技术特征：
技术总结
本发明提供一种访问时间测量电路和访问时间测量方法。所述访问时间测量电路包括：多个测量支路，每一所述测量支路均包括依次串联连接的静态随机存取存储器、辅助延迟链模块和延迟触发模块；以及一参考支路，所述参考支路的输出端分别连接至每一所述延迟触发模块的第一输入端。本发明的访问时间测量电路和访问时间测量方法可以同时测量多个SRAM的访问时间，大大缩短了测试时间，并且提高了测量的精度。
技术研发人员：仇超文
受保护的技术使用者：中芯国际集成电路制造（上海）有限公司;中芯国际集成电路制造（北京）有限公司
技术研发日：2016.08.08
技术公布日：2018.02.16