技术总结
本发明涉及光学元件缺陷批量自动识别装置和方法。光学元件缺陷批量自动识别装置包括：光源；支架；图像采集装置；分析装置，采用SIFT算法针对所述多个标准镜片的照片提取多个标准特征向量，形成比对库；对所述图像用拉普拉斯算子进行锐化，并用罗伯特算子进行边缘提取，然后根据上述信息将每一个镜片的图像依次切割成多个子图片；使用SIFT算法依次提取每一个子图片的特征向量，并与比较库中的多个标准特征向量逐一进行比对并判断是否相似，若判断为与该子图片的特征向量相似的标准特征向量的数量低于预定的阈值，则将该子图片标记为不合格镜片。本发明能极大的提高生产效率，增加企业竞争能力。
技术研发人员：詹君;孙鸣洋;刘艾河
受保护的技术使用者：湖北山鹰光学有限公司
文档号码：201210091055
技术研发日：2012.03.31
技术公布日：2018.05.01