一种电路板测试治具的制作方法

本实用新型涉及电路板测试领域，特别涉及一种电路板测试治具。

背景技术：

电路板在加工后都需要进行质量测试，电路板测试治具包括：架体、设在架体上的测试平台、可升降设置在架体上的触点测试板和升降装置，触点测试板与测试装置电连接，在对电路板进行测试时，首先将电路板置于测试平台上，通过升降装置控制触点测试板向下位移，通过触点测试板上的各触点与电路板上的各待测点相抵，测试装置对电路板实现测试；

升降装置一般设在架体上，包括：与触点测试板相连的升降杆、可铰接的设在架体上的手柄、分别与升降杆和手柄铰接的连接件，手柄与架体的铰接方向为竖直方向，当工作人员向上或向下拉动手柄时，连接件带动升降杆上下位移，升降杆的位移距离取决于手柄与架体之间的铰接点与手柄与连接件之间的铰接点之间的距离，但由于手柄与架体之间的铰接点与手柄与连接件之间的铰接点距离较短，故电路板测试治具上的升降部件占用的空间较大，且升降的距离较短，使得触点测试板与测试平台之间的空间较小，在放入或取出电路板时不方便，容易造成电路板的磕碰损坏。

技术实现要素：

本实用新型的目的在于提供一种电路板测试治具，升降装置可以升降触点测试板的范围变大，提升触点测试板与测试平台之间的空间，避免在放入或取出电路板时造成磕碰。

为解决上述技术问题，本实用新型的实施方式提供了一种电路板测试治具，包括：底座、设在上所述底座上的测试平台、与所述测试平台相对的测试板，所述测试板与测试装置电性连接，所述电路板测试治具还包括：架体，设在所述底座上，所述测试板可滑动地设在所述架体上，滑动方向垂直于所述测试平台；连杆组件，包括第一杆体和第二杆体，所述第二杆体分别与所述第一杆体与所述测试板铰接，所述第二杆体用于在所述第一杆体转动时，带动所述测试板在所述架体上滑动，所述第二杆体位于所述测试板朝向底座的一侧；驱动组件，与所述第一杆体固定连接，用于带动所述第一杆体转动。

本实用新型实施方式相对于现有技术而言，现有技术中的测试板升降范围较小，本实施方式中的连杆组件所控制测试板升降的距离取决于第一杆体和第二杆体的长度，在测试板上升至极限位置时，第一杆体与第二杆体近乎在同一直线上；在测试板下降至极限位置时，第二杆体与第一杆体互成锐角。由此可知测试板在架体上的升降范围较大。在电路板测试治具有限的空间内，连杆组件的设置可以获得较大的测试板位移距离，使得测试板与测试平台之间的空间较大，在放入或取出电路板时十分方便，避免因测试板与测试平台之间的空间较小造成电路板的磕碰损坏的情况。

另外，所述电路板测试治具还包括:用于将所述测试平台安装在所述底座上的安装柱，所述测试平台与所述底座之间通过所述安装柱相互隔开。由于第一杆体和轴体在底座上均具有一定高度，则测试板在下降至极限位置时仍与底座有一定距离。安装柱用于提升测试平台的高度。安装柱的设置可以保证当测试板下降时可以接触到测试平台所在的位置，进而保证测试平台上的电路板可以与测试板接触，顺利完成电路板的测试。

另外，所述架体包括：与所述底座相对的顶板、连接在所述底座和所述顶板之间的若干支撑柱；所述测试板分别与两个相邻的支撑柱滑动连接。

另外，所述测试板包括：测试板本体、设在所述测试板本体上并分别用于与所述支撑柱滑动连接的两个套环。套环与支撑柱抵触的面积较大，可以增强与支撑柱的连接面积，提升测试板本体的稳定程度。

另外，所述电路板测试治具还包括：与所述套环朝向所述顶板的一侧面相抵的第一回弹组件、与所述套环朝向所述底座的一侧面相抵的第二回弹组件。在测试板向上方滑动时，第一回弹组件与顶板相抵并压缩，对上升的测试板进行缓冲，避免测试板与顶板相撞；测试板向下滑动时，第二回弹组件与底座相抵并压缩，对下降中的测试板进行缓冲，避免测试板与测试平台相撞，损坏电路板。

另外，所述支撑柱设有四个，其中任意两个相邻的所述支撑柱与所述测试板滑动连接，另两个所述支撑柱均与所述测试板相对，任意一个与所述测试板相对的支撑柱上设有走线器，所述走线器用于固定所测试板上的电连接线。由于测试板与测试装置电性连接，测试板上延伸有电连接线，在测试板上下移动时，电连接线会与支撑柱有一定蹭刮，容置导致点连接线的外皮损坏。电连接线通过走线器固定在支撑柱上，在测试板上下移动时，电连接线不会因与支撑柱发生蹭刮而损坏。

另外，所述第二杆体的杆长大于所述第一杆体的杆长。

另外，所述第二杆体为弯折杆，所述第二杆体与所述测试板铰接的一端朝背离所述测试板的方向弯折。第二杆体与测试板铰接的一端朝背离测试板的方向弯折，使得第二杆体靠近测试板的一端更加贴近竖直，第二杆体在转动时给予测试板在水平方向上的力减少，减小测试板与支撑座在水平方向上的作用力，保证电路板测试治具的寿命。

另外，所述驱动组件包括：设在所述底座上的两个相对的轴座、可转动地设在两个轴座之间的轴体、连接所述轴体的手柄，所述轴体与所述第一杆体固定连接。

附图说明

一个或多个实施例通过与之对应的附图中的图片进行示例性说明，这些示例性说明并不构成对实施例的限定，附图中具有相同参考数字标号的元件表示为类似的元件，除非有特别申明，附图中的图不构成比例限制。

图1是电路板测试治具的结构示意图。

具体实施方式

为使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本实用新型的各实施方式进行详细的阐述。然而，本领域的普通技术人员可以理解，在本实用新型各实施方式中，为了使读者更好地理解本申请而提出了许多技术细节。但是，即使没有这些技术细节和基于以下各实施方式的种种变化和修改，也可以实现本申请所要求保护的技术方案。

本实用新型的第一实施方式涉及一种电路板测试治具，与测试装置连接，用于将待测电路板与测试装置连通，对待测电路板进行测试。

如图1所示，电路板测试治具包括：底座1、设在底座1上的测试平台2、与测试平台2性对的测试板3，其中测试板3与测试装置电性导通。测试平台2上具有安装位，安装位用于固定待测电路板，测试板3与测试平台2相对。电路板测试治具还包括：设在底座1上的架体4、连杆组件5和驱动组件6，连杆组件5与测试板3连接，测试板3上具有若干触点，驱动组件6用于驱动连杆组件5带动测试板3升降，测试板3下降至与测试平台2相抵触，即测试板3上的各触点均与位于安装位内的待测电路板相抵，测试板3实现与待测电路板的电性导通，进而实现待测电路板与测试装置的电性连接，使得测试装置可以对待测电路板进行测试。

其中，架体4包括：与底座1相对的顶板41、连接在底座1和顶板41之间的若干支撑柱42，本实施方式中，支撑柱42设有四个，四个支撑柱42分别与顶板41的四角连接，当然，支撑柱42的数量也可以为其他，但不少于三个，本实施方式中仅以四个支撑柱42为例，不做具体限定。测试板3和测试平台2均设在架体4的一侧，测试板3与相邻的两个支撑柱42滑动连接，各支撑柱42均竖直设置，测试板3在支撑柱42上可沿竖直方向上下滑动，测试板3在向下滑动时靠近测试平台2，在向上滑动时远离测试平台2。

其中，驱动组件6可以设在底座1上或架体4上，本实施方式中，驱动组件6设在底座1上，底座1的稳定性更强，驱动组件6设在底座1上可以保持电路板测试治具的整体重心较低，保持电路板测试治具的稳定性。驱动组件6包括：设在底座1上的两个相对的轴座61、可转动的设在两个轴座61之间的轴体62、连接轴体62的手柄63。其中连杆组件5包括：与轴体62连接的第一杆体51、分别与第一杆体51和测试板3铰接的第二杆体52，用户在转动手柄63时，手柄63带动轴体62转动，轴体62带动第一杆体51摆动，从而第一杆体51带动第二杆体52转动，第二杆体52在转动时可以带动测试板3沿支撑柱42在竖直方向上运动，从而靠近或以远离测试平台2。

连杆组件5通过第一杆体51和第二杆体52组成二连杆，第一杆体51转动时可以通过第二杆体52拉动或推动测试板3。本实施方式中的连杆组件5所控制测试板3升降的距离取决于第一杆体51和第二杆体52的长度，在电路板测试治具有限的空间内，连杆组件5的设置可以获得较大的测试板3位移距离，使得测试板3与测试平台2之间的空间较大，在放入或取出电路板时十分方便，避免因测试板3与测试平台2之间的空间较小造成电路板的磕碰损坏的情况。

其中在测试板3上升至极限位置时，第一杆体51与第二杆体52近乎在同一直线上；在测试板3下降至极限位置时，第二杆体52与第一杆体51互成锐角。由此可知测试板3在架体4上的升降范围较大。由于第一杆体51和轴体62在底座1上均具有一定高度，则测试板3在下降至极限位置时仍与底座1有一定距离。本实施方式中电路板测试治具还包括：用于将测试平台2安装在底座1上的安装柱21，安装柱21设有4个，分别设在测试平台2的四角，且各安装柱21均竖直设置，用于提升测试平台2的高度。安装柱21的设置可以保证当测试板3下降时可以接触到测试平台2所在的位置，进而保证测试平台2上的电路板可以与测试板3接触，顺利完成电路板的测试。

同时值得注意的是，第二杆体52的杆长低于第一杆体51的杆长，避免测试板3的位置低于轴体62的高度。同时，第二杆体52为弯折杆，第二杆体52与测试板3铰接的一端朝背离测试板3的方向弯折，使得第二杆体52靠近测试板3的一端更加贴近竖直，第二杆体52在转动时给予测试板3在水平方向上的力减少，减小测试板3与支撑座在水平方向上的作用力，保证电路板测试治具的寿命。

值得注意的是，测试板3包括：测试板3本体、设在测试板3本体上并分别用于与支撑柱42滑动连接的两个套环32，两个套环32分别套设在支撑柱42，用于在支撑柱42上滑动。套环32与支撑柱42抵触的面积较大，可以增强与支撑柱42的连接面积，提升测试板3本体的稳定程度。触点均设在测试板3本体上。本实施方式中，电路板测试治具还包括：与套环32朝向顶板41的侧面相抵的第一回弹组件7、与套环32朝向底座1的侧面相抵的第二回弹组件8。第一回弹组件7和第二回弹组件8均套设在支撑柱42上，其中第一回弹组件7和第二回弹组件8均为弹簧，在测试板3向上方滑动时，第一回弹组件7与顶板41相抵并压缩，对上升的测试板3进行缓冲，避免测试板3与顶板41相撞，同时为测试人员在扳动手柄63时提供一定阻力，便于测试人员控制扳动手柄63的力度；测试板3向下滑动时，第二回弹组件8与底座1相抵并压缩，对下降中的测试板3进行缓冲，避免测试板3与测试平台2相撞，损坏电路板。

由于测试板3与测试装置电性连接，测试板3上延伸有电连接线，在测试板3上下移动时，电连接线会与支撑柱42有一定蹭刮，容置导致点连接线的外皮损坏。本实施方式中，任意一个未与测试板3滑动连接的支撑柱42上设有走线器9，走线器9为卡箍，电连接线通过卡箍固定在支撑柱42上，在测试板3上下移动时，电连接线不会因与支撑柱42发生蹭刮而损坏。

本领域的普通技术人员可以理解，上述各实施方式是实现本实用新型的具体实施例，而在实际应用中，可以在形式上和细节上对其作各种改变，而不偏离本实用新型的精神和范围。