技术特征：
技术总结
本发明提供一种存储器模拟测试方法，涉及数据测试技术领域，一种存储器模拟测试方法，包括以下步骤：S1：选择存储器上至少一个区域为测试区域；S2：将此区域进行无效标记；S3：烧录嵌入式软件至所述存储器；S4：判断嵌入式软件是否正常运行；如果嵌入式软件可以正常运行，则存储器可用。本发明一种存储器模拟测试方法简单实用，测试准确，可以有效寻找损坏区域，并可以有效判断测试存储器是否依然可用。
技术研发人员：周涵
受保护的技术使用者：宣城新维保网络技术有限公司
技术研发日：2017.12.20
技术公布日：2018.05.15