触控装置及其坐标校正方法
【技术领域】
[0001]本发明是有关于一种触控系统，且特别是有关于一种触控装置及其坐标校正方法。
【背景技术】
[0002]近年来触控式的电子产品由于操作方便且直觉性高，因此深受消费者喜爱而已逐渐成为市场上的主流趋势。目前主要的触控面板依照构造和感测形式的不同可区分为:电阻式触控面板、电容式触控面板、音波式触控面板、光学式触控面板、电磁式触控面板等。其中，光学式触控面板由于具有成本低、准确度佳等优点，在竞争的市场中更具有优势，目前也已成为大尺寸触控屏幕的主要选择。
[0003]光学式触控面板是利用在屏幕的边缘设置多个光学镜头，用以拍摄用户手指在屏幕上操作的影像，而分析所拍摄影像中因手指遮断光线所产生之阴影的位置，可得出手指触碰点与光学镜头之间的相对角度，最后再根据已知光学镜头之间的距离，结合三角定位法即可计算出触碰点对应的系统位置。然而，光学式触控面板会因为光学镜头的位置偏差而产生触碰位置与系统位置不相符的问题。
【发明内容】
[0004]本发明提供一种触控装置及其坐标校正方法，可减少触控装置转换触碰位置为系统位置的误差。
[0005]本发明的技术方案是提供一种坐标校正方法，适用于一触控装置。坐标校正方法包括下列步骤。通过检测使用者在校正区块中的多个校正触碰，计算校正区块的变形误差量。判断变形误差量是否大于预设阈值。若变形误差量大于预设阈值，将校正区块切割为多个，并且重新通过检测使用者在多个切割后校正区块各自的校正触碰，来计算每一个切割后校正区块的变形误差量。若变形误差量小于或等于预设阈值，取得校正区块的校正参数组，以基于该校正参数组来对该使用者后续的触碰行为进行校正。
[0006]在本发明的一实施例中，上述通过检测使用者在校正区块中的校正触碰，计算校正区块的变形误差量的步骤包括:通过检测使用者在校正区块中的校正触碰，而获得多个校正坐标位置；以及通过分别比对这些校正坐标位置与多个默认坐标位置，来计算变形误差量，其中校正区块是由上述默认坐标位置所围成的区块。
[0007]在本发明的一实施例中，上述变形误差量包括第一误差程度值与第二误差程度值，该校正参数组包括多个第一偏差值与多个第二偏差值。上述通过分别比对上述校正坐标位置与上述默认坐标位置，来计算变形误差量的步骤包括:分别计算上述校正坐标位置与上述默认坐标位置在第一方向上的第一偏差值。分别计算上述校正坐标位置与上述默认坐标位置在第二方向上的第二偏差值。基于上述第一偏差值获得第一误差程度值。基于上述第二偏差值获得第二误差程度值。
[0008]在本发明的一实施例中，上述校正区块为矩形，校正触碰位于校正区块的4个角，默认坐标位置为校正区块的4个角的位置。在此，以ΛΧ1?ΛΧ4分别代表校正坐标位置与默认坐标位置在第一方向上的第一偏差值，ΔΥ1?Δ Y4分别代表校正坐标位置与默认坐标位置在第二方向上的第二偏差值。第一误差程度值Diff_X与第二误差程度值Diff_Y的计算式分别如下所示:
[0009]Diff_X = I Δ Xl-Δ X2 | +1 Δ Xl-Δ Χ3 | +1 Δ Xl-Δ Χ4 | +1 Δ Χ2_ Δ Χ3 | +1 Δ Χ2_ Δ Χ4 | +ΔΧ3-ΔΧ4I ；
[0010]Diff_Y = I Λ Yl-Λ Υ2 H ΔΥ1-ΔΥ3|+ Λ Yl-Λ Υ4 H Δ Υ2- Δ Υ3 | + Δ Υ2- Δ Υ4 | +ΔΥ3-ΔΥ4I。
[0011]在本发明的一实施例中，上述预设阈值包括第一阈值与第二阈值。而判断变形误差量是否大于预设阈值的步骤包括:判断第一误差程度值是否大于第一阈值；以及判断第二误差程度值是否大于第二阈值。若第一误差程度值大于第一阈值或第二误差程度值大于第二阈值，将校正区块切割为多个。
[0012]在本发明的一实施例中，若变形误差量大于预设阈值，还包括:(a)将校正区块切割为MXN个，而获得上述切割后校正区块；以及(b)重新通过检测使用者在每一个切割后校正区块的校正触碰，来计算每一个切割后校正区块的变形误差量。在变形误差量大于预设阈值的情况下重复执行上述步骤(a)?(b)，直到每一个切割后校正区块的变形误差量小于或等于预设阈值。
[0013]在本发明的一实施例中，上述坐标校正方法还包括通过检测使用者的触碰行为，获得触碰行为的系统坐标位置，其中系统坐标位置位于上述校正区块及上述切割后校正区块其中的一坐落区块；取得坐落区块对应的校正参数组；以及以校正参数组来校正系统坐标位置。
[0014]在本发明的一实施例中，上述校正系统坐标位置的步骤还包括:基于系统坐标位置与其所位于的坐落区块的多个边的距离，获得多个权重值；以及依据系统坐标位置所位于的坐落区块的校正参数组以及权重值，校正系统坐标位置。
[0015]在本发明的一实施例中，上述基于系统坐标位置与其所位于的坐落区块的边的距离，获得权重值的步骤包括:计算系统坐标位置与在第一方向上相对的两个边的距离比；计算系统坐标位置在第二方向上与另外相对的两个边的距离比；以及依据上述距离比来决定权重值。
[0016]在本发明的一实施例中，上述系统坐标位置为(Tx，Ty)，而校正后的坐标位置为(Tx+Λ X，Ty+Λ Y)。在此，系统坐标位置与在该第一方向上相对的两个边的距离比为fflx:W3x以及W2x:W4x。而系统坐标位置与在第二方向上另外相对的两个边的距离比为Wly:W2y 以及 W3y:W4y,其中 fflx+W3x = l,W2x+W4x = I !且町丫+似丫 = l,W3y+W4y = I。而ΛΧ与Λ Y的计算式为:
[0017]ΔΧ = [(ΔΧ1ΧΨ3χ+ΔΧ3Xfflx) XW2y] + [ ( ΔΧ2XW4x+ΔΧ4XW2x) Xffly]；
[0018]ΔΥ = [(AYlXW2y+AY2XWly) XW3y] + [(AY3XW4y+AY4XW3y) XWlx]。
[0019]在本发明的一实施例中，上述通过分别比对校正坐标位置与默认坐标位置，来计算变形误差量的步骤包括:依据校正坐标位置，计算第一面积；依据默认坐标位置，计算第二面积；计算第一面积与第二面积的绝对差值，而以绝对差值作为变形误差量。
[0020]在本发明的一实施例中，上述校正区块为矩形，而在通过检测使用者在校正区块中的校正触碰之前还包括:切割显示画面为MXN个校正区块，以分别计算每一个校正区块的变形误差量。
[0021]本发明的触控装置包括显示单元、获得单元以及控制单元。获得单元用以获得显示单元前方的触控对象的影像。控制单元耦接获得单元。控制单元包括位置检测模块、校正计算模块以及位置校正模块。通过位置检测模块、校正计算模块以及位置校正模块来完成上述坐标校正方法。
[0022]基于上述，通过将显示画面切割为多个校正区块，可降低校正区块的变形程度，进而提高校正后位置的精确度。
【附图说明】
[0023]图1是依照本发明一实施例的触控装置的示意图。
[0024]图2是依照本发明一实施例的触碰位置与系统坐标位置的示意图。
[0025]图3是依照本发明一实施例的控制单元的方块图。
[0026]图4是依照本发明一实施例的坐标校正方法的流程图。
[0027]图5是依照本发明一实施例的校正区块与校正点的示意图。
[0028]图6是依照本发明一实施例的校正区块切割为多个的示意图。
[0029]图7是依照本发明一实施例的计算变形误差量的方法流程图。
[0030]图8是依照本发明另一实施例的计算变形误差量的方法流程图。
[0031]图9是依照本发明一实施例的操作程序中的坐标校正方法的流程图。
[0032]图10是依照本发明一实施例的距离比计算的示意图。
[0033]图11是依照本发明一实施例的系统坐标位置与触碰位置之间关系的示意图。
[0034]主要元件符号说明:
[0035]100:电子装置
[0036]110:显示单元
[0037]120、130:取像单元
[0038]140:控制单元
[0039]310:位置检测模块
[0040]320:校正计算模块
[0041]330:位置校正模块
[0042]S405?S420:坐标校正方法各步骤
[0043]S705?S725:计算变形误差量的方法各步骤
[0044]S805?S820:另一计算变形误差量的方法各步骤
[0045]S902?S915:操作程序中的坐标校正方法各步骤
[0046]A1、A1-1 ?A1-4:校正区块
[0047]L1:显示位置
[0048]L2、Ql:触碰位置
[0049]L3、Q2、T:系统坐标位置
[0050]Pl?P4、Pl-1?P1-9:默认坐标位置(校正点)
[0051]SI?S4:校正坐标位置
[0052]Λ Xl?Λ X4:第一偏差值
[0053]Λ Yl?Λ Y4:第二偏差值
[0054]Wlx ?W4x、Wly ?W4y:权重值
【具体实施方式】
[0055]为让本发明的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合所附图式作详细说明如下。
[0056]图1是依照本发明一实施例的触控装置的示意图。请参照图1，触控装置100例如为光学式触控装置，其包括显示单元110、获得单元(包括取像单元120与取像单元130)以及控制单元140。在此，以两个取像单元120、130组合为获得单元为例，然并不以此为限。
[0057]显示单元110例如是液晶显示器(Liquid Crystal Display, LCD)、发光二极管(L