技术特征：
技术总结
本发明公开了一种齿轮副啮合斑点的有限元分析方法，其特征在于：包括：S1在三维软件中建立完整的齿轮副装配模型并进行位置调整；S2从完整装配模型中切割出分析模型；S3将切割出的分析模型进行实体网格划分与接触面设置；S4定义边界条件；S5将模型导入有限元分析软件进行解算；S6对解算结果进行后处理以获得齿面接触斑点、接触应力。本发明的有益效果是：通过仿真接触斑点、齿面接触应力来评价齿轮在真实工作条件下的啮合性能，这是传统的TCA技术无法做到的。
技术研发人员：吴海兵;孙全平;许兆美;陈前亮
受保护的技术使用者：淮阴工学院
技术研发日：2017.02.15
技术公布日：2017.08.18