专利名称：阵列led等寿命散热方法
技术领域：
本发明涉及一种LED技术，尤其是一种使每组使用的LED阵列等寿命工作的方法， 具体地说是一种阵列LED等寿命散热方法。
背景技术：
众所周知，阵列LED已经广泛应用于路灯、照明、显示等相关的场合。但是LED颗粒的功率的限制，很多情况下需要使用阵列的LED设计。通常情况下，阵列中的颗粒主要从均勻光场的角度进行LED颗粒的安装设计。但由于每个阵列中的LED的工作寿命不一致， 其中寿命最短的一个LED颗粒损坏就很容易导致阵列组的提前失效，影响了整个阵列的使用寿命和使用效果，而每个LED的寿命均与其温升有关，如果能控制每个LED均工作在最佳温度范围内，则可最大限度地提高阵列LED的使用寿命，但是从LED颗粒等寿命角度的设计研究尚未见相关报道。
发明内容
本发明的目的是针对阵列LED光源易因其中的个别颗粒提前失效而报废，影响 LED阵列整体寿命的问题，发明一种能使阵列中的各LED颗粒均工作在最佳温度范围内，从而延长单个LED颗粒寿命来提高阵列LED寿命的等寿命散热方法。本发明的技术方案是
一种阵列LED等寿命散热方法，其特征是它包括以下步骤
首先，通过实验测定单个LED的最佳温度寿命曲线，确定单个LED的最佳工作温度范
围；
其次，利用半导体制冷芯片对每个LED进行单独冷却，使之工作在所测定的最佳工作温度范围之内；
第三，根据光场均勻性和温度均勻性的要求选定并确定LED阵列的位置排列，使LED阵列面板各处温升均勻即可。本发明的有益效果
本发明从根本上解决了 LED颗粒的冷却，使每个LED颗粒均工作在最佳温度范围内，整体上延长了阵列的使用寿命，寿命曲线表明，一个LED阵列中的各颗粒均可实现等寿命工作。
图1是本发明的温度寿命曲线测试装置示意图。图2是本发明的单个LED颗粒的冷却装置示意图。图3是本发明的一个LED阵列结构示意图。图4是本发明的LED阵列中各颗粒的温度寿命曲线示意图。图中1、蓝宝石2、有源层3、到装焊层4、P型电极 5，10、电极引线6、硅衬底7, PCB电路8、制冷芯片9、N型电极11、周围温度传感器12、制冷芯片。
具体实施例方式下面结合附图和实施例对本发明作进一步的说明。如图1-4所示。一种阵列LED等寿命散热方法，它包括以下步骤
首先，通过图1所示的实验测定单个LED的最佳温度寿命曲线，确定单个LED的最佳工作温度范围；图4是所测得的四个LED颗粒的温度寿命出线；
其次，利用图2所示的半导体制冷芯片组成的冷却装置对每个LED进行单独冷却，使之工作在所测定图4所示的最佳工作温度范围之内；
第三，根据光场均勻性和温度均均性的要求选定并确定LED阵列的位置排列，使LED阵列面板各处温升均勻即可，从图3可以看出，将第一颗粒与第4颗粒对角安装，将第2颗粒与第3颗粒对角安装，这样在同一阵列上可保证温升的一致性，它符合图4所示的各颗粒的最佳温度寿命曲线。本发明未涉及部分均与现有技术相同或可采用现有技术加以实现。
权利要求
1. 一种阵列LED等寿命散热方法，其特征是它包括以下步骤首先，通过实验测定单个LED的最佳温度寿命曲线，确定单个LED的最佳工作温度范围；其次，利用半导体制冷芯片对每个LED进行单独冷却，使之工作在所测定的最佳工作温度范围之内；第三，根据光场均勻性和温度均勻性的要求选定并确定LED阵列的位置排列，使LED阵列面板各处温升均勻即可。
全文摘要
一种阵列LED等寿命散热方法，其特征是它包括以下步骤首先，通过实验测定单个LED的最佳温度寿命曲线，确定单个LED的最佳工作温度范围；其次，利用半导体制冷芯片对每个LED进行单独冷却，使之工作在所测定的最佳工作温度范围之内；第三，根据光场均匀性和温度均匀性的要求选定并确定LED阵列的位置排列，使LED阵列面板各处温升均匀即可。本发明从根本上解决了LED颗粒的冷却，使每个LED颗粒均工作在最佳温度范围内，整体上延长了阵列的使用寿命，寿命曲线表面，一个LED阵列中的各颗粒均可实现等寿命工作。
文档编号H01L33/64GK102332528SQ20111029571
公开日2012年1月25日 申请日期2011年10月8日 优先权日2011年10月8日
发明者于航, 左敦稳, 朱琳, 朱纪军, 洪思忠, 邓文凤 申请人:滨州市甘德电子科技有限公司