壳310和设于上壳 310内的测芯320,测芯320伸出上壳310的一端可拆卸地连接有测针座400,测针座400上固设有用于检测工件的探针500,探针500的触测端面为一平整平面,以使探针500的触测端面与工件的弧形表面具有唯一接触点。

具体地,探针500为碳化钨针。碳化钨针的触测端面为平整平面,针对3D 玻璃CNC雕刻过程中需要加工的位置,与3D玻璃的表面具有唯一的接触点,以便于计算。

测芯320包括支架321、调节座322,以及设于支架321内的调节锥体323 和第一复位弹簧324,第一复位弹簧324的一端套接在调节锥体323上,另一端与支架321的顶部抵持;调节锥体323与调节座322抵持,调节座322上设有接通的三组柱形触点3221和三组球形触点,并经第一复位弹簧324使柱形触点3221位于球形触点的固定位置上以定位测针座400。每组球形触点包括两个支撑球,每组柱形触点包括一个定位柱,每个定位柱由每组球形触点中的两个支撑球支撑,构成一对触点副,而该三对触点副形成闭合的串联回路。

支架321还开设有沿支架321轴向贯穿支架321的三组通孔,通孔内设置有第二复位弹簧3211以辅助第一复位弹簧324,第二复位弹簧3211与一个球形触点抵持。

调节机构300还包括连接轴330,连接轴330的一端与测针座400连接,另一端沿径向延伸有凸缘331,连接轴330的外周套接有弹性件340和盖板350,弹性件340设于凸缘331与盖板350之间,盖板350容置于上壳310内且与上壳310的端部抵持。盖板350在弹性件340的作用下抵持于上壳310的端部,与上壳310配合以防止大颗粒物质进入测芯320内部,防止因杂质造成测芯320 的精确度和反应速度下降。

连接轴330与测芯320的连接缝隙处设有防水垫圈360,防水垫圈360的外沿固定于测芯320上,防水垫圈360的中心开有过孔,连接轴330穿过过孔与测芯320连接。

后座100包括后盖110和嵌设于其中的电池仓120,后盖110同信号处理 200装置卡接。

本实施例中,碳化钨针的触测面为一平整平面,与工件表面接触时产生触发力,克服了第一复位弹簧的预压力后,使测针座发生位移或偏转,闭合回路断开发出触发信号,机床停止运动。探针与工件不再接触后,在第一复位弹簧和第二复位弹簧的共同作用下使探针恢复至初始状态。因为探针的触测面为平整平面,与工件只有唯一的接触点,则根据触发时探针的位置可以很快地算出工件的外形尺寸,具有检测速度快、准确度高的效果,提高了工作效率。

尽管结合优选实施方案具体展示和介绍了本实用新型,但所属领域的技术人员应该明白,在不脱离所述权利要求书所限定的本实用新型的精神和范围内,在形式上和细节上可以对本实用新型做出各种变化,均为本实用新型的保护范围。

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