技术特征：
技术总结
基于LabVIEW的SRAM读写间接测试装置及方法，用于解决现有的直接读写SRAM的测试界面不友好；直接读写SRAM的控制配置不灵活的技术问题。本发明采用FPGA电路模块接收从串口发送的SRAM信号参数数据；采用被测芯片IS61LV10248电路模块作为被测对象；采用基于LabVIEW的SRAM读写间接测试控制面板模块编写前面板人机交互界面；采用写操作控制命令模块执行SRAM写操作；采用读取数据命令模块执行SRAM读操作；采用底层串口驱动模块进行数据交互。本发明的有益效果是：测试界面简单，直观，能很方便地创建用户界面；时序参数调整方便；集成度高，可靠性好，外部的干扰较少。
技术研发人员：党学立;王雯
受保护的技术使用者：榆林学院
技术研发日：2018.03.29
技术公布日：2018.07.06