电压检测装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种电压检测装置，特别涉及一种用以检测处理器插座的电压检测装置。
【背景技术】
[0002]由于中央处理器对电压相当敏感，当主机板提供给中央处理器的供电电压过高时，很容易会烧坏或击穿中央处理器。因此，当组装人员在维修或组装中央处理器时，常常会先检测设置于主机板上的处理器插座，确定主机板要提供给中央处理器的供电电压正常后，才会将中央处理器安装于处理器插座上。
[0003]然而，随着科技的进步，中央处理器的集成功能越来愈多。为了因应中央处理器各个功能接口电路所需的电压，主机板必须提供越来越多种类的供电电压给中央处理器，进而使得组装人员在安装中央处理器时，需要预先检测更多主机板提供的供电电压，因此造成组装人员在安装中央处理器上的耗时与不便。
【实用新型内容】
[0004]本实用新型在于提供一种电压检测装置，借以解决组装人员安装中央处理器时，需检测多个供电电压而造成的耗时与不便问题。
[0005]本实用新型所公开的电压检测装置，包含基板、多个测试接脚、控制模块及警示模块。基板具有第一面及第二面。多个测试接脚设置于基板的第一面，测试接脚用以可插拔地连接处理器插座的多个电性接点。处理器插座的电性接点用以提供多个供电电压。控制模块设置于基板的第二面且电性连接测试接脚。当测试接脚连接于处理器插座的电性接点时，控制模块用以比对供电电压的值与预设范围以产生检测信号。警示模块电性连接控制模块，用以依据控制模块产生的检测信号，产生警示信号。
[0006]根据上述本实用新型所公开的电压检测装置，电压检测装置通过多个测试接脚电性连接处理器插座的多个电性接点，以一并地取得主机板准备提供给处理器的多个供电电压值，并通过比对每一个供电电压的值与其预设的电压值的方式，以确定每一个供电电压的值是否都在正常的电压范围内，进而发出警示信号以提示组装人员是否适合安装处理器。组装人员通过本实用新型电压检测装置可以更为方便且迅速地检测主机板的多个供电电压值，进而完成安装中央处理器的工作。
[0007]以上的关于本公开内容的说明及以下的实施方式的说明用以示范与解释本实用新型的精神与原理，并且提供本实用新型的专利申请范围更进一步的解释。
【附图说明】
[0008]图1为根据本实用新型一实施例所绘示的电压检测装置的俯视图。
[0009]图2为根据本实用新型一实施例所绘示的电压检测装置的仰视图。
[0010]图3为根据本实用新型一实施例所绘示的处理器插座的俯视图。
[0011]图4为根据本实用新型再一实施例所绘示的控制模块及警示模块的功能方块图。
[0012]图5为根据本实用新型再一实施例所绘示的比对单元中AND门的示意图。
[0013]图6为根据本实用新型另一实施例所绘示的控制模块及警示模块的功能方块图。
[0014]图7为根据本实用新型又一实施例所绘示的缓冲模块的示意图。
[0015]图8为根据本实用新型又一实施例所绘示的电压检测装置电性连接主机板的示意图。
[0016]图9为根据本实用新型又一实施例所绘示的电压检测装置电性连接外部装置的示意图。
[0017]附图标记说明:
[0018]10电压检测装置
[0019]11 基板
[0020]113 第一面
[0021]115 第二面
[0022]13_1?13_n测试接脚
[0023]13，_1 ?13，_n 接触点
[0024]15、15a、15b 控制模块
[0025]151a、151b 取样单元
[0026]153a、153b 存储单元
[0027]155a、155b 比对单元
[0028]157b计算单元
[0029]17、17a、17b 警示模块
[0030]18a、18b 缓冲模块
[0031]19外接插槽
[0032]30处理器插座
[0033]50供电缆线
[0034]70主机板
[0035]80通信缆线
[0036]90外部装置
[0037]31_1?31_n电性接点
[0038]Va_l、Vb_l、Vc_l 第一电压
[0039]Va_2.Vb_2.Vc_2 第二电压
[0040]Va_3.Vb_3.Vc_3 第三电压
[0041]Va_4、Vb_4、Vc_4 第四电压
[0042]Va_5.Vb_5.Vc_5 第五电压
[0043]Va_6.Vb_6.Vc_6 第六电压
[0044]Va_m 第 m 电压
[0045]SC检测信号
[0046]SAL警示信号
[0047]Vsl_l?Vsl_n第一取样电压
[0048]Vs2_l?Vs2_n第二取样电压
[0049]Vs3_l?Vs3_n第三取样电压
[0050]Vs4_l?Vs4_n第四取样电压
[0051]Vs5_l?Vs5_n第五取样电压
[0052]Vs6_l?Vs6_n第六取样电压
[0053]SP_1第一比对信号
[0054]SP_2第二比对信号
[0055]SP_3第三比对信号
[0056]SP_4第四比对信号
[0057]SP_5第五比对信号
[0058]SP_6第六比对信号
[0059]R1、R2、R3 电阻
[0060]C1、C2 电容
[0061]tl_l ?tl_n 第一时点
[0062]t2_l ?t2_n 第二时点
[0063]t3_l?t3_n第三时点
[0064]t4_l?t4_n第四时点
[0065]t5_l?t5_n第五时点
[0066]t6_l?t6_n第六时点
【具体实施方式】
[0067]以下在实施方式中详细叙述本实用新型的详细特征以及优点，其内容足以使任何熟习相关技艺者了解本实用新型的技术内容并据以实施，且根据本说明书所公开的内容、权利要求及附图，任何熟习相关技艺者可轻易地理解本实用新型相关的目的及优点。以下的实施例进一步详细说明本实用新型的观点，但非以任何观点限制本实用新型的范畴。
[0068]请参照图1至图3，图1为根据本实用新型一实施例的电压检测装置的俯视图，图2为根据本实用新型一实施例所绘示的电压检测装置的仰视图，图3为根据本实用新型一实施例所绘示的处理器插座的俯视图。如图所示，电压检测装置10包含基板11、测试接脚13_1?13_n、控制模块15、警示模块17及外接插槽19。基板11具有第一面113及第二面115，其中测试接脚13_1?13_n的接触点13’_1?13’_n、控制模块15、警示模块17及外接插槽19位于基板11的第二面115上。而测试接脚13_1?13_n由接触点13’_1?13’_η向外突出且设置于基板11的第一面113上。于本实施例中，测试接脚13_1?13_η、控制模块15、警示模块17及外接插槽19设置的位置并非用以限制本实用新型，于其他实施例中，测试接脚13_1?13_η亦可设置于第二面115上，或是外接插槽19可以设置于基板11的侧表面上。
[0069]测试接脚13_1?13_η用以可插拔地连接于处理器插座30的电性接点31_1?31_η,以检测处理器插座30所提供的多种供电电压。举例来说，供电电压例如为第一电压Va_l至第m电压Va_m，处理器插座30的电性接点31_1?31_2用以传输主机板准备要提供给处理器的第一电压Va_l。测试接脚13_1?13_2插设于处理器插座30的电性接点31_1?31_2时，以检测处理器插座30提供的第一电压Va_l。处理器插座30的电性接点31_3?31_4用以传输主机板准备要提供给处理器的第二电压Va_2。测试接脚13_3?13_4插设于处理器插座30的电性接点31_3?31_4，以检测处理器插座30提供的第二电压Va_2。其余测试接脚13_5?13_n检测第一电压Va_l至第m电压Va_m的方式以此类推。
[0070]于本实施例中以两个测试接脚检测同一种供电电压，并非为限制本实用新型用以检测提供相同供电电压的测试接脚数量。于其他实施例中，亦可以一个测试接脚检测同一种供电电压，或是三个到四个测试接脚检测同一种供电电压。此外，电压检测装置10的测试接脚可以电性连接全部或部分提供同一种供电电压的电性接点。举例来说，处理器插座30的五个电性接点31_5?31_9传输主机板提供的同一种供电电压给处理器，而电压检测装置10可以三个到四个测试接脚，如测试接脚13_5?13_7电性连接电性接点31_5?31_7，以检测主机板提供的同一种供电电压。
[0071]控制模块15电性连接测试接脚13_1?13_n。当接测试接脚13_1?13_n电性连接电性接点31_5?31_n时，控制模块15用以比对预设范围及供电电压的值，以产生检测信号SC。供电电压关连于测试接脚13_1?13_n检测电性接点31_3?31_n的结果。更详细来说，供电电压指主机板原本通过处理器插座30准备提供给处理器的电压，而电压检测装置10在处理器插座30安装处理器之前，安装于处理器插座30上，以检测主机板原本要提供给处理器的供电电压，因此测试接脚13_1?13_n检测到的供电电压实值上为主机板提供的供电电压。于其他实施例中，供电电压亦可以指测试接脚13_1?13_n取样多次主机板提供的供电电压，并加以平均计算的结果，抑或是供电电压是指主机板提供的供电电压经过缓冲处理以后所得到的