触控显示面板的定位方法【专利摘要】本发明是有关于一种触控显示面板的定位方法，其触控显示面板包括一显示面板以及一触控面板。显示面板配置于触控面板上，其中触控面板上设置有多个感测点以及多个参考位置。在本方法中，对各参考位置施加多次且多种不同量值压力，并建立在不同量值压力下参考位置对应感测点所具有的多个平均电容值。当一物体触碰显示面板时，触控面板的感测点对应产生多个第二电容值。选取一触控压力值下参考位置对应感测点所具有的平均电容值。计算第二电容值以及触控压力值下参考位置对应感测点所具有的平均电容值，而获得触控物体的一触控位置。【专利说明】触控显示面板的定位方法【
技术领域：
】[0001]本发明涉及一种定位方法，特别是涉及一种触控显示面板的定位方法。【
背景技术：
】[0002]随着电子技术与显示技术的进步，时下的人机操作接口已有很大的突破，而不再局限于使用鼠标或键盘的操作方式。大多电子装置，例如:笔记型计算机、手机或是可携式多媒体播放器等电子装置，通常配置有触控面板，以取代传统键盘作为新一代的输入接口。[0003]在现今一般的触控显示面板设计中，以触控感测模式的设计原理分类，大致可区分为电阻式、电容式、光学式、声波式以及电磁式等，其中又以电阻式及电容式为主流；以结构组成分类，贝1J可分为外挂式(adhesivetype)及内建式(built-1ntype)两种。就电容式触控面板而言，主要原理是在其内外侧导电层产生均匀的低压电场，当导体(如人类的手指)与之接触时会产生静电结合，因而产生一微小的电容变化；经由测量电容变化的位置，可以判断接触发生点位于面板上的坐标。[0004]现有习知的电容式触控显示面板是由一触控面板及设置于其下方的一显示面板所组成。由于触控面板设置于显示面板的上方，因此易降低显示面板的的透光率。若为了改善显示面板的透光率而将显示面板设置于触控面板的前方，则由于触控信号需通过显示面板才能传递至触控面板，因而所得到的定位准确性都不如预期的好。因此，如何改善电容式触控显示面板的定位准确性，实为目前电容式触控显示面板亟待克服的课题。[0005]由此可见，上述现有的定位方法在方法与使用上，显然仍存在有不便与缺陷，而亟待加以进一步改进。为了解决上述存在的问题，相关厂商莫不费尽心思来谋求解决之道，但长久以来一直未见适用的设计被发展完成，而一般方法又没有适切的方法能够解决上述问题，此显然是相关业者急欲解决的问题。因此如何能创设一种新的触控显示面板的定位方法，实属当前重要研发课题之一，亦成为当前业界极需改进的目标。【
发明内容】[0006]本发明的目的在于，克服现有的定位方法存在的缺陷，而提供一种新的触控显示面板的定位方法，所要解决的技术问题是在提供一种触控显示面板的定位方法，其具有较佳定位准确性，非常适于实用。[0007]本发明的目的及解决其技术问题是采用以下技术方案来实现的。依据本发明提出的该触控显示面板包括一显示面板以及一触控面板，该显示面板配置于该触控面板上，其中该触控面板上设置有多个感测点，且该触控面板由矩阵式交叉分布的多个X轴线及多个Y轴线共同定义出的多个参考位置，所述感测点分散于所述参考位置上，该触控显示面板的定位方法包括:对各该参考位置施加多次且多种不同量值压力，并侦测所述感测点在所述不同量值压力下所产生多个第一电容值，并对相同压力下的对应各该参考位置的所述第一电容值进行一运算，而建立在所述不同量值压力下所述参考位置对应所述感测点所具有的多个平均电容值；当一触控物体触碰该显示面板时，该触控面板的所述感测点对应产生多个第二电容值；比较所述第二电容值与所述不同量值压力下的所述平均电容值，以选取所述不同量值压力中的一触控压力值下所述参考位置对应所述感测点所具有的所述平均电容值；以及计算所述第二电容值以及该触控压力值下所述参考位置对应所述感测点所具有的所述平均电容值，而获得该触控物体的一触控位置。[0008]本发明的目的及解决其技术问题还可采用以下技术措施进一步实现。[0009]前述的触控显示面板的定位方法，其中所述的其中比较所述第二电容值与所述不同量值压力下的所述平均电容值的步骤，包括:选取所述第二电容值中具有最大值的该感测点周围的一第一目标区域内所述参考位置的所述平均电容值；计算该触控位置的所述第二电容值与位于该第一目标区域内的各该参考位置在不同量值压力下的该平均电容值，而至少获得二个不同量值压力下的一第三电容值及一第四电容值；以及选取该第三电容值与该第四电容值中的最小值，而获得该触控压力值下所述参考位置对应所述感测点所具有的所述平均电容值。[0010]前述的触控显示面板的定位方法，其中所述的其更包括:在选取该第一目标区域内所述参考位置在不同量值压力下的所述平均电容值之后，选取所述第二电容值中具有次大值的该感测点周围的一第二目标区域内所述参考位置在不同量值压力下的所述平均电容值，其中该第二目标区域部分重叠该第一目标区域；计算该触控位置的所述第二电容值与位于该第二目标区域内的各该参考位置在不同量值压力下的该平均电容值，而至少获得二个不同量值压力下的一第五电容值及一第六电容值；以及选取该第三电容值、该第四电容值、该第五电容值及该第六电容值中的最小值，而获得该触控压力值下所述参考位置对应所述感测点所具有的所述平均电容值。[0011]前述的触控显示面板的定位方法，其中所述的其中计算该触控位置的所述第二电容值与位于该第一目标区域或该第二目标区域内的各该参考位置在不同量值压力下的该平均电容值的公式为:[0012]Ml=(C1-table_C1)2+(C2-table_C2)2+(C3-table_C3)2+...+(Cn—table_Cn)2，n^1，其中n为所述感测点的数目，C1-Cn分别为各该感测点对应于各该参考位置所感测的所述第二电容值，table_Crtable_Cn为各该参考位置对应所述感测点的平均电容值，Ml为各该量值压力值下的电容值。[0013]前述的触控显示面板的定位方法，其中所述的其中计算该触控位置的所述第二电容值与位于该第一目标区域或该第二目标区域内的各该参考位置在不同量值压力下的该平均电容值的公式为:[0014]Ml=abs(Cftable-C1)+abs(C2_table_C2)+abs(C3_table_C3)+...+abs(Cn-tabIe_Cn),n^1，其中n为所述感测点的数目，(^至(；分别为各该感测点对应于各该参考位置所感测的所述第二电容值，tablej^至table_Cn为各该参考位置对应所述感测点的平均电容值，Ml为各该量值压力值下的电容值。[0015]前述的触控显示面板的定位方法，其中所述的其中计算该触控压力值的步骤，包括:选取所述第二电容值中具有最大值的该感测点周围的一第三目标区域内所述参考位置在该触控压力值下对应所述感测点的所述平均电容值；计算该触控位置的所述第二电容值与位于该第三目标区域内的各该参考位置在该触控压力值下的该平均电容值，而至少获得二个不同量值的一第三电容值及一第四电容值；以及选取该第三电容值与该第四电容值中的最小值，而获得该触控物体的该触控位置。[0016]前述的触控显示面板的定位方法，其中所述的其更包括:在选取该第三目标区域内所述参考位置在该触控压力值下对应所述感测点的所述平均电容值之后，选取所述第二电容值中具有次大值的该感测点周围的一第四目标区域内所述参考位置在该触控压力值下对应所述感测点的所述平均电容值，其中该第四目标区域部分重叠该第三目标区域；计算该触控位置的所述第二电容值与位于该第四目标区域内的各该参考位置在该触控压力值下的该平均电容值，而至少获得二个不同量值的一第五电容值与一第六电容值；以及选取该第三电容值、该第四电容值、该第五电容值及该第六电容值中的最小值，而获得该触控物体的该触控位置。[0017]前述的触控显示面板的定位方法，其中所述的其中计算该触控位置的所述第二电容值与位于该第三目标区域或该第四目标区域内的各该参考位置在该触控压力值下的该平均电容值的公式为:[0018]M2=sqrt((C「tabIe_Ci)'2+(C2_tabIe_C2)'2+(C3_tabIe_C3)'2+...+(Cn-tabIe_Cn)~2)，n^1，其中n为所述侦测点的数目，C1-Cn分别为各该感测点对应于各该参考位置所感测的所述第二电容值，tablej^-tablej；为各该参考位置对应所述感测点的平均电容值，M2为该触控压力值下的电容值。[0019]前述的触控显示面板的定位方法，其中所述的其中计算该触控位置的所述第二电容值与位于该第三目标区域或该第四目标区域内的各该参考位置在该触控压力值下的该平均电容值的公式为:[0020]M2=abs(Cftable—Cj+abs(C2_table_C2)+abs(C3_table_C3)+...+abs(Cn_table_Cn),n^1，其中n为所述侦测点的数目，(^至(；分别为各该感测点对应于各该参考位置所感测的所述第二电容值，tablej^至table_Cn为各该参考位置对应所述感测点的平均电容值，M2为该触控压力值下的电容值。[0021]前述的触控显示面板的定位方法，其中所述的其更包括:依据所获得的该第三电容值、该第四电容值、该第五电容值及该第六电容值，分别给予不同数值的权重。[0022]借由上述技术方案，本发明触控显示面板的定位方法至少具有下列优点及有益效果:基于上述，由于本发明是先建立在不同量值压力下参考位置对应感测点所具有的平均电容值，因此当触控物体触碰显示面板而使其下方的触控面板的感测点对应产生第二电容值时，可先借由比较第二电容值与不同量值压力下的平均`电容值而得知触控物体触控时的一触控压力值下参考位置对应感测点所具有的平均电容值，而后再计算第二电容值与触控压力值下参考位置对应感测点所具有的平均电容值而得知触控物体的触控位置。借此，可提高触控位置定位的准确性。[0023]综上所述，本发明触控显示面板的定位方法，其触控显示面板包括一显示面板以及一触控面板。显示面板配置于触控面板上，其中触控面板上设置有多个感测点以及多个参考位置。在本方法中，对各参考位置施加多次且多种不同量值压力，并建立在不同量值压力下参考位置对应感测点所具有的多个平均电容值。当一物体触碰显示面板时，触控面板的感测点对应产生多个第二电容值。选取一触控压力值下参考位置对应感测点所具有的平均电容值。计算第二电容值以及触控压力值下参考位置对应感测点所具有的平均电容值，而获得触控物体的一触控位置。本发明在技术上有显着的进步，并具有明显的积极效果，诚为一新颖、进步、实用的新设计。[0024]上述说明仅是本发明技术方案的概述，为了能够更清楚了解本发明的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本发明的上述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举较佳实施例，并配合附图，详细说明如下。【专利附图】【附图说明】[0025]图1绘示为本发明的一实施例的定位系统的方框图。[0026]图2A绘示为本发明的一实施例的触控显示面板的立体示意图。[0027]图2B为图2A的触控显示面板沿着线1_1’的剖面示意图。[0028]图2C为图2A的触控显示面板的俯上视示意图[0029]图3是依照本发明的一实施例所绘示的触控显示面板的定位方法流程示意图。[0030]图4是依照本发明的一实施例说明当一触控物体触碰触控显示面板时的触控显示面板的定位方法的俯视示意图。[0031]1000:定位系统100:触控显示面板[0032]110:显示面板120:触控面板[0033]130”1302、1303、1304、1305、1306、1307、1308、1309、13010、130n、13012、13013:感测点[0034]140:参考位置200:电子装置[0035]210:处理单元220:储存单元[0036]222:电容值数据库401:触控物体[0037]403:触控位置410:第一目标区域[0038]420:第二目标区域430:第三目标区域[0039]440:第四目标区域1-1’:线[0040]S301、S303、S305、S307:步骤xl_x23:X轴线[0041]yl-yl7:Y轴线【具体实施方式】[0042]为更进一步阐述本发明为达成预定发明目的所采取的技术手段及功效，以下结合附图及较佳实施例，对依据本发明提出的触控显示面板的定位方法其【具体实施方式】、方法、步骤、特征及其功效，详细说明如后。[0043]本实施例的触控显示面板的定位方法可以借由软件来实现，并执行于相关的电子装置(例如，计算机)中，其中硬件装置可定位一触控物体触碰一触控显示面板的显示面板时，此触控物体所触碰一触控位置。然而，本领域技术人员可于部分实施例中采用韧体程序或是硬件结构等实现方式，借以执行本发明所述的触控显示面板的定位方法，并不受限于上述软件实现。为了使本发明的内容更为明了，以下特举实施例做为本发明确实能够据以实施的范例。[0044]图1绘示为本发明的一实施例的定位系统的方框图。请参阅图1，定位系统1000包括一触控显示面板100以及一电子装置200。在本实施例中，电子装置200用以执行本实施例的触控显示面板的定位方法。详细而言，电子装置200例如是个人计算机、笔记型计算机、个人数字助理(personaldigitalassistant,PDA)等，不限于上述。[0045]电子装置200包括一处理单元210以及一储存单元220，其中处理单元210耦接于储存单元220。储存单元220可储存本发明实施例所需的数据数据，以及用来实现本实施例的定位方法的软件。在部分实施例中，储存单元220亦可设置于云端网络的数据库中，处理单元210可通过网络或相关通讯机制来读取储存单元220中的数据。进一步地说，储存单元220可储存一电容值数据库222。电容值数据库222例如包括一触控物体触碰显示面板时,触控面板上各位置所产生的电容值信息。处理单元210例如是中央处理单元(CentralProcessingUnit，CPU)，其可取得储存单元220中的数据数据，并可控制电子装置200的整体运作以及实现本实施例的定位方法。举例来说，处理单元210可取得电容值数据库222中的电容值信息，以定位一触控物体触碰显示面板所在的触控位置。[0046]图2A绘示为本发明的一实施例的触控显示面板的立体示意图。图2B为图2A的触控显示面板沿着线1-1’的剖面示意图。请参阅图2A与图2B，触控显示面板100包括一显示面板110以及一触控面板120，其中显示面板110配置于触控面板120上。在本实施例中，显示面板110例如是一电泳显示面板，但并不以此为限。此外，触控面板120例如是一电容式触控面板。[0047]此外，图2C为图2A的触控面板的俯视示意图。请参阅图2C，触控面板120是由矩阵式交叉分布的多个X轴线(例如是xl-x23)及多个Y轴线(例如是yl_yl7)共同定义出的多个参考位置140。于此，触控面板120上设置有多个感测点(例如是13(^-13(^),其中这些感测点13(^-13(^分散于这些参考位置140上。需说明的是，图2C中示意地绘示以由这些X轴线xl-x23以及这些Y轴线yl_yl7所形成的23X17二维矩阵态的这些参考位置140、以及以由13个感测点13(^-13(^为例进行说明，但本实施例并不限制X轴线与Y轴线的数目以及感测点的位置以及数目。当然，在其它未绘示的实施例中，触控面板120亦可以X轴线、Y轴线及Z轴线共同定义出三维矩阵态的多个参考位置，在此并不加以限制。[0048]图3是依照本发明的一实施例所绘示的触控显示面板的定位方法流程示意图。请参阅图1、图2C与图3，在本实施中，步骤S301，对各参考位置140施加多次且多种不同量值压力，并侦测感测点在不同量值压力下的所产生多个第一电容值，并对相同压力下的对应各参考位置140的第一电容值进行一运算，而建立在不同量值压力下参考位置140对应感测点ISO1-1SO13所具有的多个平均电容值。[0049]详细而言，对于一个参考位置140而言，此参考位置140会接收多次且多种不同量值压力(例如是以10克的量值压力在此参考位置140上操作10次)，其中这些不同量值压力可由一压力机(未绘示)或其它用以施加压力的装置来提供。接着，这些感测点130r13013会分别感测到在此参考位置140上的压力值后对应产生第一电容值，其中由于每一感测点130!(或1302-13013)与此参考位置140的距离不同，因此感测点13(^-13(^对应所产生的这些第一电容值也不同，即会产生13个不同量值的第一电容值。之后，处理单元210会对多次且相同量质压力下每一参考位置140的第一电容值进行一运算，而建立在相同量值压力下这些参考位置140对应这些感测点ISO1-1SO13所具有的多个平均电容值。[0050]具体而言，当本实施例以一量值压力Pl且施加多次量值压力Pl在这些参考位置140上时，此时对于感测点UO1来说，感测点UO1可产生多个对应各参考位置140的第一电容值nC(1，P1)，其中C(1，P1)表示为为感测点UO1对应于各参考位置140在接收量值压力Pl时所感测的第一电容值，η表不为本实施例以相同量值压力Pl施加于各参考位置140上的次数。类似地，对于感测点1302而言，感测点1302可产生多个对应各参考位置140的第一电容值nC(2，P1)，其中C(2，P1)表示为感测点1302对应于各参考位置140在接收量值压力Pl时所感测的第一电容值，而n表示为本实施例以相同量值压力Pl施加于各参考位置140上的次数。[0051]接着，处理单元210则计算各个感测点13(^-130。对应于各参考位置140所感测的第一电容值nC(1，P1)-nC(13，P1)，而可建立各参考位置140在接收相同量值压力Pl下对应感测点130「13013所具有的多个平均电容值tableJV)，其中table_C(P1)表示为感测点130r13013对应于各参考位置140在接收量值压力Pl时所感测的平均电容值。因此，当本实施例施加不同量值压力Pl-Pn在所有参考位置140时，这些感测点ISO1-1SO13可产生对应不同量值压力Pl-Pn的平均电容值table_CQ^pn),其中，Pl-Pn表示对应于各参考位置140且对应不同量值压力。[0052]图4是依照本发明的一实施例说明当一触控物体触碰触控显示面板时的触控显示面板的定位方法的俯视示意图。为了方便说明起见，图4中省略绘示显示面板110。请先参阅图1、图3与图4，接着，步骤S303，当一触控物体401触碰显示面板110时，触控面板120的感测点ISO1-1SO13对应产生多个第二电容值C1-C1315[0053]为了取得触控物体401触碰触控显示面板100时所对应的触控压力值。请参阅图3，步骤S305，比较第二电容值C1-C13与不同量值压力下的平均电容值table_C(P1_Pn)，以选取不同量值压力中的一触控压力值Pt下参考位置140对应感测点13(^-13(^所具有的平均电容值table_C(Pt)。[0054]详细来说，请参阅图1与图4，在比较第二电容值C1-C13与不同量值压力下的这些平均电容值tabIeJVppn)的步骤中，处理单元210会依据触控物体401触碰显示面板110时，触控面板120的感测点13(^-13(^对应产生的这些第二电容值C1-C13中最大的电容值，如图4中感测点1305所产生的电容值最大，选取感测点1305周围的一第一目标区域410内这些参考位置140的这些平均电容值table_C(P1_Pn)。举例来说，在图4中，第一目标区域410中包括25个参考位置140。当然，在其它未绘示的实施例中，不限定第一目标区域所包括的参考位置的数量。接着，处理单元210计算触控物体401触碰显示面板110时的第二电容值C1-C13与位于第一目标区域410内的各参考位置140在不同量值压力下的平均电容值tabILC0^pn)，而至少获得二个对应于不同量值压力下的一第三电容值M3及一第四电容值M4。在此，由于第一目标区域410内具有25个参考位置，因此在每一量值压力下皆可获得25组不同量值的电容值，这25组不同量值电容值通过下述公式计算后可到此量值压力下的电容值(即Mlp)。而，第三电容值M3与第四电容值M4为这些不同量值压力下所获得的这些电容值中的最小值及次小值。[0055]理论上，处理单元210可依据以下公式，来计算在各个量值压力下第二电容值C1-C13与位于第一目标区域410的各参考位置140的平均电容值table_C(n_Pn):`[0056]Mlp=(C1-table_Clp)'2+(C2~tabIe_C2p)'2+(C3-table_C3p)~2+.?.+(Cn_table_Cnp)'2，n31，(I)[0057]其中n为感测点的数目，C1-Cn分别为各感测点对应于各参考位置所感测的第二电容值，table_Clp-table_Cnp为p压力值下各参考位置对应感测点的平均电容值，Mlp为p压力值下的电容值。[0058]当然，为了计算方便，本实施例的处理单元210也可依据以下公式来，计算在各个量值压力下第二电容值C1-C13与位于第一目标区域410的各参考位置140的平均电容值tabIe_C(P1-Pn):[0059]MIρ=abs(C^tabIe_Clp)+abs(C2-1abIe_C2p)+abs(C3_table_C3p)+...+abs(Cn_table_Cnp),n=I,(2)[0060]其中n为感测点的数目，C1-Cn分别为各感测点对应于各参考位置所感测的第二电容值，table_Clp-table_Cnp为ρ压力值下各参考位置对应感测点的平均电容值，Mlp为ρ各压力值下的电容值。[0061]进一步地说，由于在不同量值压力下，各参考位置140对应于这些感测点13(^-13(^具有不同的平均电容值tableJo^)，因此本实施例可根据公式⑴或公式(2)以求得对应于不同量值压力下的第三电容值M3及第四电容值M4。接着，处理单元210可选取第三电容值M3与第四电容值M4中的最小值，而获得一触控压力值Pt，换言之，第三电容值M3与第四电容值M4中的最小值为触控物体401触碰显示面板110时所对应的触控压力值Pt下参考位置140对应感测点C1-C13的平均电容值table_C(Pt)与第二电容值计算所得到的最小电容值。如此一来，处理单元210可取得各参考位置140在触控压力值Pt对应感测点C1-C13所具有的平均电容值table_C(Pt)。[0062]另外，为了更精确获得触控压力值Pt，请再参阅图4，本实施例在选取第一目标区域410内这些参考位置140的这些平均电容值tabIeJa^pn)之后，可再选取第二电容值C1-C13中具有次大值的感测点，例如是感测点1308，周围的一第二目标区域420内这些参考位置140在不同量值压力下的这些平均电容值table_C(P1_Pn)。此处，图4第二目标区域420中包括20个参考位置140，且第二目标区域420部分重叠第一目标区域410。当然，在其它实施例中，不限定第二目标区域420所包括的参考位置的数量。接着，处理单元210可计算触控物体401触碰显示面板110`时的第二电容值C1-C13与位于第二目标区域420内的各参考位置140在不同量值压力下的平均电容值table_C(P1_Pn)，而至少获得二个不同量值压力下的一第五电容值M5及一第六电容值M6。在此，由于第二目标区域420内具有20个参考位置，因此在每一同量值压力下皆可获得20组不同量值的电容值，这20组不同量值电容值通过上述公式计算后可到此量值压力下的电容值(即Mlp)。而，第五电容值M5与第六电容值M6为这些不同量值压力下所获得的这些电容值中的最小值及次小值。类似地，处理单元210可依据公式(I)或公式(2)以求得对应于不同量值压力的第五电容值M5及第六电容值M6。如此一来，处理单元210可由第一目标区域410以及第二目标区域420中的第三电容值M3、第四电容值M4、第五电容值M5及第六电容值M6中取最小值，而获得触控压力值Pt下参考位置140对应感测点C1-C13所具有的平均电容值table_C(Pt)。[0063]另外，本实施例亦不限地目标区域的数目，也就是说，在其它实施例中亦可选取更多的目标区域。值得一提的是，由于若是选取更多的目标区域，处理单元210可依据公式(I)或公式(2)，以求得更多目标区域内各参考位置在不同量值压力下的电容值。因此，处理单元210可从较多计算后的电容值中选出最小值，而求得更准确的触控压力值，以及在此触控压力值Pt下感测点C1-C13对应各参考位置140所具有的平均电容值table_C(Pt)。[0064]请参阅图1、图3与图4B，在获得触控压力值Pt后，步骤S307，计算第二电容值C1-C13以及触控压力值Pt下参考位置140对应感测点13(^-13(^所具有的平均电容值table_C(Pt)，而获得触控物体401的一触控位置403。详细而言，处理单元210可选取第二电容值C1-C13中具有最大值的感测点，例如是感测点1305，周围的一第三目标区域430内这些参考位置140在触控压力值Pt下对应感测点13(^-13(^的平均电容值table_C(Pt)。在本实施例中，第三目标区域430中所具有的参考位置140的数目多于第一目标区域410中所具有的参考位置140的数目，而在其它未绘示的实施例中，第三目标区域430中所具有的参考位置140的数目亦可等于第一目标区域410中所具有的参考位置140的位置，在此并不加以限制。接着，处理单元210计算触控物体401触碰显示面板110时的第二电容值C1-C13与位于第三目标区域430内的各参考位置140在触控压力值Pt下的平均电容值table_C(Pt)，而至少获得二个不同量值的一第三电容值M3’及第四电容值M4’。需说明的是，第三电容值M3’与第四电容值M4’为计算第三目标区域430中所得到的电容值中的最小值与次小值。[0065]理论上，处理单元210可依据以下公式来计算在触控压力值Pt下，第二电容值C1-C13与位于第三目标区域430的各参考位置140的平均电容值table_c(pt):[0066]M2=sqrt((C「tabIe_Ci)'2+(C2_tabIe_C2)'2+(C3_tabIe_C3)'2+...+(Cn-tabIe_Cn)~2),n^I,(3)[0067]其中n为侦测点的数目，C1-Cn分别为各感测点对应于各参考位置所感测的第二电容值，table_Crtable_Cn为各参考位置对应感测点的平均电容值，M2为触控压力值下的电容值。[0068]当然，为了计算方便，本实施例的处理单元210也可依据以下公式来计算在触控压力值Pt下，第二电容值C1-C13与位于第三目标区域430的各参考位置140的平均电容值t&ble—C(pt):[0069]M2=abs(C「table—C1)+abs(C2_table—C2)+abs(C3_table—C3)+?..+abs(Cn_table—Cn)，n^1，(4)[0070]其中n为侦测点的数目，C1-Cn分别为各感测点对应于各参考位置所感测的第二电容值，table_Crtable_Cn为各参考位置对应感测点的平均电容值，M2为触控压力值下的电容值。`[0071]也就是说，本实施例可根据公式(3)或公式(4)以求得对应于触控压力值Pt的第三电容值M3’及第四电容值M4’。接着，处理单元210可选取第三电容值M3’与第四电容值M4’中的最小值，而借由最小电容值来推知触控物体401的触控位置403。如此一来，即可获得触控物体401触碰显示面板110时的触控位置403。[0072]此外，为了更精确获得触控物体401的触控位置，请参阅图4，本实施例在选取第三目标区域430内参考位置140在触控压力值Pt下对应这些感测点13(^-13(^的平均电容值table_C(Pt)之后，也可选取第二电容值C1-C13中具有次大值的感测点，例如是感测点1308，周围的一第四目标区域440内参考位置140在触控压力值Pt下对应感测点ISO1-1SO13的平均电容值table_C(Pt)。在本实施例中，第四目标区域440中所具有的参考位置140的数目多于与第二目标区域420中所具有的参考位置140的数目，而在其它未绘示的实施例中，第四目标区域440所具有的参考位置140的数目也可等于第二目标区域420中所具有的参考位置140的数目。接着，处理单元210计算触控物体401触碰显示面板110时所产生的第二电容值C1-C13与位于第四目标区域440内的各参考位置140在触控压力值Pt下的平均电容值table_C(Pt)，而至少获得二个不同量值的一第五电容值M5’及一第六电容值M6’。需说明的是，第五电容值M5’与第六电容值M6’为计算第四目标区域440中所得到的电容值中的最小值与次小值。[0073]类似地，处理单元210可依据公式(3)或公式(4)以求得对在触控压力值Pt下的第五电容值M5’及第六电容值M6’。如此一来，处理单元210可由第三目标区域430与第四目标区域440中的第三电容值M3’、第四电容值M4’、第五电容值M5’及第六电容值M6’中取最小值，而获得触控物体401的触控位置403。[0074]当然，本实施例亦不限地目标区域的数目，也就是说，在其它实施例中亦可选取更多的目标区域。值得一提的是，由于若是选取更多的目标区域，处理单元210可依据公式(3)或公式(4)，以求得更多的电容值。因此，处理单元210可从较多计算后的电容值中选出最小值，以求得更佳精确的触控位置。[0075]此外，处理单元210可对所获得的第三电容值M3’、第四电容值M4’、第五电容值M5’及第六电容值M6’分别给予不同数值的权重。举例来说，本实施例可针对在这些电容值(包括第三电容值M3’、第四电容值M4’、第五电容值M5’及第六电容值M6’)中影响力较高者，加上较大数值的权重(例如为5分)，而在这些电容值(包括第三电容值M3’、第四电容值M4’、第五电容值M5’及第六电容值M6’)中影响力较低者，加上较低数值的权重(例如为I分)，因此处理单元210可根据权重分数的大小来求得符合具有最高权重分数的参考点，并借由此参考点推知触控物体401的触控位置403。[0076]由于本实施例的显示面板110是设置于触控面板120的上方，因此当触控物体401触碰触控显示面板100时，触控信号必需通过显示面板110才能传递至触控面板120上。为了避免触控信号在传递的过程中因削减而导致触控面板120无法准确地得知触控位置，因此本实施例的触控显示面板100的定位方法是先建立在不同量值压力下这些参考位置140对应这些感测点13(^-13(^所具有的这些平均电容值table_C(P1_Pn)，因此当触控物体401触碰显示面板110而使其下方的触控面板120的这些感测点ISO1-1SO13对应产生这些第二电容值C1-C13时，可先借由比较这些第二电容值C1-C13与不同量值压力下的这些平均电容值tabIeJVppn)而得知触控物体401触控时的一触控压力值Pt下这些参考位置140对应这些感测点13(^-130。所具有的这些平均电容值table_C(Pt)，而后再计算这些第二电容值C1-C13与触控压力值Pt下这些参考位置140对应这些感测点ISO1-1SO13所具有的平均电容值table_C(Pt)而得知触控物体401的触控位置403。如使一来，通过跟先建立的不同量值压力下这些参考位置140对应这些感测点所具有的这些平均电容值tabIeJ^1-Pn)作比较及计算，可提高触控位置定位的准确性。[0077]基于上述，由于本发明是先建立在不同量值压力下参考位置对应感测点所具有的平均电容值，因此当触控物体触碰显示面板而使其下方的触控面板的感测点对应产生第二电容值时，可先借由比较第二电容值与不同量值压力下的平均电容值而得知触控物体触控时的一触控压力值下参考位置对应感测点所具有的平均电容值，而后再计算第二电容值与触控压力值下参考位置对应感测点所具有的平均电容值而得知触控物体的触控位置。借此，可提高触控位置定位的准确性。[0078]以上所述，仅是本发明的较佳实施例而已，并非对本发明作任何形式上的限制，虽然本发明已以较佳实施例揭露如上，然而并非用以限定本发明，任何熟悉本专业的技术人员，在不脱离本发明技术方案范围内，当可利用上述揭示的技术内容作出些许更动或修饰为等同变化的等效实施例，但凡是未脱离本发明技术方案内容，依据本发明的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰，均仍属于本发明技术方案的范围内。【权利要求】1.一种触控显示面板的定位方法，其特征在于:该触控显示面板包括一显示面板以及一触控面板，该显示面板配置于该触控面板上，其中该触控面板上设置有多个感测点，且该触控面板由矩阵式交叉分布的多个X轴线及多个Y轴线共同定义出的多个参考位置，所述感测点分散于所述参考位置上，该触控显示面板的定位方法包括:对各该参考位置施加多次且多种不同量值压力，并侦测所述感测点在所述不同量值压力下所产生多个第一电容值，并对相同压力下的对应各该参考位置的所述第一电容值进行一运算，而建立在所述不同量值压力下所述参考位置对应所述感测点所具有的多个平均电容值；当一触控物体触碰该显示面板时，该触控面板的所述感测点对应产生多个第二电容值；比较所述第二电容值与所述不同量值压力下的所述平均电容值，以选取所述不同量值压力中的一触控压力值下所述参考位置对应所述感测点所具有的所述平均电容值；以及计算所述第二电容值以及该触控压力值下所述参考位置对应所述感测点所具有的所述平均电容值，而获得该触控物体的一触控位置。2.如权利要求1所述的触控显示面板的定位方法，其特征在于其中比较所述第二电容值与所述不同量值压力下的所述平均电容值的步骤，包括:选取所述第二电容值中具有最大值的该感测点周围的一第一目标区域内所述参考位置的所述平均电容值；计算该触控位置的所述第二电容值与位于该第一目标区域内的各该参考位置在不同量值压力下的该平均电容值，而至少获得二个不同量值压力下的一第三电容值及一第四电容值；以及选取该第三电容值与该第四电容值中的最小值，而获得该触控压力值下所述参考位置对应所述感测点所具有的所述平均电容值。3.如权利要求2所述的触控显示面板的定位方法，其特征在于其更包括:在选取该第一目标区域内所述参考位置在不同量值压力下的所述平均电容值之后，选取所述第二电容值中具有次大值的该感测点周围的一第二目标区域内所述参考位置在不同量值压力下的所述平均电容值，其中该第二目标区域部分重叠该第一目标区域；计算该触控位置的所述第二电容值与位于该第二目标区域内的各该参考位置在不同量值压力下的该平均电容值，而至少获得二个不同量值压力下的一第五电容值及一第六电容值；以及选取该第三电容值、该第四电容值、该第五电容值及该第六电容值中的最小值，而获得该触控压力值下所述参考位置对应所述感测点所具有的所述平均电容值。4.如权利要求3所述的触控显示面板的定位方法，其特征在于其中计算该触控位置的所述第二电容值与位于该第一目标区域或该第二目标区域内的各该参考位置在不同量值压力下的该平均电容值的公式为:Ml=(CftableJ1)~2+(C2_table_C2)~2+(C3_table_C3)~2+...+(Cn_table_Cn)~2，n芎1，其中n为所述感测点的数目，C1-Cn分别为各该感测点对应于各该参考位置所感测的所述第二电容值，table_Crtable_Cn为各该参考位置对应所述感测点的平均电容值，Ml为各该量值压力值下的电容值。5.如权利要求3所述的触控显示面板的定位方法，其特征在于其中计算该触控位置的所述第二电容值与位于该第一目标区域或该第二目标区域内的各该参考位置在不同量值压力下的该平均电容值的公式为:Ml=abs(CftableJ1)+abs(C2_table_C2)+abs(C3_table_C3)+...+abs(Cn_table_Cn),η^1，其中n为所述感测点的数目，(^至(；分别为各该感测点对应于各该参考位置所感测的所述第二电容值，tabled至table_Cn为各该参考位置对应所述感测点的平均电容值，Ml为各该量值压力值下的电容值。6.如权利要求1所述的触控显示面板的定位方法，其特征在于其中计算该触控压力值的步骤，包括:选取所述第二电容值中具有最大值的该感测点周围的一第三目标区域内所述参考位置在该触控压力值下对应所述感测点的所述平均电容值；计算该触控位置的所述第二电容值与位于该第三目标区域内的各该参考位置在该触控压力值下的该平均电容值，而至少获得二个不同量值的一第三电容值及一第四电容值；以及选取该第三电容值与该第四电容值中的最小值，而获得该触控物体的该触控位置。7.如权利要求6所述的触控显示面板的定位方法，其特征在于其更包括:在选取该第三目标区域内所述参考位置在该触控压力值下对应所述感测点的所述平均电容值之后，选取所述第二电容值中具有次大值的该感测点周围的一第四目标区域内所述参考位置在该触控压力值下对应所述感测点的所述平均电容值，其中该第四目标区域部分重叠该第三目标区域；`计算该触控位置的所述第二电容值与位于该第四目标区域内的各该参考位置在该触控压力值下的该平均电容值，而至少获得二个不同量值的一第五电容值与一第六电容值；以及选取该第三电容值、该第四电容值、该第五电容值及该第六电容值中的最小值，而获得该触控物体的该触控位置。8.如权利要求7所述的触控显示面板的定位方法，其特征在于其中计算该触控位置的所述第二电容值与位于该第三目标区域或该第四目标区域内的各该参考位置在该触控压力值下的该平均电容值的公式为:M2=sqrt((C1-table_C1)'2+(C2_table_C2)'2+(C3_table_C3)~2+...+(Cn_table_Cn)~2)，n^1，其中n为所述侦测点的数目，C1-Cn分别为各该感测点对应于各该参考位置所感测的所述第二电容值，tablej^-tablej；为各该参考位置对应所述感测点的平均电容值，M2为该触控压力值下的电容值。9.如权利要求7所述的触控显示面板的定位方法，其特征在于其中计算该触控位置的所述第二电容值与位于该第三目标区域或该第四目标区域内的各该参考位置在该触控压力值下的该平均电容值的公式为:M2=abs(CftableJ1)+abs(C2_table_C2)+abs(C3_table_C3)+...+abs(Cn_table_Cn),η^1，其中n为所述侦测点的数目，(^至(；分别为各该感测点对应于各该参考位置所感测的所述第二电容值，tabled至table_Cn为各该参考位置对应所述感测点的平均电容值，M2为该触控压力值下的电容值。10.如权利要求7所述的触控显示面板的定位方法，其特征在于其更包括:依据所获得的该第三电容值、该第四电容值、该第五电容值及该第六电容值，分别给予不同数值的权重。【文档编号】G06F3/044GK103530005SQ201310084571【公开日】2014年1月22日申请日期:2013年3月15日优先权日:2012年7月3日【发明者】陈威豪,林金义申请人:元太科技工业股份有限公司