记录装置与记录方法

专利名称：记录装置与记录方法
技术领域：
本发明涉及一种用于在诸如光盘的光记录介质上执行记录的记录装置和用于该记录装置的记录方法。更具体地，本发明涉及一种适用于相变记录介质的激光功率控制方法。
背景技术：
使用光盘作为记录介质的记录和重放装置已被广泛应用。对于光盘，使用只读光盘、一次写入光盘、可重写光盘等。只读光盘是所谓的ROM类型光盘，通过使用例如浮凸坑而在该只读光盘上执行信息记录。一次写入光盘是这样的光盘，在其上将染料变化膜用于记录层，并且通过激光形成染料变化坑(标记)来记录信息；在这些盘上只能进行一次写入。可重写光盘是这样的光盘，在其上将相变膜用于记录层，并且通过激光形成相变坑(标记)来记录信息；在这些盘上可进行重写。这些不同类型的光盘根据它们的特性被不同地用于各种类型的应用。
在用于这些光盘(一次写入光盘和可重写光盘)的记录装置中，用于记录的激光功率需要适当地调整。为此，如在例如日本专利申请第2733969号和第3089844号和美国专利第5,126,994号中所公开的各种类型的激光功率控制技术是已公的。
例如，用于将激光功率保持在目标值的APC(自动功率控制)和作为用于一次写入光盘的方法的运行OPC(运行最佳功率控制)是已知的。

发明内容
迄今，在诸如CD(光盘)-RW和DVD(数字通用盘)-RW的相变可重写光盘中，如果在表面上有划痕或者诸如指纹的污点，在那个部分，到达记录层的激光功率变小。因此，记录功率变得不足，并且不能执行适当的信息记录。
参照图5和6描述了相关技术中的能够兼容相变光盘的盘驱动器装置中的APC电路及其操作。
图5的APC电路是监测擦除电平处的激光功率、基于该激光功率增加或者减少激光功率、并且保持激光功率恒定的电路。
置于拾取器内部的监测检测器100接收一部分从激光器二极管输出的激光，并且输出响应于该光的光量的信号，即，输出表示激光功率的监测信号。
采样与保持电路101在对应于激光的擦除功率的定时采样来自监测检测器100的监测信号。
图6的部分(a)显示了记录期间的激光功率(激光器驱动信号波形)。在形成坑标记期间，基于峰值功率和偏置功率以脉冲形式发射激光。在没有形成坑标记期间，执行擦除功率的激光发射。采样与保持电路101在对应于此擦除功率的定时采样监测信号。
对于擦除功率的采样监测信号，在减法器102中计算其相对于擦除功率的目标值的差值。例如，通过盘驱动器装置中的系统控制器将擦除功率的目标值设置在寄存器112中。
在减法器102中获得的差值在通过环路滤波器103和放大器104之后形成偏压VRDC，并且将其提供给选择加法电路113。
此外，将电压VWDC1和VWDC2也提供给选择加法电路113。
图6的部分(b)显示了激光器驱动电流和激光功率之间的关系。如图6的部分(b)所示，偏压VRDC是用于获得偏置功率的驱动电流的电压值。电压VWDC1是要被加到偏压VRDC上以获得擦除功率的驱动电流的电压值。电压VWDC2是要被加到擦除功率电压(＝VRDC+VWDC1)上以获得峰值功率的驱动电流的电压值。
用这样一种方式获得电压VWDC1，在乘法器105中，设置在寄存器106中的擦除/偏置功率比率乘以设置在寄存器112中的擦除功率的目标值，并且相乘的结果在乘法器109中乘以设置在寄存器111中的微分效率η的倒数(即，除以微分效率η)。
如果偏置功率用BiasP表示，擦除功率用EraseP表示，则设置在寄存器106中的擦除/偏置功率比率是1-(BiasP/EraseP)，而微分效率(differencialefficiency)η是图6的部分(b)中示出的斜率。
用这样一种方式获得电压VWDC2，在乘法器108中，设置在寄存器107中的峰值/偏置功率比率乘以设置在寄存器112中的擦除功率的目标值，并且相乘的结果在乘法器110中乘以设置在寄存器111中的微分效率的倒数。
如果峰值功率用PeakP表示，设置在寄存器107中的峰值/擦除功率比率是(PeakP-EraseP)/EraseP。
选择加法电路113响应于激光发射的驱动信号PL的脉冲定时，将电压VWDC1和VWDC2加到偏压VRDC上。即，在图6的部分(a)中示出的周期Te中，其中输出擦除功率，将电压VWDC1加到偏压VRDC上，并且输出所得电压。
在输出偏置功率的周期Tb内，仅输出偏压VRDC。在输出峰值功率的周期Tp内，将电压VWDC1和VWDC2加到偏压VRDC上，并且输出所得电压。在V/I转换电路114内将以此方式从选择加法电路113输出的电压转换成响应于该电压值的驱动电流，并将其提供给激光器二极管120。
即，在此APC电路中，相对于从激光器二极管120输出的激光功率来监测擦除功率，检测相对于目标值的差值，并且基于此差值，改变偏置功率(偏压VRDC)。由于对应于擦除功率和峰值功率的电压是将电压VWDC1和VWDC2分别加到偏压VRDC上的电压，因此这些电压响应于偏压VRDC的改变而改变。
APC电路允许在记录期间控制激光功率，以便保持设定在目标电平处的功率电平。
如上所述，这样一种APC电路使记录激光功率保持恒定，并且该APC电路难以处理光盘表面上的划痕和例如指纹的污点。即，如果记录激光功率是恒定的，则由于划痕和污点，到达光盘的记录膜的激光功率变小，记录功率变得不足，并且难以执行高精度的信息记录。
如上所述，作为用于一次写入光盘的激光控制，有用于在记录操作期间改变激光功率的运行OPC。然而，由于各种不同的环境，诸如可重写光盘与一次写入光盘之间的差异，即，记录膜特性的差异、激光驱动方法的差异、激光功率极限的差异以及记录期间反射光量的差异，而难以直接将运行OPC用于可重写光盘的激光功率控制。
因此，希望通过在尤其能兼容可重写光盘的记录装置中处理划痕、污点等，能够执行合适的信息记录，并且能够在重放期间获得合适的RF信号。
为此，根据本发明的实施例，提供一种记录装置，包括光学头，通过将激光照射到光记录介质上来记录信息；激光功率控制电路，基于激光功率的目标值和由光学头检测的激光功率的监测信号，控制从光学头输出的激光功率；和目标值改变电路，检测照射到光记录介质上的激光的返回光的光量信号的振幅改变，并且基于检测到的振幅改变的量改变目标值。
激光功率控制电路可以基于在激光功率的擦除功率周期内的监测信号和擦除功率的目标值来控制激光功率。目标值改变电路可以通过将下述值加到擦除功率的目标值上来改变目标值，该值响应于相对于与激光功率的擦除功率相对应的返回光的振幅改变的量。
根据本发明的另一个实施例，提供一种记录方法，包括步骤通过将激光照射到光记录介质上来记录信息；基于激光功率的目标值和在执行记录步骤时的激光功率的监测信号，控制激光功率；检测在执行记录步骤时的照射到光记录介质上的激光的返回光的光量信号的振幅改变，并且基于在执行记录步骤时检测到的振幅改变的量改变目标值。
即，根据本发明的实施例，通过返回光(RF信号)检测记录膜上的激光功率的降低，并且将APC的目标功率增加与该降低相对应的量，从而增补了记录膜上的、由于光盘表面上的污点等而降低了的记录功率。
在本发明的实施例中，通过返回光(RF信号)检测记录膜上的激光功率的降低，并且通过将APC的目标功率增加与该降低相对应的量，来增加记录激光功率。结果，即使在可重写光盘的表面上有划痕、污点等，也能合适地执行信息记录，而激光功率不会变得不足。换句话说，即使将表面被污染的光盘用于执行记录，在重放期间能够减少信号中的错误，并且能够提高记录和重放性能。
附图简述

图1是根据本发明的实施例的盘驱动器装置的框图；图2是根据本发明的实施例的拾取器和激光调制电路的框图；图3是根据本发明的实施例的APC电路和激光驱动器的框图；图4A、4B、4C和4D是根据本发明的实施例的目标值改变操作的图示；
图5是相关技术的APC电路的框图；和图6是由该APC电路设置的激光脉冲和电压的图示。
具体实施例方式
下面将描述记录和重放装置(盘驱动器装置)的实施例，该记录和重放装置能够将数据写入例如DVD系统的可重写光盘。在图1中示出了根据该实施例的盘驱动器装置的构造。
例如，假定光盘1是DVD系统和CD系统中的可重写光盘(相变光盘)。然而，通常在该盘驱动器装置中，除了可重写光盘，从只读光盘记录是可能的，并且往一次写入光盘记录和从一次写入光盘重放是可能的。因此，作为光盘1装载的光盘不局限于可重写光盘。
光盘1被放置在转盘上(未示出)，并且在记录和重放操作期间通过主轴电机2以恒定线速度(CLV)旋转。然后，拾取器(光学头)3读取数据，这些数据按恒定线密度以相变坑形式(或者以浮凸坑形式或者以染料变化坑形式)记录在光盘1上。除了CLV，光盘1可以按恒定角速度(CAV)旋转。
如后文中将要描述，在拾取器3内部提供充当激光源的激光二极管、用于检测反射光的光检测器、充当激光输出端的物镜、用于通过物镜将激光照射到光盘记录表面上并且将反射光导向光检测器的光学系统、双轴机构(two-axis mechanism)等等。该双轴机构可移动地将物镜保持在跟踪方向和聚焦方向上。通过滑动驱动部分4，整个拾取器3可在光盘的径向上移动。
来自光盘1的反射光的信息被光检测器检测，形成为响应于所接收到的光的光量的电信号，并提供给RF放大器8。
用这种方式给RF放大器8装备电流-电压转换电路以便对应于来自拾取器3内部的多个光检测器的输出电流，给RF放大器8装备矩阵计算/放大器电路等等，并通过矩阵计算处理产生必要的信号。例如，产生作为重放数据的RF信号、用于伺服控制的聚焦误差信号FE、跟踪误差信号TE等等。
从RF放大器8输出的重放RF信号被提供给重放信号处理部分9，而聚焦误差信号FE和跟踪误差信号TE被提供给伺服控制部分10。
在重放信号处理部分9中，在RF放大器8中获得的重放RF信号经过二进制化、PLL时钟产生、用于EFM+信号(8-16调制信号)的解码处理、纠错处理，等等。
重放信号处理部分9通过使用DRAM 11执行解码处理和纠错处理。DRAM 11也用作高速缓冲存储器，用于存储从主机接口13获得的数据，并且用于将数据传送至主机。
然后，重放信号处理部分9将已解码的数据存储在用作高速缓冲存储器的DRAM 11中。作为来自盘驱动器装置的重放输出，缓存在DRAM 11中的数据被读取和传送。
此外，在重放信号处理部分9中，从通过对RF信号执行EFM+解调和纠错而获得的信息中提取子码信息、ATIP信息、LPP信息、ADIP信息、扇区ID信息等，并且这些条信息被提供给系统控制器12。例如，系统控制器12由微型计算机构成，并控制整个装置。
主机接口13连接到主机装置，诸如外部个人电脑，并且执行与主机装置的重放数据、读/写命令等的通信。
更特别地，存储在DRAM 11中的重放数据通过主机接口13被传输和输出到主机装置。来自主机装置的读/写命令、记录数据、和其它信号通过主机接口13被缓存在DRAM 11中，并且被提供给系统控制器12。
作为写命令和从主机装置提供的记录数据的结果，往光盘1上的记录被执行。
在数据记录期间，在调制部分14中，对缓存在DRAM 11中的记录数据执行记录处理。即，执行纠错码添加、EFM+调制等。
然后，按此方式调制的记录数据WD被提供给激光调制电路15。激光调制电路15根据记录数据驱动拾取器3内部的半导体激光器，以便根据记录数据执行激光输出，从而将数据写入到光盘1上。
如后文中将要详细描述的，来自RF放大器8的RF信号(记录期间返回光的光量)被提供给激光调制电路15。记录期间的返回光不是基于通过已经被记录的坑而记录的重放数据，而基本上是响应于被输出的激光的信号，并且变成类似于激光器驱动信号波形的波形。
在记录操作期间，控制系统控制器12将激光以记录功率从拾取器3照射到光盘1的记录区域。即，当光盘1是具有相变记录层的可重写光盘时，记录层的晶体结构由于激光的热施加而变化，并且形成相变坑。即，各种数据以这样一种方式记录，即，改变坑的存在与不存在及其长度。此外，当激光再次照射到已形成坑的部分上时，作为热施加的结果，在记录数据时变化了的晶体结构返回其原始状态，坑消失，并且数据被擦除。
然后，在此情况下，如图6所示，在形成相变坑的部分，激光是以峰值功率和偏置功率驱动的脉冲。在没有形成坑的部分，执行擦除功率的激光输出以擦除以前的数据。
伺服控制部分10根据来自于RF放大器8的聚焦误差信号FE和跟踪误差信号TE和来自于重放信号处理部分9或者系统控制器12的主轴误差信号SPE来产生各种伺服驱动信号，比如聚焦、跟踪、滑动和主轴驱动信号，以便允许执行伺服操作。
即，响应于聚焦误差信号FE和跟踪误差信号TE产生聚焦驱动信号和跟踪驱动信号，并且将它们提供给聚焦/跟踪驱动电路6。聚焦/跟踪驱动电路6驱动拾取器3中的双轴机构的聚焦线圈和跟踪线圈。结果，形成由拾取器3、RF放大器8、伺服控制部分10、聚焦/跟踪驱动电路6和双轴机构构成的跟踪伺服回路与聚焦伺服回路。
伺服控制部分10进一步将响应于主轴误差信号SPE而产生的主轴驱动信号提供给主轴电机驱动电路7。例如，主轴电机驱动电路7响应于主轴驱动信号将三相驱动信号施加到主轴电机2，以便允许主轴电机2旋转。此外，伺服控制部分10响应于来自系统控制器12的主轴起动/制动控制信号而产生主轴驱动信号，以便允许主轴电机驱动电路7起动、停止、加速、和减速主轴电机2。
例如，伺服控制部分10基于滑动误差信号和来自系统控制器12的存取执行控制而产生滑动驱动信号，其中滑动误差信号是作为跟踪误差信号TE的低频分量而获得的，并将该滑动驱动信号提供给滑动驱动电路5。该滑动驱动电路5响应于该滑动驱动信号，驱动滑动驱动部分4。滑动驱动部分4具有由用于保持拾取器3的主轴、滑板电机、传动装置等组成的机构(未示出)。该滑动驱动电路5响应于该滑动驱动信号，驱动滑动驱动部分4，从而使拾取器3以所需的方式滑动。
作为与盘驱动器装置中的激光功率的APC相关的部分，拾取器3和激光调制电路15在图2中示出，其中该盘驱动器装置具有图1所示的上述构造。
图2显示了拾取器3的全部内部构造。如上面简述的，给拾取器3装备用作激光源的激光器二极管31、用于检测反射光的光检测器33、用作激光输出端的物镜35、用于通过物镜35将激光照射到盘记录表面并且将反射光导向光检测器33的光学系统32、和具有上述构造的、用于保持物镜35的双轴机构36。
光学系统32装备有偏光器，诸如偏振光束分光器，和各种透镜，从而控制来自激光器二极管31的激光和光盘1上反射的返回光的光路。
当光盘1作为可重写光盘被装载并且执行记录时，从激光器二极管31输出的激光通过光学系统32和物镜35照射到光盘1的记录表面，从而在记录表面上形成坑(相变坑)。在此情况下，获得在记录表面上反射的返回光。
来自光盘1的返回光通过物镜35和光学系统32进入光检测器33，其被光电转换并提供给RF放大器8。
在RF放大器8中，对来自光检测器33的信号执行计算处理以产生RF信号，如上所述，该RF信号是光量的和信号、聚焦误差信号、跟踪误差信号等。在记录的情况下，如上所述，在RF放大器8中获得的RF信号(光量和信号)成为近似于激光器二极管31的激光输出波形(即，激光驱动信号波形)的信号。
此外，在拾取器3内部，装备用于APC(自动功率控制)的监测检测器34。例如，来自激光器二极管31的一部分激光通过光学系统32被提供给监测检测器34。然后，监测检测器34输出响应于接收光的光量的电信号。即，由监测检测器34获得关于输出激光的光量的信息。
激光调制电路15装备了激光器驱动器41、写入策略(writing strategy)42、和APC电路43。
从图1的调制部分14提供的记录数据WD在写入策略42中经过波形成形和补偿处理之后，被形成为激光器驱动脉冲，并提供给激光器驱动器41。激光器驱动器41基于激光器驱动脉冲驱动该激光器二极管31，以便执行激光发射。
这里，APC电路43起保持激光输出电平恒定的作用。APC电路43经过监测检测器34获得输出激光电平的信息。
APC电路43计算存储在内部寄存器中的目标值和经过监测检测器34获得的输出激光电平的信息之间的差值，并且根据此差值增加或者减少来自激光器驱动器41的驱动电流，从而控制来自激光器二极管31的激光电平，以便保持在目标值。这成为APC功能。
在此实施例中，防止了在已记录信息的重放期间由于光盘表面上的划痕、污点等引起的错误的增加。为此目的，当记录膜上的激光功率由于光盘表面上的污点等而降低时，通过增加激光器的输出来增补该激光功率，以致形成合适的相变坑。
更特别地，通过RF信号检测记录膜上的激光功率的降低，并且将APC的目标功率增加与该降低相对应的量，从而增补了记录功率。因此，如图2中所示，以这样一种方式形成该构造，即将RF信号提供给APC电路43，并且APC电路43基于该RF信号而改变激光功率的目标值。用于上述目的的APC电路43和激光器驱动器41的构造如图3中所示。
图3的APC电路43的基本APC功能构造与参照图5所描述的实例的相同。即，监测在擦除功率处的激光功率，并且基于该激光功率增加或者减少激光功率，以便保持激光功率恒定。
为此目的，首先，采样与保持电路51在对应于激光器的擦除功率的定时处采样来自监测检测器34的监测信号(见图6的部分(a))。对于擦除功率的采样监测信号，在减法器52中计算相对于擦除功率的目标值的差值。在此实例的情况下，提供给减法器52的擦除功率的目标值是限幅器71的输出。擦除功率的目标值将在后文中描述。在减法器52中获得的差值在经过环路滤波器53和放大器54之后形成为偏压VRDC，并且被提供给选择加法(selectiveaddition)电路62。
此外，电压VWDC1和VWDC2也被提供给选择加法电路62。如参照图6的部分(b)所述，偏压VRDC是用于获得偏置功率的驱动电流的电压值。电压VWDC1是将要加到偏压VRDC上以获得擦除功率的驱动电流的电压值。电压VWDC2是将要加到擦除功率的电压(＝VRDC+VWDC1)上以获得峰值功率的驱动电流的电压值。
用这样一种方式获得电压VWDC1，即在乘法器55中，设置在寄存器56中的擦除/偏置功率比率乘以限幅器71提供的擦除功率的目标值，并且相乘的结果在乘法器59中乘以设置在寄存器61中的微分效率η的倒数(即，除以微分效率η)。
如果偏置功率用BiasP表示且擦除功率用EraseP表示，则设置在寄存器56中的擦除/偏置功率比率是1-(BiasP/EraseP)，而微分效率η是图6的部分(b)中示出的斜率。
用这样一种方式获得电压VWDC2，即在乘法器58中，设置在寄存器57中的峰值/擦除功率比率乘以从限幅器71提供的擦除功率的目标值，并且相乘的结果在乘法器60中乘以设置在寄存器61中的微分效率的倒数。
如果峰值功率用PeakP表示，则设置在寄存器57中的峰值/擦除功率比率是(PeakP-EraseP)/EraseP。
选择加法电路62响应于激光发射的驱动信号PL，即从图2的写入策略42提供的脉冲定时，将电压VWDC1和VWDC2加到偏压VRDC上。即，在图6的部分(a)中示出的、输出擦除功率的周期Te中，将电压VWDC1加到偏压VRDC上，并且输出所得电压。
在输出偏置功率的周期Tb内，仅输出偏压VRDC。在输出峰值功率的周期Tp内，将电压VWDC1和VWDC2加到偏压VRDC上，并且输出所得电压。以此方式从选择加法电路62输出的电压在V/I转换电路63内被转换成响应于电压值的驱动电流，并被提供给激光器二极管31。
在根据至此所描述的构造的APC功能中，相对于从激光器二极管31输出的激光功率来监测擦除功率，检测相对于目标值的差值，并且基于此差值，改变偏置功率(偏压VRDC)。由于对应于擦除功率和峰值功率的电压是将电压VWDC1和VWDC2分别加到偏压VRDC上的电压，因此这些电压响应于偏压VRDC的改变而改变。
APC电路允许控制记录期间的激光功率，以便保持设定在目标电平处的功率电平。
在此实例中，为了处理划痕和污点，以这样一种方式形成构造，即APC功能的目标值，即，输入减法器52和乘法器55与58的擦除功率的目标值被改变。因此，提供了采样与保持电路64、峰值保持电路65、减法器66、增益调节单元67、加法器69、低通滤波器70和限幅器71。
来自RF放大器8的RF信号(返回光的和信号)被提供给采样与保持电路64。采样与保持电路64在对应于擦除功率的定时采样RF信号。峰值保持电路65对采样与保持电路64的输出进行峰值保持。减法器66计算由峰值保持电路65保持的峰值电平和由采样与保持电路64保持的电平之间的差值。通过增益调节单元67对此差值进行增益调节，此后其被提供给加法器69。
此外，将通过系统控制器12设定在寄存器68中的擦除功率的目标值提供给加法器69。因此，相对于擦除功率的目标值进行增益调节的差值被加到加法器69上。由限幅器71经过低通滤波器70限制此相加结果的上限值，并且将其作为用于上述APC功能的擦除功率的目标值提供给减法器52和乘法器55与58。
使用这样的构造，擦除功率的目标值随例如划痕和污点而增加，并且仅对该部分增加激光功率。例如，如图4A中所示，依赖于划痕和污点，出现RF信号的振幅改变。
在采样与保持电路64中，对在擦除功率周期内的RF信号进行采样，即在激光器驱动信号没有被脉冲调制的周期内的RF信号进行采样。随着RF信号的振幅改变，采样与保持信号S2如图4B中所示。另一方面，在峰值保持电路65中，由于峰值保持电路65对采样与保持电路64的输出进行峰值保持，所以随着由于划痕等而引起的振幅改变，峰值保持信号S1和采样与保持信号S2之间的差值变大。因此，减法器66的输出S3变得如图4C中所示，此外，在加法器69中，响应于输出S3的电压被加到擦除功率的目标值上。结果，擦除功率的目标值(S4)变得如图4D中所示。
更特别地，作为计算信号S2与信号S1之间的差值S3以便将采样与保持信号S2峰值保持长期稳定的结果，信号电平局部降低(RF信号的局部振幅改变)的部分能够被提取出来，其中通过采样与保持正在被记录的RF信号的擦除部分而获得信号S2。信号电平局部降低的确切部分对应于由于划痕和指纹而引起反射光的光量降低的部分。
由于差值信号S3与在擦除电平处的目标值加在一起，所以擦除功率的目标值随光盘表面上的污点等而增加。具体地说，按照与记录表面上的不足的激光功率相对应的量，将擦除功率增加到目标值。
由于这样一种擦除功率的目标值作为APC功能的目标值被提供给减法器52和乘法器55与58，所以APC功能允许用于设定激光功率的偏压VRDC和电压VWDC1与VWDC2随污点等而增加。即，将激光功率增加与由于局部划痕和污点而引起的不足的激光功率相对应的量。
为阐述操作的目的而示出了图4的波形。作为在上述操作中改变擦除功率的目标值的结果，实际上，几乎看不到图4A中示出的任何振幅改变。即，依赖于环路增益的设置，擦除功率的目标值随RF信号的振幅改变而改变，并且增加激光功率。结果，振幅的下降即刻被恢复。
如何通过确定至于哪种程度的振幅改变是由划痕和污点引起的而做出响应(擦除功率的目标值的改变)取决于峰值保持电路65的时间常数的设置。
作为以此方式控制激光功率随局部划痕和污点而改变的结果，即使在光盘表面上有划痕等，也能用合适的激光功率执行记录，并且在重放期间能够获得具有少量错误的合适的RF信号。
在上文中，按照实施例描述了本发明，但在本发明中可做各种修改。例如，在构造方面，可以使用低通滤波器代替采样与保持电路64。
此外，尽管这些实施例已被描述为能兼容DVD系统盘的盘驱动器装置，但是本发明也能用于兼容其它类型的光盘介质的记录装置，比如CD系统和蓝光(blue-ray)光盘系统。
本领域普通技术人员应该可以理解的是，根据设计需要和其它因数可以做出多种调整、合并、子合并和改变，而这些变化的范围落在所附的权利要求或其等价物的范围之内。
权利要求
1.一种记录装置，包括光学头，通过将激光照射到光记录介质上来记录信息；激光功率控制电路，基于激光功率的目标值和由光学头检测的激光功率的监测信号，控制从光学头输出的激光功率；和目标值改变电路，检测照射到光记录介质上的激光的返回光的光量信号的振幅改变，并且基于检测到的振幅改变的量改变目标值。
2.如权利要求1所述的记录装置，其中激光功率控制电路基于激光功率的擦除功率周期内的监测信号和擦除功率的目标值来控制激光功率，和目标值改变电路通过将响应于相对于与激光功率的擦除功率相对应的返回光的振幅改变的量的值加到擦除功率的目标值上来改变目标值。
3.如权利要求1所述的记录装置，其中光学头将信息记录到相变光记录介质上。
4.一种记录方法，包括步骤通过将激光照射到光记录介质上来记录信息；基于激光功率的目标值和在执行记录步骤时激光功率的监测信号，控制激光功率；和检测在执行记录步骤时照射到光记录介质上的激光的返回光的光量信号的振幅改变，并且基于在执行记录步骤时检测到的振幅改变的量来改变目标值。
5.如权利要求4所述的记录方法，其中，在激光功率控制步骤中，基于激光功率的擦除功率周期内的监测信号和擦除功率的目标值来控制激光功率，和在目标值改变步骤中，通过将响应于相对于与激光功率的擦除功率相对应的返回光的振幅改变的量的值加到擦除功率的目标值上来改变目标值。
全文摘要
一种记录装置，包括光学头，通过将激光照射到光记录介质上来记录信息；激光功率控制电路，基于激光功率的目标值和由光学头检测的激光功率的监测信号，控制从光学头输出的激光功率；和目标值改变电路，检测照射到光记录介质上的激光的返回光的光量信号的振幅改变，并且基于检测到的振幅改变的量改变目标值。
文档编号G11B7/004GK1722241SQ20051007628
公开日2006年1月18日 申请日期2005年3月31日 优先权日2004年3月31日
发明者饭村绅一郎 申请人:索尼株式会社