专利名称：测试槽托架的制作方法
技术领域：
本发明涉及测试槽托架以及相关的设备、系统、和方法。
背景技术：
存储设备制造商通常会测试所制造的存储设备是否符合一系列要求。存在串行或并行测试大量存储设备的测试设备和技术。制造商往往会同时或分批地测试大量存储设备。存储设备测试系统通常包括一个或多个测试器支架，所述一个或多个测试器支架具有接纳要进行测试的存储设备的多个测试槽。在一些情况下，存储设备设置在托架中，所述托架用于将存储设备装载至测试支架和从测试支架卸载存储设备。调节紧邻存储设备的测试环境。对于精确的测试条件和存储设置的安全性而言，测试环境中的最小温度波动可为至关重要的。另外，具有较高容量、较快旋转速度和较小磁 头间隙的最新代磁盘驱动器对振动较为敏感。过度振动可影响测试结果的可靠性和电连接的完整性。在测试条件下，驱动器自身可通过支承结构或固定装置将振动传播到相邻单元。此振动“串扰”和外部振动源一起会造成碰撞故障、磁头松动和非重复性脱离磁道(NRRO)，从而可能导致较低的产量和增加的制造成本。当前的磁盘驱动器测试系统采用自动化和结构化支承系统，所述自动化和结构化支承系统会造成系统中的过度振动并且/或者需要大占用空间。
发明内容
整体上，本发明涉及测试槽托架以及相关的设备、系统、和方法。在一个方面，用于存储设备测试系统的测试支架包括多个测试槽托架。测试槽托架中的每一个包括多个测试槽组件。测试槽组件被构造为接纳和支承要进行测试的存储设备。测试支架还包括底座。底座包括多个托架容器，所述多个托架容器用于以可脱开的方式接纳和支承测试槽托架。测试槽托架彼此可在各个托架容器之间互换。实施例可包括下列一个或多个特征。在一些情况下，用于设置和保持温度的测试支架基础构造并不依赖于与各个测试槽托架相关的测试槽间距或测试槽类型。在一些实施例中，测试支架还可包括测试电子器件，所述测试电子器件被构造为将一个或多个测试程序传送至设置在测试槽组件内的存储设备。测试槽组件可包括连接接口板，所述连接接口板被构造为提供设置在测试槽组件内的存储设备与测试电子器件之间的电气连通。在一些情况下，测试槽组件各自通过隔离器支承在测试槽托架中的相关一个中。隔离器可被设置为抑制振动能量在测试槽组件与测试槽托架中的相关一个之间的传输。在一些实施例中，多个测试槽托架包括第一测试槽托架和第二测试槽托架。第一测试槽托架包括第一多个测试槽组件，并且第二测试槽托架包括第二多个测试槽组件。第一多个测试槽组件被构造为测试第一类型的存储设备(如7_的磁盘驱动器、9. 5mm的磁盘驱动器、12_的磁盘驱动器、或15_的磁盘驱动器)，并且第二多个测试槽组件被构造为测试不同于第一类型的存储设备的第二类型的存储设备(如7_的磁盘驱动器、9. 5mm的磁盘驱动器、12_的磁盘驱动器、或15_的磁盘驱动器)。也可以在测试槽托架内混合槽类型。测试槽也可被构造为测试不同类型的存储设备。例如，被构造为测试较长磁盘驱动器的测试槽也可用于测试较小磁盘驱动器。测试槽组件中的每一个可包括鼓风机组件，所述鼓风机组件被设置为将空气流传送穿过相关的测试槽组件。鼓风机组件可各自通过隔离器支承在测试槽托架中的相关一个中。隔离器可被设置为抑制振动能量在鼓风机组件与测试槽托架中的相关一个之间的传输。
在一些情况下，测试槽托架中的每一个包括至少一个鼓风机组件，所述至少一个鼓风机组件被设置为将空气流传送穿过相关的测试槽组件中的至少一个。在一些实施例中，测试槽组件中的至少一个被构造为测试不同类型的存储设备。例如，在一些实施例中，测试槽组件中的至少一个被构造为测试两种或更多种类型的存储设备，所述存储设备选自7mm的磁盘驱动器、9. 5mm的磁盘驱动器、12mm的磁盘驱动器、和15mm的磁盘驱动器。在另一方面，测试槽托架包括本体和由本体支承的多个测试槽组件，所述测试槽组件被构造为接纳和支承要进行测试的存储设备。测试槽托架还包括多个第一隔离器，所述多个第一隔离器被设置为抑制振动能量在测试槽组件与本体之间的传输。实施例可包括下列一个或多个特征。在一些实施例中，测试槽组件中的每一个包括存储设备输送器和测试槽，所述存储设备输送器包括被构造为接纳和支承存储设备的框架，所述测试槽包括用于接纳和支承存储设备输送器的测试隔室。在一些实施例中，测试槽还包括凸起，所述凸起接合用于支承本体内的测试槽的第一隔离器。在一些情况下，托架本体包括接合第一隔离器的凸起。测试槽托架还可包括鼓风机组件，所述鼓风机组件被设置为将空气流传送穿过相关的测试槽的测试隔室中的至少一个。在一些情况下，测试槽托架还包括多个第二隔离器，所述多个第二隔离器被设置为抑制振动能量在鼓风机组件与本体之间的传输。测试槽托架还可包括鼓风机和支承鼓风机的安装板。安装板可包括接合第二隔离器的凸起。在另一方面，提供了下述方法，其包括将包括第一多个测试槽的第一测试槽托架插入到测试支架的托架容器内；从托架容器移出第一测试槽托架；以及将包括第二多个测试槽的第二测试槽托架插入到托架容器内。实施例可包括下列一个或多个特征。所述方法还可包括当第一测试槽托架设置在托架容器内时使用第一多个测试槽中的一个来进行第一存储设备的功能测试。在一些实施例中，所述方法还包括当第二测试槽托架设置在托架容器内时使用第二多个测试槽中的一个来进行第二存储设备的功能测试。在一些情况下，所述方法还可包括将第一测试槽托架插入到测试支架的另一个托架容器内。所述方法还可包括将第一测试槽托架插入到另一个测试支架的另一个托架容器内。
在一些实施例中，第一多个测试槽组件被构造为测试第一类型的存储设备，并且第二多个测试槽组件被构造为测试不同于第一类型的存储设备的第二类型的存储设备。实施例可包括下列一个或多个优点。测试槽托架中的不同者可被构造为测试不同的类型的存储设备，从而允许在单个测试系统中测试不同类型的存储设备。测试槽托架彼此可在测试系统内互换，从而允许基于测试需要来修改和/或定制测试系统。此外，支架/系统基础构造可被构造为使得测试槽间距(即槽与槽之间的距离)和测试槽类型并不受限于诸如空气端口或热交换器邻接物之类的事物。
图I为存储设备测试系统的透视图。图2A为测试支架的透视图。图2B为得自图2A的测试支架的托架容器的详细透视图。图3A和3B为测试槽托架的透视图。图4为测试槽组件的透视图。图5为存储设备测试系统的俯视图。图6为存储设备测试系统的透视图。图7A和7B为存储设备输送器的透视图。图8A为支承存储设备的存储设备输送器的透视图。图SB为接纳存储设备的存储设备输送器的透视图。图SC为携带被对准插入到测试槽内的存储设备的存储设备输送器的透视图。图9为测试电路的示意图。图10为测试槽托架的本体的透视图。图IlA和IlB为得自图10的本体的主体构件的透视图。图12A和12B为得自图10的本体的第一侧支承构件的透视图。图13A和13B为得自图10的本体的第二侧支承构件的透视图。图14A和14B为得自图10的本体的第三侧支承构件的透视图。图15A和15B为测试槽壳体的透视图。图16为测试槽的透视图。图17为连接接口板的透视图。图18A和18B为鼓风机组件的透视图。不同附图中的类似参考符号表示类似的元件。
具体实施例方式系统概述如图I所示，存储设备测试系统10包括多个测试支架100(例如，图中示出了 10个测试支架)、转运站200、和自动控制装置300。如图2A和2B所示，各个测试支架100通常包括底座102。底座102可由多个结构构件104 (如成形的金属片、挤出的铝、钢管材、和/或复合构件)来构造，所述多个结构构件104被紧固在一起并且共同限定多个托架容器106。
各个托架容器106均可支承测试槽托架110。如图3A和3B所示，各个测试槽托架110均支承多个测试槽组件120。测试槽托架110中的不同者可被构造为进行不同类型的测试和/或测试不同类型的存储设备。测试槽托架110彼此也可在测试系统10内的多个托架容器106中互换，由此允许基于测试需要来修改和/或定制测试系统10。在图2A和2B所示的实例中，空气导管101提供相应测试支架100的各个测试槽组件120与空气热交换器103之间的气动连通。空气热交换器103设置在远离所接纳测试槽托架110的托架容器106的下方。可与本文所述的那些相结合的测试支架基础构造和特征的其他细节也可存在于与本文同时提交的、名称为“STORAGE DEVICE TESTING SYSTEM COOLING” (存储设备测试系统冷却)、代理人档案号18523-0103001、发明人Brian S. Merrow、并且具有指定序列号的美国专利申请中。如本文所用的存储设备包括磁盘驱动器、固态驱动器、存储器设备、以及受益于异 步测试的任何设备。磁盘驱动器通常为在具有磁性表面的快速旋转盘片上存储数字编码数据的非易失性存储设备。固态驱动器(SSD)为使用固态存储器存储永久性数据的数据存储设备。使用SRAM或DRAM (而非闪存)的SSD通常称为RAM驱动器。术语“固态”一般来讲用于区分固态电子学设备和电机设备。如图4所示，各个测试槽组件120包括存储设备输送器400、测试槽500、和相关的鼓风机组件700。存储设备输送器400可用于捕集存储设备600 (如从转运站200)以及将存储设备600输送至测试槽500中的一个来进行测试。参见图5和6，自动控制装置300包括机械臂310和设置在机械臂310远端的机械手312 (图5)。机械臂310限定了垂直于地板表面316的第一轴线314 (图6)，可操作机械臂310以在自动控制装置操作区域318内按预定弧线围绕第一轴线314旋转以及从第一轴线314径向延伸。机械臂310被构造为通过在转运站200与测试支架100之间输送存储设备600来独立地为每个测试槽500提供服务。在一些实施例中，机械臂310被构造为使用机械手312从测试槽500中的一个移出存储设备输送器400，然后使用存储设备输送器400从转运站200获取存储备600，接着将存储设备输送器400及其中的存储设备600返回到测试槽500以测试存储设备600。测试之后，机械臂310从测试槽500中的一个取回存储设备输送器400及支承的存储设备600，然后通过操纵存储设备输送器400 (即使用机械手312)将其返回到转运站200 (或将其移至测试槽500中的另一个)。在一些实施例中，机械臂310被构造为使用机械手312从转运站200获取存储设备600，然后将存储设备600移至测试槽500，并且通过将存储设备600设置在存储设备输送器400中并接着将存储设备输送器插入到测试槽500中来将存储设备600设置在测试槽500中。测试之后，机械臂310使用机械手312从存储设备输送器400移出存储设备600并将其返回到转运站200。参见图7A和7B，存储设备输送器400包括框架410和夹紧机构450。框架410包括面板412。如图7A所示，面板412沿着第一表面414限定凹陷416。凹陷416可以可脱开的方式被机械臂310的机械手312接合(图5)，从而使得机械臂310可抓取和移动输送器400。使用期间，利用自动控制装置300将一个存储设备输送器400从测试槽500中的一个移出(如通过使用自动控制装置300的机械手312来抓取或者说是接合输送器400的凹陷416)。框架410限定了由侧壁418和底板420形成的大致U形的开口 415。参见图8A、8B、和8C，在存储设备600设置在存储设备输送器400的框架410内适当位置的情况下，存储设备输送器400和存储设备600 —起可通过机械臂310 (图5)进行移动，以设置到测试槽500中的一个内。机械手312 (图5)也被构造为引发设置在存储设备输送器400中的夹紧机构450的致动。致动夹紧机构450可抑制存储设备600相对于存储设备输送器400的移动。释放夹紧机构450允许将存储设备输送器400插入到测试槽500中的一个内，直至存储设备600处于测试位置(其中存储设备连接器610接合测试槽连接器574)(图16)。夹紧机构450也可被构造为接合测试槽500，一旦接纳在其中，就可抑制存储设备输送器400相对于测试槽500的移动。在此类具体实施中，一旦存储设备600处于测试位置，夹紧机构450即再次接合(如通过机械手312)，以抑制存储设备输送器400相对于测试槽500的移动。输送器400以此方式的夹紧可有助于减少测试期间的振动。输送器400和夹紧机构450的其他细节以及可与本文所述的那些相结合的其他细节和特征可见于2009年7月15日提交的、名称为“CONDUCTIVE HEATING”(传导加热)、代理人档案号18523-0097001、发明人Brian S. Merrow等人、并且具有指定序列号12/503，593的美国专利申请中，该专利申请的全部内容以引用方式并入本文。参见图9，在一些具体实施中，存储设备测试系统10还可包括至少一台与测试槽500连通的计算机130。计算机130可被构造为提供存储设备600的库存控制和/或提供 用于控制存储设备测试系统10的自动化接口。测试电子器件160与各个测试槽500连通。测试电子器件160与设置在各个测试槽500内的连接接口电路182电气连通。这些连接接口电路182被设置为与接纳在相关的测试槽500内的存储设备600电气连通，并由此提供测试电子器件160与测试槽500内的存储设备600之间的连通(如)以便执行测试程序。测试程序可包括功能测试，所述功能测试可包括测试存储设备600接收的功率、工作温度、读写数据的能力以及在不同温度下读写数据的能力(例如在热的时候读取数据并在冷的时候写数据，或反之亦然)。功能测试可以测试存储设备600的每个存储扇区或仅随机采样测试。 功能测试可以测试存储设备600的工作温度以及与存储设备600通信的数据完整性。如图9所示，电力系统170为存储设备测试系统10供电。电力系统170可监控和/或调节对测试槽500中接纳的存储设备600的电力供应。测试槽托架测试槽托架110中的全部均可具有相同的通用构造。测试槽托架110 (图3)通常包括支承多个测试槽组件120 (图4)的本体112。参见图10，本体112包括主体构件113和侧支承构件(即第一、第二、和第三侧支承构件114、115、116)。主体构件113和侧支承构件114、115、116可各自由一个或多个金属片和/或模制塑料部分形成。参见图IlA和11B，主体构件113包括侧壁部分117、后壁部分118、顶壁部分119、和底壁部分130。侧壁部分117包括多个第一小孔131 (图11A)和多个第二小孔132 (图11A)。侧壁部分117还包括多个第一隔离器(如第一垫圈133)和多个第二隔离器(如第二垫圈134)，所述多个第一隔离器各自设置在第一小孔131中的一个内，所述多个第二隔离器各自设置在第二小孔132中的一个内。第一和第二垫圈133、134充当本体112与测试槽组件120之间的接口。第一垫圈133可由(如)肖氏硬度A在约20和约60之间的机械振动隔离材料(例如热塑性乙烯树脂)形成。第二垫圈134可由(如)肖氏硬度A在约20和约60之间的机械振动隔离材料(例如热塑性乙烯树脂)形成。后壁部分118包括多个矩形开口 135和多个螺纹孔136，所述多个螺纹孔136接纳安装硬件(如螺钉)以用于将第二侧支承构件115固定至后壁部分118。顶壁部分119包括具有螺纹孔138a、138b的一对安装接片137a、137b，所述螺纹孔138a、138b接纳安装硬件(如螺钉)以用于连接第一和第二侧支承构件114、115。顶壁部分119还包括通孔139，所述通孔139接纳安装硬件(如螺钉)以用于将第三侧支承构件116连接至顶壁部分119。底壁部分130包括具有螺纹孔141的安装接片140，所述螺纹孔141接纳安装硬件(如螺钉)以用于将第三侧支承构件116连接至底壁部分130。底壁部分130还包括通孔142，所述通孔142接纳安装硬件(如螺钉)以用于将第一侧支承构件114连接至底壁部分130。参见图12A，第一侧支承构件114包括多个第一小孔131和多个第一隔离器(如第一垫圈133)，所述多个第一隔离器各自设置在第一小孔131中的一个内。第一侧支承构件114还包括通孔143，所述通孔143对准主体构件113的螺纹孔138a并且允许第一侧支承构件114安装至主体构件113。如图12B所示，第一侧支承构件114还包括具有螺纹孔145 的凸缘144。螺纹孔145对准底壁部分130中的通孔142并且接纳安装硬件(如螺钉)以用于将第一侧支承构件114固定至底壁部分130。参见图13A，第二侧支承构件115包括多个凹陷146和多个第一隔离器(如第一垫圈133)，所述多个第一隔离器各自设置在凹陷146中的一个内。第二侧支承构件115还包括通孔147，所述通孔147对准主体构件113的螺纹孔138b并且允许第二侧支承构件115安装至主体构件113。如图13B所示，第二侧支承构件115还包括具有通孔149的唇缘148。通孔149对准后壁部分118中的螺纹孔136 (图11A)并且接纳安装硬件(如螺钉)以用于将第二侧支承构件115固定至后壁部分118。参见图14A和14B，第三侧支承构件116包括多个第二小孔132和多个第二隔离器(如第二垫圈134)，所述多个第二隔离器各自设置在第二小孔132中的一个内。第三侧支承构件116还包括具有螺纹孔151的安装接片150。螺纹孔151对准顶壁部分119中的通孔139 (图11A)，由此允许第三侧支承构件116连接至顶壁部分119 (如利用螺钉)。第三侧支承构件116还包括通孔152。通孔152对准底壁部分130中的螺纹孔141 (图11A)，由此允许第三侧支承构件116连接至底壁部分130 (如利用螺钉)。主体构件113和侧支承构件114、115、116 —起限定用于接纳测试槽组件120的腔体153(图10)。测试槽组件120的对应特征件接合主体构件113和支承构件114、115、116中的第一和第二垫圈133、134，这又允许测试槽组件120支承在腔体153内(例如，如图3所示)。参见图15A和15B，测试槽500中的每一个包括具有基座552、直立壁553、和覆盖件554的壳体550。在图示实施例中，覆盖件554与基座552和直立壁553 —体地模制在一起。壳体550限定包括后部557和前部558的内部腔体556。前部558限定用于接纳和支承存储设备输送器400中的一个的测试隔室560。直立壁533包括向外延伸的凸起562。凸起562接合本体112中的第一垫圈133(图10)并由此有助于将测试槽500支承在本体112内。更具体地讲，当与本体112组装时，凸起562各自位于第一垫圈133中的对应垫圈的小孔154 (图11A)内。由机械振动隔离材料形成的第一垫圈133抑制振动在测试槽500与本体112之间的传输。
基座552、直立壁553、和覆盖件554 —起限定第一开口端561，所述第一开口端561提供测试隔室560的入口(如用于插入和移出存储设备输送器400)。如图16所示，内部腔体556的后部557容纳连接接口板570，所述连接接口板570携带相关的连接接口电路182 (图9)。连接接口板570在测试隔室560与壳体550的第二端567之间延伸。参见图17，沿着连接接口板570的远端573设置有多个电连接器572。电连接器572提供连接接口电路182与相关的测试支架100中的测试电子器件160 (图9)之间的电气连通。当测试槽500安装在本体112 (图10)内时，可通过主体构件113的后壁部分118中的矩形开口 135触及电连接器572。连接接口板570还包括设置在连接接口板570的近端575处的测试槽连接器574，所述测试槽连接器574提供连接接口电路182与测试槽500中的存储设备600之间的电气连通。如图18A和18B所不,鼓风机组件700中的每一个包括鼓风机710 (如鼓风机)和 支承鼓风机710的安装板720。鼓风机组件700被设置为将空气流传送穿过相关的测试槽500的测试隔室560，如以用于对流冷却设置在测试隔室560内的存储设备600。就这一点而言，鼓风机710被设置为通过存储设备输送器400的面板412中的空气入口 417 (图7A和7B)吸入空气流并且通过测试槽托架110的后壁部分118中的矩形开口 135 (图11A)排出空气流。鼓风机710可电连接至相关的测试槽500的连接接口板570 (图16)以用于与测试电子器件160连通。合适的鼓风机以型号BFB04512HHA得自Delta Electronics公司。安装板720包括多个凸起722。凸起722接合本体112中的第二垫圈134(图10)并由此有助于将鼓风机组件700支承在本体112内。更具体地讲，当与本体112组装时，凸起722各自位于第二垫圈134中的对应垫圈的小孔155 (图10)内。由机械振动隔离材料形成的第二垫圈134抑制振动在鼓风机组件700与本体112之间的传输。测试槽组件120中的不同组件可被构造为测试不同类型的存储设备(如69. 85mmX7-15mmX IOOmm的磁盘驱动器)，并且不同的测试槽组件120可设置在测试槽托架110中的不同托架内以使得测试槽托架110中的每一个支承被构造为测试特定类型的存储设备的相关的测试槽组件120。例如，在一些实施例中，各个测试槽托架110中的每一个被构造为测试7_的磁盘驱动器、9. 5mm的磁盘驱动器、12_的磁盘驱动器、或15_的磁盘驱动器。被构造为测试9. 5mm的磁盘驱动器的测试槽托架110可包括总计14个测试槽组件120(每个托架)，其中相关的测试槽组件120中的每一个被构造为测试9. 5mm的磁盘驱动器。被构造为测试12_的磁盘驱动器的测试槽托架120可包括总计12个测试槽组件120(每个托架)，其中相关的测试槽组件120中的每一个被构造为测试12mm的磁盘驱动器。被构造为测试15_的磁盘驱动器的测试槽托架120可包括总计7个测试槽组件120 (每个托架)，其中相关的测试槽组件120中的每一个被构造为测试15_的磁盘驱动器。各个测试槽组件120可具有不同的尺寸，这取决于它们被构造为进行测试的存储设备的具体类型。然而，不管各个测试槽托架110支承何种类型的测试槽组件120，测试槽托架110中的全部均可具有相同的整体尺寸并且被构造为彼此可在测试支架100的多个托架容器110中互换，由此允许基于测试需要来修改和/或定制测试系统10。在一些实施例中，各个测试槽500可被用于测试不同类型的存储设备。例如在一些情况下，被构造为测试较长存储设备的测试槽500也可用于测试较短存储设备。例如，被构造为测试15mm的磁盘驱动器的测试槽500也可用于测试12mm、9. 5mm、和/或7mm的磁盘驱动器。可与本文所述的那些相结合的其他细节和特征可见于2009年7月15日提交的、名称为“CONDUCTIVE TEMPERATURE SENSING”(传导温度感测)、代理人档案号18523-0098001、发明人Brian S. Merrow等人、并且具有指定序列号12/503,687的美国专利申请中。可与本文所述的那些相结合的其他细节和特征也可见于与本文同时提交的、名称为“STORAGE DEVICE TESTING SYSTEM COOLING”(存储设备测试系统冷却)、代理人档案号18523-0103001、发明人Brian S. Merrow、并且具有指定序列号的美国专利申请中。上述全部专利申请的整个内容均以引用方式并入本文。已经描述了多个具体实施。然而，应当理解，可以在不脱离本公开精神和范围的前提下进行多种修改。例如，位于测试槽上的接合本体中的隔离器的凸起可被实施为位于本
体上的接合测试槽上的隔离器的凸起。因此，其他具体实施在以下权利要求书的范围内。
权利要求
1.一种测试支架,包括 多个测试槽托架，所述测试槽托架中的每一个包括 多个测试槽组件，所述多个测试槽组件被构造为接纳和支承要进行测试的存储设备；以及 底座，所述底座包括多个托架容器，所述多个托架容器用于以可脱开的方式接纳和支承所述测试槽托架， 其中所述测试槽托架彼此可在所述托架容器之间互换。
2.根据权利要求I所述的测试支架，其中用于设置和保持温度的测试支架基础构造并不依赖于与所述各个测试槽托架相关的测试槽间距或测试槽类型。
3.根据权利要求I所述的测试支架，还包括测试电子器件，所述测试电子器件被构造为将一个或多个测试程序传送至设置在所述测试槽组件内的存储设备。
4.根据权利要求3所述的测试支架，其中所述测试槽组件包括连接接口板，所述连接接口板被构造为提供设置在所述测试槽组件内的存储设备与所述测试电子器件之间的电气连通。
5.根据权利要求I所述的测试支架，其中所述测试槽组件各自通过隔离器支承在所述测试槽托架中的相关一个内，其中所述隔离器被设置为抑制振动能量在所述测试槽组件与所述测试槽托架中的相关一个之间的传输。
6.根据权利要求I所述的测试支架，其中所述测试槽组件中的至少一个被构造为测试不同类型的存储设备。
7.根据权利要求I所述的测试支架，其中所述测试槽组件中的至少一个被构造为测试两种或更多种类型的存储设备，所述两种或更多种类型的存储设备选自7mm的磁盘驱动器、9. 5mm的磁盘驱动器、12mm的磁盘驱动器、和15mm的磁盘驱动器。
8.根据权利要求I所述的测试支架， 其中所述多个测试槽托架包括 第一测试槽托架,所述第一测试槽托架包括第一多个测试槽组件；和 第二测试槽托架，所述第二测试槽托架包括第二多个测试槽组件，并且 其中所述第一多个测试槽组件被构造为测试第一类型的存储设备，并且其中所述第二多个测试槽组件被构造为测试不同于所述第一类型的存储设备的第二类型的存储设备。
9.根据权利要求8所述的测试支架，其中所述第一类型的存储设备选自7mm的磁盘驱动器、9. 5mm的磁盘驱动器、12mm的磁盘驱动器、和15mm的磁盘驱动器。
10.根据权利要求8所述的测试支架，其中所述第二类型的存储设备选自7mm的磁盘驱动器、9. 5mm的磁盘驱动器、12mm的磁盘驱动器、和15mm的磁盘驱动器。
11.根据权利要求I所述的测试支架，其中所述测试槽组件中的每一个包括 鼓风机组件，所述鼓风机组件被设置为将空气流传送穿过所述相关的测试槽组件。
12.根据权利要求11所述的测试支架，其中所述鼓风机组件各自通过隔离器支承在所述测试槽托架中的相关一个内，其中所述隔离器被设置为抑制振动能量在所述鼓风机组件与所述测试槽托架中的相关一个之间的传输。
13.根据权利要求I所述的测试支架,其中所述测试槽托架中的每一个包括 至少一个鼓风机组件，所述至少一个鼓风机组件被设置为将空气流传送穿过所述相关的测试槽组件中的至少一个。
14.一种测试槽托架，包括 本体； 多个测试槽组件，所述多个测试槽组件由所述本体支承，所述测试槽组件被构造为接纳和支承要进行测试的存储设备； 多个第一隔离器，所述多个第一隔离器被设置为抑制振动能量在所述测试槽组件与所述本体之间的传输。
15.根据权利要求14所述的测试槽托架， 其中所述测试槽组件中的每一个包括 存储设备输送器，所述存储设备输送器包括被构造为接纳和支承存储设备的框架；以及 测试槽，所述测试槽包括用于接纳和支承所述存储设备输送器的测试隔室。
16.根据权利要求15所述的测试槽托架，其中所述测试槽包括接合所述第一隔离器的凸起。
17.根据权利要求15所述的测试槽托架，其中所述托架本体包括接合所述第一隔离器的凸起。
18.根据权利要求15所述的测试槽托架，其中所述测试槽托架还包括 至少一个鼓风机组件，所述至少一个鼓风机组件被设置为将空气流传送穿过所述相关的测试槽的所述测试隔室中的至少一个。
19.根据权利要求15所述的测试槽托架，其中所述测试槽托架还包括 至少一个鼓风机组件，所述至少一个鼓风机组件被设置为将空气流传送穿过所述相关的测试槽的所述测试隔室中的至少一个；以及 一个或多个第二隔离器，所述一个或多个第二隔离器被设置为抑制振动能量在所述鼓风机组件与所述本体之间的传输。
20.根据权利要求15所述的测试槽托架，其中所述测试槽托架还包括 鼓风机；以及 安装板，所述安装板支承所述鼓风机， 其中所述安装板包括接合所述第二隔离器的凸起。
21.—种方法,包括 将包括第一多个测试槽的第一测试槽托架插入到测试支架的托架容器内； 从所述托架容器移出所述第一测试槽托架；以及 将包括第二多个测试槽的第二测试槽托架插入到所述托架容器内。
22.根据权利要求21所述的方法，还包括当所述第一测试槽托架被设置在所述托架容器内时使用所述第一多个测试槽中的一个来进行第一存储设备的功能测试。
23.根据权利要求21所述的方法，还包括当所述第二测试槽托架被设置在所述托架容器内时使用所述第二多个测试槽中的一个来进行第二存储设备的功能测试。
24.根据权利要求21所述的方法，还包括将所述第一测试槽托架插入到所述测试支架的另一个托架容器内。
25.根据权利要求21所述的方法，还包括将所述第一测试槽托架插入到另一个测试支架的另一个托架容器内。
26.根据权利要求21所述的方法，其中所述第一多个测试槽组件被构造为测试第一类型的存储设备，并且其中所述第二多个测试槽组件被构造为测试不同于所述第一类型的存储设备的第二类型的存储设备。
全文摘要
本发明公开了用于存储设备测试系统的测试支架，所述测试支架包括多个测试槽托架。所述测试槽托架中的每一个包括多个测试槽组件。所述测试槽组件被构造为接纳和支承要进行测试的存储设备。所述测试支架还包括底座。所述底座包括多个托架容器，所述多个托架容器用于以可脱开的方式接纳和支承所述测试槽托架。所述测试槽托架彼此可在所述各个托架容器之间互换。
文档编号G11B20/18GK102741931SQ201180007945
公开日2012年10月17日 申请日期2011年2月1日 优先权日2010年2月2日
发明者布莱恩·S·梅洛, 瓦尔奎里奥·N·卡瓦略, 约翰·P·托斯卡诺 申请人:泰拉丁公司