一种用于线切割机床连线测试的系统的制作方法
【技术领域】
[0001]本发明属于测试仪器技术领域，尤其涉及一种用于线切割机床连线测试的系统。
【背景技术】
[0002]对于专业生产线切割数控控制台的厂家而言，控制台与机床的连接线测试比较繁琐，一是因为与之配套的机床厂家各有各的接口定义，接线人员容易接错；二是因为连线测量一般都是用万用表测通断，如果线与线之间有短路，那就测不出来。
【发明内容】
[0003]本发明提供了一种用于线切割机床连线测试的系统，旨在解决控制台与机床的连接线测试比较繁琐，连接接口定义多样，接线人员容易接错，连线测量一般都是用万用表测通断，如果线与线之间有短路，不能测试出故障的问题。
[0004]本发明的目的在于提供一种用于线切割机床连线测试的系统，该系统包括:
[0005]信号输出模块，用于向线切割机床输出测试信号；
[0006]信号输入模块，用于采集被测试的线切割机床输出的反馈信号；
[0007]信号处理模块，与所述信号输出模块及信号输入模块相连接，用于输出测试信号至所述信号输出模块，并接收所述信号输入模块采集的反馈信号，对测试信号、反馈信号进行对比，同时根据测试信号、反馈信号的对比结果输出相应的测试结果指示信号；
[0008]测试结果指示模块，与所述信号处理模块相连接，用于接收所述信号处理模块输出的测试结果指示信号，并根据测试结果指示信号对线切割机床测试结果进行显示。
[0009]进一步，所述信号处理模块采用的是型号为STC89C51的单片机(Ul);所述信号输出模块由型号为74HC573的锁存器(U2)、锁存器(U3)、锁存器(U4)、锁存器(U5)连接构成；所述信号输入模块由型号为74HC245的三态总线驱动器(U6)、三态总线驱动器(U7)、三态总线驱动器(U8)、三态总线驱动器(U9)连接构成。
[0010]进一步，所述单片机(Ul)的端口 P3.0-P3.3分别与锁存器(U2)、锁存器(U3)、锁存器(U4)及锁存器(U5)的锁存端口相连接，所述单片机(Ul)的端口 P3.4-P3.7分别与所述三态总线驱动器(U6)、三态总线驱动器(U7)、三态总线驱动器(U8)及三态总线驱动器(U9)的片选端口相连接。
[0011]进一步，所述单片机(Ul)的8位数据输出端口 PO与锁存器(U2)、锁存器(U3)、锁存器(U4)、锁存器(U5)的数据口相连接，所述锁存器(U2)、锁存器(U3)、锁存器(U4)及锁存器(U5)分别与P34芯双排插座Jl相连接。
[0012]进一步，所述单片机(Ul)的8位数据输出端口 P2 口的8位总线分别与所述三态总线驱动器(U6)、三态总线驱动器(U7)、三态总线驱动器(U8)及三态总线驱动器(U9)的8位数据端口 A相连接，所述三态总线驱动器(U6)、三态总线驱动器(U7)、三态总线驱动器(U8)及三态总线驱动器(U9)的8位数据端口 B与P34芯双排插座J2相连接。
[0013]本发明提供的用于线切割机床连线测试的系统，由信号输入模块、信号输出模块、信号处理模块及测试结果指示模块连接构成；信号处理模块通过信号输出模块发出一串测试信号后，再从信号输入模块读回反馈信号，如果发出的测试信号与读回的反馈信号一致时，则表示线切割机床正常，否则线切割机床有故障，在所有数据口都检测完后，测试结果指示模块点亮相应的发光二极管指示；检测人员只需通过观察测试结果指示模块中各个发光二极管的发光状态，即可判断线切割机床的正常与否；该系统在对线切割机床的检测过程中，可根据发光二极管的发光状态确定接线线序是否正确，使得复杂的工作变得简单又直观，极大地提高了工作的效率，具有较强的推广与应用价值。
【附图说明】
[0014]图1是本发明实施例提供的用于线切割机床连线测试的系统的结构框图；
[0015]图2是本发明实施例提供的用于线切割机床连线测试的系统的原理接线图。
[0016]图中:11、信号输入模块；12、信号输出模块；13、信号处理模块；14、测试结果指示模块。
【具体实施方式】
[0017]为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步的详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定发明。
[0018]图1示出了本发明实施例提供的用于线切割机床连线测试的系统的结构。为了便于说明，仅示出了与本发明相关的部分。
[0019]该系统包括:
[0020]信号输出模块12,用于向线切割机床输出测试信号；
[0021]信号输入模块11，用于采集被测试的线切割机床输出的反馈信号；
[0022]信号处理模块13，与信号输出模块12及信号输入模块11相连接，用于输出测试信号至信号输出模块12，并接收信号输入模块11采集的反馈信号，对测试信号、反馈信号进行对比，同时根据测试信号、反馈信号的对比结果输出相应的测试结果指示信号；
[0023]测试结果指示模块14，与信号处理模块13相连接，用于接收信号处理模块13输出的测试结果指示信号，根据测试结果指示信号对线切割机床测试结果进行显示。
[0024]如图2所示，在本发明实施例中，信号处理模块13采用的是型号为STC89C51的单片机(Ul);信号输出模块12由型号为74HC573的锁存器(U2)、锁存器(U3)、锁存器(U4)、锁存器(U5)连接构成；信号输入模块11由型号为74HC245的三态总线驱动器(U6)、三态总线驱动器(U7)、三态总线驱动器(U8)、三态总线驱动器(U9)连接构成。
[0025]在本发明实施例中，单片机(Ul)的端口 P3.0-P3.3分别与锁存器(U2)、锁存器(U3)、锁存器(U4)及锁存器(U5)的锁存端口相连接，单片机(Ul)的端口 P3.4-P3.7分别与三态总线驱动器(U6)、三态总线驱动器(U7)、三态总线驱动器(U8)及三态总线驱动器(U9)的片选端口相连接。
[0026]在本发明实施例中，单片机(Ul)的8位数据输出端口 PO与锁存器(U2)、锁存器(U3)、锁存器(U4)、锁存器(U5)的数据口相连接，锁存器(U2)、锁存器(U3)、锁存器(U4)及锁存器(U5)分别与P34芯双排插座Jl相连接。
[0027]在本发明实施例中，单片机(Ul)的8位数据输出端口 P2 口的8位总线分别与三态总线驱动器(U6)、三态总线驱动器(U7)、三态总线驱动器(U8)及三态总线驱动器(U9)的8位数据端口 A相连接，三态总线驱动器(U6)、三态总线驱动器(U7)、三态总线驱动器(U8)及三态总线驱动器(U9)的8位数据端口 B与P34芯双排插座J2相连接。
[0028]在本发明实施例中，锁存器(U2)输出端信号的定义为:XA XB XC XD XE和UA UBUC ；
[0029]锁存器(U3)输出端信号的定义为:YA YB YC YD YE和VA VB VC ；
[0030]锁存器(U4)输出端信号的定义为:取样+、取样一、工件、钥丝、开高频1、开高频
2、+24V X 轴、+24V U 轴；
[0031]锁存器(U5)输出端信号的定义为:+24V Y轴、+24V V轴、停机1、停机2。
[0032]在本发明实施例中，三态总线驱动器(U6)的8位数据端口 B的信号定义为:XA XBXC XD XE 和 UA UB UC ；
[0033]三态总线驱动器(U7)的8位数据端口 B的信号定义为:YA YB YC YD YE和VA VBVC
[0034]三态总线驱动器(U8)的8位数据端口 B的信号定义为:取样+、取样一、工件、钥丝、开高频1、开高频2、+24V X轴、+24V U轴；
[0035]三态总线驱动器(U9)的8位数据端口 B的信号定义为:+24V Y轴、+24VV轴、停机
1、停机2。
[0036]在本发明实施例中，测试结果指示模块14包括:电阻R1、发光二极管L1、发光二极管L2、电阻R2、电阻R3、发光二极管L3、发光二极管L4、电阻R4、电阻R5、发光二极管L5、发光二极管L6、电阻R6、电阻R7、发光二极管L7、发光二极管L8、电阻R8、电阻R9、发光二极管L9、发光二极管L10、电阻R10、电阻R11、发光二极管L11、发光二极管L12、电阻R12、电阻R13、发光二极管L13、发光二极管L14、电阻R14、电阻R15、发光二极管L15、发光二极管L16、电阻 R16 ；
[0037]电阻Rl与发光二极管L1、发光二极管L2及电阻R2依次串联构成支路一；
[0038]电阻R3与发光二极管L3、发光二极管L4及电阻R4依次串联构成支路二 ；
[0039]电阻R5与发光二极管L5、发光二极管L6及电阻R6依次串联构成支路三；
[0040]电阻R7与发光二极管L7、发光二极管L8及电阻R8依次串联构成支路四；
[0041]电阻R9与发光二极管L9、发光二极管LlO及电阻RlO依次串联构成支路五；
[0042]电阻Rll与发光二极管L11、发光二极管L12及电阻R12依次串联构成支路六；
[0043]电阻R13与发光二极管L13、发光二极管L14及电