OLED器件测试治具、OLED器件寿命测试仪的制作方法

本实用新型涉及oled器件测试技术领域，特别是一种免封装的oled器件测试治具、oled器件寿命测试仪。

背景技术：

目前oled器件寿命测试仪，需封装后隔绝水氧对材料的影响，才能测试出oled器件材料寿命，现有封装胶和干燥剂都是进口材料，价格昂贵，封装耗材成本高，很难降低实验成本；而且封装效果不好的偶然性也会影响老化测试结果。

有鉴于此，有必要提供一种改进的oled器件测试治具及oled器件寿命测试仪，以解决上述技术问题。

技术实现要素：

本实用新型的一个目的是提供一种免封装的oled器件测试治具及oled器件寿命测试仪。

为实现上述目的，本实用新型采用如下技术方案：

一种oled器件测试治具，包括：

底座，所述底座包括用以放待测oled器件的支撑部、位于所述支撑部上的测试探针、位于所述支撑部上的环状的第一密封件，所述第一密封件设置于所述支撑部上与待测oled器件的无效区域相对应的位置处；

抽真空组件，包括位于所述第一密封件内侧的所述支撑部上的抽气孔、连接于所述抽气孔的抽气管、打开或关闭所述抽气管的抽气阀、连接于所述抽气管远离所述抽气孔的一端的真空泵；

测试组件，包括设置于所述底座上的点亮元件、设置于所述支撑部上与待测oled器件有效区域相对应的位置处的第一测试元件；

控制器，与所述抽真空组件和所述测试组件均通讯连接。

进一步地，所述测试探针与所述第一密封件均自所述支撑部向上延伸，所述测试探针为弹性探针，所述弹性探针具备伸长状态与收缩状态，所述第一密封件不高于处于伸长状态的所述弹性探针，且所述第一密封件不低于处于收缩状态的所述弹性探针。

进一步地，所述第一密封件设置于所述测试探针的内侧。

进一步地，所述抽真空组件还包括于所述第一密封件内侧的所述支撑部上的真空度探头。

进一步地，所述oled器件测试治具还包括与所述控制器通讯连接的充气组件，所述充气组件包括位于所述第一密封件内侧的所述支撑部上的充气孔、连接于所述充气孔的充气管、打开或关闭所述充气管的充气阀；或，所述充气组件包括位于所述第一密封件内侧的所述支撑部上的充气孔、连接于所述充气孔的充气管、打开或关闭所述充气管的充气阀、连接于所述充气管远离所述充气孔的一端的惰性气源。

进一步地，所述oled器件测试治具还包括相对所述底座打开或闭合的盖板；所述测试组件还包括设置于所述盖板上与待测oled器件有效区域相对应的位置处的第二测试元件。

为实现上述目的，本实用新型采用如下技术方案：

一种oled器件测试治具，包括：

底座，所述底座包括用以放待测oled器件的支撑部、位于所述支撑部上的测试探针；

相对所述底座打开或闭合的盖板，包括设置于所述盖板朝向所述底座的一侧的抵持件；

第二密封件，位于所述底座与所述盖板的连接处；

抽真空组件，包括位于所述底座或所述盖板上的抽气孔、连接于所述抽气孔的抽气管、打开或关闭所述抽气管的抽气阀、连接于所述抽气管远离所述抽气孔的一端的真空泵；

测试组件，包括设置于所述底座上的点亮元件、设置于所述支撑部上与待测oled器件有效区域相对应的位置处的第一测试元件；

控制器，与所述抽真空组件和所述测试组件均通讯连接。

进一步地，所述测试组件还包括设置于所述盖板上与待测oled器件有效区域相对应的位置处的第二测试元件。

进一步地，所述抽真空组件还包括位于所述底座或所述盖板上的真空度探头。

进一步地，所述oled器件测试治具还包括与所述控制器通讯连接的充气组件，所述充气组件包括位于所述底座或所述盖板上的充气孔、连接于所述充气孔的充气管、打开或关闭所述充气管的充气阀；或，所述充气组件包括位于所述第一密封件内侧的所述支撑部上的充气孔、连接于所述充气孔的充气管、打开或关闭所述充气管的充气阀、连接于所述充气管远离所述充气孔的一端的惰性气源。

为实现上述目的，本实用新型采用如下技术方案：

一种oled器件寿命测试仪，包括上述任意一种oled器件测试治具。

与现有技术相比，本实用新型的oled器件测试治具，通过抽真空组件与所述底座相配合，能够形成负压固定待测oled器件，并形成一个真空的测试腔，可在真空条件下完成测试，避免了水、氧气对其的影响，且省去了封装胶和干燥剂的费用，且减少了器件封装效果对器件寿命老化测试结果的影响。

通过以下参照附图对本实用新型的示例性实施例的详细描述，本实用新型的其它特征及其优点将会变得清楚。

附图说明

被结合在说明书中并构成说明书的一部分的附图示出了本实用新型的实施例，并且连同其说明一起用于解释本实用新型的原理。

图1是本实用新型较佳实施例的oled器件测试治具的结构示意图；

图2是本实用新型另一较佳实施例的oled器件测试治具的结构示意图；

图3是本实用新型又一较佳实施例的oled器件测试治具的结构示意图。

附图标记说明：

100,100’-oled器件测试治具，1,1’-待测oled器件，11,11’-基板，12,12’-功能器件，2,2’-底座，21,21’-支撑部，22,22’-测试探针，23,23’-第一密封件，3,3’-盖板，31-抵持件，4,4’-抽真空组件，41,41’-抽气孔，42,42’-抽气管，43,43’-抽气阀，44,44’-真空度探头，5,5’-充气组件，51,51’-充气孔，52,52’-充气管，53,53’-充气阀，6,6’-测试组件，61,61’-第一测试元件，62,62’-第二测试元件，7,7’-锁紧机构，71,71’-第一磁性元件，72,72’-第二磁性元件，8-第二密封件。

具体实施方式

现在将参照附图来详细描述本实用新型的各种示例性实施例。应注意到：除非另外具体说明，否则在这些实施例中阐述的部件和步骤的相对布置、数字表达式和数值不限制本实用新型的范围。

以下对至少一个示例性实施例的描述实际上仅仅是说明性的，决不作为对本实用新型及其应用或使用的任何限制。

请参照图1～图3所示，为本实用新型较佳实施方式的oled器件测试治具100；通常安装于oled器件寿命测试仪(未图示)上，可以对未封装的oled器件1进行测试；下文中的待测oled器件为未封装的oled器件。

未封装的oled器件1为现有技术中任意一种，通常包括基板11、位于基板11上的功能器件12；所述功能器件12包括阳极、空穴注入层(hil)、空穴传输层(htl)、有机发光层(eml)、电子传输层(etl)、电子注入层(eil)、阴极等部分构成。

为了便于描述，定义待测oled器件1中发光区域为有效区域，即包含有机发光层的功能器件12所在区域为有效区域，而位于功能器件12外的不发光区域为无效区域。

请具体参考图1所示，所述oled器件测试治具100包括用以支撑待测oled器件1的底座2、与所述底座2相配合以固定所述oled器件1并能够形成真空测试环境的抽真空组件4、用以测试oled器件1寿命的测试组件6、控制器(未图示)；其中所述控制器与其他需要被控制的所有元件均通讯连接，以实现对oled器件1寿命的自动化测试，不再一一陈述。

具体地，所述底座2包括用以放待测oled器件1的支撑部21、位于所述支撑部21上的测试探针22、位于所述支撑部21上的环状的第一密封件23，所述第一密封件23设置于所述支撑部21上与待测oled器件1的无效区域相对应的位置处。

本领域技术人员可以理解的是，“所述第一密封件3呈环状指”的是所述第一密封件3能够环绕在所述oled器件1的周围，所述第一密封胶3为一体式或分体式均可，且环状为任意形状的封闭环，包括但不限于圆环状、方环状等；另外，将待测oled器件1放置于所述支撑部21时，所述测试探针22与待测oled器件1的电极接触，所述第一密封件23与待测oled器件1的部分基板11相对应，从而不会对oled器件1的功能器件12及其测试造成影响。

本实施例中，所述测试探针22与所述第一密封件23均自所述支撑部21向上延伸.所述测试探针22为本领域常用的弹性探针，具有伸展状态、收缩状态，例如可伸缩的铜探针；所述第一密封件23不高于处于伸展状态的所述弹性探针的高度，以免所述测试探针22与所述电极不能形成有效的电性接触；且所述第一密封件23不低于处于收缩状态的所述弹性探针的最低高度，以免所述第一密封件23不能与待测oled器件1的基板11接触，不能形成一个密闭的测试环境，进而在所述抽真空组件4工作时，无法形成有效的负压。

本领域技术人员可以理解的是，上述伸展状态指的是所述弹性探针的最大伸长状态，也即自由状态；上述收缩状态，指的是所述弹性探针在受到外力后的最大收缩状态，也即被压缩至长度最短时候的状态，并且根据受到的外力的大小，所述弹性探针还可以停留在介于上述伸长状态与上述收缩状态之间的变化过程中的任意状态。

进一步地，所述第一密封件23设置于所述测试探针22的内侧，一方面，在放置待测oled器件1时，便于观察oled器件1的电极是否与所述测试探针22对准；另一方面，所述第一密封件23与待测oled器件1构成的密闭空间相对较小，便于形成有效的负压。

所述抽真空组件4包括位于所述第一密封件23内侧的所述支撑部21上的抽气孔41、连接于所述抽气孔41的抽气管42、打开或关闭所述抽气管42的抽气阀43、连接于所述抽气管42远离所述抽气孔41的一端的真空泵。

将待测oled器件1放置于支撑部21上后，开启真空泵，通过负压使得oled器件1向所述支撑部21靠近，并使其基板11与所述第一密封件23接触形成一个真空的测试腔，在将待测oled器件1固定的同时，可在真空条件下完成测试，避免了水、氧气对其的影响，且省去了封装胶和干燥剂的费用，且减少了器件封装效果对器件寿命老化测试结果的影响。

优选地，所述抽真空组件4还包括于所述第一密封件23内侧的所述支撑部21上的真空度探头44，所述真空度探头44与所述控制器通讯连接，以能够及时观察测试腔内的负压，并根据负压对所述真空组件和所述测试组件6进行控制。

进一步地，所述oled器件测试治具100还包括与所述控制器通讯连接的充气组件5，所述充气组件5包括位于所述第一密封件23内侧的所述支撑部21上的充气孔51、连接于所述充气孔51的充气管52、打开或关闭所述充气管52的充气阀53。在测试完成后，通过充气组件5给所述测试腔提供气体，便于取下待测oled器件1。

优选地，所述充气组件5还包括连接于所述充气管52远离所述充气孔51的一端的惰性气源，例如氮气瓶。考虑到待测oled器件1的基板11承受力度有限，通过所述抽真空组件4与所述充气组件5相配合，先抽真空再充入氮气，形成一个氮气氛围的、低真空状态的测试腔，既可以避免水和氧气对待测oled器件1的影响，又能保护待测oled器件1或所述第一测试元件61不会受到太大负压作用破损。

所述测试组件6包括设置于所述底座2上的点亮元件(未图示)、设置于所述支撑部21上与待测oled器件1有效区域相对应的位置处的第一测试元件61。所述点亮元件与所述第一测试元件61的结构、设置位置等均采用现有技术，于此不再赘述。

进一步地，请参考图2所示，基于上述任意结构的所述oled器件测试治具100，其还包括相对所述底座2打开或闭合的盖板3，所述底座2与所述盖板3可通过转轴等连接；所述测试组件6还包括设置于所述盖板3上与待测oled器件1有效区域相对应的位置处的第二测试元件62。

通过设有所述第一测试元件61与所述第二测试元件62，在待测oled器件1的上下两侧均可以对其进行测试，因此摆放待测oled器件1时，无需考虑其正反面，提高了摆放效率。具体地，当待测oled器件1是底发光器件时，采用所述第二测试元件62对其进行测试，当待测oled器件1是顶发光器件时，采用所述第一测试元件61对其进行测试。

进一步地，所述oled器件测试治具100还包括锁紧机构7，所述锁紧机构7包括设置于所述底座2上的第一磁性元件71、设置于所述盖板3上的第二磁性元件72。所述第一磁性元件71、所述第二磁性元件72中的一个为永磁体，一个为能被所述永磁体磁吸的铁磁元件；或所述第一磁性元件71、所述第二磁性元件72的相面对的侧的磁性相反。

请参考图3所示，为本实用新型另一较佳实施例的oled器件测试治具100’，其包括用以支撑待测oled器件1’的底座2’、相对所述底座2’打开或闭合的盖板3’、位于所述底座2’与所述盖板3’的连接处的第二密封件8、能够形成真空测试环境的抽真空组件4’、用以测试oled器件1’寿命的测试组件6’、控制器；其中所述控制器与其他需要被控制的所有元件通讯连接，以实现对oled器件1’寿命的自动化测试。

具体地，所述底座2’包括用以放待测oled器件1’的支撑部21’、位于所述支撑部21’上的测试探针22’；将待测oled器件1’放置于所述支撑部21’时，所述测试探针22’与待测oled器件1’的电极接触。

所述盖板3’包括设置于所述盖板3’朝向所述底座2’的一侧的抵持件31，在将所述盖板3’关闭时，所述抵持件31压在待测oled器件1’上，使得其电极与所述测试探针22’有效接触，同时实现对oled器件1的固定。

所述底座2与所述盖板3可通过转轴等连接。

进一步地，所述oled器件测试治具100’还包括锁紧机构7’，所述锁紧机构7’包括设置于所述底座2’上的第一磁性元件71’、设置于所述盖板3’上的第二磁性元件72’。所述第一磁性元件71’、所述第二磁性元件72’中的一个为永磁体，一个为能被所述永磁体磁吸的铁磁元件；或所述第一磁性元件71’、所述第二磁性元件72’的相面对侧的磁性相反。

所述抽真空组件4’包括位于所述底座2’或所述盖板3’上的抽气孔41’、连接于所述抽气孔41’的抽气管42’、打开或关闭所述抽气管42’的抽气阀43’、连接于所述抽气管42’远离所述抽气孔41’的一端的真空泵(未图示)。

将待测oled器件1’放置于支撑部21’上后，开启真空泵，使得所述底座2’与所述盖板3’围设形成的测试腔处于真空状态，进而可在真空条件下完成测试，避免了水、氧气对其的影响，且省去了封装胶和干燥剂的费用，且减少了器件封装效果对器件寿命老化测试结果的影响。

优选地，所述抽真空组件4’还包括位于所述底座2’或所述盖板3’上的真空度探头44’。所述真空度探头44’与所述控制器通讯连接，以能够及时观察测试腔内的负压，并根据负压对所述真空组件和所述测试组件6’进行控制。

进一步地，所述oled器件测试治具100’还包括与所述控制器通讯连接的充气组件5’，所述充气组件5’包括位于所述底座2’或所述盖板3’上的充气孔51’、连接于所述充气孔51’的充气管52’、打开或关闭所述充气管52’的充气阀53’。在测试完成后，通过充气组件5’给所述测试腔提供气体，便于取下待测oled器件1’。

优选地，所述充气组件5’还包括连接于所述充气管52’远离所述充气孔51’的一端的惰性气源(未图示)，例如氮气瓶。通过所述抽真空组件4’与所述充气组件5’相配合，先抽真空再充入氮气，形成一个氮气氛围的、低真空状态的测试腔，既可以避免水和氧气对待测oled器件1’的影响，又能保护待测oled器件1’或所述第一测试元件61’不会受到太大负压作用破损。

所述测试组件6包括设置于所述底座2’上的点亮元件、设置于所述支撑部21’上与待测oled器件1’有效区域相对应的位置处的第一测试元件61’。所述点亮元件与所述第一测试元件61’的结构、设置位置等均采用现有技术，于此不再赘述。

进一步地，所述测试组件6’还包括设置于所述盖板3’上与待测oled器件1’有效区域相对应的位置处的第二测试元件62’。通过设有所述第一测试元件61’与所述第二测试元件62’，在待测oled器件1’的上下两侧均可以对其进行测试，因此摆放待测oled器件1’时，无需考虑其正反面，提高了摆放效率。具体地，当待测oled器件1’是底发光器件时，采用所述第二测试元件62’对其进行测试，当待测oled器件1’是顶发光器件时，采用所述第一测试元件61’对其进行测试。

另外，本实用新型还提供一种oled器件寿命测试仪，包括上述任意一种oled器件测试治具100或100’。所述oled器件寿命测试仪的其他结构及其功能均参考现有技术，于此不再赘述。

虽然已经通过例子对本实用新型的一些特定实施例进行了详细说明，但是本领域的技术人员应该理解，以上例子仅是为了进行说明，而不是为了限制本实用新型的范围。本领域的技术人员应该理解，可在不脱离本实用新型的范围和精神的情况下，对以上实施例进行修改。本实用新型的范围由所附权利要求来限定。