1.一种触控面板，其特征在于，包括：
第1导电膜，其具有多个沿一个方向被形成为较长的长条状的分离区域；
第2导电膜，其具有多个沿另一个方向被形成为较长的长条状的分离区域，所述另一个方向与所述一个方向大致直交；以及
第3导电膜，
其中，所述第1导电膜的分离区域沿所述另一个方向排列，所述第2导电膜的分离区域沿所述一个方向排列，
通过所述第1导电膜和所述第2导电膜，进行基于静电容量结合的坐标位置的位置检测，
通过检测出所述第2导电膜和所述第3导电膜的接触位置的电位，进行所述接触的坐标位置的位置检测。
2.根据权利要求1所述的触控面板，其中，所述第2导电膜形成在第2透明基板的一个面上，
所述第3导电膜形成在第3透明基板的一个面上，
所述第2透明基板的一个面和所述第3基板的一个面被配置为互相面对。
3.根据权利要求2所述的触控面板，其中，在所述第3透明基板的另一个面上形成有第4导电膜。
4.根据权利要求1至3中任一项所述的触控面板，其中，所述第2导电膜的分离区域之间的间隔被形成为，比所述第1导电膜的分离区域之间的间隔还窄。
5.根据权利要求1所述触控面板，其中，
所述第1导电膜的各分割区域与电流检测部连接，
所述第2导电膜的分割区域的一部分与电流检测部连接，
所述第2导电膜的各分割区域与电位检测部连接，
所述第3导电膜与电位检测部连接。
6.根据权利要求5所述的触控面板，其中，
所述第2导电膜的各分割区域上连接有，用于使所述第2导电膜的各分割区域沿所述另一个方向产生电位梯度的开关，
所述第3导电膜上连接有，用于使所述第3导电膜沿所述一个方向产生电位梯度的开关。
7.一种触控面板，其特征在于，包括：
第1基板，其上形成有多个带状的第1导电膜，所述第1导电膜沿第1方向延伸，并在所述第1方向的一个端部具有电极；
第2基板，其上形成有多个带状的第2导电膜，所述第2导电膜沿与所述第1方向直交的第2方向延伸，并在所述第2方向的两个端部具有电极；以及
第3基板，其上形成有面状的第3导电膜，
其中，所述第1基板、所述第2基板、及所述第3基板依次被积层。
8.根据权利要求7所述的触控面板，其中，
在使用所述第1导电膜和所述第2导电膜进行位置检测的情况下，对所述多个第2导电膜每隔一个地进行驱动，
在使用所述第2导电膜和所述第3导电膜进行位置检测的情况下，对所述多个第2导电膜的全部进行驱动。
9.一种触控面板的位置检测方法，其特征在于，所述触控面板包含第1导电膜，其具有多个沿一个方向被形成为较长的长条状的分离区域；第2导电膜，其具有多个沿与所述一个方向大致直交的另一个方向被形成为较长的长条状的分离区域；以及第3导电膜，其中，所述第1导电膜的分离区域沿所述另一个方向排列，所述第2导电膜的分离区域沿所述一个方向排列，所述位置检测方法包括：
使用所述第1导电膜和所述第2导电膜，进行基于静电容量结合的坐标位置的位置检测的步骤；以及
使所述第2导电膜和所述第3导电膜的任一个沿预定方向产生电位梯度，通过在另一个中检测所述第2导电膜和所述第3导电膜的接触位置的电位，进行基于电阻膜方式的坐标位置的位置检测的步骤。
10.根据权利要求9所述的触控面板的位置检测方法，其中，进行基于所述静电容量结合的坐标位置的位置检测的步骤和进行基于所述电阻膜方式的坐标位置的位置检测的步骤交互进行。
11.根据权利要求9或10所述的触控面板的位置检测方法，其中，在进行基于所述静电容量结合的坐标位置的位置检测的情况下，使用所述第2导电膜的分离区域的一部分，在进行基于所述电阻膜方式的坐标位置的位置检测的情况下，使用所述第2导电膜的分离区域的全部。