1.一种直探测小曲率锻件对比试块，其特征在于：包括三个对比试块，三个所述对比试块均为圆柱体，所述圆柱体的侧面设置有平面，所述平面与所述圆柱体的轴线平行，所述平面上设置有平底孔，所述平底孔与所述平面垂直，所述圆柱体距离所述平面最远的一侧与所述平面的距离为对比试块的高度，所述对比试块的高度小于所述圆柱体的直径，三个所述对比试块的高度均不相同。
2.如权利要求1所述的直探测小曲率锻件对比试块，其特征在于：每个所述对比试块的平面上均设置有三个平底孔。
3.如权利要求1所述的直探测小曲率锻件对比试块，其特征在于：所述平底孔的深度D为19mm±1.6mm。
4.如权利要求1所述的直探测小曲率锻件对比试块，其特征在于：三个所述对比试块上的平底孔的直径分别为0.8mm±0.013mm、1.6mm±0.013mm和3.2mm±0.03mm。
5.如权利要求1所述的直探测小曲率锻件对比试块，其特征在于：所述平底孔相对于所述平面的平直度和垂直度均小于等于0°20’。
6.如权利要求1所述的直探测小曲率锻件对比试块，其特征在于：所述平底孔位于所述平面的中部。
7.如权利要求1所述的直探测小曲率锻件对比试块，其特征在于：每个所述对比试块上相邻所述平底孔之间的距离为25mm±1mm。
8.如权利要求1所述的直探测小曲率锻件对比试块，其特征在于：所述平面的粗糙度Ra≤6.3um。
9.如权利要求1所述的直探测小曲率锻件对比试块，其特征在于：三个所述对比试块的高度比为1:2:3。