薄片类介质厚度检测机构及薄片类介质处理装置的制作方法

文档序号:11761317阅读:来源:国知局

技术特征:

1.一种薄片类介质厚度检测机构,其特征在于,包括机架及测厚单元,所述测厚单元包括弹性元件以及与所述机架活动连接的测厚架;

所述弹性元件包括固定部和与所述固定部连接的按压部,所述固定部与所述机架固定连接,所述按压部弹性地按压所述测厚架。

2.根据权利要求1所述的薄片类介质厚度检测机构,其特征在于,还包括与所述机架枢接的基准辊;

所述测厚单元还包括与所述测厚架枢接的测厚辊,所述测厚辊与所述基准辊相对;

所述按压部按压所述测厚架以使所述测厚辊与所述基准辊压接。

3.根据权利要求2所述的薄片类介质厚度检测机构,其特征在于,沿所述按压部的按压方向,所述按压部覆盖所述测厚辊。

4.根据权利要求1所述的薄片类介质厚度检测机构,其特征在于,所述固定部与所述按压部呈L型设置。

5.根据权利要求1所述的薄片类介质厚度检测机构,其特征在于,所述固定部沿所述机架的高度方向延伸,所述按压部沿所述机架的宽度方向延伸。

6.根据权利要求1-5中任一项所述的薄片类介质厚度检测机构,其特征在于,包括M个测厚单元,M个所述测厚单元中相邻的N个所述弹性元件的所述固定部连接为一体。

7.根据权利要求6所述的薄片类介质厚度检测机构,其特征在于,M为N的整数倍。

8.根据权利要求2所述的薄片类介质厚度检测机构,其特征在于,所述机架包括相对设置的第一支架和第二支架,所述基准辊的两端分别与所述第一支架和所述第二支架插接;

所述测厚架与所述机架通过支撑轴枢接,所述支撑轴的两端分别与所述第一支架和所述第二支架插接,并且所述支撑轴与所述基准辊平行且间隔设置。

9.根据权利要求8所述的薄片类介质厚度检测机构,其特征在于,所述机架还包括连接在所述第一支架与所述第二支架之间的中间支架,并且所述中间支架与所述测厚辊平行设置;

所述固定部与所述中间支架固定连接。

10.一种薄片类介质处理装置,其特征在于,包括如权利要求1-9任一项所述的薄片类介质厚度检测机构。

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