1.一种用于对异质材料中的缺陷进行超声检测和表征的方法，包括以下步骤：
a)对于材料的表面处的多个位置(z)中的每个位置，
-包括多个换能器(14，15)的多元件探头(1)设置在所述材料的表面(11)处的位置(z)处；
-对于所述多元件探头(1)的多种配置，超声波由至少一个发射换能器(14)发射(s11)，并且至少一个接收换能器(15)获取(s12)表示在所述材料中传播的所述超声波的幅值的测量信号，所述测量信号作为到达这个位置(z)处的这个探头配置的时间的函数，不同的配置通过由所述换能器对超声波的发射施加的不同延迟或者通过由不同换能器(14，15)实现的发射器或接收器功能而彼此区分，
b)对于所述多元件探头(1)的每个位置(z)，对将所述多元件探头(1)的不同配置的所述测量信号分组在一起的测量数据组实施聚焦算法，并且针对每个探头位置(z)获得(s2)图像，其中所述图像的每个像素表示所述材料的探测点(w)，对于不同探头位置(z)上的所述探测点(w)，聚焦幅值与所述探测点(w)相关联，
c)对于每个探测点(w)，确定(s3)不同探头位置(z)上的所述探测点处聚焦幅值的中心趋势的度量，
d)对于每个探测点(w)，确定(s4)表示不同探头位置(z)上这个探测点(w)处的所述聚焦幅值的可变性的函数，
e)对于每个图像，通过从所述幅值中减去中心趋势的度量并除以表示所述可变性的函数来校正(s5)每个探测点(w)处的所述聚焦幅值，以便获得经校正的图像，
f)基于所述经校正的图像检测和表征(s6)所述材料中的缺陷。
2.根据前述权利要求所述的方法，其中，不同的配置能够通过由不同换能器(14，15)实现的发射器或接收器功能来彼此区分，并且所述聚焦算法是全聚焦算法。
3.根据权利要求1所述的方法，其中，所述不同的配置能够通过由所述换能器对超声波的发射施加的换能器之间的不同时间偏移来彼此区分，并且所述聚焦算法是平面波成像。
4.根据权利要求1所述的方法，其中，所述中心趋势的度量是平均值或中值。
5.根据权利要求4所述的方法，其中，所述中心趋势的度量是具有以下通式的平均值a(w)：
其中ns是所考虑的不同探头位置(z)的图像的数量，ns大于2，vw是点w周围的一组点，所述一组点能够被减少为点w，i(zi,wj)是对于点wj在探头位置zi处的幅值或所述聚焦幅值的绝对值。
6.根据权利要求5所述的方法，其中，
7.根据前述权利要求之一所述的方法，其中，所述中心趋势的度量是具有以下通式的平均值a(w)：
其中ns是所考虑的不同探头位置(z)的图像的数量，ns大于2，vw是点w周围的一组点，所述一组点能够被减少为点w，i(zi,wj)是对于探测点wj在探头位置zi处的幅值，以及nv是所述一组点vw的基数。
8.根据前述权利要求之一所述的方法，其中，表示不同探头位置(z)上这个探测点w的所述幅值的可变性的函数b(w)具有通式
其中α'、β’和γ’不同于零，ns’为不同探头位置(z)的图像的数量，vw’是点w周围的一组点，所述一组点能够被减少为所述点w，以及a(w)是所述中心趋势的度量。
9.根据前项权利要求所述的方法，其中
·a(w)是平均值，或者a(w)是所述一组点vw的中值，并且
·α'＝2并且γ'＝0.5，或者α'＝1且γ'＝1，并且
·
10.根据前述权利要求之一所述的方法，其中，表示不同探头位置(z)上这个探测点w处的所述幅值的可变性的函数b(w)具有通式
其中ns是不同探头位置(z)的图像的数量，vw是所述探测点w周围的一组点，所述一组点能够被减少到探测点w，i(zi,wj)是对于探测点wj在探头位置zi处的所述聚焦幅值，nv是vw的基数，以及a(w)是不同探头位置(z)上所述探测点处的所述聚焦幅值的中心趋势的度量。
11.根据前述权利要求之一所述的方法，其中缺陷的所述检测包括借助于双边滤波器对至少一个经校正的图像进行空间滤波以及与阈值进行比较的步骤。
12.一种计算机程序产品，包括记录在非暂时性有形介质上的程序代码指令，当所述程序在计算机上执行时所述程序代码指令能够被计算机读取以用于执行根据任何前述权利要求所述的方法中的所述步骤b)至f)。