一种过流组件测试装置的制造方法

文档序号:10684862阅读:198来源:国知局
一种过流组件测试装置的制造方法
【专利摘要】一种过流组件测试装置,包括:测试平台,用于设置待测过流组件,在待测过流组件的外侧设置有用于测试的水循环管路;水循环系统,连接水循环管路,为水循环管路内的冷却水提供循环动力;水源系统,用于为水循环管路提供冷却水;还包括:去离子系统,分别与水源系统和水循环系统连接,将冷却水进行去离子化后送入水循环系统,解决了用于水冷测试的冷却水没有进行去离子操作,冷却水中电导率较高,易干扰测试结果,造成测试结果不准确的问题。
【专利说明】
一种过流组件测试装置
技术领域
[0001 ]本发明涉及测试装置领域,具体涉及一种过流组件测试装置。
【背景技术】
[0002]现今,随着电力输电向更高电压等级发展,核心设备换流阀阀模块中电力电子元器件以其具有结构尺寸小、质量轻便、响应速度快、能量转换效率高、控制便捷等优点,使其在电能装换电路中应用越来越广泛、功率密度越来越大,产生的热量也越多,传统风冷冷却方式已不能满足散热要求,为解决大功率的冷却问题,冷却方式也从风冷向水冷方向发展,目前水冷却也成为了电力电子器件大功率化最成熟的冷却方式。但因为换流阀阀模块水冷系统过流组件水冷板散热器、饱和电抗器和水电阻的重要地位,要求我们对过流组件各项水力性能和参数等相关性能进行测试及研究,以便满足换流阀阀模块的设计和整体研究,以满足水冷性能要求。
[0003]现有的测试技术只能完成对水冷板的热力与水力测试,测试项目较为简单,不能更全面地完成对换流阀阀模块水冷系统过流组件的综合测试,此外,现有用于水冷测试的冷却水中由于存在钙离子、镁离子、钠离子等离子,使得冷却水中电导率较高,易干扰测试结果,造成测试结果不准确。

【发明内容】

[0004]因此,本发明要解决的技术问题在于克服现有用于水冷测试的冷却水没有进行去离子操作,冷却水中电导率较高,易干扰测试结果,造成测试结果不准确的缺陷。
[0005]有鉴于此,本发明提供一种过流组件测试装置,一种过流组件测试装置,包括:测试平台,用于设置待测过流组件,在所述待测过流组件的外侧设置有用于测试的水循环管路;水循环系统,连接所述水循环管路,为所述水循环管路内的冷却水提供循环动力;水源系统,用于为所述水循环管路提供所述冷却水;还包括:去离子系统,分别与所述水源系统和所述水循环系统连接,将所述冷却水进行去离子化后送入所述水循环系统。
[0006]进一步地,所述去离子系统包括离子交换器和缓冲罐,其中
[0007]所述离子交换器,用于对来自所述水源系统的冷却水进行去离子化;
[0008]所述缓冲罐,与所述气源系统阀门连接,用于将所述水源系统中经过所述去离子化的所述冷却水,通过所述缓冲罐输送到所述水循环系统中。
[0009]进一步地,还包括气源系统,与所述水循环系统通过阀门连接,用于储存气源并调节所述水循环系统压力。
[0010]进一步地,所述水源系统设置在所述测试平台内,与所述水循环管路连接。
[0011]进一步地,所述气源系统通过阀门与所述水循环管路连接,测试结束后,通过所述气源系统将水循环管路的所述冷却水吹回到所述水源系统。
[0012]进一步地,所述水循环系统还包括脱气罐,所述脱气罐通过阀门与所述气源系统连接,用于当测试结束时,脱除水循环管路中的气体。
[0013]进一步地,所述水循环系统还包括至少两条不同流速的冷却水循环管路,用于满足不同待测试组件的测试要求条件。
[0014]进一步地,还包括测试系统与所述测试平台连接,还与外部测试控制器连接,接收所述外部测试器的测试操作指令通过测试平台对所述待测过流组件进行测试。
[0015]所述测试平台还包括模拟发热单元,用于提供模拟测试热量。
[0016]进一步地,所述测试系统包括测试仪表,用于测试并显示测试数据。
[0017]进一步地,还包括存储系统与散热系统,其中
[0018]所述存储系统,分别与所述测试系统以及所述外部测试系统连接,用于记录所述测试数据;
[0019]所述散热系统,与所述水循环系统通过阀门连接,用于对所述水循环系统的冷却水进行散热。
[0020]本发明技术方案,具有如下优点:
[0021]本发明提供的一种过流组件测试装置,包括:测试平台、水循环系统,、水源系统以及去离子系统,其中,去离子系统分别与水源系统和水循环系统连接,将冷却水进行去离子化后送入水循环系统,解决了用于水冷测试的冷却水中含有钙、镁等其他粒子,导致冷却水中电导率较高,易干扰测试结果,造成测试结果不准确的问题;
[0022]本发明提供的所述过流组件测试装置,还包括气源系统,在测试结束后,通过气源系统将水循环管路内的冷却水吹回到水源系统中,此外,在对该测试装置进行脱水后,通过设置脱气罐将水循环系统中的气体除尽,防止该测试装置发生水蚀与气蚀,同时将冷却水吹回水源系统,也节约了水资源;同时气源系统通过调节压力,实现不同压力等级的测试,,通过设置存储系统,将测试数据进行存储、记录,便于后期对测试数据进行整理。
【附图说明】
[0023]为了使本发明的内容更容易被清楚的理解,下面根据本发明的具体实施例并结合附图,对本发明作进一步详细的说明,其中
[0024]图1是本发明实施例提供的一种过流组件测试装置的结构示意图;
[0025]图2是本发明实施例提供的一种过流组件测试装置的结构示意图。
【具体实施方式】
[0026]本发明实施例提供的一种过流组件测试装置,如图1所示,包括:水源系统11、去离子系统12、水循环系统13以及测试平台15,其中,
[0027]测试平台15,用于设置待测过流组件,在待测过流组件的外侧设置有用于测试的水循环管路,待测过流组件可以是换流阀阀模块水冷系统中的水冷板散热器、饱和电抗器以及水电阻;
[0028]水循环系统13,连接水循环管路,为水循环管路内的冷却水提供循环动力,水循环系统与测试平台15通过软管挠接,便于调整测试平台15;
[0029]其中,水循环系统13还设置有主循环栗,用于提供主要动力源,离子交换器,用于储存离子交换树脂,用于对水源系统11中的冷却水进行去离子纯化,调节电导率,过滤器,用于过滤水源系统11中冷却水中的杂质,该杂质可以是去离子系统中的离子交换树脂,防止发生堵塞管路,在过滤后,在过滤器的出口端设置有两条不同流速的冷却水循环管路,根据测试平台设置的不同的待测试过流组件的测试流速需要,打开不同流速管路的电动阀门进行测试;
[0030]水源系统11,用于为水循环管路提供冷却水,其中水源系统11中包括:
[0031]补水罐,用于存储冷却水,补水栗,用于为冷却水提供动力,还设置有过滤器,用于过滤水源系统中的冷却水的杂质,当测试待测过流组件时,打开阀门,通过压力变送器将冷却水通过去离子系统12进行去离子化流入水循环系统13,水源系统11设置在测试平台15内,与水循环管路连接,测试平台15对待测过流组件进行一次装卡,测试操作简单;
[0032]去离子系统12,分别与水源系统11和水循环系统13连接,将冷却水进行去离子化后送入水循环系统13。
[0033]去离子系统12包括离子交换器和缓冲罐,其中,离子交换器,用于对来自水源系统11的冷却水进行去离子化;缓冲罐,与气源系统11阀门连接,用于将水源系统11中经过去离子化的冷却水,通过缓冲罐输送到水循环系统13中,减少测试过程中的冷却水的冲击压力,保证整个水冷测试系统的压力稳定。
[0034]本发明实施例提供的过流组件测试装置,通过设置去离子系统,对水源系统中的冷却水进行去离纯化后送入水循环系统,降低了冷却水中的电导率,提高了测试结果的准确度。
[0035]作为一种优选的实施方式,如图1所示,该过流组件测试装置还包括散热系统14和气源系统16,其中气源系统16,与水循环系统13通过阀门连接,用于储存气源并调节水循环系统13压力;气源系统16通过阀门与水循环管路连接,测试结束后,通过气源系统16将水循环管路的冷却水吹回到水源系统11,节省了测试冷却水源,且防止测试后的冷却水残留在水循环管路发生水蚀;
[0036]水循环系统13还包括脱气罐,脱气罐通过阀门与气源系统16连接,用于当测试结束时,脱除水循环管路中的气体,防止在脱除水之后的气体残留在水循环管路中发生气蚀。
[0037]还包括散热系统14,与水循环系统13通过阀门连接,用于对水循环系统13的冷却水进行散热,散热系统14中采用水风散热器进行散热。
[0038]测试平台15还包括模拟发热单元,用于提供模拟测试热量,为了使测试环境更加接近真实使用情况,,用来模拟真实的电力电子器件的热量。。
[0039]具体地,气源系统16的储气罐的一侧连接空气滤清器与超静音空气压缩机,另一侧连接油水分离器,在油水分离器的出口设置有压力调节阀,调节水源系统的气体压力,并通过调节气体压力满足不同待测试过流组件的测试需求,继而实现待测过流组件的耐压测试;
[0040]本发明实施例提供的过流组件测试装置,在测试结束后,通过气源系统将水循环管路内的冷却水吹回到水源系统中,在对该测试装置进行脱水后,通过设置脱气罐将水循环系统中的气体除尽,防止该测试装置发生水蚀与气蚀,同时将冷却水吹回水源系统,也节约了水资源;同时气源系统通过调节压力,实现不同压力等级的测试。
[0041]本发明实施例提供的过流组件测试装置,还包括测试系统与测试平台15连接,还与外部测试控制器连接,接收外部测试器的测试操作指令通过测试平台对待测过流组件进行测试。
[0042]其中,测试系统包括测试仪表,用于测试并显示测试数据,测试水冷系统工作过程中相关测试参数;还包括存储系统,分别与测试系统以及外部测试系统连接,用于记录测试数据。
[0043]具体地,外部测试控制器包括工控机,用于控制测试系统的开发,测试程序的储存及测试数据的储存分析,并同时设置有功率调节器,实现对模拟发热单元的发热功率进行无极调节,主栗变频器,用于调节主循环栗的转速,进而调节冷却水流量,还设置有水风撒热器变频器,调节水风散热器的风机转速,进而调节散热量;
[0044]在进行测试的过程中,将待测过流组件安装到相应的测试平台工装上,并连接相应的进出水管路,检查测试系统响应阀门是否完好,位置是否正确,继而连接电源,根据所需试验要求选择相应地试验程序,继而实现自动测试,如图2所示,包括:
[0045](I)启动测试系统:冷却水通过主循环栗131—单向阀VI—三通阀V2(根据散热量需求调节大小)—过滤器ZI —电动阀V6或V7 (根据流量要求)—阀门V8—电动阀门VlO—待测过流组件151 —电动阀门Vl I —阀门V9—脱气罐132—阀门Vl 2;
[0046](2)冷却水纯化:球阀V26—单向阀V27—涡轮流量计FT2—电磁阀V31—离子交换器121—球阀V36—精密过滤器Z2—球阀V37—缓冲罐122—球阀V43;
[0047](3)冷却水补充回路:补水罐111—补水栗112—过滤器Z3—单向阀V30;
[0048](4)测试系统稳压补气回路:空气过滤器163—超静音空压机162—储气罐161—油水分离器164—调节阀V48—单向阀V47—电磁阀V42—阀门V39—缓冲罐122;
[0049](5)测试系统吹水回路:测试系统停机,关闭电动阀门VlO和Vl I,开启电磁阀V19和V21,完成吹水作用,即空气过滤器163—超静音空压机162—储气罐161—油水分离器164—调节阀V48—单向阀V45—电磁阀V21—待测过流组件151 —电磁阀Vl 9—补水罐111;
[0050](6)测试系统台面吹水回路:空气过滤器163—超静音空压机162—储气罐161—油水分离器164—调节阀V48—单向阀V46—阀门V49—补水罐111;
[0051]测试完成后,测试装置会提示测试人员进行拆装,用于进行下一试验或者关闭试验装置。
[0052]上述实施例提供的过流组件测试装置,通过设置存储系统与测试系统以及外部测试系统连接,实现了测试数据的存储与记录,便于后期对测试数据进行整理。
[0053]显然,上述实施例仅仅是为清楚地说明所作的举例,而并非对实施方式的限定。对于所属领域的普通技术人员来说,在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动。这里无需也无法对所有的实施方式予以穷举。而由此所引伸出的显而易见的变化或变动仍处于本发明创造的保护范围之中。
【主权项】
1.一种过流组件测试装置,包括: 测试平台,用于设置待测过流组件,在所述待测过流组件的外侧设置有用于测试的水循环管路; 水循环系统,连接所述水循环管路,为所述水循环管路内的冷却水提供循环动力; 水源系统,用于为所述水循环管路提供所述冷却水; 其特征在于,还包括:去离子系统,分别与所述水源系统和所述水循环系统连接,将所述冷却水进行去离子化后送入所述水循环系统。2.根据权利要求1所述的过流组件测试装置,其特征在于,所述去离子系统包括离子交换器和缓冲罐,其中 所述离子交换器,用于对来自所述水源系统的冷却水进行去离子化; 所述缓冲罐,与所述气源系统阀门连接,用于将所述水源系统中经过所述去离子化的所述冷却水,通过所述缓冲罐输送到所述水循环系统中。3.根据权利要求1所述的过流组件测试装置,其特征在于,还包括气源系统,与所述水循环系统通过阀门连接,用于储存气源并调节所述水循环系统压力。4.根据权利要求1所述的过流组件测试装置,其特征在于,所述水源系统设置在所述测试平台内,与所述水循环管路连接。5.根据权利要求1所述的过流组件测试装置,其特征在于,所述气源系统通过阀门与所述水循环管路连接,测试结束后,通过所述气源系统将水循环管路的所述冷却水吹回到所述水源系统。6.根据权利要求4所述的过流组件测试装置,其特征在于,所述水循环系统还包括脱气罐,所述脱气罐通过阀门与所述气源系统连接,用于当测试结束时,脱除水循环管路中的气体。7.根据权利要求4所述的过流组件测试装置,其特征在于,所述水循环系统还包括:至少两条不同流速的冷却水循环管路,用于满足不同待测试组件的测试要求条件。8.根据权利要求1所述的过流组件测试装置,其特征在于,还包括测试系统与所述测试平台连接,还与外部测试控制器连接,接收所述外部测试器的测试操作指令通过测试平台对所述待测过流组件进行测试, 所述测试平台还包括模拟发热单元,用于提供模拟测试热量。9.根据权利要求8所述的过流组件测试装置,其特征在于,所述测试系统包括测试仪表,用于测试并显示测试数据。10.根据权利要求9所述的过流组件测试装置,其特征在于,还包括存储系统与散热系统,其中 所述存储系统,分别与所述测试系统以及所述外部测试系统连接,用于记录所述测试数据; 所述散热系统,与所述水循环系统通过阀门连接,用于对所述水循环系统的冷却水进行散热。
【文档编号】G01M99/00GK106053118SQ201610580398
【公开日】2016年10月26日
【申请日】2016年7月21日 公开号201610580398.X, CN 106053118 A, CN 106053118A, CN 201610580398, CN-A-106053118, CN106053118 A, CN106053118A, CN201610580398, CN201610580398.X
【发明人】孔德卿, 任海莹, 刘营, 魏骁, 颜庆祥, 徐善军, 张培林
【申请人】北京国电富通科技发展有限责任公司
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