该X轴检测电极的上方，提供该触控面板的该第一接触面；以及 一间隙，该间隙配置于该X轴检测电极与该Y轴检测电极之间， 其中该Y轴检测电极提供该触控面板的该第二接触面。5.如权利要求4所述的触控装置，其中该触控装置仅通过该X轴检测电极以及该Y轴检测电极的其中一个检测电极检测该触控操作，以依据该触控操作对该检测电极上的自感电容所造成的电容值变化来产生该感测信号。6.如权利要求5所述的触控装置，其中该触控装置仅通过该X轴检测电极检测该触控操作，且该X轴检测电极依据该触控操作触碰该触控面板的该第一接触面以产生具有一第一信号强度的该感测信号，以及依据该触控操作触碰该触控面板的该第二接触面以产生具有一第二信号强度的该感测信号，其中该第一信号强度大于该第二信号强度。7.如权利要求4所述的触控装置，其中该触控装置通过该X轴检测电极以及该Y轴检测电极检测该触控操作，以依据该触控操作对该X轴检测电极以及该Y轴检测电极之间的互感电容所造成的电容值变化来产生该感测信号。8.如权利要求7所述的触控装置，其中该X轴检测电极以及该Y轴检测电极依据该触控操作触碰该触控面板的该第一接触面以产生具有一第一信号强度的该感测信号，以及依据该触控操作触碰该触控面板的该第二接触面以产生具有一第二信号强度的该感测信号，其中该第一信号强度小于该第二信号强度。9.如权利要求4所述的触控装置，其中该触控装置通过该X轴检测电极以及该Y轴检测电极的至少其中之一检测该触控操作以获得一检测结果，且该处理单元分析该检测结果以计算该感测信号对于噪声的比值，藉以获得该触控操作所对应的信噪比以决定该预设条件。10.如权利要求4所述的触控装置，其中该触控装置还包括: 一显示单元，该显示单元配置于该Y轴检测电极的下方以提供该触控面板的该第二接触面， 其中该些检测电极依据该覆盖板与该显示单元的厚度与材质以产生该触控信号与该感测信号。11.如权利要求1所述的触控装置，其中该处理单元还在一设定期间内依据该触控操作所产生的该触控信号的一强度变化是否小于一容许范围，藉以判断该触控信号是否为有效信号。12.如权利要求1所述的触控装置，其中该处理单元还检测该触控操作对于该触控面板的一触碰面积以设定该预设条件。13.如权利要求1所述的触控装置，其中该预设条件被设定在一强度范围间。14.一种触控方法，该触控方法适用于包括多个检测电极的一触控装置，该触控方法包括: 检测一触控操作并产生一触控信号；以及 依据该触控信号与一预设条件，以判断触控操作是位于该触控装置的一第一接触面或一第二接触面， 其中该预设条件依据该些检测电极的至少其中之一检测该触控操作触碰该触控装置的该第一接触面或该第二接触面所产生的一感测信号来决定。15.如权利要求14所述的触控方法，其中该些检测电极的至少其中之一检测该触控操作触碰该触控装置的该第一接触面以产生具有一第一信号强度的该感测信号，以及检测该触控操作触碰该触控装置的该第二接触面以产生具有一第二信号强度的该感测信号，且该预设条件为一临界值，该临界值依据该第一信号强度与该第二信号强度来决定，且判断该触控操作是位于该触控装置的该第一接触面或该第二接触面的步骤包括: 当该触控信号的一第三信号强度高于该临界值时，判定该触控操作是位于该触控装置的该第一接触面与该第二接触面的其中的一个；以及 当该第三信号强度低于该临界值时，判定该触控操作是位于该触控装置的该第一接触面与该第二接触面的其中的另一个。16.如权利要求14所述的触控方法，其中该预设条件为该感测信号的一第一信号强度大于该感测信号的一第二信号强度，且判断该触控操作是位于该触控装置的该第一接触面或该第二接触面的步骤包括: 比较该触控信号的一第三信号强度与该第一信号强度，并且比较该第三信号强度与该第二信号强度； 当该第三信号强度与该第一信号强度相符时，判定该触控操作是位于该触控装置的该第一接触面与该第二接触面的其中的一个；以及 当该第三信号强度与该第二信号强度相符时，判定该触控操作是位于该触控装置的该第一接触面与该第二接触面的其中的另一个。17.如权利要求14所述的触控方法，其中该触控装置包括一X轴检测电极、一 Y轴检测电极、一覆盖板以及一间隙，该覆盖板配置于该X轴检测电极的上方，且该间隙配置于该X轴检测电极与该Y轴检测电极之间，该触控方法还包括: 通过该覆盖板提供该触控装置的该第一接触面:以及 通过该Y轴检测电极提供该触控装置的该第二接触面。18.如权利要求17所述的触控方法，其中该触控装置仅通过该X轴检测电极及该Y轴检测电极的其中一个检测电极检测该触控操作，以依据该触控操作对该检测电极上的自感电容所造成的电容值变化来产生该感测信号。19.如权利要求18所述的触控方法，其中该触控装置仅通过该X轴检测电极检测该触控操作，且该X轴检测电极依据该触控操作触碰该触控装置的该第一接触面以产生具有一第一信号强度的该感测信号，以及依据该触控操作触碰该触控装置的该第二接触面以产生具有一第二信号强度的该感测信号，其中该第一信号强度大于该第二信号强度。20.如权利要求17所述的触控方法，其中该触控装置通过该X轴检测电极以及该Y轴检测电极检测该触控操作，以依据该触控操作对该X轴检测电极以及该Y轴检测电极之间的互感电容所造成的电容值变化来产生该感测信号。21.如权利要求20所述的触控方法，其中该X轴检测电极以及该Y轴检测电极依据该触控操作触碰该触控装置的该第一接触面以产生具有一第一信号强度的该感测信号，以及依据该触控操作触碰该触控装置的该第二接触面以产生具有一第二信号强度的该感测信号，其中该第一信号强度小于该第二信号强度。22.如权利要求17所述的触控方法，其中该触控装置通过该X轴检测电极以及该Y轴检测电极的至少其中之一检测该触控操作以获得一检测结果，且该处理单元分析该检测结果以计算该感测信号对于噪声的比值，藉以获得该触控操作所对应的信噪比以决定该预设条件。23.如权利要求17所述的触控方法,其中该触控装置还包括一显示单元,该显示单元配置于该Y轴检测电极的下方，且该触控方法包括: 通过该显示单元提供该触控装置的该第二接触面， 其中该些检测电极依据该覆盖板与该显示单元的厚度与材质以产生该触控信号与该感测信号。24.如权利要求14所述的触控方法，其中检测该触控操作并产生该触控信号的步骤还包括: 在一设定期间内依据该触控操作所产生的该触控信号的一强度变化是否小于一容许范围，藉以判断该触控信号是否为有效信号。25.如权利要求14所述的触控方法，其中在判断该触控操作是位于该触控装置的该第一接触面或该第二接触面的步骤之前还包括:检测该触控操作对于该触控装置的一触碰面积以设定该预设条件。26.如权利要求14所述的触控方法，其中该预设条件被设定在一强度范围间。
【专利摘要】一种触控装置及触控方法。该触控装置包括：一触控面板以及一处理单元；该触控面板包括多个检测电极，其中该触控面板具有一第一接触面及一第二接触面；该处理单元耦接该触控面板，接收该触控面板检测一触控操作所产生的一触控信号，并依据该触控信号与一预设条件，以判断该触控操作是位于该触控面板的该第一接触面或该第二接触面，其中该预设条件依据该些检测电极的至少其中之一检测该触控操作触碰该触控面板的该第一接触面或该第二接触面所产生的一感测信号来决定。本发明能够仅以单一触控模块即可具有检测双面触控的功能，并且实现厚度薄且制作成本低的设计。
【IPC分类】G06F3/044
【公开号】CN105630257
【申请号】CN201410627800
【发明人】张耀宗, 江之中, 张文华, 谢孟岐
【申请人】纬创资通股份有限公司
【公开日】2016年6月1日
【申请日】2014年11月7日
【公告号】US20160117003