一种落球试验装置的制造方法_2

文档序号:9972767阅读:来源:国知局
纳落球300,显然地,该凹槽41的中心距离电磁铁40的各个侧边缘的尺寸是显而易见的。
[0025]在本实施例中,电磁铁40上还设有一贯穿该电磁铁40的圆孔45,该圆孔45用于收纳镭射光源43,该圆孔45与凹槽41之间预设一定距离L。进一步的,该镭射光源43收纳于该圆孔45中时,该镭射光源43的中心与该圆孔253的中心O’重合,此外,该镭射光源43在通电情况下射出平行光,该平行光照射在底板21的上表面可形成一光斑43’。
[0026]优选地,圆孔45的中心O’ (也即镭射光源43的中心)与凹槽41的中心O均位于电磁铁40的平行于X方向的对称轴线1-1上。
[0027]承上所述,由于横梁33可相对于竖直导杆31沿X方向水平往返移动,因此在横梁33的带动下,电磁铁40也可相对于竖直导杆31沿X方向水平往返移动,显然地,由于第二刻度233的存在,镭射光源43射出的光线照射在底板21上形成的光斑43’在底板21上沿平行于X方向往返移动的距离可由第二刻度233量测出。同时又由于第一刻度231的存在,镭射光源43射出的光线照射在底板21上形成的光斑43’在底板21上沿平行于Y方向往返移动的距离可由第一刻度231量测出。
[0028]当需要测试待测样品的某一具体待测试点位时,首先可将待测样放置底板21上,接着在进行落球前打开镭射光源43,此时在底板21上形成有光斑43’,然后移动竖直导杆31沿Y方向移动,以及移动横梁33带动电磁铁40以及镭射光源43和落球300沿X方向运动,使镭射光源43在底板21上的光斑43’与待测试样品的具体待测试点位完全吻合时,停止移动,然后再根据镭射光源43与凹槽41的预设距离计算出此时实际的落球点位,为将该实际落球点位与待测试样品的具体待测试点位完全吻合,此时需根据镭射光源43与凹槽41的预设距离移动竖直导杆21和/或者横梁33,该实际的移动距离可根据第一刻度231和第二刻度233精确进行,从而使得该实际落球点位与待测试样品的具体待测试点位完全吻合,最后关闭镭射光源43,进行落球动作。
[0029]具体地,在本实施例中,当移动镭射光源43在底板21上的光斑43’与待测试样品的具体待测试点位完全吻合时,此时由于该镭射光源43的中心与该凹槽41的中心点O在电磁铁40的平行于X方向的对称轴线1-1上,且两者之间的预设距离为L,此时,只需将横梁33沿X方向向远离竖直导杆21的方向移动L即可,此移动距离L可由第二刻度233精确测量。当然并不以此为限,在别的实施例中,该镭射光源43的中心与该凹槽41的中心点O’也可不在同一条直线上,此时则需要根据镭射光源43与凹槽41的预设距离分别移动竖直导杆21和横梁33,且该移动距离只需分别由第一刻度231和第二刻度233精确测量即可。
[0030]在本实用新型中,通过在样品台20底板21的相邻侧边的边缘的上表面设置第一刻度231和第二刻度233,将支架30中的竖直导杆31设置为可沿Y方向往返移动,横梁33设置为可沿X方向以及Z方向往返移动,在电磁铁40上增加一镭射光源43,从而使得在落球试验前,打开镭射光源43,移动竖直导杆31和横梁33,使得镭射光源43在底板21上形成的光斑43’与具体的待测试点位吻合,之后再根据镭射光源43与凹槽41的预设距离在第一刻度231和第二刻度233的精确测量下进行移动横梁33,最后使得实际的落球点位与待测试点位的精准吻合,提高落球点位的精准性,从而提升工作效率以及测试的准确性。
[0031]以上所述,仅是本实用新型的较佳实施例而已,并非对本实用新型作任何形式上的限制,虽然本实用新型已以较佳实施例揭露如上,然而并非用以限定本实用新型,任何熟悉本专业的技术人员,在不脱离本实用新型技术方案范围内,当可利用上述揭示的技术内容作出些许更动或修饰为等同变化的等效实施例,但凡是未脱离本实用新型技术方案内容,依据本实用新型的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰,均仍属于本实用新型技术方案的范围内。
【主权项】
1.一种落球试验装置,包括样品台,支架和电磁铁,其特征在于,所述样品台包括底板,在所述底板的上表面设有刻度和滑槽,所述支架包括竖直导杆和横梁,所述竖直导杆可在滑槽内滑动,所述横梁与所述竖直导杆相互垂直交叉设置,所述横梁可相对竖直导杆沿竖直方向和水平方向移动,所述电磁铁包括凹槽和镭射光源,所述凹槽用于收纳落球。2.如权利要求1所述的落球试验装置,其特征在于:所述刻度包括第一刻度和第二刻度,所述第一刻度和第二刻度设置在所述底板的相邻侧的靠近边缘的上表面,所述第一刻度和第二刻度相互垂直共有刻度原点。3.如权利要求2所述的落球试验装置,其特征在于:所述滑槽设置在所述底板的靠近所述第一刻度的一侧,所述滑槽的一端起始于所述刻度原点并沿着所述第一刻度延伸设置,所述滑槽的边缘靠近所述第一刻度并露出所述第一刻度的刻度线。4.如权利要求3所述的落球试验装置,其特征在于:所述滑槽向内凹入底板形成“凹”字型,滑槽的深度小于底板的厚度。5.如权利要求3所述的落球试验装置,其特征在于:所述竖直导杆竖直设置于所述滑槽内,所述横梁与所述竖直导杆相互垂直交叉设置,且所述横梁平行于X方向。6.如权利要求5所述的落球试验装置,其特征在于:所述电磁铁固定设置于所述横梁的远离所述竖直导杆的一端。7.如权利要求6所述的落球试验装置,其特征在于:所述电磁铁上设有贯穿该电磁铁的圆孔,所述圆孔用于收纳所述镭射光源。8.如权利要求7所述的落球试验装置,其特征在于:所述圆孔与所述凹槽中心之间预设一定距离L。9.如权利要求8所述的落球试验装置,其特征在于:所述圆孔的中心与所述凹槽的中心均位于所述电磁铁的平行于X方向的对称轴线1-1上。10.如权利要求1所述的落球试验装置,其特征在于:所述镭射光源射出平行光,该平行光照射在所述样品台的所述底板上形成一圆形光斑。
【专利摘要】一种落球试验装置,包括样品台,支架和电磁铁,该样品台包括底板,在底板的上表面设有刻度和滑槽,该支架包括竖直导杆和横梁,该竖直导杆可在滑槽内滑动,该横梁与该竖直导杆相互垂直交叉设置,该横梁可相对竖直导杆沿竖直方向和水平方向移动,该电磁铁包括凹槽和镭射光源,该凹槽用于收纳落球。该落球试验装置能够使得实际的落球点位与待测试样品的具体待测试点位的精准吻合,提高落球点位的精准性,从而提升工作效率以及测试试验结果的准确性。
【IPC分类】G01M7/08
【公开号】CN204882024
【申请号】CN201520627824
【发明人】马越超
【申请人】昆山龙腾光电有限公司
【公开日】2015年12月16日
【申请日】2015年8月19日
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