触控装置及其扫描方法

文档序号:8318821阅读:203来源:国知局
触控装置及其扫描方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种触控装置及其扫描方法,尤其涉及一种可滤除大范围杂讯的触控装置及其扫描方法。
【背景技术】
[0002]已知电容式触控装置上产生大面积杂讯的主要原因来自两方面:一为触控板弯曲(Bending)和液晶模块的扫描信号干扰。如图9所示,是一种电容式触控装置的结构示意图,主要是在一液晶模块70上通过一口字胶80和一触控板90贴合,即一般所称的口字胶贴合。此种贴合具有制造方法难度与成本均低的优点,缺点是液晶模块70和触控板90之间形成气隙,容易产生叠影,且使用者执行触控操作时若力道稍大,即可能造成触控板90弯曲,并产生大面积杂讯。
[0003]相对口字胶贴合的另一种贴合方法为全贴合(Full Laminat1n),主要是将触控板无间隙地贴合在液晶模块上,由于无间隙地全面贴合,可以产生高辉度和高画质的写实视觉效果。缺点则是其贴合时必须确保匀称、无气泡,故制造方法难度与成本相对较高,且因全贴合关系,触控板更接近液晶模块,更容易受液晶模块的扫描信号干扰。
[0004]由上述可知,无论是口字胶贴合或全贴合的触控装置都存在大面积杂讯的干扰源,而针对不同原因造成的大面积杂讯,已知的滤除方式如下列出:
[0005]关于弯曲造成的大面积杂讯主要是利用高通滤波器(High-Pass filter)滤除,请参阅图10所示,为触控板的一感应图框,其上标示各个感应点的感应变化量,在感应图框左上位置存在一手掌接触造成的感应点群G1,由于手掌施压缘故,在手掌感应点群Gl右侧出现了大面积的杂讯感应点群G2;当采用所称高通滤波器滤除杂讯时,是以一感应点与其周边感应点的斜率(感应变化量变化)达一设定值时即读取,借此滤除感应变化量小的感应点群,此作法固然可以滤除大面积的杂讯感应点群G2,却存在下列缺点:
[0006]1、小手指、触控笔都可能被滤掉:由于是以感应变化量大小作为是否滤除的依据,因感应变化量小的小手指、触控笔都可能被滤除而影响操作。
[0007]2、手指的感应变化量会被抬起,导致坐标偏移:这是因为手指的感应变化量是实际的感应变化量加上杂讯造成的感应变化量,因此感应变化量会被抬起,进而会造成坐标偏移。
[0008]3、手掌防误触(palm reject1n)功能将受影响:请参阅图11所示,由于采取高通滤除方式,原来会被辨识为手掌的感应点群,经过高通滤除之后,将会破碎成多个独立的小感应点群gl?g4,而将被辨识为手指,致使手掌防误触功能失效。
[0009]关于液晶模块扫描信号造成的杂讯是采取减去定值的方式滤除,然而大尺寸液晶模块对触控板造成的杂讯并非定值,若减去定值,同样会发生前述手掌防误触功能失效的情况。
[0010]由上述可知,对于弯曲或液晶模块扫描信号造成的大面积杂讯,现有滤除技术都有造成误判坐标的可能,有待进一步检讨并谋求可行的解决方案。

【发明内容】

[0011]本发明主要目的在于提供一种触控装置及其扫描方法,其可有效滤波触控板的大面积杂讯,且可尽量维持原物件的感应变化量,有效避免误判坐标的情况。
[0012]为达成前述目的采取的主要技术手段是令前述触控装置的扫描方法中,该触控装置具有m个感应点,其中m是大于I的整数,该方法包括:
[0013]取得所述各感应点的初始感应变化量;
[0014]决定所述各感应点的一第一参考感应变化量以及一第二参考感应变化量,其包含:
[0015]一决定第一参考感应变化量步骤,包含以其中一个感应点作为一参考点以界定一预设区段,其中该预设区段的宽度为包含该参考点的η个感应点,且η是小于m的整数,并以该预设区段内所述各感应点的初始感应变化量中的一最小初始感应变化量作为该参考点的第一参考感应变化量,并重复该决定第一参考感应变化量步骤直到所有感应点都有一个对应的该第一参考感应变化量;以及一决定第二参考感应变化量步骤,包含以其中一个预设区段内所有感应点的第一参考感应变化量中的一最大第一参考感应变化量,作为该预设区段内作为参考点的感应点的第二参考感应变化量,并重复决定该第二参考感应变化量步骤直到所有感应点都有一个对应的第二参考感应变化量;以及根据所述各感应点的初始感应变化量和所述各第二参考感应变化量进行运算,以获得对应所述各感应点的一第三参考感应变化量,用以供后续进行坐标运算。
[0016]优选地,所述各参考点是由m个感应点中的每一个感应点所构成。
[0017]优选地,相邻的参考点与参考点之间相隔一个以上的感应点。
[0018]优选地,所述m个感应点位于同一感应线上。
[0019]优选地,所述触控装置具有多个感应线,每一感应线上具有m个感应点。
[0020]优选地,经取得所述各感应线上各参考点的第三参考感应变化量,以判断一物件的坐标位置。
[0021 ] 优选地,所述初始感应变化量为一电容感应变化量。
[0022]为达成前述目的采取的又一主要技术手段是令前述触控装置包括:
[0023]一触控板,具有m个感应点,其中m是大于I的整数;
[0024]一控制模块,分别和该触控板上的感应点电连接,并执行以下步骤:
[0025]取得所述各感应点的初始感应变化量;
[0026]依据一收敛条件决定所述各感应点的一第一参考感应变化量;
[0027]依据一发散条件及该第一参考感应变化量来决定所述各感应点的一第二参考感应变化量;
[0028]根据所述各感应点的初始感应变化量和所述各第二参考感应变化量进行运算,以获得对应所述各感应点的一第三参考感应变化量,用以供后续进行坐标运算。
[0029]优选地,所述发散条件为以其中一个感应点作为一参考点以界定一预设区段,该预设区段包含该参考点的多个感应点;以该预设区段内所述各感应点中最小的初始感应变化量作为该参考点的第一参考感应变化量;重复该决定第一参考感应变化量步骤直到所有预设区段内的参考点都有一个对应的该第一参考感应变化量。
[0030]优选地,所述发散条件为以其中一个预设区段内各感应点中的最大第一参考感应变化量作为该预设区段内作为参考点的感应点的第二参考感应变化量,并重复上述决定该第二参考感应变化量的步骤直到所有感应点都有一个对应的第二参考感应变化量。
[0031]优选地,所述m个感应点位于同一感应线上。
[0032]优选地,所述触控板具有多个感应线,每一感应线上具有m个感应点。
[0033]优选地,经取得所述各感应线上各参考点的第三参考感应变化量,以判断一物件的坐标位置。
[0034]优选地,相邻的参考点与参考点之间相隔一个以上的感应点。
[0035]优选地,所述初始感应变化量为一电容感应变化量。
[0036]本发明的有益效果在于:前述触控装置及扫描方法通过设定预设区段方式找出各感应点的第一、第二参考感应变化量,再以感应点的初始感应变化量与第二参考感应变化量相比较,以判断触控物件的原始的感应资讯,从而滤除了大面积的杂讯,并解决了现有滤除大面积杂讯技术可能造成坐标误判的问题。
【附图说明】
[0037]图1为本发明一较佳实施例的触控装置结构示意图。
[0038]图2为本发明一较佳实施例的方法流程图。
[0039]图3为一感应线上各感应点的感应变化量曲线图。
[0040]图4A至4B为本发明标示有预设区段的感应变化量曲线图。
[0041]图5A至为本发明一较佳实施例中由各预设区段找出各参考点第一参考感应变化量的示意图。
[0042]图6A至6E为本发明一较佳实施例中由各参考点第一参考感应变化量找出第二参考感应变化量的示意图。
[0043]图7A至7D为本发明又一较佳实施例中由各预设区段找出各参考点第一参考感应变化量的示意图。
[0044]图8A至8D为本发明又一较佳实施例中由各参考点第一参考感应变化量找出第二参考感应变化量的示意图。
[0045]图9为已知口字胶贴合的触控装置示意图。
[0046]图10为已知触控装置的感应图框示意图。
[0047]图11为已知触控装置以减去定值方式滤除杂讯后的感应图框示意图。
[0048]主要部件符号说明:
[0049]10触控装置
[0050]11触控板
[0051]111第一轴感应线
[0052]112第二轴感应线
[0053]SI?Sn感应线
[0054]A、A’、A” 预设区段
[0055]A1、A2、A3、A5 预设区段
[0056]R、R’、R” 参考点
[0057]R1、R2、R3、R5 参考点。
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