一种薄膜晶体管及其制作方法、电子器件与流程

本发明涉及半导体技术领域，特别是涉及一种薄膜晶体管及其制作方法、电子器件。

背景技术：

近年来，薄膜晶体管以其优异的电学和机械性能受到越来越多的关注。底栅型薄膜晶体管的器件结构减少了制备的过程中经过的工艺步数，避免其受到更多的污染，是一种适合于大规模生产的器件结构。

由于底栅型薄膜晶体管的有源层的沟道区暴漏在空气中，容易受到空气中水和氧气的影响，会导致晶体管产生比较大的回滞，这抑制了其在显示领域的应用。现今的钝化方式包括：直接在有源层上用原子层沉积生长氧化物、用等离子体增强化学气相沉积法制备的氮化硅和氧化硅、有机材料旋涂钝化等，这些钝化方法会导致器件出现双极性等问题。

技术实现要素：

本发明提供一种薄膜晶体管及其制作方法、电子器件，用以提供一种薄膜晶体管的钝化方法，用以解决现有的钝化方法会对导致器件出现双极性的问题。

为解决上述技术问题，本发明实施例中提供一种薄膜晶体管的制作方法，包括：

提供一基底；

在所述基底上形成有源层、源电极和漏电极，所述有源层包括与源电极电性接触的源区、与漏电极电性接触的漏区及位于源区和漏区之间的沟道区，所述制作方法还包括：

在所述有源层背离所述基底的表面上形成至少覆盖所述沟道区的钝化层；

形成所述钝化层的步骤包括：

形成绝缘的第一金属氧化物层，所述第一金属氧化物层能够使所述有源层的费米能级向禁带的靠近价带的一侧移动。

如上所述的制作方法，其中，形成所述钝化层的步骤还包括：

形成绝缘的第二金属氧化物层，所述第二金属氧化物层能够使所述有源层的费米能级向禁带的靠近导带的一侧移动，在所述第一金属氧化物层和第二金属氧化物层的共同作用下，所述有源层的多数载流子为空穴。

如上所述的制作方法，其中，形成所述钝化层的步骤具体为：

在所述有源层的背离所述基底的表面上形成第一金属氧化物层；

在所述第一金属氧化物层的背离所述有源层的表面上形成第二金属氧化物层。

如上所述的制作方法，其中，所述第一金属氧化物层为氧化钇层，所述第二金属氧化物层为氧化铝层。

如上所述的制作方法，其中，形成氧化钇层的步骤具体为：

在所述基底上形成金属钇薄膜；

对形成有所述金属钇薄膜的基底进行氧化工艺，形成氧化钇薄膜；

对所述氧化钇薄膜进行构图工艺，形成所述氧化钇层。

如上所述的制作方法，其中，进行加热，或，在紫外光的照射下，利用臭氧对所述金属钇薄膜进行氧化。

如上所述的制作方法，其中，具体利用电子束镀膜工艺在所述基底上形成金属钇薄膜。

如上所述的制作方法，其中，具体利用原子层沉积在所述氧化钇层的背离所述有源层的表面上形成氧化铝薄膜，并对所述氧化铝薄膜进行构图工艺，形成所述氧化铝层。

如上所述的制作方法，其中，所述有源层由网络碳纳米管制得。

如上所述的制作方法，其中，形成有源层的步骤包括：

将碳纳米管分散在有机溶剂中，形成第一溶液；

将所述基底浸泡在所述第一溶液中，取出所述基底后，在所述基底上形成第一薄膜，所述第一薄膜中所述碳纳米管随机分布，形成网络碳纳米管；

对所述第一薄膜进行构图工艺，形成有源层的图形。

如上所述的制作方法，其中，所述有机溶剂为甲苯、二甲苯、氯仿或邻二甲苯中的至少一种。

如上所述的制作方法，其中，在所述基底上形成第一薄膜的步骤之后，所述制作方法还包括：

用邻二甲苯清洗所述基底，然后烘干。

如上所述的制作方法，其中，形成所述钝化层的步骤还包括：

形成无机绝缘层，所述无机绝缘层能够使所述有源层的费米能级向导带所在的方向移动，在所述第一金属氧化物层和无机绝缘层的共同作用下，所述有源层的多数载流子为空穴。

如上所述的制作方法，其中，形成所述钝化层的步骤具体包括：

在所述有源层的背离所述基底的表面上形成第一金属氧化物层；

在所述第一金属氧化物层的背离所述有源层的表面上形成无机绝缘层。

如上所述的制作方法，其中，所述无机绝缘层由氮化硅、氧化硅制得。

本发明实施例中还提供一种薄膜晶体管，包括基底，以及设置在所述基底上的有源层、源电极和漏电极，所述有源层包括与源电极电性接触的源区、与漏电极电性接触的漏区及位于源区和漏区之间的沟道区，所述薄膜晶体管还包括设置在所述有源层背离所述基底的表面上的至少覆盖所述沟道区的钝化层，所述钝化层包括绝缘的第一金属氧化物层，所述第一金属氧化物层能够使所述有源层的费米能级向禁带的靠近价带的一侧移动。

如上所述的薄膜晶体管，其中，所述钝化层还包括第二金属氧化物层，所述第二金属氧化物层能够使所述有源层的费米能级向禁带的靠近导带的一侧移动，在所述第一金属氧化物层和第二金属氧化物层的共同作用下，所述有源层的多数载流子为空穴。

如上所述的薄膜晶体管，其中，所述第一金属氧化物层接触设置在所述有源层的背离所述基底的表面上；

所述第二金属氧化物层接触设置在所述第一金属氧化物层的背离所述有源层的表面上。

如上所述的薄膜晶体管，其中，所述第一金属氧化物层为氧化钇层，所述第二金属氧化物层为氧化铝层；

所述氧化钇层的厚度为1-10nm，所述氧化铝层的厚度为20-200nm。

如上所述的薄膜晶体管，其中，所述钝化层还包括无机绝缘层，所述无机绝缘层能够使所述有源层的费米能级向禁带的靠近导带的一侧移动，在所述第一金属氧化物层和无机绝缘层的共同作用下，所述有源层的多数载流子为空穴。

如上所述的薄膜晶体管，其中，所述第一金属氧化物层接触设置在所述有源层的背离所述基底的表面上；

所述无机绝缘层接触设置在所述第一金属氧化物层的背离所述有源层的表面上。

如上所述的薄膜晶体管，其中，所述有源层的材料选择网络碳纳米管。

本发明实施例中还提供一种电子器件，采用如上所述的薄膜晶体管。

本发明的上述技术方案的有益效果如下：

上述技术方案中，对薄膜晶体管的有源层进行钝化的钝化层包括绝缘的第一金属氧化物层，所述第一金属氧化物层能够使所述有源层的费米能级向禁带的靠近价带的一侧移动，对有源层具有空穴掺杂的效果，从而能够克服现有的钝化技术会导致薄膜晶体管的双极性的问题，提升产品的性能。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1表示本发明实施例中形成钝化层的方法流程图一；

图2表示本发明实施例中形成钝化层的方法流程图二；

图3表示本发明实施例中仅利用氧化钇层对薄膜晶体管的有源层进行钝化时，薄膜晶体管的转移特性曲线；

图4表示本发明实施例中仅利用氧化铝层对薄膜晶体管的有源层进行钝化时，薄膜晶体管的转移特性曲线；

图5表示本发明实施例中同时利用氧化钇层和氧化铝层对薄膜晶体管的有源层进行钝化时，薄膜晶体管的转移特性曲线；

图6表示本发明实施例中薄膜晶体管的结构示意图；

图7表示不对薄膜晶体管的有源层进行钝化时，薄膜晶体管的转移特性曲线。

具体实施方式

下面将结合附图和实施例，对本发明的具体实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本发明，但不用来限制本发明的范围。

实施例一

参见图6所示，本实施例中提供一种薄膜晶体管的制作方法，包括：

提供一基底100；

在基底100上形成有源层2、源电极3和漏电极4，有源层2包括与源电极3电性接触的源区、与漏电极4电性接触的漏区及位于源区和漏区之间的沟道区；

在有源层2背离基底100的表面上形成至少覆盖所述沟道区的钝化层；

形成所述钝化层的步骤包括：

形成绝缘的第一金属氧化物层102，第一金属氧化物层102能够使所述有源层2的费米能级向禁带的靠近价带的一侧移动。

上述制作方法对薄膜晶体管的有源层进行钝化的钝化层包括绝缘的第一金属氧化物层，所述第一金属氧化物层能够使所述有源层的费米能级向禁带的靠近价带的一侧移动，对有源层具有空穴掺杂的效果，从而能够克服现有的钝化技术会导致薄膜晶体管的双极性的问题，提升产品的性能。

其中，第一金属氧化物层102可以为氧化钇层、氧化锆层等。

本发明的技术方案中，由于第一金属氧化物层对有源层具有空穴掺杂的效果，会导致器件的阈值电压增加，在一定的栅压范围内不易关断。

为了解决上述技术问题，在一个具体的实施方式中，设置形成所述钝化层的步骤还包括：

形成绝缘的第二金属氧化物层103，第二金属氧化物层103能够使有源层2的费米能级向禁带的靠近导带的一侧移动，在第一金属氧化物层102和第二金属氧化物层103的共同作用下，有源层2的多数载流子为空穴。

通过上述步骤形成的第二金属氧化物层能够使所述有源层的费米能级向禁带的靠近导带的一侧移动，对有源层具有电子掺杂的效果，可以在一定程度上减弱第一金属氧化物层对有源层的空穴掺杂，从而使得器件可以较容易关断，而且在第一金属氧化物层和第二金属氧化物层的共同作用下，所述有源层的多数载流子为空穴，能够防止器件出现双极性问题。

其中，第二金属氧化物层103可以但并不局限于为氧化铝，只要具有上述功能即可。

结合图1和图4所示，当所述钝化层包括第一金属氧化物层102和第二金属氧化物层103时，可选的，形成所述钝化层的步骤具体为：

在有源层2的背离基底100的表面上形成第一金属氧化物层102，对有源层2进行初步钝化；

在第一金属氧化物层102的背离有源层2的表面上形成第二金属氧化物层103，对有源层2进行二次钝化。

通过上述步骤制得的钝化层，第一金属氧化物层与有源层的表面接触设置，增强对有源层的空穴掺杂效果，有利于实现有源层的多数载流子为空穴，防止器件出现双极性问题。而第二金属氧化物层的二次钝化，又能够在一定程度上减弱第一金属氧化物层对有源层的空穴掺杂，从而使得器件可以较容易关断。

以第一金属氧化物层102为氧化钇层，第二金属氧化物层103为氧化铝层为例，在vds＝-5.1v时，当在有源层2上仅形成氧化钇层时，器件的转移特性曲线如图3所示。当在有源层2上仅形成氧化铝层时，器件的转移特性曲线如图4所示。而在有源层2的背离基底100的表面上依次形成氧化钇层和氧化铝层时，器件的转移特性曲线如图5所示。对比图3、图4、图5所示，显然，利用氧化钇层对有源层2进行初步钝化后，再利用氧化铝层对有源层2进行二次钝化，能够有效防止器件出现双极性问题，同时，还能够保证器件在一定的栅压范围内容易关断。

当不对所述有源层进行钝化时，即所述有源层暴漏在空气中，薄膜晶体管的转移特性曲线如图7所示。

从附图中可以看出，图3-图5、图7中示意的器件的转移特性曲线均包括曲线1和曲线2。其中，曲线1代表vgs从负压向正压变化而得出的器件的转移特性曲线，曲线2代表vgs从正压向负压变化而得出的器件的转移特性曲线。以图4为例，图4中的曲线1为位于左侧的v型曲线，曲线2为位于右侧的v型曲线，曲线1代表vgs从-30v→30v变化而得出的器件的转移特性曲线，曲线2代表vgs从30v→-30v变化而得出的器件的转移特性曲线。

该实施方式中，形成氧化钇层的步骤具体为：

在所述基底上形成金属钇薄膜；

对形成有所述金属钇薄膜的基底进行氧化工艺，形成氧化钇薄膜；

对所述氧化钇薄膜进行构图工艺，形成所述氧化钇层。

上述步骤通过先形成金属钇薄膜，再对金属钇薄膜进行氧化工艺的方式来形成氧化钇薄膜。为了获取质量良好且厚度较厚的氧化钇薄膜，可以重复上述步骤来制备所需厚度的氧化钇薄膜，而且由于每一次形成的金属钇薄膜厚度较薄，较易实现彻底氧化，保证制得氧化钇薄膜的质量。

具体可以利用电子束镀膜工艺等成膜工艺在所述基底100上形成金属钇薄膜。

其中，每一次形成金属钇薄膜的厚度可以为1-3nm，最终制得的氧化钇薄膜的厚度可以为20-30nm。

对金属钇进行的氧化工艺具体可以为：在包含氧气的气体环境中对形成有所述金属钇薄膜的基底100进行加热，高温环境下金属钇薄膜被氧气氧化，生产金属钇薄膜。例如：在包含氧气的气体环境中将基底100加热至250℃，氧化30min。或，在紫外光的照射下，利用臭氧对所述金属钇薄膜进行氧化。

在制备完成金属钇薄膜后，可以直接利用原子层沉积等成膜工艺在所述氧化钇层的背离所述有源层2的表面上形成氧化铝薄膜，并对所述氧化铝薄膜进行构图工艺，形成所述氧化铝层。所述氧化铝层的厚度可以为20-200nm。

上述具体实施方式中，利用第二金属层对有源层具有电子掺杂效果的原理，以在一定程度上减弱第一金属氧化物层对有源层的空穴掺杂效果，从而在防止器件出现双极性问题的同时，保证器件较容易关断。

当然，为了克服第一金属氧化物层对有源层具有较强的空穴掺杂效果，导致器件不易关断的问题，并不局限于上述一种解决方式。

为了解决上述技术问题，在另一个具体的实施方式中，设置形成所述钝化层的步骤还包括：

形成无机绝缘层，所述无机绝缘层能够使所述有源层的费米能级向导带所在的方向移动，在所述第一金属氧化物层和无机绝缘层的共同作用下，所述有源层的多数载流子为空穴。

通过上述步骤形成的无机绝缘层能够使所述有源层的费米能级向禁带的靠近导带的一侧移动，对有源层具有电子掺杂的效果，可以在一定程度上减弱第一金属氧化物层对有源层的空穴掺杂，从而使得器件可以较容易关断，而且在第一金属氧化物层和无机绝缘层的共同作用下，所述有源层的多数载流子为空穴，能够防止器件出现双极性问题。

其中，所述无机绝缘层可以但并不局限于由氮化硅、氧化硅制得，只要具有上述功能即可。

如图2所示，当所述钝化层包括第一金属氧化物层和无机绝缘层时，可选的，形成所述钝化层的步骤具体包括：

在所述有源层的背离所述基底的表面上形成第一金属氧化物层，对所述有源层进行初步钝化；

在所述第一金属氧化物层的背离所述有源层的表面上形成无机绝缘层，对所述有源层进行二次钝化。

通过上述步骤制得的钝化层，第一金属氧化物层与有源层的表面接触设置，增强对有源层的空穴掺杂效果，有利于实现有源层的多数载流子为空穴，防止器件出现双极性问题。而无机绝缘层的二次钝化，又能够在一定程度上减弱第一金属氧化物层对有源层的空穴掺杂，从而使得器件可以较容易关断。

该实施方式中，第一金属氧化物层可以为氧化钇层，而形成氧化钇层的步骤可以参见上一具体实施方式，在此不再详述。

上述两个具体实施方式均是在利用第一金属氧化物层对有源层进行初次钝化后，又对有源层进行二次钝化，以在一定程度上减弱第一金属氧化物层对有源层的空穴掺杂效果，以在防止器件出现双极性问题的同时，保证器件在一定的栅压范围内容易关断，提升器件的性能。

当然，对有源层进行二次钝化的方式并不局限于上述两种具体实施方式，只要能够实现上述目的即可。

本实施例中，有源层2由网络碳纳米管制得。由于网络碳纳米管薄膜具有高迁移率、高开关比、柔性和透明等优点，作为薄膜晶体管的沟道材料，在显示驱动方面有很大的应用前景。通过打印、沉积、提拉等方法可以制备大规模、均匀的网络碳纳米管薄膜。

当所述有源层由网络碳纳米管制得时，形成所述有源层的步骤具体包括：

将碳纳米管分散在有机溶剂中，形成第一溶液；

将所述基底浸泡在所述第一溶液中，取出所述基底后，在所述基底上形成第一薄膜，所述第一薄膜中所述碳纳米管随机分布，形成网络碳纳米管；

对所述第一薄膜进行构图工艺，形成有源层的图形。

上述步骤中，所述基底可以为si/sio2基片，在浸泡在所述第一溶液中之前，可以利用rca清洗工艺清洗所述基底。所述有机溶剂可以选择甲苯、二甲苯、氯仿或邻二甲苯中的至少一种。

可选的，在所述基底上形成第一薄膜的步骤之后，所述制作方法还包括：

用邻二甲苯清洗所述基底，然后烘干。

其中，对所述第一薄膜进行构图工艺包括光刻胶的涂覆和曝光，显影后形成光刻胶的图形，以及以所述光刻胶为阻挡刻蚀所述第一薄膜，形成有源层的图形。

以所述薄膜晶体管为底栅型网络碳纳米管薄膜晶体管为例，本实施例中，结合图6所示，薄膜晶体管的制作方法具体包括：

步骤s1、提供一基底100，例如：玻璃基底、石英基底、柔性基底；

可以利用rca清洗工艺对基底100进行清洗。

步骤s2、在基底100上形成栅金属薄膜，对所述栅金属薄膜进行构图工艺形成薄膜晶体管的栅电极1，所述栅金属薄膜可以是cu，al，ag，mo，cr，nd，ni，mn，ti，ta，w等金属以及这些金属的合金，栅金属薄膜可以为单层结构或者多层结构，多层结构比如cu\mo,ti\cu\ti，mo\al\mo等。所述构图工艺包括光刻胶的涂覆、曝光和显影、刻蚀、剥离光刻胶等；

步骤s3、形成覆盖栅电极1的栅绝缘层101，栅绝缘层101的材料可以选用氧化物、氮化物或者氮氧化物，可以为单层、双层或多层结构。具体地，栅绝缘层101101的材料可以是sinx，siox或si(on)x；

步骤s4、在栅绝缘层101上形成有源层2的图形，有源层2由网络碳纳米管制得；

具体包括：

将碳纳米管分散在有机溶剂中，形成第一溶液，所述有机溶剂可以选择甲苯、二甲苯、氯仿或邻二甲苯中的至少一种；

将完成步骤s3的基底100浸泡在所述第一溶液中，经过一段时间后，取出基底100，在栅绝缘层101上形成第一薄膜，所述第一薄膜中所述碳纳米管随机分布，形成网络碳纳米管；

用邻二甲苯清洗基底100，然后烘干；

在所述第一薄膜上涂覆光刻胶，利用掩膜板对所述光刻胶进行曝光，显影后形成光刻胶保留区域和光刻胶不保留区域，所述光刻胶保留区域对应有源层2所在的区域，所述光刻胶不保留区域对应其它区域；去除所述光刻胶不保留区域的所述第一薄膜；剥离剩余的光刻胶，由所述光刻胶保留区域的第一薄膜形成有源层2；

步骤s5、利用电子束镀膜工艺在完成步骤s4的基底100上形成金属钇薄膜，所述金属钇薄膜的厚度为1-3nm，并对所述金属钇薄膜进行氧化工艺，形成氧化钇薄膜；重复上述步骤，直至制得氧化钇薄膜的厚度为20-30nm；

步骤s6、利用原子层沉积工艺在完成步骤s5的基底100上形成氧化铝薄膜，所述氧化铝薄膜的厚度为20-200nm。

步骤s7、对氧化钇薄膜和氧化铝薄膜进行构图工艺，形成氧化钇层102和氧化铝层103，氧化钇层102和氧化铝层103中具有位置对应的过孔；

步骤s8、在完成步骤s7的基底100上形成源漏金属薄膜，对所述源漏金属薄膜进行构图工艺，形成源电极3和漏电极4，源电极3和漏电极4通过贯穿氧化钇层102和氧化铝层103的过孔与有源层2电性接触。

所述源漏金属薄膜的材料可以选择cu，al，ag，mo，cr，nd，ni，mn，ti，ta，w等金属以及这些金属的合金，可以为单层结构或者多层结构，多层结构比如cu\mo,ti\cu\ti，mo\al\mo等；

至此完成薄膜晶体管的制作。

需要说明的是，上述仅是以底栅型薄膜晶体管为例来具体介绍本发明的技术方案，本发明的技术方案还适用于顶栅型薄膜晶体管、共面型薄膜晶体管。

实施例二

参见图6所示，本实施例中提供一种薄膜晶体管，包括：

基底100；

设置在基底100上的有源层2、源电极3和漏电极4，有源层2包括与源电极3电性接触的源区、与漏电极4电性接触的漏区及位于源区和漏区之间的沟道区，

设置在有源层2背离基底100的表面上的至少覆盖所述沟道区的钝化层，所述钝化层包括绝缘的第一金属氧化物层102，第一金属氧化物层102能够使有源层2的费米能级向禁带的靠近价带的一侧移动。

上述薄膜晶体管中，用于对有源层进行钝化的钝化层包括绝缘的第一金属氧化物层，所述第一金属氧化物层能够使所述有源层的费米能级向禁带的靠近价带的一侧移动，对有源层具有空穴掺杂的效果，从而能够克服现有的钝化技术会导致薄膜晶体管的双极性的问题，提升产品的性能。

其中，第一金属氧化物层102可以为氧化钇、氧化锆等。

由于第一金属氧化物层102对有源层2具有空穴掺杂的效果，会导致器件的阈值电压增加，在一定的栅压范围内不易关断。

为了解决上述技术问题，在一个具体的实施方式中，设置所述钝化层还包括第二金属氧化物层103，第二金属氧化物层103能够使有源层2的费米能级向导带所在的方向移动，在第一金属氧化物层102和第二金属氧化物层103的共同作用下，有源层2的多数载流子为空穴。

上述薄膜晶体管的钝化层包括第一金属氧化物层和第二金属氧化物层，第二金属氧化物层能够使所述有源层的费米能级向禁带的靠近导带的一侧移动，对有源层具有电子掺杂的效果，可以减弱第一金属氧化物层对有源层的空穴掺杂，从而使得器件可以较容易关断，而且在第一金属氧化物层和第二金属氧化物层的共同作用下，所述有源层的多数载流子为空穴，能够防止器件出现双极性问题。

具体可以设置第一金属氧化物层102接触设置在有源层2的背离基底100的表面上，对有源层2进行初步钝化；第二金属氧化物层103接触设置在第一金属氧化物层102的背离有源层2的表面上，对有源层2进行二次钝化。该技术方案通过设置第一金属氧化物层102与有源层2的表面接触设置，能够增强对有源层2的空穴掺杂效果，有利于实现有源层2的多数载流子为空穴，防止器件出现双极性问题。而第二金属氧化物层103的二次钝化，又能够在一定程度上减弱第一金属氧化物层102对有源层2的空穴掺杂，从而使得器件可以较容易关断。

其中，第一金属氧化物层102可以为氧化钇层，第二金属氧化物层103可以为氧化铝层。所述氧化钇层的厚度为1-10nm，所述氧化铝层的厚度为20-200nm。

上述具体实施方式中，利用第二金属层对有源层具有电子掺杂效果的原理，以在一定程度上减弱第一金属氧化物层对有源层的空穴掺杂效果，从而在防止器件出现双极性问题的同时，保证器件较容易关断。

当然，为了克服第一金属氧化物层102对有源层2具有较强的空穴掺杂效果，导致器件不易关断的问题，并不局限于上述一种解决方式。

为了解决上述技术问题，在另一个具体的实施方式中，设置所述钝化层还包括无机绝缘层，所述无机绝缘层能够使所述有源层的费米能级向导带所在的方向移动，在所述第一金属氧化物层和无机绝缘层的共同作用下，所述有源层的多数载流子为空穴。

上述薄膜晶体管的钝化层包括第一金属氧化物层和无机绝缘层，无机绝缘层能够使所述有源层的费米能级向禁带的靠近导带的一侧移动，对有源层具有电子掺杂的效果，可以在一定程度上减弱第一金属氧化物层对有源层的空穴掺杂，从而使得器件可以较容易关断，而且在第一金属氧化物层和无机绝缘层的共同作用下，所述有源层的多数载流子为空穴，能够防止器件出现双极性问题。

具体可以设置所述第一金属氧化物层接触设置在所述有源层的背离所述基底的表面上，对所述有源层进行初步钝化；所述无机绝缘层接触设置在所述第一金属氧化物层的背离所述有源层的表面上，对所述有源层进行二次钝化。该技术方案通过设置第一金属氧化物层与有源层的表面接触设置，能够增强对有源层的空穴掺杂效果，有利于实现有源层的多数载流子为空穴，防止器件出现双极性问题。而无机绝缘层的二次钝化，又能够在一定程度上减弱第一金属氧化物层对有源层的空穴掺杂，从而使得器件可以较容易关断。

本实施例中，有源层2由网络碳纳米管制得。由于网络碳纳米管薄膜具有高迁移率、高开关比、柔性和透明等优点，作为薄膜晶体管的沟道材料，在显示驱动方面有很大的应用前景。通过打印、沉积、提拉等方法可以制备大规模、均匀的网络碳纳米管薄膜。

以所述薄膜晶体管为底栅型网络碳纳米管薄膜晶体管为例，本实施例中，结合图6所示，薄膜晶体管的制作方法具体包括：

基底100，例如：玻璃基底、石英基底、柔性基底；

设置在基底100上的栅电极1；

覆盖栅电极1的栅绝缘层101；

设置在栅绝缘层101上的有源层2的图形，有源层2由网络碳纳米管制得；

依次覆盖在有源层2上的氧化钇层102和氧化铝层103；

设置在氧化铝层103上的源电极3和漏电极4，源电极3和漏电极4通过贯穿氧化钇层102和氧化铝层103的过孔与有源层2电性接触。

本实施例中还提供一种电子器件，采用如上所述的薄膜晶体管，由于在实现对薄膜晶体管进行钝化的同时，还能够防止晶体管出现双极性问题，从而有效提升了器件的性能。

所述电子器件可以当并不局限于为显示器件，能够显著提升显示产品的质量。

以上所述仅是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明技术原理的前提下，还可以做出若干改进和替换，这些改进和替换也应视为本发明的保护范围。