波检测单元6d判定为检测出了界面回波，在界面回波检测阈值的值为负时，在界面回波检测门内探伤信号低于界面回波检测阈值的情况下，界面回波检测单元6d判定为检测出了界面回波，并将该界面回波被检测出的时刻作为界面回波检出时刻。
[0056]门设定单元6e参照数据库(DB) 6b从上述界面回波检出时刻中减去与被检体对应的的门终点相对位置，由此设定缺陷回波检测门的终点。缺陷回波检测单元6f在如上述那样设定的缺陷回波检测门的范围内从存储于存储部6a的探伤信号中检测出缺陷回波。
[0057]输出部7是例如显示被检测出的缺陷回波的显示装置，例如是在缺陷回波被检测出的情况下向下游工序发送警告信号等的送信装置。为了分析缺陷回波的产生原因是否是产品的缺陷，也可以形成为将输出部7的输出向上位计算机输出的结构。
[0058]输入部8是例如电源开关及输入键等输入装置，例如是从控制制造线的上位控制装置接收制造线中的制造信息的接收装置。作为由输入部8输入的输入信息的例子，存在图5的(a)中所例示的那样的制造线的制造顺序。
[0059]本发明的实施方式的超声波探伤装置4对探伤信号获取部5获取的探伤信号进行AD转换并进行信号处理。由于界面回波迟于缺陷检测门被检测，因此，数字信号下的处理比模拟信号下的处理有利。此外，期望进行探伤信号的AD转换时的采样频率是探伤信号的频率的5倍以上，更期望是探伤信号的频率的10倍以上。在以探伤信号的频率的5倍的采样频率进行AD转换的情况下，以360° /5 = 72°的间隔将探伤信号数字化。
[0060]将上述说明的超声波探伤装置4记载为超声波探头5a是I个(反射式探伤)或者I对(穿透式探伤)的结构，但是，超声波探伤装置4也可以形成为超声波探头5a是多个(反射式探伤)或者多对(穿透式探伤)的结构。这种情况下，能够对应于每个超声波探头5a来设定不同的界面回波检测阈值及门终点相对位置。S卩，对应于每个超声波探头5a预先将图5的(b)中例示的那样的对应表记录到数据库(DB) 6b中，运算部6c对应于每个超声波探头5a来设定不同的界面回波检测阈值及门终点相对位置。根据上述结构，能够应对每个超声波探头5a的偏差，进一步提尚缺陷回波的检测精度。
[0061]〔第I实施方式的超声波探伤方法〕
[0062]以下，对本发明的第I实施方式的超声波探伤方法进行说明。在以下的说明中，参照本发明的第I实施方式的超声波探伤装置的结构的附图等并对本发明的第I实施方式的超声波探伤方法进行说明，但是，本发明的第I实施方式的超声波探伤方法不受这些附图中所表示的结构限定。
[0063]图7是示出本发明的实施方式的超声波探伤方法的步骤的流程图。如图7所示，在本发明的实施方式的超声波探伤方法中，首先，运算部6c参照数据库(DB) 6b来设定与被检体对应的界面回波检测阈值及门终点相对位置(步骤SI)。如上所述，由于在数据库6b中记录有被检体的探伤顺序与界面回波检测阈值及门终点相对位置的对应关系等的数据，因此，与超声波探伤装置4正在探伤的被检体对应的界面回波检测阈值及门终点相对位置被选择。
[0064]接下来，探伤信号获取部5将从被检体接收到的超声波转换为电信号，获取探伤信号(步骤S2)。由探伤信号获取部5获取的探伤信号被临时存储在控制部6的存储部6a中。
[0065]接下来，运算部6c的界面回波检测单元6d根据存储在存储部6a中的探伤信号检测出界面回波(步骤S3)。界面回波检测单元6d使用在步骤SI中设定的界面回波检测阈值来检测界面回波。即，在界面回波检测阈值的值为正时，在界面回波检测门内探伤信号超过界面回波检测阈值的情况下，界面回波检测单元6d判定为检测出了界面回波，在界面回波检测阈值的值为负时，在界面回波检测门内探伤信号低于界面回波检测阈值的情况下，界面回波检测单元6d判定为检测出了界面回波，并将该界面回波被检测出的时刻作为界面回波检出时刻。
[0066]接下来，运算部6c的门设定单元6e设定缺陷回波检测门(步骤S4)。门设定单元6e使用在步骤SI中设定的门终点相对位置进行缺陷回波检测门的设定。即，门设定单元6e将在步骤S2中检测出的界面回波检出时刻作为基准时刻，从基准时刻中减去在步骤SI中设定的门终点相对位置，由此设定缺陷回波检测门的终点。
[0067]并且，运算部6c的缺陷回波检测单元6f在通过步骤S4设定的缺陷回波检测门的范围内根据存储在存储部6a中的探伤信号检测出缺陷回波(步骤S5)。
[0068]最后，控制部6判定超声波探伤装置4是否完成了规定范围或者规定次数的探伤(步骤S6)。在没有完成规定范围的探伤的情况下(步骤S6:否)，则返回步骤S2，探伤信号获取部5获取下一次的探伤信号。另一方面，在完成了规定范围的探伤的情况下(步骤S6:是)，本发明的实施方式的超声波探伤方法结束。
[0069]在上述的说明中，门设定单元6e将界面回波检出时刻作为基准时刻，从基准时刻中减去门终点相对位置，由此设定缺陷回波检测门的终点，但是，也可以根据图8、9所示的处理步骤来设定缺陷回波检测门的终点。图8是示出图7所示的步骤S4的处理的变形例的流程图。图9是概要性地说明图8所示的处理步骤的说明图。
[0070]如图8所示，在该处理步骤中，门设定单元6e判别在本次处理中检测出的界面回波检出时刻Tbciund(N)与前一次处理中的基准时刻TbasJN-1)的时间差的绝对值是否大于规定的时间差A T(步骤S41)。对应判别的结果，在时间差的绝对值不比规定的时间差AT大的情况下，门设定单元6e将缺陷回波检测门设定处理推进至步骤S45的处理(步骤S41:否)。另一方面，在时间差的绝对值比规定的时间差A T大的情况下，门设定单元6e将缺陷回波检测门设定处理推进至步骤S42的处理(步骤S41:是)。
[0071]在步骤S42的处理中，门设定单元6e判别在本次处理中检测出的界面回波检出时刻Tbciund(N)是否比前一次处理中的基准时刻TbasJN-1)靠后。对应判别的结果，在界面回波检出时刻Tbciund(N)比基准时刻TbasJN-1)靠后的情况下，门设定单元6e将缺陷回波检测门设定处理推进至步骤S43的处理(步骤S42:是)。另一方面，在界面回波检出时刻Tbciund(N)没有比基准时刻TbasJN-1)靠后的情况下，门设定单元6e将缺陷回波检测门设定处理推进至步骤S44的处理(步骤S42:否)。
[0072]在步骤S43的处理中，门设定单元6e将比前一次处理中的基准时刻Tbase(N-1)靠后规定的时间差A T的时刻设定为本次处理中的基准时刻Tbase (N)。由此，步骤S43的处理结束，缺陷回波检测门设定处理前进至步骤S46的处理。
[0073]在步骤S44的处理中，门设定单元6e将比前一次处理中的基准时刻Tbase(N-1)靠前规定的时间差A T的时刻设定为本次处理中的基准时刻Tbase (N)。由此，步骤S44的处理结束，缺陷回波检测门设定处理前进至步骤S46的处理。
[0074]在步骤S45的处理中，门设定单元6e将在本次处理中检测出的界面回波检出时刻Tbound (N)设定为本次处理中的基准时刻Tbase (N)。由此，步骤S45的处理结束，缺陷回波检测门设定处理前进至步骤S46的处理。
[0075]在步骤S46的处理中，门设定单元6e将比在步骤S43?步骤S45中的任意一个处理中设定的基准时刻TbasJN)靠前门终点相对位置a的量的时刻设定为缺陷回波检测门的终点Tgate end(N)。由此，步骤S46的处理结束，一系列的缺陷回波检测门设定处理结束。
[0076]根据以上的说明可知，在本变形例中，在本次处理中检测出的界面回波检出时刻Tbciund(N)与前一次处理中的基准时刻Tb_(N-1)的时间差的绝对值小于规定的时间差AT的情况下，如图9的(a)所示，控制部6将在本次处理中检测出的界面回波检出时刻Tbound(N)作为本次处理中的基准时刻Tbase(N)来设定缺陷回波检测门的终点T_ end(N)。
[0077]另一方面，在本次处理中检测出的界面回波检出时刻Tbciund(N)与前一次处理中的基准时刻TbasJN-1)的时间差的绝对值大于规定的时间差AT的情况下，如图9的(b)所示，门设定单元6e将比在前一次处理中检测出的界面回波检出时刻Tbciund(N-1)靠前或靠后规定的时间差AT的