专利名称：触控面板的校准方法
技术领域：
本发明涉及一种校准方法，尤指一种触控面板的校准方法。
背景技术：
目前电容式触控面板(TouchPanel)具有多点触控及高解析度等优点，因而受到广大消费者的喜爱，但同时触控面板也存在因组装或静电等外界因素造成误动作的缺点。因外在环境的不稳定性造成的误动作，现在普遍的做法是将触控面板做校准，使得触控面板在不同的环境下仍能正常使用。现今的校准技术是将目前触控面板的环境完整记录下来，即为校准数值，将校准数值写入触控面板的单片机闪存(MCU NAND flash)作为背景预设，触控面板进行触发则是以触控面板的实时数值(二次校准数值的绝对值与一次校准数值的绝对值的差值)与预设差值比较，若预设差值相对较小，则会引起触控面板的触发；但是，目前并无有效的方法判断校准数值是否有效且符合环境需求，因此并不能判断触控面板是否能正常使用，效能是否有所提升。
发明内容
因此，本发明的目的在于提供一种触控面板的校准方法，用于判断校准数值是否为正常数值，从而解决上述问题。本发明提供一种触控面板的校准方法，应用于触控面板的校准装置，该触控面板具有触控集成模块，该方法包括步骤A.侦测触控面板各个位置的一次校准数值，该一次校准数值代表该触控面板的一个位置的外界环境；步骤B.判断各个位置的一次校准数值是否在预设范围内，若该一次校准数值不在该预设范围内，则重新执行步骤A ;步骤C.若该一次校准数值在该预设范围内，储存各个位置的一次校准数值，用以校准该触控面板。作为进一步可选的技术方案，该校准方法应用于校准装置，该校准装置包含处理器，该触控面板包含触控集成模块作为进一步可选的技术方案，于步骤A前该方法还包括该处理器向该触控集成模块发出侦测触控面板各个位置的一次校准数值的指令；该触控集成模块接收该指令。作为进一步可选的技术方案，于步骤A与B之间该方法还包括该触控集成模块向该处理器回传侦测到的触控面板各个位置的一次校准数值。作为进一步可选的技术方案，侦测触控面板各个位置的一次校准数值的步骤由该触控集成模块执行，判断各个位置的一次校准数值是否在预设范围内的步骤由该处理器执行。作为进一步可选的技术方案，该方法还包括步骤D.侦测触控面板各个位置的二次校准数值，并计算各个位置的实时数值；步骤E.判断该实时数值的绝对值是否小于或等于预设差值，若该实时数值的绝对值大于该预设差值，则重新执行步骤D ;步骤F.若该实时数值的绝对值小于或等于该预设差值，则校准结束。
作为进一步可选的技术方案，该实时数值为二次校准数值的绝对值与一次校准数值的绝对值的差值。作为进一步可选的技术方案，该校准方法应用于校准装置，该校准装置包含处理器，该触控面板包含触控集成模块，于步骤D前该方法还包括该处理器向该触控集成模块发出侦测触控面板各个位置的 二次校准数值的指令，该触控集成模块接收该指令。作为进一步可选的技术方案，于步骤D内该方法还包括该触控集成模块向该处理器回传侦测到的触控面板各个位置的二次校准数值。作为进一步可选的技术方案，侦测触控面板各个位置的二次校准数值的步骤由该触控集成模块完成；计算各个位置的实时数值与判断该实时数值的绝对值是否小于或等于预设差值的步骤由该处理器完成。与现有技术相比，本发明提供的触控面板校准方法通过对记录环境信息的校准数值进行判断是否过大或过小，从而判断是否存在外界干扰，并进行一次与二次校准，使得触控面板的校准方法更加可靠和更具有实用性。
图I为本发明的校准示意图；图2为本发明一实施例的触控面板各个位置的一次校准数值的显示示意图；图3为本发明校准方法的一实施例的流程图；图4为本发明一实施例的触控面板各个位置的一次校准数值的另一显示示意图；图5为本发明校准方法的另一实施例的流程图；图6为本发明另一实施例的触控面板各个位置的二次校准数值的显示示意图；图7为本发明另一实施例的触控面板各个位置的二次校准数值的另一显示示意图；图8为本发明另一实施例的触控面板各个位置的实时数值的显示示意图；图9为本发明另一实施例的触控面板各个位置的实时数值的另一显示示意图。
具体实施例方式为使对本发明的目的、构造、特征、及其功能有进一步的了解，兹配合实施例详细说明如下。如图I所示的本发明的校准示意图，校准装置I具有处理器10，触控面板2具有触控集成模块20，触控面板2为电容式触控面板，但不限于此。如图2所示，图2为本发明一实施例的触控面板各个位置的一次校准数值的显示示意图，于本实施例中，触控面板2被平均分割为16个位置，并且各个位置皆由坐标来代表其在面板上的相对位置。触控面板2的位置的数量由触控面板2的大小以及被分割的次数来决定，触控面板2越大，被分割的次数越多，则触控面板2的位置数量就越多。触控面板2与校准装置I电性连接，触控集成模块20侦测触控面板2的各个位置的外界环境，得到代表各个位置外界环境信息的一次校准数值，一次校准数值是由触控集成模块20感测到的触控面板2的各个位置的电荷值，若一次校准数值为正值，则说明触控集成模块20感测到的电荷为正电荷，若一次校准数值为负值，则说明触控集成模块20感测到的电荷为负电荷，若一次校准数值为0，则触控面板2的该位置无电荷干扰；若触控面板2某一位置的一次校准数值的绝对值越大，则该位置的电荷数量越多。处理器10根据得到的一次校准数值判断各个位置是否存在外界环境干扰，进而确定触控面板2是否需要校准。请参考图3，图3为本发明校准方法的一实施例的流程图。具体来讲，本发明的触控面板2的校准方法包括以下步骤101 :处理器10向触控集成模块20发出侦测触控面板2各个位置的一次校准数值的指令；102 :触控集成模块20接收该指令；103 :触控集成模块20侦测触控面板2各个位置的一次校准数值，该一次校准数值代表该触控面板的一个位置的外界环境；
通过触控集成模块20对触控面板2的各个位置的环境进行侦测，并得到如图2或图4所示的代表触控面板2的各个位置外界环境信息的一次校准数值，所有的一次校准数值构成一次校准数值集合，其中，图4为本发明一实施例的触控面板各个位置的一次校准数值的另一显示示意图。104 :触控集成模块20将上述侦测到的触控面板2各个位置的一次校准数值回传给处理器10 ；105 :处理器10判断各个位置的一次校准数值是否在预设范围内，若该一次校准数值不在该预设范围内，则重新执行步骤101 ；106:若该一次校准数值在该预设范围内，储存各个位置的一次校准数值于触控集成模块20中，用以校准该触控面板。于其它实施例中，各个位置的一次校准数值亦可储存于其它存储装置，该存储装置可以设置于校准装置，亦可以是一个独立的存储装置，可供处理器10读取所存储的信息即可。理想情况下，各个位置的一次校准数值为0，即不存在外界环境的干扰，但实际的生产环境下很难做到无干扰，因而各个位置的一次校准数值因该位置的外界环境的不同而具有不同的数值，数值的绝对值越大说明外界干扰越大；对于不同的触控面板，其能够承受的外界干扰程度也不同，因此设计之初会给予不同的触控面板不同的一次校准数值预设范围。如图4所示，触控面板2的一次校准数值的预设范围是[-80，80]，图4中位置(XI，Y3)的一次校准数值为-112，已超出预设范围，则一次校准失败，检查并移除触控面板2位置(X1，Y3)的干扰因素(如静电等)，并由处理器10再次发出侦测触控面板2各个位置的一次校准数值的指令，即重复执行步骤101-105 ;而图2所示的各个位置的一次校准数值皆在该预设范围[-80，80]内，则触控集成模块20对各个位置的一次校准数值进行存储，处理器10判定一次校准成功，并结束校准。如图5所示，为本发明校准方法的另一实施例的流程图。以下进行详细说明。上述实施例的步骤105中，当处理器10判断各个位置的一次校准数值在预设范围内时，本发明的校准方法还包括以下步骤107 :处理器10向触控集成模块20发出侦测触控面板2各个位置的二次校准数值的指令；108 :触控集成模块20接收该指令；
109 :触控集成模块20侦测触控面板2的各个位置的二次校准数值； 触控集成模块20侦测到一组二次校准数值(即二次校准数值集合)，二次校准数值与一次校准数值意义相同，皆为触控集成模块20感测到的触控面板2各个位置的电荷值。因侦测的时间不同，触控面板2的外界环境可能随之改变，因此，此时侦测到的各个位置的二次校准数值亦可能与上述侦测到的一次校准数值不尽相同，如图6与图7所示，图6与图7为本发明另一实施例的触控面板各个位置的二次校准数值的两个显示示意图。因前述101-106已对触控面板2做过一次校准，故而图6与图7所示的触控面板2的各个位置的二次校准数值已全部在预设范围[-80，80]内。110 :触控集成模块20向处理器10回传侦测的二次校准数值；111 :处理器10计算各个位置的实时数值；实时数值为各个位置二次校准数值的绝对值与对应位置一次校准数值的绝对值 的差值，实时数值异常过大或过小，亦容易引起误动作，因此，对实时数值的大小进行校正能更进一步减少误动作的产生。如图2与图6所示，图2是一次校准成功储存在触控集成模块20中的触控面板2各个位置的一次校准数值，图6是触控面板2各个位置的二次校准数值，各个位置的二次校准数值的绝对值与对应位置一次校准数值的绝对值相减即得到各个位置的实时数值，最终得到如图8所示的触控面板2各个位置的实时数值的显示示意图；同理，由图7与图2所示各个位置的二次校准数值与一次校准数值，可得到如图9所示的触控面板2各个位置的实时数值的另一显示示意图。112 :判断该实时数值的绝对值是否小于或等于预设差值，若该实时数值的绝对值大于该预设差值，则重新执行步骤107 ；113 :若该实时数值的绝对值小于或等于该预设差值，则校准结束。理想状况下，各个位置的实时数值亦应该为0，但实际状况很难达到无干扰，因此，在设计之初亦给予不同触控面板不同的预设差值，来限制触控面板能够承受的最大外界干扰。在本实施例中，触控面板2的预设差值设置为20，若触控面板2各个位置的二次校准数值如图7所示，则其对应的实时数值即如图9所示，图9中位置(X1，Y3)的实时数值的绝对值为31，大于预设差值20，因此，处理器10即判定二次校准失败，检查并移除触控面板2位置(Χ1，Υ3)的干扰因素(如静电等)，并再次向触控集成模块20发出侦测触控面板2各个位置的二次校准数值的指令，即重新执行步骤107。若触控面板2各个位置的二次校准数值如图6所示，则其对应的实时数值即如图8所示，图8中各个位置的实时数值的绝对值皆小于(或等于)预设差值20，故而处理器10即判定二次校准成功，并结束校准。综上所述，本发明提供的触控面板校准方法通过对记录环境信息的校准数值进行判断是否过大或过小，从而判断是否存在外界干扰，并进行一次与二次校准，使得触控面板的校准方法更加可靠和更具有实用性。本发明已由上述相关实施例加以描述，然而上述实施例仅为实施本发明的范例。必需指出的是，已揭露的实施例并未限制本发明的范围。相反地，在不脱离本发明的精神和范围内所作的更动与润饰，均属本发明的专利保护范围。
权利要求
1.一种触控面板的校准方法，其特征在于该方法包括 步骤A.侦测触控面板各个位置的一次校准数值，该一次校准数值代表该触控面板的一个位置的外界环境； 步骤B.判断各个位置的一次校准数值是否在预设范围内，若该一次校准数值不在该预设范围内，则重新执行步骤A ； 步骤C.若该一次校准数值在该预设范围内，储存各个位置的一次校准数值，用以校准该触控面板。
2.如权利要求I所述的触控面板的校准方法，其特征在于该校准方法应用于校准装置，该校准装置包含处理器，该触控面板包含触控集成模块。
3.如权利要求2所述的触控面板的校准方法，其特征在于于步骤A前该方法还包括 该处理器向该触控集成模块发出侦测该触控面板各个位置的一次校准数值的指令； 该触控集成模块接收该指令。
4.如权利要求2所述的触控面板的校准方法，其特征在于于步骤A与B之间该方法还包括 该触控集成模块向该处理器回传侦测到的触控面板各个位置的一次校准数值。
5.如权利要求2所述的触控面板的校准方法，其特征在于侦测触控面板各个位置的一次校准数值的步骤由该触控集成模块执行，判断各个位置的一次校准数值是否在预设范围内的步骤由该处理器执行。
6.如权利要求I所述的触控面板的校准方法，其特征在于该方法还包括 步骤D.侦测触控面板各个位置的二次校准数值，并计算各个位置的实时数值； 步骤E.判断该实时数值的绝对值是否小于或等于预设差值，若该实时数值的绝对值大于该预设差值，则重新执行步骤D ; 步骤F.若该实时数值的绝对值小于或等于该预设差值，则校准结束。
7.如权利要求6所述的触控面板的校准方法，其特征在于该实时数值为二次校准数值的绝对值与一次校准数值的绝对值的差值。
8.如权利要求6所述的触控面板的校准方法，其特征在于，该校准方法应用于校准装置，该校准装置包含处理器，该触控面板包含触控集成模块，于步骤D前该方法还包括 该处理器向该触控集成模块发出侦测触控面板各个位置的二次校准数值的指令， 该触控集成模块接收该指令。
9.如权利要求8所述的触控面板的校准方法，其特征在于于步骤D内该方法还包括 该触控集成模块向该处理器回传侦测到的触控面板各个位置的二次校准数值。
10.如权利要求8所述的触控面板的校准方法，其特征在于侦测触控面板各个位置的二次校准数值的步骤由该触控集成模块完成；计算各个位置的实时数值与比较该实时数值的绝对值与预设差值的大小的步骤由该处理器完成。
全文摘要
本发明提供一种触控面板的校准方法，应用于触控面板的校准装置，该触控面板具有触控集成模块，该方法包括侦测触控面板各个位置的一次校准数值，判断各个位置的一次校准数值是否在预设范围内，若该一次校准数值不在该预设范围内，则重新执行上述步骤；若该一次校准数值在该预设范围内，储存各个位置的一次校准数值，用以校准该触控面板。本发明提供的触控面板校准方法通过对记录环境信息的一次校准数值进行判断是否过大或过小，从而判断是否存在外界干扰，并进行一次与二次校准，使得触控面板的校准方法更加可靠和更具有实用性。
文档编号G06F3/041GK102890581SQ20121034508
公开日2013年1月23日 申请日期2012年9月18日 优先权日2012年9月18日
发明者高柏洲 申请人:苏州佳世达电通有限公司, 佳世达科技股份有限公司