对计算机系统的bios进行测试的方法及装置的制造方法

对计算机系统的bios进行测试的方法及装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及计算机技术领域，具体涉及一种对计算机系统的B1S进行测试的方法及装置。
【背景技术】
[0002]在对计算机系统(如笔记型电脑)进行测试的过程中，经常会出现各种死机，异常重启及关机的情况，当出现类似情况时，B1S (Basic Input Output System，基本输入/输出系统)工程师需要立即了解当前的详细的B1S代码(B1S code)的数据信息。现有的解决方案通常有:1、发布特殊版本的B10S，缺点是该方案增加了问题解决的时间；2、通过借助外部工具或者第三方软件来实现，缺点是:使用外部工具往往需要拆机步骤，并且增加了成本，而第三方软件在操作上比较复杂，不利于应用。

【发明内容】

[0003]本发明的目的在于提供一种对计算机系统的B1S进行测试的方法及装置，通过该方法和/或装置，能够在不拆机前提下，简单易行地对B1S中运行出错的子模块进行定位。
[0004]为了实现上述目的，本发明一方面提供了一种对计算机系统的B1S进行测试的方法，包括:顺序运行B1S的多个子模块；记录已运行的子模块所对应的标识符，并存储在CMOS中；设置用于标明所述多个子模块的顺序运行为成功或失败的标志位；在计算机系统重启时，根据所述标志位的值来判定所述多个子模块的顺序运行是否为失败，如果为失败，则不进行所述记录。
[0005]优选地，该方法还包括:记录已运行的子模块的检查点数据，并存储在CMOS中。
[0006]优选地，所述设置用于标明所述多个子模块的顺序运行为成功或失败的标志位具体包括:将所述标志位的值预设为用于标明所述多个子模块的顺序运行为失败的值；以及如果所述多个子模块的顺序运行为成功，则将所述标志位的值变更为用于标明所述多个子模块的顺序运行为成功的值。
[0007]优选地，所述多个子模块包括:多个PEI模块和/或多个DXE Driver模块。
[0008]作为本发明的另一方案，还提供一种基于上述方法对计算机系统的B1S进行测试的装置，包括:执行模块，其配置为顺序运行B1S的多个子模块；记录转存模块，其配置为记录已运行的子模块所对应的标识符，并存储在CMOS中；标志位设置模块，其配置为设置用于标明所述多个子模块的顺序运行为成功或失败的标志位；以及判定模块，其配置为在计算机系统重启时，根据所述标志位的值来判定所述多个子模块的顺序运行是否为失败，如果为失败，则使所述记录转存模块失效。
[0009]优选地，所述记录转存模块还配置为:记录已运行的子模块的检查点数据，并存储在CMOS中。
[0010]优选地，所述标志位设置模块具体包括:标志位值预设模块，其配置为将所述标志位的值预设为用于标明所述多个子模块的顺序运行为失败的值；以及标志位值变更模块，其配置为如果所述多个子模块的顺序运行为成功，则将所述标志位的值变更为用于标明所述多个子模块的运行为成功的值。
[0011]优选地，所述多个子模块包括:多个PEI模块和/或多个DXE Driver模块。
【附图说明】
[0012]图1为本发明实施例的一种对计算机系统的B1S进行测试的方法的流程示意图。
[0013]图2为本发明一优选实施例的对计算机系统的B1S进行测试的方法的流程示意图。
[0014]图3为一种基于本发明实施例的方法对计算机系统的B1S进行测试的装置的结构示意图。
【具体实施方式】
[0015]为使本领域技术人员更好地理解本发明，下面参照附图对本发明的实施例进行详细说明。
[0016]图1示出了本发明实施例的一种对计算机系统的B1S进行测试的方法的流程示意图。如图1所示，该方法包括以下步骤:
[0017]顺序运行B1S的多个子模块。即，执行B1S POST (Power On Self Test，加电自检)过程。
[0018]在B1S POST过程中，记录已运行的子模块所对应的标识符，并存储在CMOS中。B1S的各个子模块具有全局唯一标识符(GUID)，以作为对子模块的标识。
[0019]设置用于标明该多个子模块的顺序运行为成功或失败的标志位Boot Flag0 BootFlag意在用于标明多个子模块的顺序运行是否成功，也即是标明B1S启动成功或失败。
[0020]如果B1S启动失败，将导致计算机重启。在计算机系统重启时，根据Boot Flag的值来判定该多个子模块的顺序运行，即B1S上一次启动是否失败，如果失败，则不记录子模块所对应的标识符。从而，可以确保CMOS中存储的是上一次运行B1S的各个子模块时的最新信息，因此，本领域技术人员可以通过访问CM0S，根据CMOS中存储的GUID信息来确定运行出错的子模块。说明的是，如果由于B1S运行失败而导致计算机重启，则理论上Boot Flag的值必然是标明运行失败的情况，如在这种情况下出现相反的情况，则进入异常处理，但这并非本发明的重点，因此不对其进行赘述。
[0021]本实施例提供的对计算机系统的B1S进行测试的方法，不需要像传统方法那样进行拆机，该方法利用CMOS进行存储，并通过已运行的B1S子模块的标识符，使得本领域技术人员能够简单方便地确定运行出错的子模块，无需依赖于外部工具和第三方软件就实现了及时了解B1S的运行信息、确定运行出错的子模块。
[0022]图2示出了本发明一优选实施例的对计算机系统的B1S进行测试的方法的流程示意图。本实施例的方法包括如下步骤:
[0023]顺序运行B1S的多个子模块。即，执行B1S POST (Power On Self Test，加电自检)过程。该多个子模块优选为B1S中的多个PEI模块和/或多个DXE Driver模块。
[0024]在B1S POST过程中，记录已运行的子模块所对应的标识符⑶ID和检查点(Checkpoint)数据，并存储在CMOS中。可选地，可以存储⑶ID的高4个字节而不是整个⑶ID，也就是，只要确保所存储的⑶ID的信息能够唯一地标识出子模块即可。
[0025]设置用于标明该多个子模块的顺序运行为成功或失败的标志位Boot Flag。对Bo