到达传感器的检测位置时，控制输送单元继续驱动介质移动第一预设距离，以判定介质到达基准辊和测厚辊所在位置，其中，第一预设距离为传感器的检测位置到基准辊的轴线所在位置的距离。
[0061]步骤S304，将信号处理电路的第一输出值和第二输出值作差，并根据二者的差值计算介质的厚度和/或检测介质的厚度是否正常
[0062]将信号处理电路的第一输出值和第二输出值作差，并根据二者的差值计算介质的厚度和/或检测介质的厚度是否正常，具体执行方法可参考步骤S203，在此不再赘述。
[0063]本实施例的介质厚度检测装置通过信号处理电路对第一检测元件输出的电信号和第二检测元件输出的电信号进行差分、放大运算，具有更高的检测精度，并且，本实施例的介质厚度检测装置通过在上电时对动态偏置电压进行校正，使信号处理电路的输出值满足设定要求，进一步提高了介质厚度检测装置进行介质厚度检测的准确性。
[0064]以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
【主权项】
1.一种介质厚度检测装置，其特征在于，包括: 基准辊(123)； 测厚辊(124)，与所述基准辊(123)相对设置，所述基准辊(123)与所述测厚辊(124)之间形成介质输送通道，所述测厚辊(124)根据被输送的介质厚度向远离或靠近基准辊(123)的方向移动； 被测元件(131)，随所述测厚辊(124)同步移动； 第一检测元件(132)，设置在所述被测元件(131)的第一移动方向上，当所述测厚辊(124)向远离所述基准辊(123)的方向移动时，所述被测元件(131)向靠近所述第一检测元件(132)的方向移动，用于对所述被测元件(131)进行检测，输出第一电信号，所述第一电信号随所述被测元件(131)和所述第一检测元件(132)之间的距离变化而变化； 第二检测元件(133)，设置在所述被测元件(131)的第二移动方向上，当所述测厚辊(124)向远离所述基准辊(123)的方向移动时，所述被测元件(131)向远离所述第二检测元件(133)的方向移动，用于对所述被测元件(131)进行检测，输出第二电信号，所述第二电信号随所述被测元件(131)和所述第二检测元件(133)之间的距离变化而变化；以及控制单元(11)，用于通过所述第一电信号和所述第二电信号对所述基准辊(123)与所述测厚辊(124)之间的介质厚度进行检测。2.根据权利要求1所述的介质厚度检测装置，其特征在于，所述被测元件(131)具有初始位置，当所述基准辊(123)与所述测厚辊(124)之间无介质穿过时，所述被测元件(131)位于所述初始位置，在所述初始位置，所述被测元件(131)的中心(1311)位于所述第一检测元件(132)和第二检测元件(133)的连线的中心线(1321)上。3.根据权利要求2所述的介质厚度检测装置，其特征在于，所述被测元件(131)位于所述初始位置时，检测得到的所述第一电信号的值和所述第二电信号的值相等。4.根据权利要求1所述的介质厚度检测装置，其特征在于，还包括: 传感器(15)，设置于所述介质输送通道上，并且沿介质输送方向位于所述基准辊(123)和所述测厚辊(124)的上游，用于检测是否有介质从所述基准辊(123)和所述测厚辊(124)之间穿过；以及 信号处理电路(14)，包括第一运算放大器(141)和第二运算放大器(142)，所述第一运算放大器(141)的反相输入端连接至所述第一检测元件(132)输出端，所述第一运算放大器(141)的同相输入端连接至所述第二检测元件(133)的输出端并且连接至动态偏置电压，所述第一运算放大器(141)的输出端连接至所述第二运算放大器(142)的同相输入端，所述第二运算放大器(142)的反相输入端连接至参考电压，所述第二运算放大器(142)的输出端连接至所述控制单元(11)。5.根据权利要求4所述的介质厚度检测装置，其特征在于，所述控制单元(11)用于在所述传感器(15)检测到没有介质从所述基准辊(123)和所述测厚辊(124)之间穿过时，读取所述第二运算放大器(142)的第一输出值，在所述传感器(15)检测到有介质从所述基准辊(123)和所述测厚辊(124)之间穿过时，读取所述第二运算放大器(142)的第二输出值，并根据所述第一输出值和所述第二输出值对所述基准辊(123)与所述测厚辊(124)之间的介质厚度进行检测。6.根据权利要求4所述的介质厚度检测装置，其特征在于，所述控制单元(11)还用于在所述介质厚度检测装置上电时对所述动态偏置电压进行校正以使所述信号处理电路(14)的输出值满足预设要求。7.根据权利要求1所述的介质厚度检测装置，其特征在于，所述控制单元(11)用于计算所述第一电信号和所述第二电信号的差值，并根据所述第一电信号和所述第二电信号的差值计算所述基准辊(123)与所述测厚辊(124)之间输送的介质的厚度和/或判断所述基准辊(123)与所述测厚辊(124)之间输送的介质的厚度是否正常。8.根据权利要求7所述的介质厚度检测装置，其特征在于， 所述控制单元(11)用于通过以下方式计算所述基准辊(123)与所述测厚辊(124)之间输送的介质的厚度:计算所述第一电信号和所述第二电信号的差值；通过查表方式获取与所述差值对应的厚度值， 所述控制单元(11)用于通过以下方式判断所述基准辊(123)与所述测厚辊(124)之间输送的介质的厚度是否正常:计算所述第一电信号和所述第二电信号的差值；判断所述差值是否小于预设阈值；如果所述差值小于所述预设阈值，则确定所述基准辊(123)与所述测厚辊(124)之间输送的介质的厚度正常；如果所述差值大于所述预设阈值，则确定所述基准辊(123)与所述测厚辊(124)之间输送的介质的厚度不正常。9.根据权利要求1所述的介质厚度检测装置，其特征在于，还包括: 机架，所述基准辊(123)设置在所述机架上；第一支架(125)，通过枢接轴(126)与所述机架枢接，所述测厚辊(124)设置在所述第一支架(125)的第一端部，所述被测元件(131)设置在所述第一支架(125)的第二端部； 弹性元件(127)，用于向所述第一支架(125)提供弹性力，以使所述测厚辊(124)具有向靠近所述基准辊(123)方向移动的趋势；以及 第二支架(128)，与所述机架固定连接，第一检测元件(132)和第二检测元件(133)固定设置在所述第二支架(128)上。10.根据权利要求1所述的介质厚度检测装置，其特征在于， 所述被测元件(131)为金属元件，所述第一检测元件(132)为第一电感传感器，所述第一电感传感器用于检测所述金属元件，输出所述第一电信号，所述第二检测元件(133)为第二电感传感器，所述第二电感传感器用于检测所述金属元件，输出所述第二电信号， 或者， 所述被测元件(131)为磁性元件，所述第一检测元件(132)为第一霍尔传感器，用于检测所述磁性元件，输出所述第一电信号，所述第二检测元件(133)为第二霍尔传感器，用于检测所述磁性元件，输出所述第二电信号。
【专利摘要】本发明公开了一种介质厚度检测装置。该介质厚度检测装置包括：基准辊(123)；测厚辊(124)，与基准辊(123)相对设置，基准辊(123)与测厚辊(124)之间形成介质输送通道；被测元件(131)，随测厚辊(124)同步移动；第一检测元件(132)，用于对被测元件(131)进行检测，输出第一电信号；第二检测元件(133)，设置在被测元件(131)的第二移动方向上，输出第二电信号；控制单元(11)，用于通过第一电信号和第二电信号对基准辊(123)与测厚辊(124)之间的介质厚度进行检测。通过本发明，提高了介质厚度检测的准确性。
【IPC分类】G07D13/00
【公开号】CN105469497
【申请号】CN201410465986
【发明人】王权黎, 高涛, 郑磊, 孙路, 王春涛
【申请人】山东新北洋信息技术股份有限公司
【公开日】2016年4月6日
【申请日】2014年9月12日