ot Flag的值的设置较佳地包括这样的步骤:将Boot Flag的值预设为Boot Flag = O,当Boot Flag的值为O时，用于标明B1S启动失败；如果多个子模块顺序运行成功，即B1S启动成功，则设置Boot Flag= I。可以理解的是，如果运行到某个子模块时出错，则会导致计算机重启，此时Boot Flag的值仍然为O。可见，Boot Flag的值能够用于判定B1S启动为成功或失败。
[0026]在计算机系统重启时，根据Boot Flag的值判定该多个子模块的顺序运行是否为失败。如果为失败，则不记录子模块对应的GUID和Checkpoint数据(例如，自动关闭记录功能)。从而，B1S工程师可以根据CMOS中存储的⑶ID和Checkpoint数据容易地确定B1S运行出错的具体位置。
[0027]在本优选实施例中，能够对B1S运行的信息(⑶ID、Checkpoint数据)进行更详细的记录，方便B1S工程师及时了解B1S的详细运行情况。且本实施例的方法对于B1S中易于出错的PEI模块和DXE Driver模块的错误位置的判定尤其有效。
[0028]在一可选实施例中，Boot Flag可以设置或存储在CMOS中。
[0029]在本发明再一个实施例中，提供了一种基于上述方法对计算机系统的B1S进行测试的装置10。如图3所示，该装置包括:执行模块101，其顺序运行B1S的多个子模块，例如，该多个子模块可以为多个PEI模块和/或多个DXE Driver模块；记录转存模块102，其记录已运行的子模块所对应的标识符，并存储在CMOS中；标志位设置模块103，其设置用于标明该多个子模块的顺序运行为成功或失败的标志位；以及判定模块104，其在计算机系统重启时，根据该标志位的值来判定该多个子模块的顺序运行是否为失败，如果为失败，则使该记录转存模块102失效。
[0030]由于通过CMOS存储了上一次运行B1S的各个子模块时的最新信息，因此，本领域技术人员可以通过访问CM0S，以根据CMOS中存储的GUID信息来确定运行出错的子模块，因此本实施例提供的对计算机系统的B1S进行测试的装置无需对计算机系统进行拆机操作，而且能够简便及时地获取B1S运行出错时的信息。
[0031]在一优选实施例中，该标志位设置模块103包括:标志位值预设模块，其将该标志位的值预设为用于标明该多个子模块的顺序运行为失败的值；以及标志位值变更模块，如果该多个子模块的顺序运行为成功，则其将该标志位的值变更为用于标明该多个子模块的运行为成功的值。
[0032]在另一优选实施例中，本实施例中的记录转存模块102还可以配置为:记录已运行的子模块的检查点(Checkpoint)数据，并存储在CMOS中。从而，B1S工程师(本领域技术人员)可以方便地根据CMOS中存储的⑶ID和Checkpoint数据来确定B1S运行出错的具体位置。
[0033]本发明不局限于上述特定实施例，在不背离本发明精神及其实质情况下，熟悉本领域的技术人员可根据本发明作出各种相应改变和变形，但这些相应改变和变形都应属于本发明所附权利要求的保护范围之内。
【主权项】
1.一种对计算机系统的B1S进行测试的方法，包括: 顺序运行B1S的多个子模块； 记录已运行的子模块所对应的标识符，并存储在CMOS中； 设置用于标明所述多个子模块的顺序运行为成功或失败的标志位； 在计算机系统重启时，根据所述标志位的值来判定所述多个子模块的顺序运行是否为失败，如果为失败，则不进行所述记录。2.如权利要求1所述的方法，还包括: 记录已运行的子模块的检查点数据，并存储在CMOS中。3.如权利要求1或2所述的方法，其中，所述设置用于标明所述多个子模块的顺序运行为成功或失败的标志位具体包括: 将所述标志位的值预设为用于标明所述多个子模块的顺序运行为失败的值；以及如果所述多个子模块的顺序运行为成功，则将所述标志位的值变更为用于标明所述多个子模块的顺序运行为成功的值。4.如权利要求1或2所述的方法，其中 所述多个子模块包括:多个PEI模块和/或多个DXE Driver模块。5.一种基于如权利要求1所述的方法对计算机系统的B1S进行测试的装置，包括: 执行模块，其配置为顺序运行B1S的多个子模块； 记录转存模块，其配置为记录已运行的子模块所对应的标识符，并存储在CMOS中； 标志位设置模块，其配置为设置用于标明所述多个子模块的顺序运行为成功或失败的标志位；以及 判定模块，其配置为在计算机系统重启时，根据所述标志位的值来判定所述多个子模块的顺序运行是否为失败，如果为失败，则使所述记录转存模块失效。6.如权利要求5所述的装置，其中，所述记录转存模块还配置为:记录已运行的子模块的检查点数据，并存储在CMOS中。7.如权利要求5或6所述的装置，其中，所述标志位设置模块具体包括: 标志位值预设模块，其配置为将所述标志位的值预设为用于标明所述多个子模块的顺序运行为失败的值；以及 标志位值变更模块，其配置为如果所述多个子模块的顺序运行为成功，则将所述标志位的值变更为用于标明所述多个子模块的运行为成功的值。8.如权利要求5或6所述的装置，其中 所述多个子模块包括:多个PEI模块和/或多个DXE Driver模块。
【专利摘要】本发明公开了一种对计算机系统的BIOS进行测试的方法以及基于该方法对计算机系统的BIOS进行测试的装置。所述方法包括：顺序运行BIOS的多个子模块；记录已运行的子模块所对应的标识符，并存储在CMOS中；设置用于标明所述多个子模块的顺序运行为成功或失败的标志位；在计算机系统重启时，根据所述标志位的值来判定所述多个子模块的顺序运行是否为失败，如果为失败，则不进行所述记录。本发明的优点是：BIOS测试工程师无需像传统方法那样进行拆机，或依赖于外部工具和操作上较为复杂的第三方软件就可实现及时了解BIOS的运行信息、确定运行出错的子模块。
【IPC分类】G06F11/22
【公开号】CN105159810
【申请号】CN201510680541
【发明人】贾向阳
【申请人】合肥联宝信息技术有限公司
【公开日】2015年12月16日
【申请日】2015年10月16日