技术总结
本实用新型公开了一种微细探针通电测试治具，包括底座，所述底座上端面左右两侧设置有左立柱和右立柱，所述左立柱和右立柱上端固定设置有横梁，所述左立柱和右立柱之间设置有若干安装板，结构简单，构造清晰易懂，操作容易，能够同步进行多组电路板的检测作业，检测效率高，检测用的微针采用0.1mm，测试精度高，且0.1mm微针比传统的扁针成本低，此外，本实用新型维修简单，便于维护。
技术研发人员：苏军梅
受保护的技术使用者：苏州市高威电子有限公司
技术研发日：2018.08.15
技术公布日：2019.06.07