专利名称：一种sd卡接口的测试电路、测试卡及测试系统的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及电子技术，尤其涉及一种SD卡接口测试电路、测试卡及测试系 统。
背景技术：
随着各种多媒体娱乐内容的丰富，消费者对所用的电子产品的储存容量要求越来 越高，SD卡作为储存装置已被广泛应用于各种电子设备中，其要么作为产品内置的储存装 置；要么作为其扩展储存装置，即在电子产品的本体100上设有SD接口，如需电子产品与外 部设备互换数据或增加电子产品本身储存容量时，就可以直接将SD卡插入电子产品上的 SD卡接口即可。为了保证SD卡工作稳定可靠，生产时，生产厂商一般都要对SD卡接口进行 测试，目前市场上对SD卡接口测试都是直接利用SD卡插入接品进行测试。这种方式不足 这处在于首先，由于SD卡体积很小，测试人员操作很不方便；其次，SD卡本身成本较高，且 用于测试时，SD卡容易磨损或烧毁，增加测试成本，并且当卡多时，容易丢失，不易管理。
实用新型内容本实用新型提供一种SD卡接口测试电路，所述测试电路能够节约测试成本、便于
管理、安全可靠。一种SD卡接口的测试电路，包括MCU、指示灯Dl，所述指示灯Dl与所述MCU的第一 接口电连接，被测试的SD卡接口通讯正常时，所述MCU发出信号控制所述指示灯Dl点亮。优先地，所述测试电路还包括指示灯D3，所述指示灯D3与电源VCC连接，上电后， 所述指示灯点亮。优先地，所述测试电路还包括指示灯D2，所述指示灯D2与所述MCU的第二接口电 连接，被测试的SD卡接口的通讯不正常时，所述MCU发出信号控制所述指示灯D2点亮。本实用新型还提供一种SD卡接口的测试卡，所述测试卡能降低测试成本、便于操
作、安全可靠。一种SD卡接口的测试卡，包括测试卡本体100、MCU、指示灯Dl，所述指示灯Dl与 所述MCU的第一接口电连接，被测试的SD卡接口通讯正常时，所述MCU发出信号控制所述 指示灯Dl点亮。优先地，所述测试卡还包括指示灯D3，所述指示灯D3与电源VCC连接，上电后，所 述指示灯点亮。优先地，所述测试卡还包括指示灯D2，所述指示灯D2与所述MCU的第二接口电连 接，被测试的SD卡接口的通讯不正常时，所述MCU发出信号控制所述指示灯D2点亮。本实用新型还提供一种SD卡接口的测试系统，所述测试系统能降低测试成本、便
于操作、安全可靠。一种SD卡接口的测试系统，包括测试卡、被测试终端200，所述测试卡与所述被测 试终端200通过设在所述被测试终端200上的SD卡接口连接，所述测试卡包括测试卡本体100、MCU、指示灯D1，所述指示灯Dl与所述MCU的第一接口电连接，被测试的SD卡接口通讯正常时，所述MCU发出信号控制所述指示灯Dl点亮。优先地，上述测试系统中SD卡接口的测试卡还包括指示灯D3，所述指示灯D3与电 源VCC连接，上电后，所述指示灯D3点亮。优先地，上述测试系统中SD卡接口的测试卡还包括指示灯D2，所述指示灯D2与所 述MCU的第二接口电连接，被测试的SD卡接口的通讯不正常时，所述MCU发出信号控制所 述指示灯D2点亮。采用本实用新型的技术方案，由于其直接通过MCU控制指示灯点亮与否，来判断 被测试的SD卡接口是否通讯正常，所以操作方便、可靠。且由于其直接使用专用的测试卡， 而不是用真实的SD卡，所以避免了使用真实的SD卡测试时，SD卡容易磨损或烧毁，增加测 试成本，且当卡多时，容易丢失，不易管理的缺陷，提高了测试效率，降低了测试成本，且便
于管理。
图1为本实用新型SD卡接口的测试电路结构示意图。图2为本实用新型SD卡接口的测试卡结构示意图。图3为本实用新型SD卡接口的测试系统结构示意图
具体实施方式
为使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚明白，下面结合实施例和附图， 对本发明进一步详细说明。本实用新型的技术方案，提供一种SD卡接口测试电路，所述电路包括MCU，所述 MCU电连接三个工作指示灯，测试时，所述MCU与所述被测试终端200的处理器串口连接，所 述被测试终端200的处理器通过与MCU通讯来控制三个指示灯亮与否，从而可通过三个指 示灯点亮情况来判断SD卡接口工作是否正常，其操作方便、可靠，节约了测试时间，降低了 测试成本。本技术方案可以通过图1所示的电路实现，下面对图1所示的电路进行详细说明。参见图1，为本实用新型的第一实施例，一种SD卡接口测试电路结构示意图，所述 测试电路包括MCU，所述MCU连接有三个工作状态指示灯Dl，D2，D3，其中D3通过电阻R1、 R4与VCC电连接；D2通过串接双极性NPN三极管Y3及电阻R3与MCU第二端口 P3. 3电连 接；Dl通过串接三极管Y2及电阻R2与MCU的第一端口 P3. 2电连接。工作时，VCC与被测 试终端200的一路电源相连接，被测试终端200开机时，如测试电路的电源正常，则指示灯 Dl点亮。反之，则电源不正常。当测试电路电源通电正常后，MCU通过串口与被测试终端 200的处理器进行通讯，被测试终端200的处理器首先通过SD_CMD发出一串校验指令给单 片机，单片机收到指令后通过SD_DATA0回复一串应答信号给被测试终端200的处理器。被 测试终端200的处理器收到MCU的应答信号后进行判断，若符合要求则通过SD_CMD发出OK 信号给MCU，若不符合则通过SD_CMD发出FAIL的信号给单片机。MCU若收到OK则发出一 个高电平信号到MCU第一端口 P3. 2，三极管Y2导通，从而点亮指示灯Dl，若收到FAIL则发 出一个高电平信号到第二端口 P3. 3，双极性NPN三极管Y3导通，从而点亮指示灯D2。测试时若Dl点亮则表示SD卡接口和SD卡通讯正常，所以SD卡接口正常；若指示灯D2亮则表 示SD卡接口和SD卡通讯失败，SD卡接口有问题。所以，采用这种SD测试电路，测试时只需观察测试电路中的指示灯点亮情况即可判断SD卡接口是否正常，操作简单方便，节约时 间。可以理解的是，上述实施例中的指示灯，可以为一个，即MCU只连接一个指示灯 Dl,当MCU与被测试终端200的处理器通过设在被测试终端200的SD卡接口连接后，MCU 通过串口与被测试终端200的处理器进行通讯，被测试终端200的处理器首先通过SD_CMD 发出一串校验指令给MCU，MCU收到指令后通过SD_DATA0回复一串应答信号给被测试终端 200的处理器。被测试终端200的处理器收到MCU的应答信号后进行判断，若符合要求则 通过SD_CMD发出OK信号给MCU，MCU若收到OK则发出一个高电平信号到MCU的第一端口 P3. 2，三极管Y2导通，从而点亮指示灯Dl。否则，被测试终端200处理器不给MCU信号，指 示灯Dl不点亮。可以理解的是，上述实施例中的指示灯也可以为两个，即MCU连接指示灯Dl、D3， 当MCU与被测试终端200的处理器通过设在被测试终端200的SD卡接口连接上电后，D3 指示灯点亮，MCU通过串口与被测试终端200的处理器进行通讯，被测试终端200的处理器 首先通过SD_CMD发出一串校验指令给单片机，单片机收到指令后通过SD_DATA0回复一串 应答信号给被测试终端200的处理器。被测试终端200的处理器收到MCU的应答信号后进 行判断，若符合要求则通过SD_CMD发出OK信号给MCU，MCU若收到OK则发出一个高电平信 号到MCU的第一端口 P3. 2，三极管Y2导通，从而点亮指示灯Dl。否则，被测试终端200的 处理器不给MCU信号，指示灯Dl不点亮。或MCU连接指示灯Dl、D2，当MCU与被测试终端 200的处理器通过设在被测试终端200的SD卡接口连接后，MCU通过串口与被测试终端200 的处理器进行通讯，被测试终端200的处理器首先发出一串校验指令给MCU，MCU收到指令 后回复一串应答信号给被测试终端200的处理器。被测试终端200的处理器收到MCU的应 答信号后进行判断，若符合要求则发出OK信号给MCU，若不符合则发出FAIL的信号给MCU。 MCU若收到OK则发出一个高电平信号到MCU对应于连接指示灯Dl的端口，测试卡中的指示 灯Dl点亮，若收到FAIL则发出一个高电平信号到MCU对应连接指示灯D2的端口，测试卡 中的指示灯D2点亮。本实用新型的技术方案，还提供一种使用上述测试电路的SD卡接口的测试卡，所 述测试卡包括MCU、三个指示灯，所述MCU电连接三个工作指示灯，测试时，所述MCU与所述 被测试终端200的处理器串口连接，所述被测试终端200的处理器通过与MCU通讯来控制 三个指示灯亮与否，从而可通过三个指示灯点亮情况来判断SD卡接口工作是否正常，其操 作方便、可靠，节约了测试时间，降低了测试成本。本技术方案可以通过图2所示的测试卡实现，下面对图2所示的测试卡进行详细 说明。参见图2，为本实用新型的第二实施例，一种SD卡接口的测试卡结构示意图，所述 测试卡包括MCU，所述MCU电连接三个指示灯Dl，D2，D3，具体连接电路如实施例一所述，这 里将不在赘述。测试时，将测试卡插入被测试终端200的SD卡接口，被测试终端200上电， 如测试卡电源正常，则指示灯D3点亮，测试卡上电正常后，MCU通过串口与被测试终端200 的处理器进行通讯，被测试终端200的处理器首先发出一串校验指令给MCU，MCU收到指令后回复一串应答信号给被测试终端200的处理器。被测试终端200的处理器收到MCU的应 答信号后进行判断，若符合要求则发出OK信号给MCU，若不符合则发出FAIL的信号给MCU。 MCU若收到OK则发出一个高电平信号到MCU对应于连接指示灯Dl的第一端口，测试卡中 的指示灯Dl点亮，若收到FAIL则发出一个高电平信号到MCU对应连接指示灯D2的第二端 口，测试卡中的指示灯D2点亮。测试时，指示灯Dl亮，则表示SD卡接口和SD卡通讯正常， 所以SD卡接口正常；若发现指示灯D2点亮，则表示SD卡接口和SD卡通讯失败，SD卡接口 有问题。所以，采用该SD接口的测试卡，测试时只需根据指示灯的点亮情况，就可以方便的 判断出被测试终端200的SD卡接口正常与否，其操作方便可靠，且避免了已有用真实SD卡 测试，损坏SD卡的风险，也省去了管理众多SD卡麻烦，从而提高了测试效率，节约了测试成 本。另外，为了测试时便于抓取测试卡，所述测试卡本体100 上还设有一孔101，便于 抓取时测试人员的手指伸入。本实用新型的技术方案，还提供一种使用上述测试卡的SD卡接口的测试系统，所 述SD卡接口测试系统包括测试卡、被测试终端200，所述测试卡上设有三个指示灯，测试 时，所述MCU与所述被测试终端200的处理器通过SD卡接口串口连接，MCU与所述被测试 终端200的处理器之间通讯控制三个指示灯亮与否，从而可通过三个指示灯点亮情况来判 断SD卡接口工作是否正常，其操作方便、可靠，节约了测试时间，降低了测试成本。本技术方案可以通过图3所示的测试系统实现，下面对图3所示的测试系统进行 详细说明。参见图3，为本实用新型的第三实施例，一种SD卡接口的测试系统结构示意图，所 述测试系统包括测试卡、被测试终端200，所述测试卡与所述被测试终端200通过设在所述 被测试终端200上的SD卡接口连接。所述MCU电连接三个指示灯Dl，D2，D3，具体连接电路如实施例一所述，这里将不 在赘述。测试时，将测试卡插入被测试终端200的SD卡接口，被测试终端200上电，如测试 卡电源正常，则指示灯D3点亮，测试卡上电正常后，MCU通过串口与被测试终端200的处理 器进行通讯，被测试终端200的处理器首先发出一串校验指令给MCU，MCU收到指令后回复 一串应答信号给被测试终端200的处理器。被测试终端200的处理器收到MCU的应答信号 后进行判断，若符合要求则发出OK信号给MCU，若不符合则发出FAIL的信号给MCU。MCU若 收到OK则发出一个高电平信号到MCU对应于电连接Dl的第一端口，测试卡中的指示灯Dl 点亮，若收到FAIL则发出一个高电平信号到MCU对应于电连接D2的第二端口，测试卡中的 指示灯D2点亮。测试时，指示灯Dl亮，则表示SD卡接口和SD卡通讯正常，所以SD卡接口 正常；若发现指示灯D3点亮，则表示SD卡接口和SD卡通讯失败，SD卡接口有问题。所以， 采用该SD接口的测试卡，测试时只需根据指示灯的点亮情况，就可以方便的判断出被测试 终端200的SD卡接口正常与否，其操作方便可靠，且避免了已有用真实SD卡测试，损坏SD 卡的风险，也省去了管理众多SD卡麻烦，从而提高了测试效率，节约了测试成本。以上所述的具体实施例，对本发明的目的、技术方案和有益效果进行了进一步详 细说明，所应理解的是，以上所述仅为本发明的具体实施例而已，并不用于限定本发明的保 护范围，凡在本发明的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本 发明的保护范围之内。
权利要求一种SD卡接口的测试电路，其特征在于，包括MCU、指示灯D1，所述指示灯D1与所述MCU的第一接口电连接，被测试的SD卡接口通讯正常时，所述MCU发出信号控制所述指示灯D1点亮。
2.如权利要求1所述的SD卡接口的测试电路，其特征在于，所述测试电路还包括指示 灯D3，所述指示灯D3与电源VCC连接，上电后，所述指示灯D3点亮。
3.如权利要求1所述的SD卡接口的测试电路，其特征在于，所述测试电路还包括指示 灯D2，所述指示灯D2与所述MCU的第二接口电连接，被测试的SD卡接口的通讯不正常时， 所述MCU发出信号控制所述指示灯D2点亮。
4.如权利要求1所述的SD卡接口的测试电路，其特征在于，所述指示灯Dl与所述MCU 之间还串接有双极性NPN三极管Y2及电阻R2，所述MCU输出高电频，所述双极性NPN三极 管Y2导通，所述指示灯Dl点亮。
5.如权利要求3所述的SD卡接口的测试电路，其特征在于，所述指示灯D2与所述MCU 之间还串接有双极性NPN三极管Y3及电阻R3，所述MCU输出高电平，所述双极性NPN三极 管Y3导通，所述指示灯D2点亮。
6.一种SD卡接口的测试卡，其特征在于，包括测试卡本体(100)，还包括如权利要求1 至5任一权项所述的测试电路。
7.如权利要求6所述的SD卡接口的测试卡，其特征在于，所述测试卡本体(100)上设 有便于抓取SD卡接口的测试卡的孔(101)。
8.—种SD卡接口的测试系统，其特征在于，包括SD接口的测试卡、被测试终端(200)， 所述SD接口的测试卡与所述被测试终端(200)通过设在所述被测试终端(200)上的SD卡 接口连接，所述SD接口的测试卡包括测试卡本体(100)、MCU、指示灯D1，所述指示灯Dl与 所述MCU的第一接口电连接，被测试的SD卡接口通讯正常时，被测试终端(200)的处理器 发信号给所述MCU，所述MCU发出信号控制所述指示灯Dl点亮。
9.如权利要求8所述SD卡接口的的测试系统，其特征在于，所述SD接口的测试卡还包 括指示灯D3，所述指示灯D3与电源VCC连接，上电后，所述指示灯点亮。
10.如权利要求9所述SD卡接口的的测试系统，其特征在于，所述SD接口的测试卡还 包括指示灯D2，所述指示灯D2与所述MCU的第二接口电连接，被测试的SD卡接口的通讯不 正常时，被测试终端(200)的处理器发信号给所述MCU，所述MCU发出信号控制所述指示灯 D2点亮。
11.如权利要求8所述SD卡接口的测试系统，其特征在于，所述SD测试卡本体(100) 上设有便于抓取SD卡接口的测试卡的孔(101)。
专利摘要一种SD卡接口的测试电路，包括MCU、指示灯D1，所述指示灯D1与所述MCU的第一接口电连接，被测试的SD卡接口通讯正常时，所述MCU发出信号控制所述指示灯D1点亮。采用本实用新型的技术方案，由于其直接通过MCU控制指示灯点亮与否，来判断被测试的SD卡接口是否通讯正常，所以操作方便、可靠。且由于其直接使用专用的测试卡，而不是用真实的SD卡，所以避免了使用真实的SD卡测试时，SD卡容易磨损或烧毁，增加测试成本，且当卡多时，容易丢失，不易管理的缺陷，提高了测试效率，降低了测试成本，且便于管理。
文档编号G11C7/10GK201562021SQ20092026084
公开日2010年8月25日 申请日期2009年11月26日 优先权日2009年11月26日
发明者何彦平, 张鹏程 申请人:深圳市同洲电子股份有限公司