件的周期对应，可为一个待测器件扫描周期，所述预设地址间隔可为两个存储地址对应的地址间隔。
[0084]在一个实施例中，所述多位翻转检测系统还可包括第二检测模块，用于在所述待测器件的存储架构不是交错架构时，判断各所述存储地址对应的物理地址、翻转信息和读取时间中是否存在读取时间间隔小于所述预设时间且物理地址间隔小于或等于所述预设地址间隔的至少两个所述存储地址，若存在，则所述检测器件中存在多位翻转。
[0085]请参阅图4，图4是本发明多位翻转检测系统第二实施方式的结构示意图。
[0086]本实施方式所述的多位翻转检测系统与第一实施方式的区别在于:还包括第三检测模块1040，用于在所述待测器件的存储架构是交错架构时，判断各所述存储地址对应的物理地址、翻转信息和读取时间中是否存在物理地址在位线方向上的间隔小于或等于第二预设间隔、翻转信息对应的I/O数据块相邻且读取时间间隔小于所述预设时间的至少两个所述存储地址，若存在，则所述待测器件中存在多位翻转。
[0087]本实施方式，可进一步提高多位翻转检测的效率和降低误判率。
[0088]优选地，所述第二预设间隔可为一个存储单元。
[0089]以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
[0090]以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。
【主权项】
1.一种多位翻转检测方法，其特征在于，包括以下步骤: 获取待测器件的发生信息翻转的存储地址的物理地址、所述存储地址的翻转信息和所述翻转信息的读取时间，生成各所述存储地址对应的物理地址、翻转信息和读取时间； 判断所述待测器件的存储架构是否为交错架构； 若是，判断各所述存储地址对应的物理地址、翻转信息和读取时间中是否存在读取时间间隔小于预设时间、物理地址间隔小于或等于预设地址间隔且翻转信息相同的至少两个所述存储地址，若存在，则所述检测器件中存在多位翻转，其中，所述预设时间为检测所述待测器件的存储地址是否发生信息翻转时辐照所述待测器件的粒子束流的持续时间。2.根据权利要求1所述的多位翻转检测方法，其特征在于，判断所述待测器件的存储架构是否为交错架构的步骤之后，还包括以下步骤: 若所述待测器件的存储架构不是交错架构，判断各所述存储地址对应的物理地址、翻转信息和读取时间中是否存在读取时间间隔小于所述预设时间且物理地址间隔小于或等于所述预设地址间隔的至少两个所述存储地址，若存在，则所述检测器件中存在多位翻转。3.根据权利要求1所述的多位翻转检测方法，其特征在于，判断所述待测器件的存储架构是否为交错架构的步骤之后，还包括以下步骤: 若所述待测器件的存储架构是交错架构，判断各所述存储地址对应的物理地址、翻转信息和读取时间中是否存在物理地址在位线方向上的间隔小于或等于第二预设间隔、翻转信息对应的I/O数据块相邻且读取时间间隔小于所述预设时间的至少两个所述存储地址，若存在，则所述待测器件中存在多位翻转。4.根据权利要求1至3中任意一项所述的多位翻转检测方法，其特征在于，获取待测器件的发生信息翻转的存储地址的物理地址、所述储地址的翻转信息和所述翻转信息的读取时间的步骤包括以下步骤: 读取粒子束流辐照下的所述待测器件的各存储地址的信息，生成各存储地址的读信息，并将各存储地址的读信息分别与预设数据进行比较，生成各存储地址的比信息，所述待测器件被粒子束流辐照前已上电和写入所述预设数据； 若根据任一存储地址的比信息判定所述待测器件的所述任一存储地址发生信息翻转，则获取所述任一存储地址的逻辑地址、所述任一存储地址翻转信息和读取所述任一存储地址的信息的读取时间； 根据所述待测器件的逻辑地址与物理地址的对应关系，将所述任一存储地址的逻辑地址转换为所述任一存储地址的物理地址。5.根据权利要求4所述的多位翻转检测方法，其特征在于，读取粒子束流辐照下的所述待测器件的各存储地址的信息，生成各存储地址的读信息，并将各存储地址的读信息分别与预设数据进行比较，生成各存储地址的比信息的步骤包括以下步骤: 按地址顺序读取粒子束流辐照下的所述待测器件的各存储地址的信息； 每生成一个存储地址的读信息，并行比较所生成的读信息与所述预设数据，生成一个存储地址的比信息； 每生成一个存储地址的比信息，并行根据所生成的比信息判定所述待测器件的存储地址是否发生信息翻转。6.根据权利要求5所述的多位翻转检测方法，其特征在于，读取粒子束流辐照下的所述待测器件的各存储地址的信息，生成各存储地址的读信息的步骤之前，还包括以下步骤: 预设粒子束流的粒子注量率，以使所述预设时间内根据各存储地址的比信息判定的发生信息翻转的存储地址的数目小于或等于10。7.一种多位翻转检测系统，其特征在于，包括: 信息获取模块，用于获取待测器件的发生信息翻转的存储地址的物理地址、所述存储地址的翻转信息和所述翻转信息的读取时间，生成各所述存储地址对应的物理地址、翻转信息和读取时间； 架构判断模块，用于判断所述待测器件的存储架构是否为交错架构； 第一检测模块，用于在所述待测器件的存储架构为交错架构时，判断各所述存储地址对应的物理地址、翻转信息和读取时间中是否存在读取时间间隔小于预设时间、物理地址间隔小于或等于预设地址间隔且翻转信息相同的至少两个所述存储地址，若存在，则所述检测器件中存在多位翻转，其中，所述预设时间为检测所述待测器件的存储地址是否发生信息翻转时辐照所述待测器件的粒子束流的持续时间。8.根据权利要求7所述的多位翻转检测系统，其特征在于，还包括第二检测模块，用于在所述待测器件的存储架构不是交错架构时，判断各所述存储地址对应的物理地址、翻转信息和读取时间中是否存在读取时间间隔小于所述预设时间且物理地址间隔小于或等于所述预设地址间隔的至少两个所述存储地址，若存在，则所述检测器件中存在多位翻转。9.根据权利要求7所述的多位翻转检测系统，其特征在于，还包括第三检测模块，用于在所述待测器件的存储架构是交错架构，判断各所述存储地址对应的物理地址、翻转信息和读取时间中是否存在物理地址在位线方向上的间隔小于或等于第二预设间隔、翻转信息对应的I/O数据块相邻且读取时间间隔小于所述预设时间的至少两个所述存储地址，若存在，则所述待测器件中存在多位翻转。10.根据权利要求7至9中任意一项所述的多位翻转检测系统，其特征在于，所述信息获取模块包括第一信息获取模块、第二信息获取模块和第三信息获取模块，其中: 所述第一信息获取模块用于读取粒子束流辐照下的所述待测器件的各存储地址的信息，生成各存储地址的读信息，并将各存储地址的读信息分别与预设数据进行比较，生成各存储地址的比信息，所述待测器件被粒子束流辐照前已上电和写入所述预设数据； 所述第二信息获取模块用于在根据任一存储地址的比信息判定所述待测器件的所述任一存储地址发生信息翻转时，获取所述任一存储地址的逻辑地址、所述任一存储地址翻转信息和读取所述任一存储地址的信息的读取时间； 所述第三信息获取模块用于根据所述待测器件的逻辑地址与物理地址的对应关系，将所述任一存储地址的逻辑地址转换为所述任一存储地址的物理地址。
【专利摘要】本发明涉及一种多位翻转检测方法和系统，所述方法包括：获取待测器件的发生信息翻转的存储地址的物理地址、所述存储地址的翻转信息和所述翻转信息的读取时间，生成各所述存储地址对应的物理地址、翻转信息和读取时间；判断所述待测器件的存储架构是否为交错架构；若是，判断各所述存储地址对应的物理地址、翻转信息和读取时间中是否存在读取时间间隔小于预设时间、物理地址间隔小于或等于预设地址间隔且翻转信息相同的至少两个所述存储地址，若存在，则所述检测器件中存在多位翻转。本发明充分考虑了器件内部存储架构对多位翻转检测的影响，使判据更充分，可应用于高集成度存储器时，有效降低误判率，提高多位翻转检测效率。
【IPC分类】G06F12/02
【公开号】CN104932984
【申请号】CN201510240026
【发明人】张战刚, 雷志锋, 岳龙, 恩云飞
【申请人】工业和信息化部电子第五研究所
【公开日】2015年9月23日
【申请日】2015年5月12日