混合能量转换与处理检测器的制作方法

文档序号:12513767阅读:来源:国知局

技术特征:

1.一种用于接收具有高低光照部分的电子图像的混合能量转换检测器(HECD),所述检测器包括:能量转换闪烁体;适用于接收来自所述能量转换闪烁体的图像的第一传感器部分;及适用于直接接收一部分电子图像的第二传感器部分,其中所述闪烁体受所述电子图像的所述高光照部分照射,所述第二传感器部分受所述图像的所述低光照部分照射。

2.根据权利要求1所述的混合能量转换检测器,其中所述第一和第二传感器部分位于单个硅器件上。

3.根据权利要求1所述的混合能量转换检测器,其中所述闪烁体通过光学效果耦合所述第一传感器部分。

4.根据权利要求3所述的混合能量转换检测器,其中所述第二传感器部分实质上与高能电子直接照射隔离。

5.根据权利要求1所述的混合能量转换检测器,其中所述第一和第二传感器部分同时读出。

6.根据权利要求1所述的混合能量转换检测器,其中所述第一和第二传感器部分单独读出。

7.根据权利要求1所述的混合能量转换检测器,其中所述第一和第二传感器部分包括独立的硅器件。

8.根据权利要求7所述的混合能量转换检测器,其中所述闪烁体直接置于预计会受高强度照射的区域的所述第二部分,其中所述闪烁体通过光学效果在所述第一传感器部分成像。

9.根据权利要求7所述的混合能量转换检测器,其中所述第二闪烁体位于所述第二传感器部分的电子进入表面。

10.根据权利要求7所述的混合能量转换检测器,其中所述第二传感器部分是具有直接照射面和位于所述直接照射面后面的背面的薄型直接检测装置,其中所述闪烁体位于所述背面。

11.根据权利要求7所述的混合能量转换检测器,其中所述闪烁体安装为不与所述第二传感器部分接触。

12.根据权利要求7所述的混合能量转换检测器,其中所述闪烁体安装在所述第二传感器部分前面,所述前面是直接受高能电子照射的所述第二传感器部分的表面。

13.根据权利要求7所述的混合能量转换检测器,其中所述闪烁体靠近所述第二传感器部分安装。

14.根据权利要求7所述的混合能量转换检测器,其中所述第一和第二传感器部分的照射采集时间配置成图像采集同步。

15.根据权利要求7所述的混合能量转换检测器,其中所述第一和第二传感器部分的照射采集时间独立。

16.一种处理通过权利要求1所述的混合能量转换检测器的所述第一和第二图像部分获取的图像的方法,包括:

单独对所述图像进行后处理,使通过所述第一和第二传感器部分获取的图像部分的净图像增益、调制传递函数(MTF)和采样相等或仅仅相关,从而减少图像类合并工作。

17.一种混合处理直接光照检测器(HPDD)或具有同时线性和计数读出的检测器部分,其中所述计数包括通过事件能量质心进行超分辨率读出。

18.根据权利要求17所述的混合处理直接光照检测器,其中所述检测器配置成能通过所述检测器的每个像素同时进行双线性和计数读出。

19.根据权利要求17所述的混合处理直接光照检测器,包括动态配置线性和计数读出。

20.根据权利要求19所述的混合处理直接光照检测器,其中所述动态配置线性和计数读出以入射光照量率为基础。

21.根据权利要求17所述的混合处理直接光照检测器具有第一和第二成像部分,其中所述混合处理直接光照检测器配置成在其成像区域的所述第一部分具有线性读出,在其成像区域的所述第二部分具有计数读出。

22.根据权利要求17所述的混合处理直接光照检测器,进一步包括经调整适合各种成像类型的后处理,使所述图像的所述线性和计数部分的净图像增益和调制传递函数相等,从而减少图像类合并工作。

23.根据权利要求17所述的混合处理直接光照检测器,进一步包括:能量转换闪烁体;适用于接收来自所述能量转换闪烁体的图像的第一传感器部分;及适用于直接接收一部分电子图像的第二传感器部分,其中所述闪烁体受所述电子图像的所述高光照部分照射。

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