硅胶件透光检测治具的制作方法

本实用新型涉及一种治具，特别是一种硅胶件透光检测治具。

背景技术：

一种硅胶按键产品需要检测其透光性，为了方便检测达到较好的检测效果，我们设计了一款硅胶件透光检测治具来实现。

技术实现要素：

为了克服现有技术的不足，本实用新型提供一种硅胶件透光检测治具。

本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是：

硅胶件透光检测治具，其特征在于：包括测试座及遮光盖，所述测试座内设有容纳槽，容纳槽内设置有光源电路组件，所述光源电路组件包括电源、开关组件、电路板及设置于电路板上的灯珠，硅胶件位于电路板上方且所述灯珠发出的光射向硅胶件的相应的按键的底面，所述容纳槽的槽口通过遮光盖遮挡，且遮光盖上设有若干与硅胶件的按键对应的透光孔，所述按键嵌入该透光孔中。

所述硅胶件放置于电路板上且所述灯珠嵌入按键的内孔中。

所述测试座上设有若干用于给硅胶件定位的定位块。

所述遮光盖于测试座铰接，从而能够翻转。

所述测试座包括下座及上座，所述电源为电池，所述下座内设有电池仓，所述上座内设有通孔，所述容纳槽由电池仓及通孔构成。

所述开关组件包括弹性触片、金属片一和金属片二，所述金属片一与电源的电极连接，且金属片二与电路板连接，且电源的另一电极也与电路板连接，所述弹性触片能够受遮光盖的挤压而同时与金属片一和金属片二接触。

所述测试座上设有开关孔，所述开关组件位于该开关孔内，所述金属片一和金属片二位于开关孔的孔底且通过分隔片隔开，所述弹性触片一端卡固于开关孔内的缝隙中，且另一端位于开关孔外。

本实用新型的有益效果是：本实用新型包括测试座及遮光盖，所述测试座内设有容纳槽，容纳槽内设置有光源电路组件，所述光源电路组件包括电源、开关组件、电路板及设置于电路板上的灯珠，硅胶件位于电路板上方且所述灯珠发出的光射向硅胶件的相应的按键的底面，所述容纳槽的槽口通过遮光盖遮挡，且遮光盖上设有若干与硅胶件的按键对应的透光孔，所述按键嵌入该透光孔中。通过上述结构，只需将硅胶件覆盖于电路板上，然后关闭遮光盖，按键嵌入该透光孔中，在按键的内孔中灯珠就会发出发光，从而便于检测人员检测，上述结构简单易操作，极大方便了检测人员。

附图说明

下面结合附图和实施例对本实用新型进一步说明。

图1是本实用新型的整体视图；

图2是本实用新型的剖视图；

图3是本实用新型的内部结构视图；

图4是下座的整体视图；

图5是上座的整体视图；

图6是硅胶件的整体视图。

具体实施方式

参照图1、图2，本实用新型公开了一种硅胶件透光检测治具，包括方形测试座2及遮光盖1，所述测试座2内设有容纳槽，容纳槽内设置有光源电路组件，所述光源电路组件包括电源3、开关组件、电路板4及设置于电路板4上的灯珠，硅胶件5位于电路板4上方且所述灯珠8发出的光射向硅胶件5的相应的按键6的底面，所述容纳槽的槽口通过遮光盖1遮挡，且遮光盖1上设有若干与硅胶件5的按键6对应的透光孔7，所述按键6嵌入该透光孔7中。

如图所示，测试座2具体结构在于：所述测试座2包括下座21及上座22，所述电源3为电池，所述下座21内设有电池仓23，所述上座22内设有通孔24，所述容纳槽由电池仓23及通孔24构成，所述硅胶件5放置于电路板4上且所述灯珠8嵌入按键6的内孔中，硅胶件5本身是绝缘体，因而覆盖于电路板4不会发生短路风险，而且节省空间，所述测试座2上设有若干用于给硅胶件5定位的定位块25，硅胶件5本身有缺口51，定位块25卡在缺口51中，从而将硅胶件5定位，而且电路板4通过螺钉41直接固定于定位块25上，节省了支架等结构，显得空间结构合理紧凑。

如图所示，所述遮光盖1于测试座2铰接，从而能够翻转，便于测试人员操作。

如图所示，所述开关组件包括金属的弹性触片9、金属片一（图中未显示出）和金属片二（图中未显示出），所述金属片一与电源3的正电极连接，且金属片二与电路板4连接，且电源3的负电极也与电路板4连接，所述弹性触片9能够受遮光盖1的挤压而同时与金属片一和金属片二接触，具体结构在于，所述测试座2上设有方形的开关孔，所述开关组件位于该开关孔内，所述金属片一和金属片二位于开关孔的孔底且通过分隔片隔开，所述弹性触片9一端卡固于开关孔内的缝隙中，且另一端位于开关孔外，而且弹性触片9是弯折成v字形的，因而更容易接触，当遮光盖1关闭的时候，挤压弹性触片9与与金属片一和金属片二接触而导通。

以上对本实用新型实施例所提供的一种硅胶件透光检测治具，进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本实用新型的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本实用新型的方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本实用新型的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本实用新型的限制。