一种芯片外观参数测量台仪器的制作方法

1.本实用新型涉及测量仪器技术领域，具体为一种芯片外观参数测量台仪器。


背景技术：

2.随着电子技术的迅速发展，电子芯片的检测技术需求也在快速提升，电子芯片的外观参数测量，也成为了电子芯片检测技术的重要组成部分。常规的电子芯片外观参数测量方式比如机械卡尺测量，测量速度慢，并且芯片结构精密，容易被机械装置损伤。常规光学外观参数测量设备虽然不需要固定芯片，但是仍需要将芯片放置在坚硬的平台上，芯片底部一般有较为细密的针脚，坚硬平台容易损伤针脚，并且针脚结构有大量细小缝隙，容易进灰难以清理。


技术实现要素：

3.本实用新型的目的在于提供一种芯片外观参数测量台仪器，包括光学测量探头，所述光学测量探头设置在测量杆的顶部，所述测量杆的下端连接有底座，所述底座上分别设置有第一固定卡爪、第二固定卡爪、第一活动卡爪和第二活动卡爪，所述第一活动卡爪滑动连接于第一滑杆，所述第二活动卡爪滑动连接于第二滑杆，所述第一滑杆和第二滑杆分别设置于第一凹槽和第二凹槽内，所述第一滑杆套设有第一弹簧，所述第一弹簧一侧连接于凹槽，所述第一弹簧的另一侧连接于第一活动卡爪，所述第二滑杆套设有第二弹簧，所述第二弹簧一侧连接于凹槽，所述第二弹簧的另一侧连接于第二活动卡爪，形成弹性滑动结构。
4.优选的：所述第一活动卡爪和第二活动卡爪的顶部分别设置有第一橡胶垫片和第二橡胶垫片，所述固定卡爪和固定卡爪的顶部分别设置有第三橡胶垫片和第四橡胶垫片。
5.优选的：所述底座的一侧设置有活动抽屉，所述活动抽屉的内部设置有吹尘机。
6.优选的：所述活动抽屉的两侧分别安装有第一滑轨和第二滑轨，所述第一滑轨连接在第一滑轨接槽上，所述第二滑轨连接在第二滑轨接槽上，所述第一滑的尺寸和第二滑轨的尺寸分别与第一滑轨接槽尺寸和第二滑轨接槽的尺寸相适配。
7.优选的：所述活动抽屉的底部设置有按压式弹簧卡扣卡脚，所述按压式弹簧卡扣卡脚连接有按压弹簧卡扣卡槽，所述按压式弹簧卡扣卡槽安装于底座内部。
8.与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：
9.1、通过四个卡爪来夹持芯片，测量时只需将芯片轻放在卡爪的橡胶垫片上，避免芯片与其他坚硬机械结构接触而受到损伤。
10.2、通过活动卡爪调整夹持范围，可以适配不同型号大小的芯片，从而能够测量不同类型大小的芯片
11.3、通过活动抽屉内放置的吹尘机，可以在测量芯片的同时对芯片进行清洁，从而保证芯片以及部分芯片底部针脚的清洁度，减少灰尘对芯片的影响。
附图说明
12.图1为本实用新型整体立体结构示意图；
13.图2为本实用新型侧视图；
14.图3为图1中b处内部结构示意图；
15.图4为图1中a处内部结构示意图。
16.图中：
17.1、底座；2、测量杆；3、光学测量探头；4、第一固定卡爪；5、第二固定卡爪；6、第一活动卡爪；7、第二活动卡爪；8、第二凹槽；9、第二滑杆；10、第二弹簧；11、第一凹槽；12、第一滑杆；13、第一弹簧；14、活动抽屉；15、吹尘机；16、第三橡胶垫片；17、第四橡胶垫片；18、第一滑轨；19、第二滑轨接槽；20、按压式弹簧卡扣卡脚；21、按压式弹簧卡扣卡槽；22、第一橡胶垫片；23、第二橡胶垫片；24、第一滑轨接槽；25、第二滑轨。
具体实施方式
18.下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
19.请参阅图1-图4，光学测量探头3设置在测量杆2的顶部，测量杆2的下端连接有底座1，底座1上分别设置有第一固定卡爪4、第二固定卡爪5、第一活动卡爪6和第二活动卡爪7，第一活动卡爪6滑动连接于第一滑杆12，第二活动卡爪7滑动连接于第二滑杆9，第一滑杆12和第二滑杆9分别设置于第一凹槽11和第二凹槽8内，所述第一滑杆12套设有第一弹簧13，第一弹簧13一侧连接于凹槽11，第一弹簧13的另一侧连接于第一活动卡爪6，第二滑杆9套设有第二弹簧10，第二弹簧10一侧连接于凹槽8所述第二弹簧10的另一侧连接于第二活动卡爪7，形成弹性滑动结构，从而能够快速固定测量芯片，并且能根据芯片的大小快速调节卡爪位置，方便夹持。第一活动卡爪6和第二活动卡爪7的顶部分别设置有第一橡胶垫片22和第二橡胶垫片23，固定卡爪4和固定卡爪5的顶部分别设置有第三橡胶垫片16和第四橡胶垫片17，从而使得卡爪在夹持芯片时保护芯片不受到损伤。底座1的一侧设置有活动抽屉14，所述活动抽屉14的内部设置有吹尘机15，从而在对芯片进行测量时可以使用吹尘机对芯片进行清洁。
20.活动抽屉14的两侧分别安装有第一滑轨18和第二滑轨25，所述第一滑轨18连接在第一滑轨接槽24上，所述第二滑轨25连接在第二滑轨接槽19上，所述第一滑轨18的尺寸和第二滑轨25的尺寸分别与第一滑轨接槽24尺寸和第二滑轨接槽19的尺寸相适配。活动抽屉14的底部设置有按压式弹簧卡扣卡脚20，所述按压式弹簧卡扣卡脚20连接有按压弹簧卡扣卡槽21，所述按压式弹簧卡扣卡槽21安装于底座1内部，使用时向内按压活动抽屉14，内部按压式弹簧卡扣自动打开，使用完毕后再次按压活动抽屉14，内部按压式弹簧卡扣自动闭锁，从而使得活动抽屉14自动收紧于底座1内部。
21.本实用新型工作流程：在使用本仪器时，将需要测量的芯片轻放在第一固定卡爪4、第二固定卡爪5、第一活动卡爪6和第二活动卡爪7的橡胶垫片上，卡爪上方的光学测量3探头将自动对芯片的外观参数进行测量，如果芯片尺寸过大无法放入卡爪，可以通过向外
拨动第一活动卡爪6和第二活动卡爪7，增加卡爪的夹持尺度，第一活动卡爪6和第二活动卡爪7所在的第一凹槽11和第二凹槽8内部的第一弹簧13和第二弹簧10受到压缩后将提供一定力度的压力使得芯片稳定的被加持在四个卡爪上，四个卡爪顶部的橡胶垫片将避免芯片与卡爪直接接触，从而保护芯片不受坚硬结构损伤。当测量完毕时，按压活动抽屉14使按压式弹簧卡扣打开后，抽出活动抽屉14，取出放置其中的吹尘器15，可以对芯片和芯片针脚进行吹风，清理芯片及芯片针脚上的灰尘，清理完毕后，将吹尘器15放回活动抽屉14中，按压活动抽屉14，按压式弹簧卡扣将自动闭锁，活动抽屉14将收紧于底座1内。
22.其中，光学测量探头3、第一橡胶垫片22、第二橡胶垫片23、第三橡胶垫片16、第四橡胶垫片17、按压式弹簧卡扣卡脚20、按压式弹簧卡扣卡槽21、第一滑轨18、第二滑轨25、第一滑槽24、第二滑槽19、吹尘机15均为现实生活中已经运用成熟的生产技术和设备。
23.需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。
24.尽管已经对本实用新型的实施方法作出了详细说明，不能认定本实用新型具体实施只局限于这些说明，对于本实用新型所属技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型的构思的前提下，还可以做出若干简单的推演或替换，都应当视为属于本实用新型所提交的权利要求书确定的保护范围。