一种高频晶闸管的制作方法

文档序号:9878阅读:478来源:国知局
专利名称:一种高频晶闸管的制作方法
本实用新型属电力电子技术领域
,涉及一种快速功率开关器件。
目前国内所制造的快速晶闸管其开通时间和关断时间较长,di/dt和dv/dt耐量不能兼顾,工作频率较低,一般低于2.5KHZ,在di/dt与dv/dt都高的场合不能胜任。国际上相同电流容量能在高频下工作的快速晶闸管,如目前水平比较高的美国西屋公司T7SH124-054DN,其最高转折电压不超过1300V,不能适应我国380V电网电压,且价格昂贵。
本实用新型的目的在于提供一种工作电压高,开通时间和关断时间短,di/dt和dv/dt耐量高,能在高频下工作的晶闸管,具有动态特性好,制造方便,成本低的优点。
本实用新型的技术特征是晶闸管的光刻版采用放大门极为工字形,短路点为正方形分布。电阻率为50~60Ωcm,片厚320~330μmP1区杂质表面浓度为2~8×1017cm-3,N2区表面杂质浓度为5~8×1020cm-3,P1区结深为60~70μm,N2结深为17~21μm。高频晶闸管主要工作在高频开关状态下,它的开关特性必须能满足快速高频应用的条件,由于工作频率较高,开通损耗和关断损耗与频率成正比,所以其开关损耗是主要的,在高频情况下若电流上升时间较长,扩展速度较慢,则由门极触发导通造成的门极附近局部点电流密度过大而发热,温度急剧上升,产生“热疲劳”现象,使关断时间长,承受di/dt能力下降,元件不能正常工作甚至烧毁。由于di/dt的作用造成局部温度升高,甚至会产生“热逸走”现象。为解决“热疲劳”和“热逸走”现象,必须提高器件承受di/dt的耐量,提高它的导通区扩展速度和减小开通时间,相应措施是改进门极-阴极结构,扩大它的初始导通面积,采用中心放大门极工字图形〔1〕。在耐压和磨角允许的条件下尽可能缩短短基区宽度,增加短基区的浓度梯度,即提高一扩,二扩的浓度,降低一扩结深,加速载流子的渡越,缩小电子通过有效基区的时间。一扩表面浓度为2~8×1017cm-3,一扩结深为60~70μm,二扩表面浓度为5~8×1020cm-3,二扩结深N2区为17~21μm。设计短路点,特别是阴极〔3〕靠近门极的短路点,以不影响耐量和不影响扩展速度为原则,即保证dv/dt耐量,又有一定的di/dt耐量;采用了小而密排列为正方形的短路点〔2〕。另外用快中子辐照,缩短关断时间。
材料采用N型NTD硅单晶P=50~60Ωcm无位错,τP≥100μS、d≥φ40mm、H=0.33±0.01mm,烧结用铝箔、厚0.03mm,阴极垫片厚0.15~0.20mm、钼园片双面精磨φ35×2,台面角度正角a1=25°负角a2=3°。
本实用新型的高频晶闸管转折电压可达1600V,亦可在方波下工作,它可使电力设备简化,适用于8KHZ以上中频电源,超声波电源、不停电电源、电机调速等电力电子装置,对节能、节电有重大贡献,由于其转折电压可达1600V,特别适合我国380V电网电压。
图1为硅片剖面结构图。
图2为高频晶闸管光刻版图。
〔1〕放大门极、〔2〕短路点、〔3〕阴极。
权利要求
1.一种晶闸管,包括硅片、光刻版,其特征在于所说的光刻版上图形的放大门极[1]为工字形,短路点[2]为正方形分布,所说的硅片的厚度为320~340mm,其p区表面杂质浓度为2~8×1017cm-3,N2区表面杂质浓度为5~8×1020cm-3,P1区结深为60~70mm,N2区结深为17~21mm。
专利摘要
本实用新型属快速电力电子器件,采用放大门极为工字形,短路点布置为正方形的光刻版,在一定的扩散结深及浓度配合下,技术指标达到了转折电压1600伏,平均通态电流200安,工作频率10KHZ,并同时具有短的开通时间和关断时间,高di/dt和dv/dt耐量。可适用于8KHZ以上中频电源,超声波电源、电机调速、不停电电源等电力电子装置,特别适合于我国380伏电网电压。
文档编号H01L29/66GK87208366SQ87208366
公开日1988年8月3日 申请日期1987年5月26日
发明者王培清, 张斌, 陈永琪 申请人:清华大学导出引文BiBTeX, EndNote, RefMan
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