一种交流耐压测试装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及电力设备领域，具体为一种交流耐压测试装置。
【背景技术】
[0002]耐压仪属于测量器具，主要用于电力企业之间、供电企业与用户之间电表、采集器、终端等设备测试的仪器，而标准耐压测试仪及其检定装置又是衡量电表、采集器、终端等设备准确性的重要组成部分，为保证现场测试工作准确无误地顺利开展，交流耐压测试装置显得尤为重要。
[0003]目前国际和国内还没有测试耐压仪准确的测量器具，而交流耐压测试项目是电能表强检项目之一，故对交流耐压仪的准确度提出了更高的要求，因此设计一款准确计量耐压仪的交流耐压测试装置显得特别重要，同时可以满足交流耐压测试装置的潜在市场需求。
【实用新型内容】
[0004]本实用新型的目的在于提供一种交流耐压测试装置，以解决上述【背景技术】中提出的问题。
[0005]为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案:一种交流耐压测试装置，包括电压取样电路、高压输出信号、计量芯片ATT7026E、MCU单元、红外通讯单元、显示单元IXD、存储单元、时钟电路、按键、LD0芯片和电池，所述电压取样电路采用电阻分压的原理，串联了多个电阻，最末的两个电阻均与对应的电容相并联，所述MCU单元(4)还与红外通讯单元、显示单元、存储单元、时钟电路、按键及电池相连，所述MCU单元(4)将数据在显示单元上显示出来。
[0006]优选的，所述计量芯片ATT7026E通过SPI接口与MCU单元(4)通讯。
[0007]优选的，所述存储单元包括存储芯片AT24LC256和Flash存储器AT45DB161D，用于对数据进行存储。
[0008]优选的，所述红外通讯单元包括红外接收单元、红外发送单元及红外唤醒单元。
[0009]优选的，所述测试装置的外部还包括绝缘外壳。
[0010]优选的，所述电池为可充电电池。
[0011]与现有技术相比，本实用新型的有益效果是:一种交流耐压测试装置，结构简单，操作方便，实现了对耐压仪的精确测量，测量电压高，测试电压范围为1000-5000V，装置准确度高，电压显示保留两位小数，精度达到0.1%，漏电流范围在0.05mA—0.25mA。
【附图说明】
[0012]图1为本实用新型工作原理示意图；
[0013]图中:1，高压输入信号、2，电压取样电路、3，计量芯片ATT7026E、4，MCU单元、5，红外通讯单元、6，显示单元IXD、7，存储单元、8，时钟电路、9，按键、10，LD0芯片、11，电池。
【具体实施方式】
[0014]下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
[0015]请参阅图1，本实用新型提供一种技术方案:一种交流耐压测试装置，包括电压取样电路2、高压输出信号1、计量芯片ATT7026E3、MCU单元4、红外通讯单元5、显示单元IXD6、存储单元7、时钟电路8、按键9、LD0芯片10和电池11，所述电压取样电路2采用电阻分压的原理，串联了多个电阻，最末的两个电阻均与对应的电容相并联，所述MCU单元4还与红外通讯单元5、显示单元IXD6、存储单元7、时钟电路8、按键9及电池11相连，所述MCU单元4将数据在显示单元IXD6上显示出来。
[0016]所述计量芯片ATT7026E通过SPI接口与MCU单元4通讯，所述存储单元包括存储芯片AT24LC256和Flash存储器AT45DB161D，用于对数据进行存储，所述测试装置的外部还包括绝缘外壳，所述红外通讯单元5包括红外接收单元、红外发送单元及红外唤醒单元，所述电池11为可充电电池。
[0017]具体使用方式:本实用新型对来自耐压仪设备的电压通过电压取样电路进行采样，采样后的电压送入计量芯片ATT7026E，计量芯片ATT7026E将数据传送至MCU单元4，所述MCU单元4将数据在显示单元上显示出来，本实用新型主要采用电阻分压的原理，对来自耐压仪设备(1000V-5000V)电压进行采样，采样电压通过电阻分压电路送入计量芯片ATT7026E中，ATT7026E与MSP430F5438通过SPI接口进行通讯，采样值通过液晶显示出来。
[0018]对于本领域技术人员而言，显然本实用新型不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本实用新型的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本实用新型。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本实用新型的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本实用新型内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。
[0019]此外，应当理解，虽然本说明书按照实施方式加以描述，但并非每个实施方式仅包含一个独立的技术方案，说明书的这种叙述方式仅仅是为清楚起见，本领域技术人员应当将说明书作为一个整体，各实施例中的技术方案也可以经适当组合，形成本领域技术人员可以理解的其他实施方式。
【主权项】
1.一种交流耐压测试装置，包括电压取样电路(2)、高压输出信号(1)、计量芯片ATT7026E (3)、MCU单元(4)、红外通讯单元(5)、显示单元IXD (6)、存储单元(7)、时钟电路(8)、按键(9)、LD0芯片(10)和电池(11)，所述电压取样电路(2)采用电阻分压的原理，串联了多个电阻，最末的两个电阻均与对应的电容相并联，所述MCU单元(4)还与红外通讯单元(5)、显示单元^:0(6)、存储单元(7)、时钟电路(8)、按键(9)及电池(11)相连，所述MCU单元(4)将数据在显示单元IXD (6)上显示出来。2.根据权利要求1所述的一种交流耐压测试装置，其特征在于:所述计量芯片ATT7026E(3)通过SPI接口与MCU单元⑷通讯。3.根据权利要求1所述的一种交流耐压测试装置，其特征在于:所述存储单元包括存储芯片AT24LC256和Flash存储器AT45DB161D，用于对数据进行存储。4.根据权利要求1所述的一种交流耐压测试装置，其特征在于:所述红外通讯单元(5)包括红外接收单元、红外发送单元及红外唤醒单元。5.根据权利要求1所述的一种交流耐压测试装置，其特征在于:所述测试装置的外部还包括绝缘外壳。6.根据权利要求1所述的一种交流耐压测试装置，其特征在于:所述电池(11)为可充电电池。
【专利摘要】本实用新型公开了一种交流耐压测试装置，包括电压取样电路、高压输出信号、计量芯片ATT7026E、MCU单元、红外通讯单元、显示单元LCD、存储单元、时钟电路、按键、LDO芯片和电池，所述电压取样电路采用电阻分压的原理，串联了多个电阻，最末的两个电阻均与对应的电容相并联，所述MCU单元还与红外通讯单元、显示单元、存储单元、时钟电路、按键及电池相连，所述MCU单元将数据在显示单元上显示出来，本实用新型结构简单，操作方便，实现了对耐压仪的精确测量，测量电压高，测试电压范围为1000-5000V，装置准确度高，电压显示保留两位小数，精度达到0.1％，漏电流范围在0.05mA-0.25mA。
【IPC分类】G01R31/12
【公开号】CN205139297
【申请号】CN201520415031
【发明人】周小成, 顾菊明, 顾文达, 黄栋, 邓建成, 徐友冬, 王 锋, 王士云, 黄益喜, 赵宗兴, 许良, 张伟东, 郑天平, 刘辉, 孙汝宗
【申请人】江苏阳澄电力建设有限公司
【公开日】2016年4月6日
【申请日】2015年6月16日