专利名称：一种多层磁场测量线圈的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种测量线圈，特别是一种多层磁场测量线圈。
背景技术：
为了保证测量准确度，磁场测量线圈内部磁场的平均值应等于中心点的磁场。此时测量线圈(磁矩线圈)绕组宽度与直径的最佳比为V^: 2。为了保证这个最佳比例关系， 测量线圈一般采用单层结构。当测量线圈常数(匝面积)较大，如大于Im2时，如继续采用单层结构，则需要较大的外形尺寸，也就失去了实际工程应用意义。此时必须采用多层结构。传统的多层结构的磁场测量线圈(磁矩线圈)，只能保证中间绕组的宽度与直径之比为最佳比2，里层绕组的宽度与直径之比将逐渐增大，外层绕组的宽度与直径之比则将逐渐减少，无法保证在层数减少或增加的情况下绕组宽度与直径之比保持最佳比2 不变。
发明内容本实用新型所要解决的技术问题是提供一种多层磁场测量线圈，其绕组宽度与直径之比不随层数的变化而变化，一直保持最佳比忑:2。本实用新型的上述目的通过这样的技术方案来实现一种多层磁场测量线圈，包括框架、线圈绕线，所述框架为设有梯形截面线槽的圆柱体架构，所述线槽的宽度L与圆柱体架构的直径D的比为2。所述圆柱体架构的直径D包含线圈绕线的直径Φ。所述梯形截面的倾角没=arcctgy-。本实用新型一种多层磁场测量线圈，具有在层数减少或增加的情况下，线圈绕组宽度与直径之比保持最佳比V^ : 2不变的特点，保证了测量结果的准确性。测量线圈框架
采用设有梯形截面线槽的圆柱体架构。梯形截面的倾角0 = arCCtgf，使每层的线圈绕线
宽度与直径之比都等于最佳比V^ : 2。
以下结合附图和实施例对本实用新型作进一步说明
图1是本实用新型装置的框架截面示意图；图2是本实用新型装置线圈绕线截面示意图。
具体实施方式
一种多层磁场测量线圈，包括框架、线圈绕线，所述框架为设有梯形截面线槽的圆柱体架构，所述线槽的宽度L与圆柱体架构的直径D的比为2。所述圆柱体架构的直径D包含线圈绕线的直径Φ。如图1所示，图中D为圆柱体架构的直径，L为线槽的宽度，θ为梯形截面的倾角。
其中ρ； οΘ = arcctg^0 (aD^mmmmm^Φ) D= λ/3 2,& 21)、选用绝缘性材料，按图1所示加工线圈的框架，其中L : D=W : 2，
没= arcCtgf。具体宽度、直径等尺寸根据所需的测量线圈常数(或者线圈磁矩常数)大小确定。2)、选择合适的漆包线，逐层绕制线圈，如图2所示。具体层数根据所需的测量线圈常数(或者线圈磁矩常数)大小确定。
权利要求1.一种多层磁场测量线圈，包括框架、线圈绕线，其特征在于所述框架为设有梯形截面线槽的圆柱体架构，所述线槽的宽度L与圆柱体架构的直径D的比为 各.2。
2.根据权利要求1所述一种多层磁场测量线圈，其特征在于所述圆柱体架构的直径D 包含线圈绕线的直径Φ。
3.根据权利要求1所述一种多层磁场测量线圈，其特征在于所述梯形截面的倾角
专利摘要一种多层磁场测量线圈，包括框架、线圈绕线，所述框架为设有梯形截面线槽的圆柱体架构，所述线槽的宽度L与圆柱体架构的直径D的比为本实用新型一种多层磁场测量线圈，具有在层数减少或增加的情况下，线圈绕组宽度与直径之比保持最佳比不变的特点，保证了测量结果的准确性。测量线圈框架采用设有梯形截面线槽的圆柱体架构，使每层的线圈绕线宽度与直径之比都等于最佳比
文档编号H01F5/02GK202189635SQ201120299390
公开日2012年4月11日 申请日期2011年8月17日 优先权日2011年8月17日
发明者侯钱, 李享, 程华富 申请人:中国船舶重工集团公司第七一○研究所