1.一种用于原位XRD测试的叠片式软包电芯的制作方法，其特征在于，包括如下步骤：
制备粘接剂质量分数不低于5％、正极固含量为40％～60％的浆料；
在打孔铝箔、无孔铜箔或锂带上涂布极片；
制备一定尺寸的正极片和负极片，将所述正极片和所述负极片与隔离膜按顺序叠好，采用无冲坑的铝塑膜封装成电芯，再在所述电芯上开口、且用无铅密封片材固定密封所述开口边缘；
将所述电芯放置在85±5℃的环境下烘烤12±0.5h，注液，真空静置、封装及化成。
2.如权利要求1所述的用于原位XRD测试的叠片式软包电芯的制作方法，其特征在于，所述步骤“将所述电芯放置在85±5℃的环境下烘烤12±0.5h，注液，真空静置、封装及化成”后还包括如下步骤：
除气、分容和测试。
3.如权利要求1所述的用于原位XRD测试的叠片式软包电芯的制作方法，其特征在于，所述步骤“制备粘接剂质量分数不低于于5％、正极固含量为40％～60％的浆料”中，正极浆料以质量分数计，活性物质占60％～93％，导电碳SP占2％～20％，粘接剂PVDF占5％～20％，粉料混合均匀后加入固含量控制在40～60％的NMP搅拌。
4.如权利要求3所述的用于原位XRD测试的叠片式软包电芯的制作方法，其特征在于，所述搅拌的搅拌时间为1～2小时。
5.如权利要求1所述的用于原位XRD测试的叠片式软包电芯的制作方法，其特征在于，所述步骤“将所述电芯放置在85±5℃的环境下烘烤12±0.5h，注液，真空静置、封装及化成”的静置时间为12～14h。
6.如权利要求1所述的用于原位XRD测试的叠片式软包电芯的制作方法，其特征在于，所述粘接剂为PVDF或PTFE。
7.如权利要求1所述的用于原位XRD测试的叠片式软包电芯的制作方法，其特征在于，所述无铅密封片材包括PVC、PET、PMMA和PC，所述无铅密封片材的厚度范围为0.05mm-2mm。
8.如权利要求1所述的用于原位XRD测试的叠片式软包电芯的制作方法，其特征在于，所述正极片的长度和宽度小于所述负极片长度和宽度，小于范围值均为1mm-4mm。
9.如权利要求1所述的用于原位XRD测试的叠片式软包电芯的制作方法，其特征在于，所述正极片的宽度小于所述隔离膜的宽度，小于范围值为2mm-8mm。