在该校正区块中的所述校正触碰，而获得多个校正坐标位置；以及通过分别比对所述校正坐标位置与多个默认坐标位置，来计算该变形误差量，其中该校正区块是由所述默认坐标位置所围成的区块。3.如权利要求2所述的坐标校正方法，其特征在于，该变形误差量包括一第一误差程度值与一第二误差程度值，该校正参数组包括多个第一偏差值与多个第二偏差值， 上述通过分别比对所述校正坐标位置与所述默认坐标位置，来计算该变形误差量的步骤包括: 分别计算所述校正坐标位置与所述默认坐标位置在一第一方向上的所述第一偏差值； 分别计算所述校正坐标位置与所述默认坐标位置在一第二方向上的所述第二偏差值； 基于所述第一偏差值获得该第一误差程度值；以及 基于所述第二偏差值获得该第二误差程度值。4.如权利要求3所述的坐标校正方法，其特征在于，该校正区块为矩形，所述校正触碰位于该校正区块的4个角，所述默认坐标位置为该校正区块的4个角的位置， 该第一误差程度值的计算式为: Diff_X = I Δ Xl-Δ X2 | +1 Δ Xl-Δ Χ3 | +1 Δ Xl-Δ Χ4 | +1 Δ Χ2_ Δ Χ3 | +1 Δ Χ2_ Δ Χ4 | +1 Λ X3- Δ Χ4 ； 该第二误差程度值的计算式为: Diff_Y = I Δ Yl-Δ Υ2 | +1 Δ Yl-Δ Υ3 | +1 Δ Yl-Δ Υ4 | +1 Δ Υ2_ Δ Υ3 | +1 Δ Υ2_ Δ Υ4 | +1 Λ Y3- Δ Υ4 ； 其中，Diff_X为该第一误差程度值，ΛΧ1?ΛX4分别为所述校正坐标位置与所述默认坐标位置在该第一方向上的所述第一偏差值； Diff_Y为该第二误差程度值，ΛΥ1?Λ Y4分别为所述校正坐标位置与所述默认坐标位置在该第二方向上的所述第二偏差值。5.如权利要求3所述的坐标校正方法,其特征在于，该预设阈值包括一第一阈值与一第二阈值， 上述判断该变形误差量是否大于该预设阈值的步骤包括: 判断该第一误差程度值是否大于该第一阈值；以及 判断该第二误差程度值是否大于该第二阈值， 其中，若该第一误差程度值大于该第一阈值或该第二误差程度值大于该第二阈值，将该校正区块切割为多个。6.如权利要求1所述的坐标校正方法，其特征在于，若该变形误差量大于该预设阈值，还包括: (a)将该校正区块切割为MXN个，而获得所述切割后校正区块；以及 (b)重新通过检测该使用者在所述切割后校正区块各自的所述校正触碰，来计算所述切割后校正区块各自的该变形误差量； 其中，在该变形误差量大于该预设阈值的情况下重复执行上述步骤(a)?(b)，直到上述切割后校正区块各自的该变形误差量小于或等于该预设阈值。7.如权利要求1所述的坐标校正方法，其特征在于，还包括: 通过检测该使用者的该触碰行为，获得该触碰行为的一系统坐标位置，其中该系统坐标位置位于上述校正区块及上述切割后校正区块其中的一坐落区块； 取得该坐落区块对应的该校正参数组；以及 以该校正参数组来校正该系统坐标位置。8.如权利要求7所述的坐标校正方法，其特征在于，上述校正该系统坐标位置的步骤还包括: 基于该系统坐标位置与其所位于的该坐落区块的多个边的距离，获得多个权重值；以及 依据该系统坐标位置所位于的该坐落区块的该校正参数组以及所述权重值，校正该系统坐标位置。9.如权利要求8所述的坐标校正方法，其特征在于，上述基于该系统坐标位置与其所位于的该坐落区块的所述边的距离，获得所述权重值的步骤包括: 计算该系统坐标位置与在一第一方向上相对的两个边的距离比； 计算该系统坐标位置在一第二方向上与另外相对的两个边的距离比；以及 依据上述距离比来决定所述权重值。10.如权利要求9所述的坐标校正方法，其特征在于，该系统坐标位置为(Tx，Ty)，而校正后的坐标位置为(Τχ+Λ X，Ty+Λ Y)，ΛΧ与Λ Y的计算式为:ΔΧ = [(ΔΧ1ΧΨ3χ+ΔΧ3Xfflx) XW2y]+ [ ( ΔΧ2XW4x+ΔX4XW2x) Xffly]；ΔΥ = [(ΔΥ1ΧΨ2γ+ΔΥ2 Xffly) XW3y]+ [ ( Δ Υ3 XW4y+Δ Y4XW3y) Xfflx]； 其中，该校正参数组包括ΔΧ1?ΛΧ4与ΛΥ1?ΛΥ4，ΛΧ1?ΛΧ4分别为基于该使用者在该坐落区块中的所述校正触碰而获得的多个校正坐标位置与多个默认坐标位置在该第一方向上的多个第一偏差值，Λ Yl?Λ Υ4分别为所述校正坐标位置与所述默认坐标位置在该第二方向上的多个第二偏差值， 而该系统坐标位置与在该第一方向上相对的两个边的距离比为W1X:W3X以及W2x:W4x,其中 fflx+W3x = W2x+W4x = I ； 而该系统坐标位置与在该第二方向上另外相对的两个边的距离比为Wly:W2y以及W3y:W4y,其中 ffly+W2y = W3y+W4y = I。11.如权利要求2所述的坐标校正方法，其特征在于，上述通过分别比对所述校正坐标位置与所述默认坐标位置，来计算该变形误差量的步骤包括: 依据所述校正坐标位置，计算一第一面积； 依据所述默认坐标位置，计算一第二面积；以及 计算该第一面积与该第二面积的绝对差值，而以该绝对差值作为该变形误差量。12.如权利要求1所述的坐标校正方法，其特征在于，该校正区块为矩形，而在通过检测该使用者在该校正区块中的所述校正触碰的步骤之前还包括: 切割一显示画面为MXN个上述校正区块，以分别计算每一上述校正区块的该变形误差量。13.如权利要求1所述的坐标校正方法，其特征在于，该一触控装置为光学式触控装置。14.一种触控装置，其特征在于，包括: 一显示单元； 一获得单元，获得该显示单元前方的一触控对象的影像；以及 一控制单元，耦接该获得单元，包括: 一位置检测模块，分析该获得单元所获得的该影像，借此来获得一用户通过该触控对象在一校正区块中进行多个校正触碰对应的多个位置； 一校正计算模块，在一校正程序中，依据该用户在该校正区块中的所述校正触碰，计算该校正区块的一变形误差量，并且判断该变形误差量是否大于一预设阈值，若该变形误差量大于该预设阈值，将该校正区块切割为多个切割后校正区块，并且重新通过检测该使用者在所述切割后校正区块各自的所述校正触碰，来计算每一所述切割后校正区块各自的该变形误差量；若该变形误差量小于或等于该预设阈值，取得该校正区块的一校正参数组正；以及 一位置校正模块，在一操作程序中，基于该校正参数组来对该用户通过该触控对象的触碰行为进行校正。15.如权利要求14所述的触控装置，其特征在于，该变形误差量包括一第一误差程度值与一第二误差程度值，该校正参数组包括多个第一偏差值与多个第二偏差值，该预设阈值包括一第一阈值与一第二阈值， 该位置检测模块检测该用户在该校正区块中的所述校正触碰，而获得多个校正坐标位置，其中该校正区块是由多个默认坐标位置所围成的区块； 该校正计算模块分别计算所述校正坐标位置与所述默认坐标位置在一第一方向上的所述第一偏差值以及在一第二方向上的所述第二偏差值，分别基于所述第一偏差值与所述第二偏差值获得该第一误差程度值与该第二误差程度值，并且判断该第一误差程度值是否大于该第一阈值，以及判断该第二误差程度值是否大于该第二阈值， 在该第一误差程度值大于该第一阈值或该第二误差程度值大于该第二阈值的情况下，该校正计算模块判定该变形误差量大于该预设阈值。16.如权利要求14所述的触控装置，其特征在于， (a)该校正计算模块在该变形误差量大于该预设阈值的情况下，将该校正区块切割为MXN个，而获得所述切割后校正区块； (b)该位置检测模块重新检测该用户在所述切割后校正区块各自的所述校正触碰，使得该校正计算模块计算所述切割后校正区块各自的该变形误差量； 而在该变形误差量大于该预设阈值的情况下，该校正计算模块与该位置计算模块重复执行上述步骤(a)?(b)，直到上述切割后校正区块各自的该变形误差量小于或等于该预设阈值。17.如权利要求14所述的触控装置，其特征在于， 该位置检测模块在该操作程序中通过检测该使用者的该触碰行为，获得该触碰行为的一系统坐标位置，其中该系统坐标位置位于上述校正区块及上述切割后校正区块其中的一坐落区块； 该位置校正模块取得该坐落区块对应的该校正参数组，并且以该校正参数组来校正该系统坐标位置。18.如权利要求17所述的触控装置，其特征在于，该位置校正模块基于该系统坐标位置与其所位于的该坐落区块的多个边的距离，获得多个权重值，并且依据该系统坐标位置所位于的该坐落区块的该校正参数组以及所述权重值，校正该系统坐标位置， 其中，该位置校正模块计算该系统坐标位置与在一第一方向上相对的两个边的距离t匕，以及计算该系统坐标位置在一第二方向上与另外相对的两个边的距离比，据以依据上述距离比来决定所述权重值。19.如权利要求14所述的触控装置，其特征在于，该校正计算模块依据所述校正触碰对应的多个校正坐标位置计算一第一面积，依据该校正区块所包括的多个默认坐标位置计算一第二面积，以及计算该第一面积与该第二面积的绝对差值，而以该绝对差值作为该变形误差量。20.如权利要求14所述的触控装置，其特征在于，该校正计算模块切割一显示画面为MXN个上述校正区块，以分别计算每一上述校正区块的该变形误差量。
【专利摘要】一种触控装置及其坐标校正方法。通过计算校正区块的变形误差量来决定是否对校正区块进行切割，借此使得切割后的每一个校正区块的变形误差量小于或等于预设阈值。并且取得各校正区块的校正参数组。据此，在操作程序中，基于校正参数组来对使用者的触碰行为进行校正。通过将显示画面切割为多个校正区块，可降低校正区块的变形程度，进而提高校正后位置的精确度。
【IPC分类】G06F3/041
【公开号】CN105630219
【申请号】CN201410603660
【发明人】甘伟国, 黄国庭, 陈裕彦, 谢佳达
【申请人】纬创资通股份有限公司
【公开日】2016年6月1日
【申请日】2014年10月31日
【公告号】US20160110019