能够保持测试头方向的治具的制作方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种治具，特别是涉及一种用于固定射频测试头方向的治具改良结构。
【背景技术】
[0002]随着无线通信技术的蓬勃发展，各式各样的无线通信产品不断地推陈出新。而这些无线通信产品在制造过程中，其内部基板上的射频连接器(RF Connector)在利用表面贴装技术(Surface Mount Technology, SMT)进行打件，以及利用后续的红外线加热炉(以下简称IR炉)进行加热时，基板上的射频连接器或多或少会偏离原先所预设的位置。
[0003]传统上用来对上述基板进行的各项测试，例如:输出功率、误差向量幅度等等，其中所使用的射频测试头(RF Test Probe)通常是装设在中空架体70上，请参考图1。上述中空架体70具有底板71与顶板72，底板71与顶板72各对应开设有开孔74，使测试头73能够插入中空架体70，并且开孔74的孔径略大于测试头73的外径。此外，底板71与测试头73之间设有弹性体(图中未示出)，并且测试头73的前端设有导角(图中未示出)，因此当基板的射频连接器位置偏移时，可以通过微调测试头73的位置以及其导角的帮助来重新导正测试头73，使测试头73可以紧密地结合射频连接器。
[0004]然而，传统的中空架体70在使用时缺乏能够使测试头73平行移动的机制，当测试头73受到外力的拉扯而使测试头73倾斜时，将导致测试头73无法紧密地连接射频连接器，这样将容易使噪声变大并影响测试结果。
【发明内容】
[0005]有鉴于此，本发明的主要目的在于提供一种治具，当治具上的测试头受到外力时，治具仍能够将测试头保持在原先不受外力时的角度，避免测试头与射频连接器的连接角度受到影响。
[0006]为了实现上述目的，本发明提供了一种能够保持测试头方向的治具，用于安装至少一个测试头，所述治具包含有一中空架体、一滑动板以及两个平衡组件。其中，中空架体具有顶板、底板以及设于顶板与底板之间的滑动板，并且，顶板、滑动板以及底板分别对应地开设有至少一个开孔，以供至少一个测试头通过。测试头连接于滑动板的开孔，并且顶板与底板的开孔的孔径大于测试头的外径。
[0007]所述两个平衡组件分别设于顶板与滑动板之间、以及滑动板与底板之间，各所述平衡组件包含有连接件和设置于所述连接件上的位移引导结构，其中，各所述连接件具有通孔以供测试头通过，各所述位移引导结构的两端分别抵顶于顶板与滑动板、以及滑动板与底板。
[0008]由此，当测试头受到外力的拉扯时，由于滑动板的顶面与底面同时受到位移引导结构的抵顶，因此测试头被局限地只能维持在同一高度作水平移动。整个测试头的移动过程中并不会改变测试头的角度，因此不会影响到测试头与射频连接器的连接角度，从而防止测试结果受到影向。
[0009]较佳的，上述位移引导结构由三个以上的滑珠构成，具有相对低的摩擦力以确保平衡组件稳定工作。
【附图说明】
[0010]图1是传统治具的侧视图，用于说明测试头受到外力影响而发生角度倾斜的情形。
[0011]图2是本发明较佳实施例的能够保持测试头方向的治具的立体图。
[0012]图3是本发明较佳实施例的能够保持测试头方向的治具的俯视图。
[0013]图4是图3沿4-4剖视线的剖视图。
[0014](符号说明)
[0015]I治具10中空架体
[0016]11顶板12底板
[0017]13侧壁14开孔
[0018]15开孔16容置空间
[0019]20滑动板21开孔
[0020]30上平衡组件31上连接件
[0021]32上滑珠33上通孔
[0022]34上圆孔40下平衡组件
[0023]41下连接件42下滑珠
[0024]43下通孔44下圆孔
[0025]60测试头61导角
[0026]62连接线70中空架体
[0027]71底板72顶板
[0028]73测试头74开孔
[0029]D孔径d外径
[0030]R 矩形
【具体实施方式】
[0031]为了能够更加了解本发明的特点所在，本发明提供了一个较佳实施例，并结合【附图说明】如下，请参考图2?图4。
[0032]本发明的能够保持测试头方向的治具I的主要组件包含有:中空架体10、滑动板20、上平衡组件30以及下平衡组件40，其中治具I能够用于安装两个测试头60，该两个测试头60能够对应地连接待测基板的射频连接器(图中未示出)，并且，各测试头60的前端设有向内凹的导角61，各测试头60的后端设有射频连接线(RF cable)620
[0033]请首先参考图2和图4，中空架体10具有顶板11以及底板12，底板12上方连接有侧壁13，侧壁13围绕底板12的四周，并且顶板11是能够拆卸的，以连接侧壁13的顶端。顶板11、侧壁13以及底板12三者围绕形成容置空间16，顶板11上开设有两个开孔14，底板12上开设有两个开孔15，且开孔14与开孔15 —一对应，使得该两个测试头60能够同时通过这些开孔14、15而呈直线地且实质上垂直地穿过中空架体10。其中，顶板11和底板12的开孔14、15的孔径D大于测试头60的外径d(如图3)，由此腾出空间让测试头60能够发生适度的位移。
[0034]请回到图2，滑动板20以能够移动的方式设置于容置空间16中，并且滑动板20、顶板11以及底板12是呈上下间隔设置。滑动板20也开设有两个开孔21，用于与测试头60连接，在本实施例中，测试头60是通过螺丝(图中未示出)而锁附在滑动板20的开孔21上。
[0035]上平衡组件30设置在顶板11与滑动板20之间，其包含有呈板形的上连接件31以及位移引导结构(位移引导结构由三个以上的上滑珠32构成，本实施例