用于环境测试的电性检测装置的制造方法

文档序号:9686056阅读:307来源:国知局
用于环境测试的电性检测装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及利用探针对电子组件或封装模块进行电性检测的装置,特别涉及一种用于温度与湿度环境测试的电性检测装置。
【背景技术】
[0002]请参阅图1,常用的电性检测装置10主要包含有承载盘11、加压块12以及多个探针13,该承载盘11具有一个测试槽14(也可以根据需要设置多个测试槽14),上述各探针13穿设于该承载盘11且有一端位于测试槽14内。使用该电性检测装置10时,将待测物15设置于该测试槽14内,并将该加压块12压抵于该待测物15上,以使该待测物15的接点确实地与探针13接触,从而利用探针13对该待测物15进行电性检测。该待测物15可为电子组件或封装模块,特别是系统级封装模块(System in Package Module ;简称SiPModule)。
[0003]然而,前述的电性检测装置10对待测物15进行电性检测时,该待测物15是封闭在测试槽14内而难以受到外部环境因素(例如温度、湿度等等)影响,因此该电性检测装置10不适用于环境测试(亦即在特定的温度或湿度下进行电性检测)。
[0004]众所周知SiP Module执行通电的环境可靠度测试时,例如温度湿度偏压测试(Temperature Humidity Bias Te st, THB)、偏压高加速湿度应力抵抗测试(biased HighAccelerated Stress Te st, biased HAST)等等,需要米用 SMT 制程(surface mounttechnology,表面贴装技术)将SiP Module组装在特殊设计的电源供应接口板(ElectricVehicle Broad,EVB)上,才能够作为偏压测试用的可靠度测试板。这样的测试方式需要事先进行EVB设计及SMT制程,因此过程较为费时,而且EVB若有损坏则会影响SiP Module的测试结果。

【发明内容】

[0005]鉴于上述缺点,本发明的主要目的在于提供一种用于环境测试的电性检测装置,能够使待测物在外部环境条件下进行电性检测,而且检测过程简便,并能够避免检测结果受到不必要的影响。
[0006]为实现上述目的,本发明所提供的用于环境测试的电性检测装置包含有底座、压板以及至少一个气体通道,该底座具有顶面、底面以及至少一个测试区,该至少一个测试区具有自顶面凹陷且用于设置待测物的测试槽、连通于测试槽与底面之间的探针通道、以及穿设于探针通道且用于接触待测物的探针,压板以能够移开的方式设置于底座的测试槽上方,该至少一个气体通道贯穿底座或压板且与测试槽连通。
[0007]由此,该电性检测装置外部的空气会经由该气体通道进入该测试槽,使得该待测物在外部环境条件(例如特定的温度及湿度)下进行电性检测,而且,使用该电性检测装置的检测过程相当简便,不需要事先设计EVB以及将待测物组装在EVB上,只要直接将待测物设于该测试槽内即可进行检测,这样还能够避免检测结果受到不必要的影响(例如受EVB损坏的影响)。
[0008]有关本发明所提供的用于环境测试的电性检测装置的详细构造、特点、组装或使用方式,将在后续的实施方式的详细说明中予以描述。然而,在本发明领域中具有通常知识者应能了解,这些详细说明以及实施本发明所列举的特定实施例,仅用于说明本发明,并非用来限制本发明的权利要求。
【附图说明】
[0009]图1是常用的电性检测装置的剖视示意图;
[0010]图2是本发明较佳实施例的电性检测装置的立体组合图;
[0011]图3是本发明较佳实施例的电性检测装置的立体分解图;
[0012]图4是本发明较佳实施例的电性检测装置的局部俯视图;
[0013]图5是本发明较佳实施例的电性检测装置的仰视图;
[0014]图6是图5沿剖视线6-6的剖视图;
[0015]图7是图5沿剖视线7-7的剖视图;
[0016]图8是本发明较佳实施例的电性检测装置的底座的立体分解图;
[0017]图9是本发明较佳实施例的电性检测装置的底座的俯视图;
[0018]图10是本发明较佳实施例的电性检测装置的底座的承载盘的俯视图。
[0019](符号说明)
[0020](现有技术)
[0021]10电性检测装置11承载盘
[0022]12加压块13探针
[0023]14测试槽15待测物
[0024](实施例)
[0025]20电性检测装置
[0026]30底座31承载盘
[0027]311顶面312下表面
[0028]32底盘321底面
[0029]322上表面33底架
[0030]34测试区35测试槽
[0031]351承载面352凹陷面
[0032]352a第一区块352b第二区块
[0033]36探针通道361、362穿孔
[0034]37探针38连接槽
[0035]39 凸块
[0036]40压板41顶面
[0037]42底面44加压块
[0038]50 压扣
[0039]60下气体通道61下凹槽
[0040]62穿孔63长槽孔
[0041]70上气体通道
【具体实施方式】
[0042]请先参阅图2至图7,本发明较佳实施例的用于环境测试的电性检测装置20包含有底座30、压板40、两个压扣50,以及多个气体通道60、70,本实施例的气体通道60、70包含有多个贯穿该底座30的下气体通道60,以及多个贯穿该压板40的上气体通道70。
[0043]请参阅图8及图9,该底座30包含有按照次序相叠的承载盘31、底盘32及底架33,且具有多个测试区34。该底架33呈方框状,该底盘32具有与该底架33连接的底面321,以及与该底面321朝向相反方向的上表面322,该承载盘31设于该上表面322,且具有朝向相反方向的顶面311及下表面312。各测试区34具有自该顶面311凹陷且用于设置待测物(图中未示)的测试槽35、贯穿该底座30且与该测试槽35连通的四个探针通道36、以及分别穿设于上述各探针通道36的四个探针37 (如图7所示),上述各测试区34的探针通道36与探针37的数量不限,可根据需要设置。此外,上述各测试区34设有下气体通道60,如图5、6所示。
[0044]请参阅图10,上述各测试槽35具有用于承载该待测物的承载面351,以及低于该承载面351的凹陷面352 (亦即该凹陷面352较该承载面351更接近该底面321,如图6所示),该凹陷面352包含有分别位于该承载面351两侧的第一区块352a及第二区块352b,相邻的第一区块352a与第二区块352b通过连接槽38连接。
[0045]如图6所示,该测试区34还具有自该底盘32的上表面322凸出的凸块39,该下气体通道60包含有自该承载盘31的下表面312凹陷的下凹槽61、贯穿该凸块39的三个穿
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