专利名称：Ic测试分类机吸持装置的套合件的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及集成电路(IC)测试分类机，尤其涉及一种IC测试分类机吸持装置的套合件。
BGA或PGA型式的IC在制造完成后，需再用IC测试分类机作功能测试，将瑕疵品检测出来。请参阅
图1，IC测试分类机包括有一吸持装置11、一测试板12、及一测试座13，其中该吸持装置11的一端连接一机械手臂(图未示)，另一端设有一吸盘111可吸取IC15，内部设有一空气管路112至该吸盘111，藉由该空气管路112提供吸气，形成吸取IC的吸力。请参阅图2，该吸持装置11为了定位IC15，其外围套设有一套合件14，该套合件14一体成形有一固定板141及一套合环壁142，该固定板141的中间设有一方形的开口143，四角落设有四个穿孔144，藉以与该吸持装置11固定，该四个穿孔144间对称设有四个穿孔145；该套合环壁142对应于该固定板141的开口143垂直延伸。该测试板12用以与IC15电连接，测试IC功能是否正常。该测试座13设于测试板12上，其上对应该套合件14的四个穿孔145设有四个卡梢131，当该吸持装置11吸取IC15至该测试板12作测试时该卡梢131可穿过该套合件14的穿孔145，藉以定位IC15放于该测试板12的位置。该IC15的外形包括有一电路板151及凸出的胶体152，该电路板151设有多数间隔排列的锡球153，该套合环壁142的外端内缘即套合该IC15的胶体152。由上述的说明可知IC测试分类机吸持该IC15至该测试板12作测试的位置藉由该套合件14作定位。
由于习知套合件14的套合环壁142外端内缘未设有斜角，为了方便与IC15的胶体152套合，该套合环壁142之内宽必然需略大于该IC15的胶体152，如此使得两者在套合后则形成有间隙b，该吸持装置11在吸持该IC15作测试时难以准确定位，而且由于目前IC的锡球153间距仅有1.27mm，甚为精密，更加使得因定位上的误差，而产生不正确的测试结果，造成产品的损失，即原本若是应该正常的IC，若是在测试时定位不良，会使锡球与测试板的接触有误差，因而可能会得到不良的测试结果，进而被误判为不良品。
本实用新型的目的在于克服以上现有技术的不足，提供一种可配合IC的外形边缘斜角作套合，定位良好，能避免在测试上造成误差的IC测试分类机吸持装置的套合件。
为达上述目的，本实用新型的IC测试分类机吸持装置的套合件，套合固定于吸持装置吸持IC的一端，藉以套合IC，其一体地设有一中间设有一开口的固定板，固定板的一面与吸持装置固定；和一以固定板的开口为中心向另一面垂直延伸的套合环壁，套合环壁外端的内壁设有配合IC的外形的倾斜面。
藉由以上构造，该套合件与IC藉由倾面的接合，即可形成易于导入，不需保留有方便套合的间隙，故定位IC时不会有偏位，可达到测试的准确性。
本实用新型的上述及其它目的、优点和特色由以下较佳实施例并结合附图进行详细说明。
图1为习知IC测试分类机的测试时剖面侧视图。
图2为习知IC测试分类机的吸持装置的套合件立体图。
图3为本实用新型较佳实施例的吸持装置的套合件立体图。
图4为本实用新型较佳实施例的测试时剖面侧视图。
图中标号说明11---吸持装置12---测试板13---测试座 131---卡梢15---IC 151---电路板152---胶体 153---锡球2---套合件21---固定板 22---开口23---穿孔24---穿孔25---套合环壁251---倾斜面请参阅图3、4为本实用新型的一较佳实施例，该IC测试分类机包括有一吸持装置11、一测试板12、及一测试座13，此部份为公知的，不在此重复赘言，本实用新型的套合件2套合固定于该吸持装置11吸持IC15的一端，藉以套合IC15，一体地设有
一固定板21，中间设有一开口22，四角落设有四个穿孔23，藉以与该吸持装置11固定，该四个穿孔23间对称设有四个穿孔24，藉以与测试座13的卡梢131卡定；及一套合环壁25对应于该固定板21的开口22垂直延伸，使得该开口22位于该套合环壁25之中，其外端的内壁设有与垂直壁面呈30度角的倾斜面251，藉以配合该IC15的外形，由于该集成电路(IC)的胶体152的边缘亦设有30度倾面。
藉由以上构造，当吸持装置11吸持IC15时，该套合件套合环壁25的倾斜面251可与IC的胶体152紧密接合，由于两者藉由倾面的接合，即可藉倾面而形成易于导入，不需再于两者间如现有技术为了方便套合而保留有间隙，如此不会因间隙而有偏位，故可达到极为稳固且正确的定位效果，IC的锡球153与测试板能有正确的接触，达到正确的测试，不会造成因锡球的偏位造成测试上误判的损失。
在较佳实施例详细说明中所提出的具体实施例，仅为了说明本实用新型的技术内容，并非限制本实用新型的保护范围，凡依本实用新型的精神及权利要求所作的种种变化实施，均属本实用新型的保护范围。
权利要求1.一种集成电路(IC)测试分类机吸持装置的套合件，它套合固定在所述吸持装置吸持IC的一端，其一体地设有一中间设有一开口的固定板，所述固定板的一面与所述吸持装置固定；和一以所述固定板的开口为中心向另一面垂直延伸的套合环壁，其特征在于所述套合环壁外端的内壁设有配合IC的外形的倾斜面。
2.如权利要求1所述的IC测试分类机吸持装置的套合件，其特征在于所述套合环壁的倾斜面与壁面呈30度角。
专利摘要本实用新型提供一种集成电路(IC)测试分类机吸持装置的套合件,套合固定在吸持装置吸持IC的一端,其一体地设有:一中间设有开口的固定板,固定板的一面与吸持装置固定;和以所述固定板的开口为中心向另一面垂直延伸的套合环壁,套合环壁外端的内壁设有配合IC外形的倾斜面。藉由以上构造,套合件与IC藉由倾斜面接合,可形成易于导入,无保留方便套合的间隙,故定位IC时不会有偏位,达到测试的准确性。
文档编号H01L21/66GK2483835SQ0120801
公开日2002年3月27日 申请日期2001年3月16日 优先权日2001年3月16日
发明者谢来福, 黄清荣, 廖沐盛, 谢宜璋 申请人:矽统科技股份有限公司