技术总结
本发明公开了一种存储芯片性能的测试方法及装置。该方法包括：向待测试存储芯片执行设定数量的全盘写入和读取操作；在全盘写入的过程中，对待测试存储芯片所包括的每个存储单元，进行擦除次数计数并记录；在全盘读取之后，将读取数据与写入数据进行比对，以记录每个存储单元的错误位数；在全盘写入和读取的过程中，记录写入性能参数和读取性能参数；重复执行上述测试过程，直至所述待测试存储芯片老化失效。通过本发明的技术方案，能够对存储芯片的老化性能进行有效测试。
技术研发人员：冯颖俏;
受保护的技术使用者：北京京存技术有限公司;
技术研发日：2016.12.06
技术公布日：2018.06.12