一种触摸按键自动测试系统及方法与流程

本发明涉及触摸按键技术领域，尤其涉及一种触摸按键自动测试系统及方法。

背景技术：

触摸按键是利用感应式触摸表面替换机械式的按键，感应功能是利用硬件和固件组合来实现的。当手触摸到按键时，产生电容的变化，触摸ic采集到电容值转换为电信号，根据电容的不同及一定算法，得出此按键是否触发。

有资料显示，触摸按键的触摸面板一致性很差，线路的连接，装配时生产时，稍有连接不挡，虚焊等即会造成触摸信号的变化，导致触摸功能时灵时不灵的问题。而生产制造，功能检测中也无法将故障件完全测试出来，检测故障率只能达到70％左右，而且需要花费很大时间和人力去完成。

中国专利文献cn108646107a公开了一种“触摸按键测试装置”。包括：触碰装置、触摸按键、控制电路以及输出装置；触碰装置，用于接收控制电路发送的控制信号，根据接收到的控制信号，触碰触摸按键；触摸按键，用于感应触碰装置的触碰，并在感应到被触碰后，发送触发信号；控制电路，用于向触碰装置发送控制信号，并接收触摸按键发送的触发信号，根据触发信号判断触摸按键的运行状态，并形成反馈信号发送至输出装置；输出装置，用于接收反馈信号，并根据反馈信号输出对触摸按键的测试结果。上述技术方案对触摸按键的短路测试方法存在一定的漏检，不能将每个触摸按键都测试，也不能精确的测试出每个存在短路的触摸按键。

技术实现要素：

本发明主要解决原有的技术方案对触摸按键的短路测试方法存在一定的漏检，并且检测结果不够准确的技术问题，提供一种触摸按键自动测试系统及方法，通过系统发送测试命令，控制器进入测试模式，发送信号，将信号反馈结果写入eeprom，根据信号反馈结果、信号反馈时间对触摸按键进行功能评判，测试时间短，效率高，适用于外形不同的设备，避免常规物理测试导致的触摸按键的寿命损耗。

本发明的上述技术问题主要是通过下述技术方案得以解决的：

一种触摸按键自动测试系统，包括mcu，所述mcu分别与测试模块、通信模块、告警模块相连，所述测试模块与接触键相连，通信模块与显示模块相连。mcu控制测试模块的开启及工作模式，mcu接收测试结果后进行比较分析，根据分析结果判断是否告警，同时通过通信模块将分析结果在显示模块上显示。

作为优选，所述的测试模块包括触摸头和信号传输模块，触摸头设置在触摸键表面。测试系统与触摸头无线连接，便于放置触摸头，触摸头设有编号，便于记录。

作为优选，所述的通信模块与监控管理云平台相连，同时经过监控管理云平台与终端相连。

作为优选，所述的mcu与计数模块、计时模块相连。计数模块用于记录测试次数，计时模块用于记录每次测试时间。

作为优选，所述的终端包括pc端和手持设备。pc端和手持设备远程读取监控管理云平台记录的数据，便于统计产品次品率等数据。

一种触摸按键自动测试系统的工作方法，包括以下步骤：

a.安装测试系统并开启调试；

b.进行测试模式1测试并记录测试结果；

c.进行测试模式2测试并记录测试结果；

d.比较测试模式1结果和测试模式2结果并分析；

e.记录并显示最终结果。

作为优选，所述的步骤b进行测试模式1测试具体包括：mcu控制测试模块开启测试模式1，依次发送测试信号至每个触摸按键，并读取每个触摸按键当前信号值，同时计数模块记录触摸按键数量，计时模块记录测试时间。

作为优选，所述的步骤c进行测试模式2测试具体包括：mcu控制测试模块开启测试模式2，每个触摸按键表面设置的触摸头依次进行触碰，读取每个触摸按键当前信号值，同时计数模块记录触摸按键数量，计时模块记录测试时间。

作为优选，所述的步骤d比较测试模式1结果和测试模式2结果，若触摸按键两次测试信号值正确且测试时间相差不大，则视为触摸按键正常工作；若触摸按键两次测试信号值正确，两次测试时间相差大，则视为触摸按键表面存在干扰；若触摸按键测试1信号值正确，测试2信号值错误，则视为触摸按键表面损坏；若触摸按键测试1信号值错误，则视为触摸按键内部损坏。

作为优选，所述的步骤d比较测试模式1结果和测试模式2结果，若测试模式1结果数量大于和测试模式2结果数量，则视为存在未安装触摸头的触摸按键，重新安装触摸头并重复步骤c。

本发明的有益效果是：通过系统发送测试命令，控制器进入测试模式，发送信号，将信号反馈结果写入eeprom，根据信号反馈结果、信号反馈时间对触摸按键进行功能评判，测试时间短，效率高，适用于外形不同的设备，避免常规物理测试导致的触摸按键的寿命损耗。

附图说明

图1是本发明的一种电路原理连接结构图。

图2是本发明的一种流程图。

图中1触摸键，2测试模块，3mcu，4通信模块，5显示模块，6监控管理云平台，7终端，8计数模块，9计时模块，10告警模块。

具体实施方式

下面通过实施例，并结合附图，对本发明的技术方案作进一步具体的说明。

实施例：本实施例的一种触摸按键自动测试系统及方法，如图1所示，包括mcu3，所述mcu3分别与测试模块2、通信模块4、告警模块10相连，所述测试模块2与接触键1相连，通信模块4与显示模块5相连。mcu控制测试模块的开启及工作模式，mcu接收测试结果后进行比较分析，根据分析结果判断是否告警，同时通过通信模块将分析结果在显示模块上显示。

通信模块4同时与监控管理云平台6相连，同时经过监控管理云平台6与终端7相连，终端7包括pc端和手持设备。pc端和手持设备远程读取监控管理云平台记录的数据，便于统计产品次品率等数据。mcu3与计数模块8、计时模块9相连。计数模块8用于记录测试次数，计时模块9用于记录每次测试时间。测试模块2包括触摸头和信号传输模块，触摸头设置在触摸键1表面。测试系统与触摸头无线连接，便于放置触摸头，触摸头设有编号，便于记录。

一种触摸按键自动测试系统的工作方法，包括以下步骤：

a.安装测试系统并开启调试，将触摸头安装到每个触摸按键1上。

b.mcu3控制测试模块2开启测试模式1，依次发送测试信号至每个触摸按键1，并读取每个触摸按键1当前信号值，记录到mcu3中，同时计数模块8记录触摸按键1数量，计时模块9记录测试时间。

c.mcu3控制测试模块2开启测试模式2，每个触摸按键1表面设置的触摸头依次进行触碰，读取每个触摸按键1当前信号值，记录到mcu3中，同时计数模块8记录触摸按键1数量，计时模块9记录测试时间。

d.比较测试模式1结果和测试模式2结果并分析：

若触摸按键1两次测试信号值正确且测试时间相差不大，则视为触摸按键1正常工作。

若触摸按键1两次测试信号值正确，两次测试时间相差大，则视为触摸按键1表面存在干扰。

若触摸按键1测试1信号值正确，测试2信号值错误，则视为触摸按键1表面损坏。

若触摸按键1测试1信号值错误，则视为触摸按键1内部损坏。

若测试模式1结果数量大于和测试模式2结果数量，则视为存在未安装触摸头的触摸按键1，重新安装触摸头并重复步骤c。

e.mcu3记录最终结果并通过通信模块4在显示模块5上显示，同时传输到监控管理云平台6进行存储，工作人员能够使用pc端和手持设备远程读取监控管理云平台记录的数据，进行产品次品率等数据的计算。

本文中所描述的具体实施例仅仅是对本发明精神作举例说明。本发明所属技术领域的技术人员可以对所描述的具体实施例做各种各样的修改或补充或采用类似的方式替代，但并不会偏离本发明的精神或者超越所附权利要求书所定义的范围。

尽管本文较多地使用了测试模块、触摸头等术语，但并不排除使用其它术语的可能性。使用这些术语仅仅是为了更方便地描述和解释本发明的本质；把它们解释成任何一种附加的限制都是与本发明精神相违背的。