电热膜温阻测试架的制作方法

本实用新型涉及电热膜生产测试技术领域，特别涉及一种电热膜温阻测试架。

背景技术：

电热膜是一种通电后能发热的半透明聚酯薄膜，由可导电的特制油墨、金属载流条经加工、热压在绝缘聚酯薄膜间制成，其中，具有自限温功能的电热膜常被用于保温等用途。自限温功能指的是电热膜通电达到设定温度状态下，如果温度升高，电阻就会增大，电流就会减小，温度就不会一直升高；相反，温度降低后，电阻就会减小，电流会增大，温度就会上升。通过自限温功能可以把电热膜的工作温度控制在合理的范围内，从而减少安全隐患。

为了对进一步确定电热膜的自限温功能，通常会对电热膜进行温阻测试(恒温箱r-t测试)。简单来说，温阻测试是通过改变恒温箱温度来模拟电热膜工作温度(t)上升和下降的情况，来测试电热膜的阻值(r)变化情况从而判定电热膜自限温功能的好坏。

在现有技术中，由于电热膜的汇流条是被包裹在绝缘聚酯薄膜间的，因而测试前要从汇流条引出导线连接测试仪器。通常需要在每片电热膜的汇流条处打孔后连接金属导电卡扣，卡扣上连接导线。并且每个金属导电卡扣上要贴绝缘胶带，以防止短路。

由于，每片电热膜进行测试时都需要分别进行打孔、接线和贴绝缘胶带，重复操作较费时，并且同时测试多片时导线错综复杂，无法对测试的电热膜片快速准确定位和标记。

并且，多个样品测试时电热膜直接堆叠，受热、导热和散热较差，每片电热膜表面和内部温度不均匀导致测试结果不准确。例如，多个样品测试时电热膜直接堆叠，散热不均匀导致中心温度较高，电热膜容易发生卷曲造成电热膜测试状态的变化，从而影响测试结果可信度。

技术实现要素：

于是，在本申请的一个实施方式中，提供了一种电热膜温阻测试架，包括：测试头，用于进行温阻测试，包括间隔地堆叠设置的至少两个测试层，测试层包括测试电极和导线，且测试电极与导线连接；测试支架，与测试头对接，用于盛放待测电热膜，包括间隔地堆叠设置的至少两个放置层，每个放置层与对应的测试层对接，放置层与测试层对接的一端设置有对接槽，对接槽设置在测试支架靠近测试头的一端。

相对于现有技术而言，本申请的实施方式中，通过设置测试电极直接接通电热膜代替免多次打孔、多次接线和贴绝缘胶带等步骤，大幅提高了电热膜温阻测试的效率。并且通过放置层的间隔叠放，使测试架上每一层的电热膜都导热、受热均匀，减少了散热不均匀导致的电热膜测试状态变化的发生，从而有效地提高了测试结果的精度。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本申请的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图推导出其他的附图中未出现的关联结构。

图1是本申请实施方式中电热膜温阻测试架的测试头与测试支架未对接的示意图；

图2是本申请实施方式中电热膜温阻测试架的测试头与测试支架对接的示意图；

图3是本申请实施方式中测试层的俯视示意图；

图4是本申请实施方式中设置放槽的放置层的俯视示意图；

图5是本申请实施方式中设置镂空部的放置层的正视示意图；

图6是本申请实施方式中电热膜温阻测试架的立体示意图。

附图标记说明：

1-电热膜温阻测试架；

2-测试头；2a-测试层；2a1-测试电极；2a11-针状电极；2a2-导线；2a3-第一支柱；2a4-电极导轨；

3-测试支架；3a-放置层；3a1-对接槽；3a2-第二支柱；3a3-放置槽；3a4-镂空部。

4-电热膜。

具体实施方式

实施方式一

在本申请的第一实施方式中，提供了一种电热膜温阻测试架1，参见图1和图2所示，包括测试头2和测试支架3。其中，测试头2用于连接电热膜4，包括间隔地堆叠设置的至少两个测试层2a。每个测试层2a包括测试电极2a1和导线2a2，且测试电极2a1与导线2a2连接。测试支架3与测试头2对接，用于盛放待测电热膜4。测试支架3包括间隔地堆叠设置的至少两个放置层3a，且每个放置层3a与对应的测试层2a对接，放置层3a与测试层2a对接的一端设置有对接槽3a1，对接槽3a1设置在测试支架3靠近测试头2的一端。

在本申请中，测试头2的不同测试层2a之间可以采用可拆装的方式堆叠在一起。类似的，测试支架3的不同放置层3a之间也可以采用可拆装的方式进行安装。采用上述可拆装的安装方式组装电热膜温阻测试架1，有利于操作人员根据实际的操作需要调节测试层2a以及放置层3a的个数，并且便于对电热膜温阻测试架1进行维修更换。

由于相邻的放置层3a之间形成有间隔，因此当电热膜4安放于放置层3a上时，相邻的电热膜4之间形成一定空间供热量进行交换，防止电热膜4同时与两个放置层3a接触。通过设置间隔减少了相邻放置层3a之间的干扰，提高了电热膜温阻测试架1的导热、散热性能，使测试支架3上每一放置层3a内的电热膜4都导热、受热均匀，从而有效减少了散热不均匀导致的电热膜4测试状态变化的情况发生。

具体来说，采用本实施方式中的电热膜温阻测试架1对电热膜4进行测试时，首先可以根据电热膜4的数量调节放置层3a和测试层2a的个数，再将测试层2a组装为测试头2，将放置层3a组装为测试支架3。之后将需要测试的电热膜4放置在放置层3a上，并对接测试头2与测试支架3。其中，每个测试层2a上的测试电极2a1可以连接电热膜4插入对应放置层3a的对接槽3a1内，并连接电热膜4的汇流条。在测试头2接通测试仪器后，测试电极2a1在固定电热膜4的同时能够向电热膜4供电，从而进行对电热膜4的温阻测试。

值得一提的是，在本申请的实施方式中，对接槽3a1可以是绝缘凹槽(或者对接槽3a1内形成有绝缘层)，从而在测试电极2a1的插拔过程中保护测试电极2a1，减少对测试电极2a1的损耗，并且可以防止短路，从而提高电热膜温阻测试架1的使用安全性。

优选的，为了在相邻放置层3a之间形成间隔，在本申请的实施方式中，参见图3所示，测试层2a还包括第一支柱2a3，相邻的测试层2a之间通过第一支柱2a3连接。

具体来说，在实际操作中，相邻两个测试层2a上下叠放，且两层的第一支柱2a3的位置对齐，位于上层的测试层2a的第一支柱2a3抵接在下层的测试层2a的上表面，并通过第一支柱2a3支撑相邻量测试层2a之间的间隔。

并且，在本实施方式中，为了提高不同测试层2a之间的连接强度，测试层2a上还可以设置用于配合第一支柱2a3的第一连接件(未图示)。其中，第一连接件的种类是多样的，只要能够加固相邻两测试层2a之间的连接即可，本实施方式以第一连接件为魔术贴、磁性件、螺纹配合件以及安装槽为例进行说明。

当第一连接件为魔术贴时，第一支柱2a3的端部可以设置能够与第一连接件相互粘连的魔术贴，从而通过魔术贴之间的连接，将相邻的测试层2a可拆装的组装在一起。

当第一连接件为磁性件时，第一连接件通常可以埋设或嵌设在测试层2a内，并且磁性件的设置位置与第一支柱2a3的位置对齐。为了使第一支柱2a3能够紧密地与磁性件连接，通常可以在第一支柱2a3端部设置能够与磁性件相互吸引的铁磁性材料，或者第一支柱2a3采用铁磁性材料制成。在组装时，操作人员只需要将每一个测试层2a的第一支柱2a3对齐邻层的磁性件，即可完成测试头2的组装，且便于测试头2的拆卸。

当第一连接件为螺纹配合件(螺母或螺帽等)时，第一支柱2a3通常为螺纹件(螺柱或螺钉等)。并且为了便于第一支柱2a3与螺纹配合件之间的相互配合，螺纹件通常可旋动地嵌设在测试层2a内，并且螺纹配合件的安装位置与第一支柱2a3的安装位置对齐。在组装时，将第一支柱2a3对齐螺纹配合件，并旋动螺纹配合件，使第一支柱2a3与螺纹配合件牢固地安装在一起。

当第一连接件为第一安装槽时，相邻的测试层2a之间通过第一支柱2a3以及第一安装槽之间的配合固定连接，第一支柱2a3与第一安装槽分别设置于相邻的测试层2a之间相对的两个面上，并且第一安装槽对齐第一支柱2a3设置。在实际使用中，安装测试头2时，将第一支柱2a3插入对应的第一安装槽，能够使相邻的测试层2a之间的连接更加牢固，减少测试层2a之间的相互移动，提高电热膜温阻测试架1的安全性。

此外，在本实施方式中，第一支柱2a3还可以贯穿测试层2a的厚度方向设置，并通过相邻量两测试层2a的第一支柱2a3之间的配合支撑测试头2。其中，为了加固连接，可以在第一支柱2a3上设置磁性件或魔术贴等连接件。

更加优选的，在本申请的实施方式中，参见图4所示，放置层3a还包括第二支柱3a1，相邻的放置层3a之间通过第二支柱3a1连接。

具体来说，在实际使用过程中，相邻两个放置层3a的第二支柱3a1的位置对齐，位于上层的放置层3a的第二支柱3a1抵接在下层的放置层3a的上表面，并通过第二支柱3a1支撑相邻量放置层3a之间的间隔。

类似的，在本实施方式中，为了提高不同放置层3a层之间的连接强度，放置层3a上还可以设置用于配合第二支柱3a1的第二连接件(未图示)。其中，第二连接件可以是魔术贴、磁性件、螺纹配合件或安装槽等，具体的操作与第一支柱2a3和第一连接件的配合类似，此处仅以第二连接件为第二安装槽为例进行说明。

当相邻的放置层3a之间通过第二支柱3a1以及第二安装槽之间的配合固定连接时，第二支柱3a1与第二安装槽分别设置于相邻的放置层3a对置的两个面上，并且第二安装槽的位置对齐第二支柱3a1。

具体来说，在本实施方式中，通过第二支柱3a1在相邻的放置层3a之间形成间隔，从而增加了相邻测试层2a之间的间距，有利于提高测试支架3的散热性能，减少电热膜中心部的热量累积。在实际使用中，安装测试支架3时，将第二支柱3a1插入对应的第二安装槽，能够使相邻的放置层3a之间的连接更加牢固，减少放置层3a之间的相互移动，提高电热膜温阻测试架1的安全性。其中，第二支柱3a1的长度通常大于第二安装槽的深度，从而确保相邻测试层2a之间能够形成足够的间隔。此外，第二支柱3a1与第二安装槽一般设置于不影响电热膜4放置的位置处。

值得一提的是，在测试头2组装完成后，相邻测试层2a之间由形成的间隔的尺寸与相邻放置层3a之间的间隔的尺寸相同，防止测试电极2a1未能与汇流条接触，并确保测试电极2a1能够准确地插入对接槽3a1并对电热膜4进行测试。

实施方式二

本申请的第二实施方式提供了一种电热膜温阻测试架1，第二实施方式是对第一实施方式进一步改进，其主要改进之处在于，在本申请的第二实施方式中，参见图3所示，测试层2a上设置有电极导轨2a4，测试电极2a1可滑动地安装于电极导轨2a4内。

具体来说，在本实施方式中，当测试头2与测试支架3对接后，每一个测试层2a上的电极导轨2a4与对应测试层2a上的对接槽3a1重合，确保测试电极2a1能够精准地插入对接槽3a1并与电热膜4电连接。此外，电极导轨2a4的长度通常小于或等于对接槽3a1的长度，从而减少测试电极2a1未能接入对接槽3a1并与放置层3a发生碰击的情况，有利于保护测试电极2a1，提高了使用的安全性。

进一步的，在本申请的实施方式中，参见图3所示，测试电极2a1包括至少两个针状电极2a11，每个针状电极2a11沿电极导轨2a4独立地滑动。操作员人可根据测试的实际需要改变针状电极2a11的位置，从而调节针状电极2a11之间的间距。

在实际测试中，由于电热膜4的汇流条是被包裹在绝缘聚酯薄膜间的，所以测试前需在电热膜4上打孔，从而将从汇流条引出导线2a2连接测试仪器上。由于测试电极2a1采用针状电极2a11，因此即便不在电热膜4上开孔，针状电极2a11也能够比较轻松地穿过绝缘聚酯薄膜并连接汇流条，从而对电热膜4进行测试。其中，每个针状电极2a11可以是一根电极，也可以由多根电极簇组成。

值得一提的是，在本实施方式中，针状电极2a11上还包括固定部件(例如固定螺纹件)，能够将针状电极2a11固定在指定位置，从而减少针状电极2a11在使用过程中的移动，有利于测试仪器向电热膜4稳定供电，进一步提高了温阻测试的精度。

实施方式三

本申请的第三实施方式提供了一种电热膜温阻测试架1，本申请的第三实施方式是对第一和第二实施方式的进一步改进，在本实施方式中，参见图3所示，放置层3a上设置有放置槽3a3。

出于减小电热膜4在放置层3a上移动的考量，在本申请的实施方式中，放置层3a上设置有放置槽3a3；对接槽3a1设置于放置槽3a3内，并位于放置槽3a3靠近测试头2的端部。

在实际测试时，电热膜4会被放置在放置槽3a3内，而放置槽3a3的槽壁能够限制电热膜4的滑动，从而起到固定电热膜4的效果，并且有利于电热膜4与测试头2之间的紧密连接，减少因电热膜4的移动而导致测试电极2a1与电热膜4断开的情况。

为了进一步提高测试支架3的导热、散热效果，参见图5，放置层3a还包括镂空部3a4，且镂空部3a4设置于放置层3a的设有放置槽3a3的一侧的对侧。

设置镂空部3a4能够进一步增加相邻测试层2a之间间隔的尺寸，从而有利益提高电热膜温阻测试架1的导热、散热性能，进一步优化测试结果的精度。

本领域的普通技术人员可以理解，在上述的各实施方式中，为了使读者更好地理解本申请而提出了许多技术细节。但是，即使没有这些技术细节和基于上述各实施方式的种种变化和修改，也可以基本实现本申请各权利要求所要求保护的技术方案。因此，在实际应用中，可以在形式上和细节上对上述实施方式作各种改变，而不偏离本申请的精神和范围。