介质厚度检测装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及厚度检测领域，具体而言，涉及一种介质厚度检测装置。
【背景技术】
[0002]检票机、点钞机、纸币清分机等薄片类介质处理装置中设有介质厚度检测装置，用于判断票纸、纸币等薄片类介质是否出现粘贴、重张等问题。当介质厚度检测装置检测到的薄片类介质的厚度超过预定的单张介质的厚度值时，判定出现粘贴、重张等错误。
[0003]在现有技术中提供了一种纸币厚度检测装置，如图1所示，该检测装置包括下测厚辊1’与上测厚辊2’，上测厚辊2’位置固定，下测厚辊1’可相对上测厚辊2’上下移动。磁片9’与下测厚辊1’连动，霍尔器件10’与磁片9’相对设置，磁片9’与霍尔器件10’构成磁电路装置。正常情况下，下测厚辊1’与上测厚辊2’之间的间隙允许通过一张纸币，当有粘贴或重张的纸币通过时，由于粘贴或重张的纸币的厚度大于单张纸币的厚度，因此，粘贴或重张的纸币驱动下测厚辊1’向下移动，并带动磁片9’移动，霍尔器件10’检测出此位移，从而可检测出纸币的厚度，用于判定纸币是否粘贴或重张。
[0004]上述介质厚度检测装置通过相对设置的磁片9’和霍尔器件10’构成磁电路装置，磁片9’产生磁场，当磁片9’和霍尔器件10’之间的相对距离发生变化时，霍尔器件10’所处的磁场发生变化，霍尔器件10’通过检测其所处的磁场的变化检测其与磁片9’之间的距离的变化，从而实现薄片类介质的厚度检测。然而，由于薄片类介质处理装置中通常设置有多种金属零件，当金属零件处于磁片9’产生的磁场中时金属零件就会被磁化，金属零件被磁化后其产生的磁场会对磁片9’产生的磁场存在一定的干扰，由于受磁场间干扰的影响，霍尔器件10’对薄片类介质的厚度检测就会出现检测不准确的问题。
[0005]针对现有技术的介质厚度检测装置所存在的厚度检测不准确的问题，目前尚未提出有效的解决方法。
【发明内容】
[0006]本发明的主要目的在于提供一种介质厚度检测装置，以解决现有技术的介质厚度检测装置所存在的厚度检测不准确的问题。
[0007]为了实现上述目的，根据本发明的一个方面，提供了一种介质厚度检测装置。该介质厚度检测装置包括:基准辊；测厚辊，与基准辊相对设置，基准辊与测厚辊之间形成介质输送通道，测厚辊根据被输送的介质厚度向远离或靠近基准辊的方向移动；被测元件，随测厚辊同步移动；第一检测元件，设置在被测元件的第一移动方向上，当测厚辊向远离基准辊的方向移动时，被测元件向靠近第一检测元件的方向移动，用于对被测元件进行检测，输出第一电信号，第一电信号随被测元件和第一检测元件之间的距离变化而变化；第二检测元件，设置在被测元件的第二移动方向上，当测厚辊向远离基准辊的方向移动时，被测元件向远离第二检测元件的方向移动，用于对被测元件进行检测，输出第二电信号，第二电信号随被测元件和第二检测元件之间的距离变化而变化；控制单元，用于通过第一电信号和第二电信号对基准辊与测厚辊之间的介质厚度进行检测。
[0008]进一步地，被测元件具有初始位置，当基准辊与测厚辊之间无介质穿过时，被测元件位于初始位置，在初始位置，被测元件的中心位于第一检测元件和第二检测元件的连线的中心线上。
[0009]进一步地，被测元件位于初始位置时，检测得到的第一电信号的值和第二电信号的值相等。
[0010]进一步地，介质厚度检测装置还包括:传感器，设置于介质输送通道上，并且沿介质输送方向位于基准辊和测厚辊的上游，用于检测是否有介质从基准辊和测厚辊之间穿过；信号处理电路，包括第一运算放大器和第二运算放大器，第一运算放大器的反相输入端连接至第一检测元件输出端，第一运算放大器的同相输入端连接至第二检测元件的输出端并且连接至动态偏置电压，第一运算放大器的输出端连接至第二运算放大器的同相输入端，第二运算放大器的反相输入端连接至参考电压，第二运算放大器的输出端连接至控制单元。
[0011]进一步地，控制单元用于在传感器检测到没有介质从基准辊和测厚辊之间穿过时，读取第二运算放大器的第一输出值，在传感器检测到有介质从基准辊和测厚辊之间穿过时，读取第二运算放大器的第二输出值，并根据第一输出值和第二输出值对基准辊与测厚辊之间的介质厚度进行检测。
[0012]进一步地，控制单元还用于在所述介质厚度检测装置上电时对所述动态偏置电压进行校正以使所述信号处理电路的输出值满足预设要求。
[0013]进一步地，控制单元用于计算第一电信号和第二电信号的差值，并根据第一电信号和第二电信号的差值计算基准辊与测厚辊之间输送的介质的厚度和/或判断基准辊与测厚辊之间输送的介质的厚度是否正常。
[0014]进一步地，控制单元用于通过以下方式计算基准辊与测厚辊之间输送的介质的厚度:计算第一电信号和第二电信号的差值；通过查表方式获取与差值对应的厚度值，控制单元用于通过以下方式判断基准辊与测厚辊之间输送的介质的厚度是否正常:计算第一电信号和第二电信号的差值；判断差值是否小于预设阈值；如果差值小于预设阈值，则确定基准辊与测厚辊之间输送的介质的厚度正常；如果差值大于预设阈值，则确定基准辊与测厚辊之间输送的介质的厚度不正常。
[0015]进一步地，介质厚度检测装置还包括:机架，基准辊设置在机架上；第一支架，通过枢接轴与机架枢接，测厚辊设置在第一支架的第一端部，被测元件设置在第一支架的第二端部；弹性元件，用于向第一支架提供弹性力，以使测厚辊具有向靠近基准辊方向移动的趋势；第二支架，与机架固定连接，第一检测元件和第二检测元件固定设置在第二支架上。
[0016]进一步地，被测兀件为金属兀件，第一检测兀件为第一电感传感器，第一电感传感器用于检测金属元件，输出第一电信号，第二检测元件为第二电感传感器，第二电感传感器用于检测金属元件，输出第二电信号，或者，被测元件为磁性元件，第一检测元件为第一霍尔传感器，用于检测磁性元件，输出第一电信号，第二检测元件为第二霍尔传感器，用于检测磁性元件，输出第二电信号。
[0017]通过本发明，由于通过两个检测元件的检测结果对介质的厚度进行检测，可以消除由于干扰因素引起的单个检测元件的检测误差，解决了现有技术的介质厚度检测装置所存在的厚度检测不准确的问题，进而达到了提高介质厚度检测准确性的效果。
【附图说明】
[0018]构成本申请的一部分的附图用来提供对本发明的进一步理解，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中:
[0019]图1是现有技术的介质厚度检测装置的结构示意图；
[0020]图2是根据本发明第一实施例的介质厚度检测装置的模块示意图；
[0021]图3是根据本发明第一实施例的介质厚度检测装置的结构示意图；
[0022]图4是根据本发明第一实施例的介质厚度检测装置中磁性元件的磁场分布与第一霍尔传感器和第二霍尔传感器的位置分布的关系的示意图；
[0023]图5是根据本发明第一实施例的介质厚度检测装置的厚度检测方法的流程图；
[0024]图6是根据本发明第二实施例的介质厚度检测装置的模块示意图；
[0025]图7是根据本发明第二实施例的介质厚度检测装置的信号处理电路的示意图；以及
[0026]图8是根据本发明第二实施例的介质厚度检测装置的厚度检测方法的流程图。
【具体实施方式】
[0027]需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本发明。
[0028]图2是根据本发明第一实施例的介质厚度检测装置的模块示意图，如图所示，介质厚度检测装置100包括控制单元11、检测辊组件12和检测电路装置13。
[0029]控制单元11，用于控制其他各模块执行工作，比如，控制单元11控制检测辊组件12驱动介质在介质厚度检测装置100的输送通道中移动，控制单元11根据检测电路装置13的第一检测元件输出的电信号和第二检测元件输出的电信号计算薄片类介质(以下简称介质)的厚度等。
[0030]检测辊组件12，用于驱动介质在输送通道中