技术特征：
技术总结
本发明公开了一种数控装备故障分析方法和装置，所述方法包括：步骤1：根据故障统计相关数据确定构成数控装备的故障相关子系统集合，采用DEMATEL/ISM法计算故障子系统间的整体影响矩阵；步骤2：根据所述整体影响矩阵确定可达矩阵，并基于改进的ISM法对可达矩阵进行层级划分，得到各故障子系统的层级；步骤3：将可达矩阵转化为ANP网络模型，计算各故障子系统的权重；步骤4：基于所述故障子系统的层级、故障相关关系和权重进行可视化。本发明实现了故障因素间的相互影响方向与影响强度、因素的层级特性以及相对重要程度的整合，有助于技术人员对数控装备故障因素进行辨识与分析。
技术研发人员：孙曙光;孙朝阳;申桂香;张英芝
受保护的技术使用者：山东师范大学
技术研发日：2017.11.17
技术公布日：2018.04.17