胀操作时，将内核B划过图像Α，将内核B覆盖区域的最大像素值提取，并替 代中心点的像素。这一最大化操作会导致图像A中的亮区扩展。
[0030] 腐蚀：如图3所示，主要通过二值化处理将产品区域所在方框缩小至IC本体的边 缘。腐蚀处理也可指将图像A与任意形状的内核(腐蚀单元Β，如正方形)，进行卷积，腐蚀操 作提取的是内核B覆盖区域的像素最小值。进行腐蚀操作时，将内核B划过图像Α，将内核 B覆盖区域的最小相素值提取，并代替中心点位置的像素。
[0031] 膨胀单元和腐蚀单元的长宽在5mils宽度（即0. 127mm)以内，计算出IC本体的边 缘4个顶点位置并记录保存。
[0032] 在所述步骤S4中，主要是将异常区域标识出并进行显示，所述步骤S4具体包括： 541、 像素点在IC本体的边缘范围内，则将该像素点标记为红色； 542、 将最终的图像进行显示。
[0033] 通过S2及S3可得到IC本体的边缘及异常区域。
[0034] 如图4所示，然后将IC本体的边缘范围内的所有黑色像素点跟异常区域进行比 较，如果取出的黑色像素点位置在异常区域内则将此像素点标记为红色。
[0035] 其过程包括：遍历IC本体的边缘范围内所有像素点，将RGB (0, 0, 0)的像素点取出 并保存坐标位置（X，Y)于缓存区；将记录的像素点与异常区域进行比较，如像素点位于IC 本体的边缘范围内，即判定该点为异常，并将此点RGB (0, 0, 0)改为红色RGB (255, 0, 0) 将记录的所有红色像素点标记后，那么产品区域所在方框中RGB (0, 255, 0)为正常， RGB(255,0,0)为异常。
[0036] 基于上述方法，本发明还提供一种玻璃IC的检测系统较佳实施例，如图5所示，其 包括： 取像模块100,用于利用光源对IC本体进行照射，然后利用CCD采集到照射区域的图 像，对图像进行处理使IC本体与背景黑白分明； 计算模块200,用于搜寻图像中的黑白相交处，计算得到图像中IC本体围成的产品区 域； 检测模块300,用于将计算到的产品区域所在方框进行缩放处理，并检测出图像中的异 常区域； 判定模块400,用于判定所述异常区域是否在产品区域所在方框内，若是，则判定IC本 体出现异常。
[0037] 进一步，所述取像模块100具体包括： 二值化单元，用于对图像进行二值化处理使图像中IC本体与背景黑白分明； 柔滑单元，用于对图像进行柔滑处理，使图像边缘平滑。
[0038] 进一步，所述计算模块200具体包括： 像素点保存单元，用于将图像中每个像素点取出并保存； 像素点取出单元，用于取出其中的黑色像素点； 像素点连接单元，用于将黑色像素点连接成方框。
[0039] 进一步，所述检测模块300具体包括： 缩放单元，用于利用膨胀腐蚀方式将产品区域所在方框缩放至IC本体的边缘； 检测单元，用于从图像中检测出异常区域。
[0040] 进一步，所述判定模块400具体包括： 标记单元，用于若异常区域的像素点在IC本体的边缘范围内，则将该像素点标记为红 色； 显示单元，用于将最终的图像进行显示。
[0041] 关于上述模块单元的技术细节在前面的方法中已有详述，故不再赘述。
[0042] 本发明通过调整光源及相应的软件算法处理，排除了玻璃反光问题，利用影像识 别技术检测出异常产品，提高了产品良品率。通过本发明的检测方法减少了上版不良的问 题，为企业降低了异常成本，并提高产品出货量率及产品品质。
[0043] 应当理解的是，本发明的应用不限于上述的举例，对本领域普通技术人员来说，可 以根据上述说明加以改进或变换，所有这些改进和变换都应属于本发明所附权利要求的保 护范围。
【主权项】
1. 一种玻璃1C的检测方法，其特征在于，包括步骤： A、 利用光源对1C本体进行照射，然后利用CCD采集到照射区域的图像，对图像进行处 理使1C本体与背景黑白分明； B、 搜寻图像中的黑白相交处，计算得到图像中1C本体围成的产品区域； C、 将计算到的产品区域所在方框进行缩放处理，并检测出图像中的异常区域； D、 判定所述异常区域是否在产品区域所在方框内，若是，则判定1C本体出现异常。2. 根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述步骤A具体包括： A1、对图像进行二值化处理使图像中1C本体与背景黑白分明； A2、对图像进行柔滑处理，使图像边缘平滑。3. 根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述步骤B具体包括： B1、将图像中每个像素点取出并保存； B2、取出其中的黑色像素点； B3、将黑色像素点连接成方框。4. 根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述步骤C具体包括： C1、利用膨胀腐蚀方式将产品区域所在方框缩放至1C本体的边缘； C2、从图像中检测出异常区域。5. 根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述步骤D具体包括： D1、若异常区域的像素点在1C本体的边缘范围内，则将该像素点标记为红色； D2、将最终的图像进行显示。6. -种玻璃1C的检测系统，其特征在于，包括： 取像模块，用于利用光源对1C本体进行照射，然后利用CCD采集到照射区域的图像，对 图像进行处理使1C本体与背景黑白分明； 计算模块，用于搜寻图像中的黑白相交处，计算得到图像中1C本体围成的产品区域； 检测模块，用于将计算到的产品区域所在方框进行缩放处理，并检测出图像中的异常 区域； 判定模块，用于判定所述异常区域是否在产品区域所在方框内，若是，则判定1C本体 出现异常。7. 根据权利要求6所述的玻璃1C的检测系统，其特征在于，所述取像模块具体包括： 二值化单元，用于对图像进行二值化处理使图像中1C本体与背景黑白分明； 柔滑单元，用于对图像进行柔滑处理，使图像边缘平滑。8. 根据权利要求6所述的玻璃1C的检测系统，其特征在于，所述计算模块具体包括： 像素点保存单元，用于将图像中每个像素点取出并保存； 像素点取出单元，用于取出其中的黑色像素点； 像素点连接单元，用于将黑色像素点连接成方框。9. 根据权利要求6所述的玻璃1C的检测系统，其特征在于，所述检测模块具体包括： 缩放单元，用于利用膨胀腐蚀方式将产品区域所在方框缩放至1C本体的边缘； 检测单元，用于从图像中检测出异常区域。10. 根据权利要求6所述的玻璃1C的检测系统，其特征在于，所述判定模块具体包括： 标记单元，用于若异常区域的像素点在1C本体的边缘范围内，则将该像素点标记为红
【专利摘要】本发明公开一种玻璃IC的检测方法和系统，方法包括步骤：A、利用光源对IC本体进行照射，然后利用CCD采集到照射区域的图像，对图像进行处理使IC本体与背景黑白分明；B、搜寻图像中的黑白相交处，计算得到图像中IC本体围成的产品区域；C、将计算到的产品区域所在方框进行缩放处理，并检测出图像中的异常区域；D、判定所述异常区域是否在产品区域所在方框内，若是，则判定IC本体出现异常。本发明通过调整光源及相应的软件算法处理，排除了玻璃反光问题，利用影像识别技术检测出异常产品，提高了产品良品率。通过本发明的检测方法减少了上版不良的问题，为企业降低了异常成本，并提高产品出货量率及产品品质。
【IPC分类】G06T7/00
【公开号】CN105261019
【申请号】CN201510667831
【发明人】周秋香
【申请人】深圳市浦洛电子科技有限公司
【公开日】2016年1月20日
【申请日】2015年10月16日