1.一种表面粗糙度测量装置，其特征在于，包括：
测量平台(1)，所述测量平台(1)的上表面开设有容置槽(11)，待测件(10)位于所述容置槽(11)内且所述待测件(10)的至少一侧与所述容置槽(11)的内壁抵接；
垫片(2)，位于所述容置槽(11)内且支撑于所述待测件(10)的下方，所述待测件(10)的被测面与所述测量平台(1)的上表面平齐；
粗糙度仪(3)，设置于所述测量平台(1)上，所述粗糙度仪(3)的工作面与所述测量平台(1)的上表面平齐。
2.根据权利要求1所述的表面粗糙度测量装置，其特征在于，所述待测件(10)的至少一个侧面为定位平面，所述容置槽(11)的内壁具有与所述定位平面配合的定位壁面，所述定位平面与所述定位壁面抵接。
3.根据权利要求2所述的表面粗糙度测量装置，其特征在于，所述待测件(10)为蓝宝石晶片。
4.根据权利要求2所述的表面粗糙度测量装置，其特征在于，所述容置槽(11)的截面形状为长方形。
5.根据权利要求1所述的表面粗糙度测量装置，其特征在于，所述测量平台(1)的上表面、所述容置槽(11)的底面、所述垫片(2)的上表面和所述垫片(2)的下表面均平行。
6.根据权利要求1所述的表面粗糙度测量装置，其特征在于，所述容置槽(11)为开放式槽口，所述容置槽(11)包括相互垂直的底面和侧面。
7.根据权利要求1所述的表面粗糙度测量装置，其特征在于，多个所述垫片(2)于所述待测件(10)的下方叠置。
8.根据权利要求7所述的表面粗糙度测量装置，其特征在于，多个所述垫片(2)的总厚度值与所述待测件(10)的厚度值之和等于所述容置槽(11)的深度值。
9.根据权利要求1所述的表面粗糙度测量装置，其特征在于，所述粗糙度仪(3)包括控制器、与所述控制器电连接的探头(31)和探头传感器(32)，所述探头(31)的工作面与所述测量平台(1)的上表面平齐。
10.根据权利要求9所述的表面粗糙度测量装置，其特征在于，所述粗糙度仪(3)还包括与所述控制器电连接的显示屏(33)。